JPS62187218A

JPS62187218A - 電磁的流量計及び流量計測方法

Info

Publication number: JPS62187218A
Application number: JP62026189A
Authority: JP
Inventors: マイケル　ティレイ
Original assignee: Danfoss AS
Current assignee: Danfoss AS
Priority date: 1986-02-06
Filing date: 1987-02-06
Publication date: 1987-08-15
Also published as: FR2597594B1; GB8602908D0; GB2186373A; FR2597594A1; GB2186373B; DE8701572U1; DE3703048A1; DK26087D0; US4748856A; DK26087A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（産業上の利用分野）この発明は、電磁的流量計及び流量計測方法に関する。

（従来の技術と問題点）周知の電磁流量計では、流れをモニターすべき流体を横
切って磁場を加え、この磁場は前後方向に離間したパル
スの形で加えられ、流体と接触する電極から誘起電圧パ
ルスを取り出し電気的に処理して、流体の流量を表わす
出力信号を発生する。

しかし、この種の流量計はラボで較正されたときには良
好に動作するのに、現場に設置されると明らかに誤った
結果を与え、かなりの流れが実在するときでもゼロつま
り無視し得る流量と指示することもしばしばある。

従って本発明の目的は、上記したようなエラーを生じに
くい流量計を提供することにある。

（問題点を解決するための手段）本発明は、流れをモニターすべき流体を横切って、順及
び逆方向のパルスの形で磁場を印加する手段で、該パル
スが時間的に相互に離間している手段と、磁場の印加中
の時点で、流体と接触する電極から取り出した誘導信号
をサンプリングする手段と、サンプリング信号を処理し
て流量を表わす出力信号を生じる手段とを備え、さらに
サンプリング時点の間隔を非一様に変化させる手段が設
けられている電磁流量計用回路を提供する。

本発明は、ポンプ等周期的に動作する装置がパルス状の
磁場発生を利用した電磁流量計の精度に悪影響を及ぼす
ことがあるという知見に基づいている。ポンプの動作と
磁場のパルス状変化との間ではソ゛一致した同期が生じ
ると、測定が不正確になる。周期的に動作するポンプは
、各サイクル中でゼロまたはゼロ近くに降下する周期的
な流れを与える。その結果、流量計が測定を行なう時点
がゼロまたはゼロ近くに流量が落ちる時点にはＶ　−敗
してしまうと、得られる読取値が誤ったものになる。本
発明による流量計は、サンプリング時点の間隔を非一様
にして、周期的な流れが常にサイクル中の同じ時点で測
定されないようにすることによって上記の危険を解消し
ている。

好ましくは、サンプリング時点が各励磁パルスの開始ま
たは終了に対して固定関係にあＤ、サンプリング時点を
変化させる手段が励磁パルスの期間を変えてサンプリン
グ時点の間隔を非一様にするように構成される。

好ましくは、各サンプリング時点が励磁パルスの開始後
所定の時間間隔で生じる。かかる構成は、サンプリング
時点の発生を簡単化する。

サンプリング時点を変化させる手段は励磁パルスの長さ
を変えるように構成することもできるが、励磁パルスの
間隔を変えるように構成されるのが望ましい。

望ましくは、励磁パルス間の時点において電極での信号
をサンプルし、信号中のＤ、Ｃ，オフセットを補正する
Ｄ、Ｃ，オフセット補正手段が設けられる。

またＤ、Ｃ，オフセット補正手段は、Ｄ、Ｃ。

オフセットが次のＤ、Ｃ，オフセットのサンプリング時
点前にゼロに減少せず、幾つかのＤ、Ｃ。

オフセットサンプリング時点が生じる期間にわたって徐
々に減少するように構成されるのが好ましい。かかる構
成は、Ｄ、Ｃ，オフセットの特に満足し得る制御を与え
る。

好ましくは、Ｄ、Ｃ，オフセット補正手段は前記徐々の
減少を与えるような時定数を持つ積分回路から成ってい
る。

好ましくは、各ゼロ補正サンプリング時点が励磁パルス
の終りから所定の間隔後に生じる。

サンプリング時点を変化させる手段は反復される擬似乱
数シーケンスを使用するのが望ましい。

これによって周期的な流れの抽出サンプリングが極めて
簡単に達成される。

好ましくは、サンプリング時点を変化させる手段が、複
数の所定値の１つとして選択される可変長と組み合わさ
れた固定長から成る長さを各励磁パルス毎に生じる手段
から成る。

好ましくは、サンプリング時点を変化させる手段が、複
数の所定値の１つとして選択される可変間隔と組み合わ
された固定間隔から成る間隔を連続する励磁パルス間に
生じる手段から成る。このような手段は、極めて節・単
な形を取り得る。例えば本回路は、流量計の動作を制御
するマイクロプロセッサを含み、複数の所定値がマイク
ロプロセッサの動作を制御するソフトウェアによって限
定される。

好ましくは、擬似乱数シーケンスが、可変長または可変
間隔の連続値を限定するソフトウェア内の探索テーブル
の形で与えられる。

好ましくは、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持
続時間の１〜３倍の間で変化され、励磁パルスが一様な
持続時間を有する。

好ましくは、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持
続時間の１〜２倍の間で変化される。

好ましくは、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持
続時間の１〜１（１／２）倍の間で変化される。

間隔が１〜３倍の間で変化される場合、複数の所定値は
ゼロ、１つの励磁パルスの持続時間の１／２倍、１倍及
び２倍から成る。

間隔が１〜２倍の間で変化される場合、複数の所定値は
ゼロ、１つの励磁パルスの持続時間の１／３倍、２／３
倍及び１倍から成る。

間隔が１〜１／２倍の間で変化される場合、複数の所定
値はゼロ、１つの励磁パルスの持続時間の１／６倍、１
／３倍及び１／２倍から成る。

上記の８値によＤ、本発明は特に筒車で有効な方法で実
施可能となる。

また本発明は、流れをモニターすべき流体を横切って、
順及び逆方向のパルスの形で磁場を印加することで、該
パルスが時間的に相互に離間していることと、磁場の印
加中の時点で、流体と接触する電極から取り出した誘導
信号をサンプリングすることと、サンプリング信号を処
理して流量を表わす出力信号を生じることとを含み、さ
らにサンプリング時点の間隔を非一様に変化させること
を含む流量計測方法を提供する。

以下、本発明による流量計と流量計測方法を、添付の図
面を参照しながら例示としてのみ説明する。

（実施例）図面、特に第１図を参照すると、流量計１は測定導管２
（断面で示す）と、該導管を通って流れる流体と電気接
触する一対の対向電極３．３′を備えて成る。概略的に
参照番号４で示した界磁コイルが、測定導管２内におけ
る流体の流れ方向及び両電極３．３′を結ぶラインと直
交する磁場を加えるように配置されている。

励磁発生器５は、界磁コイル４に励磁波形を加えるよう
に配置されている。両電極３．３′は、流量を表わすＤ
Ｃ出力信号７を生じるように動作可能な信号処理回路６
に接続されている。図示してない更に別の回路が設けら
れ、流量計で通常なされているようにＤＣ出力信号を周
波数に変換する。

信号処理回路６は、両電極３．３′からの信号を入力と
して受信するように接続された差動増巾器８と、該差動
増巾器８からの信号を入力として受信し且つ励磁発生器
５からのサンプリング波形を受信するように接続された
同期復調器９とから成る。ＤＣ出力信号７は、同期復調
器９の出力端から取り出される。

上記の３段落に説明した範囲にふいて、第１図に示した
構成は当業者にとって周知であＤ、従って回路の詳細を
これ以上詳しく説明する必要はないであろう。この型式
の流量計の詳細な回路は、本出願人の先願に係る英国特
許出願Ｎα８５−２８９６４及び８５−２８９６５（特
願昭６１−２８０５４３号）に記載されている。

流量計が従来技術に従って動作される場合、界磁コイル
４用の励磁波形は第２図に示したような波形となる。第
２図に示した波形は、持続時間ｔの正パルス２０と同じ
く持続時間ｔの（正パルス２０と等しいが反対の）負パ
ルス２２が交互に繰り返して成Ｄ、正負両パルスは同じ
く持続時間ｔの間隔２４によって離間されている。界磁
コイル４のインダクタンスによってコイルを通る電流は
励磁波形に正確に従うのを妨げられ、実際の電流（従っ
て発生する磁場）はぼり第３図に示す波形を有する。領
域３０において、電流及び磁界はかなり安定な値に達し
、第４Ａ図に示した形のサンプリング波形が両電極３．
３′からの信号を磁界が比較的安定した期間中にサンプ
ル可能とする。

第４Ａ図に示したサンプリング波形は（パルス２０．２
２の各後半に対応する）持続時間ｔ／２で、差動増巾器
８の出力を同期復調器９がサンプルする時点を限定する
パルス４０から成る。

前述したように第２．３及び４Ａ図の波形は、流量計が
従来法に従って作動される場合に該当する。このような
従来法の不利な効果を、次に第４Ｂ図を参照して説明す
る。

第４Ｂ図は、周期的に動作するポンプによってフロー系
内で生じる流量の時間変化を示す。サイクル中ポンプが
流体を押し出す毎に、流量は第４Ｂ図の領域５０に示す
ように増加する。その後、流量はピークに達した後、領
域５２に示すようにポンプが流体を押し出す次のストロ
ークまで再び降下する。本発明者等は、実際上流量にお
ける周期的変化と同期復調器９のサンプリング時点との
間ではり一致した同期が生じ、流量計が流量変化の周期
とはＸ°常に同じ時点でフロー系を“見る”という望ま
しくない結果を生じる可能性がかなりあることを発見し
た。両向きの矢印６０が、いかにサンプリング時点が流
量変化の谷部分と一致し、（実際の流量の平均値を指示
すると見込まれている）流量計で指示される流量がはる
かに低くなるかを示している。極端な場合には、流量変
化の谷部分が流量ゼロに達するため、流体が系を通って
ポンプ送りされていても流量計が流量ゼロを指示するこ
とさえある。

これに対し本発明によれば、磁気パルス（及びこれらの
パルスに同期するサンプリングパルス）が一様な間隔で
なく、パルス間の間隔が変化する。

第４Ｃ図が本発明によるサンプリングパルス６２の一例
を示し、これらのサンプリングパルスが時には流量変化
の谷部分と一致し、時にはピークと一致し、また時には
中間部分と一致する結果、周期的な流れの典型的なサン
プリングが達成されることを両向きの矢印６４が示して
いる。

第５Ａ、５Ｂ及び６図は、本発明に基づく非一様に離間
した励磁波形とサンプリングパルスの好ましい態様を示
す。

第５Ａ図は、本発明に基づき励磁発生器５によって発生
される励磁波形７０を示す。波形７０は、持続時間９６
ミリ秒の正パルス７２と同しく持続時間９６ミリ秒の（
正パルス７２と等しいが反対の）負パルス７４が交互に
繰り返して成る。正パルス７２と負パルス７４の間の間
隔は９６＋Δｔミリ秒で、Δｔは０１１６．３２又は４
８ミリ秒の値を取る。

４つの値０，１６．３２又は４８ミリ秒からのΔｔの値
の選択は、擬似乱数に基づいて行なわれる。流量計はマ
イクロプロセッサ（不図示）を含み、ソフトウェア制御
Ｂによって励磁のタイミングとサンプリング波形を発生
する。ソフトウェアは第６図に示した探索テーブルを含
み、この探索テーブルは１２桁長の（Δｔに関する４値
用の）擬似乱数シーケンスに対応する。変数ｎは初期値
１から１２に達するまで１づつインクレメントされ、１
２に達するとｎが１にリセットされ、その後再び１２ま
でインクレメントされてリセットされるという過程が繰
り返される。探索テーブルはΔｔとして選ばれる連続値
を定義するのに使われ、Δｔは探索テーブル中に設定さ
れた値の各々を順次取Ｄ、その値は無限に繰り返される
。

第５Ｂ及び５０図はサンプリングパルス６２．６２′を
示し、各サンプリングパルスは励磁波形７０の順及び逆
パルスのスタート時点からそれぞれ６４ミリ秒後にスタ
ートし、２０ミリ秒の持続時間を有する。パルス６２は
磁界が順方向のとき誘起信号をサンプリングするのに使
われ、パルス６２′は磁界が逆方向のとき誘起信号をサ
ンプリングするのに使われる。

両電極３．３′における信号は励磁パルス間においても
サンプリングされ、両電極からの信号中のＤ、Ｃ、オフ
セットを決定する。ｆＬｆｆｉ計の信号中におけるＤ、
Ｃ，オフセットの問題は、本出願人による係属中の特許
出願ｔ’ｈ８５−２８９６５で議論されている。Ｄ、Ｃ
，オフセットのサンプリングは第５Ｄ図に示したＤ、Ｃ
，オフセットサンプリングパルス８２によって行なわれ
、該パルス８２は各励磁パルス７２のスタート後６４ミ
リ秒で生じ、２０ミリ秒の持続時間を有する。

流量計の信号サンプリング及びゼロ補正回路を第７図に
示す。前述した２件の係属中の特許出願の第３図または
第４図に示されているようなＤ、　Ｃ。

結合差動増巾器１００が、両電極３．３′からの信号を
受信するように接続されています。差動増巾器１００の
出力は３つのアナログゲート１０２．１０４及び１０６
に加えられ、これらのアナログゲートは第５Ａ、５Ｂ及
び５Ｃの波形によってそれぞれゲート作用を行なう。ゲ
ート１０２．１０４からの出力は流量を表わす出力を与
えるように処理される（この処理に適した回路は前述の
係属中の特許出願に開示されている）。

ゲート１０６からの出力は積分器１０８の入力端に加え
られ、積分器１０８は出力端から反転入力端に帰還接続
されたコンデンサＣを有する演算増巾器から成る。ゲー
ト１０６の出力端は増巾器の反転入力端に接続され、増
巾器の非反転入力端は共通電位に接続されている。積分
器１０８の時定数は、第５Ｄ図に示したサンプリングパ
ルスの幾つかが生じる期間にわたって延びる形で徐々に
Ｄ、Ｃ、オフセットの減少が達成されるように選ばれる
。

積分器１０日からの出力はＤ、Ｃ，オフセット補償回路
１１０の入力端に加えられ、該補償回路１１０の出力端
は両電極３．３′での信号中におけるＤ、Ｃ，オフセッ
トの影響を減じる方法で差動増巾器１００を制御するよ
うに接続されている。

補償回路１１０用の適切な回路の一例は、前述した２つ
の係属中特許出願の第５図に見い出される。

第６図に示した以外のΔｔの値も使える。例えば、第６
図に示したものを２倍あるいは３倍した各−組の値も使
える。

励磁パルス間の間隔中にΔｔを挿入する代りに、励磁パ
ルス中にΔｔを挿入し、パルス間の間隔を一定に保つ一
方で、各パルスの持続時間を変えることも可能である。

また、励磁パルスの期間を一定に保つ一方で、励磁パル
ス内におけるサンプリング時点の位置を変えることも可
能である。

マイクロプロセッサとソフトうエア制御を用いる代りに
、マルチバイブレーク型回路によって生じるパルスのパ
ルス巾変調を用いて、サンプリング時点の非一様な間隔
も達成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は流量計のブロック図；第２図は流量計の界磁コイルに加えられる従来法の励起
波形を示す；第３図は界磁コイルを通過する電流の波形を示す；第４Ａ図は流量計の同期復調器に加えられる従来法のサ
ンプリング波形を示す；第４Ｂ図は周期的に動作するポンプを備えたフロー系に
おける流量の時間変化を示すグラフ：第４Ｃ図は同期復
調器に加えられる本発明に基づくサンプリング波形を示
し、第４Ａ、４Ｂ、４０図の波形と流量のタイミング関
係が矢印で示しである；第５Ａ図は界磁コイルに加えられる本発明に基づく励磁
波形を拡大して示す；第５Ｂ図は一方の界磁パルス中における誘起電圧をサン
プリングするための本発明に基づくサンプリング波形を
、第５Ａ図の波形との正しい位相関係で示す；第５Ｃ図は逆方向の界磁パルス中における誘起電圧をサ
ンプリングするための本発明に基づくサンプリング波形
を、第５Ａ図の波形との正しい位相関係で示す；第５Ｄ図はゼロ補正の目的で界磁パルス間において電極
の信号をサンプリングするための本発明に基づくサンプ
リング波形を、第５Ａ図の波形との正しい位相関係で示
す；第６図は本発明に基づく波形を発生するための、ソフト
ウェアの形で具体化された探索テーブルを示す；及び第７図は本発明の信号サンプリング及びゼロ補正回路の
概略図である。１・・・流量計、２・・・測定導管、３．３′・・・電極、４．５・・・磁場印加手段（４；界磁コイル、５；励磁
発生器）、６２．６２’　・・・サンプリングパルス、７０・・・
励磁波形、７２．７４・・・励磁パルス、１０８・・・積分回路、１１０・・・Ｄ、Ｃ，オフセット補正手段。第４Ｃ図／７′

Claims

【特許請求の範囲】１、流れをモニターすべき流体を横切って、順及び逆方
向のパルスの形で磁場を印加する手段で、該パルスが時
間的に相互に離間している手段と、磁場の印加中の時点
で、流体と接触する電極から取り出した誘導信号をサン
プリングする手段と、サンプリング信号を処理して流量
を表わす出力信号を生じる手段とを備え、さらにサンプ
リング時点の間隔を非一様に変化させる手段が設けられ
ている電磁流量計用回路。２、サンプリング時点が各励磁パルスの開始または終り
に対して固定関係にあり、サンプリング時点を変化させ
る手段が励磁パルスの期間を変えてサンプリング時点の
間隔を非一様にするように構成された特許請求の範囲第
１項記載の回路。３、各サンプリング時点が励磁パルスの開始後所定の時
間間隔で生じる特許請求の範囲第２項記載の回路。４、サンプリング時点を変化させる手段が励磁パルスの
長さを変えるように構成された特許請求の範囲第２又は
３項記載の回路。５、サンプリング時点を変化させる手段が励磁パルスの
間隔を変えるように構成された特許請求の範囲第２又は
３項記載の回路。６、励磁パルス間の時点において電極での信号をサンプ
ルし、信号中のＤ、Ｃ、オフセットを補正するＤ、Ｃ、
オフセット補正手段が設けられた前記特許請求の範囲の
いずれか１項記載の回路。７、Ｄ、Ｃ、オフセットが次のＤ、Ｃ、オフセットのサ
ンプリング時点前にゼロに減少せず、幾つかのＤ、Ｃ、
オフセットサンプリング時点が生じる期間にわたって徐
々に減少するようにＤ、Ｃ、オフセット補正手段が構成
された特許請求の範囲第６項記載の回路。８、Ｄ、Ｃ、オフセット補正手段が前記徐々の減少を与
えるような時定数を持つ積分回路から成る特許請求の範
囲第７項記載の回路。９、各ゼロ補正サンプリング時点が励磁パルスの終りか
ら所定の間隔後に生じる特許請求の範囲第２項に従属す
る第６、７又は８項記載の回路。１０、サンプリング時点を変化させる手段が反復される
擬似乱数シーケンスを使用する前記特許請求の範囲いず
れか１項記載の回路。１１、サンプリング時点を変化させる手段が、複数の所
定値の１つとして選択される可変長と組み合わされた固
定長から成る長さを各励磁パルス毎に生じる手段から成
る特許請求の範囲第４項又は該第４項に従属する第６〜
１０項のいずれか１項記載の回路。１２、サンプリング時点を変化させる手段が、複数の所
定値の１つとして選択される可変間隔と組み合わされた
固定間隔から成る間隔を連続する励磁パルス間に生じる
手段から成る特許請求の範囲第５項又は該第５項に従属
する第６〜１０項のいずれか１項記載の回路。１３、前記回路が流量計の動作を制御するマイクロプロ
セッサを含み、複数の所定値がマイクロプロセッサの動
作を制御するソフトウェアによって限定される特許請求
の範囲第１１又は１２項記載の回路。１４、擬似乱数シーケンスが、可変長または可変間隔の
連続値を限定するソフトウェア内の探索テーブルの形で
与えられる特許請求の範囲第１０又は１３項記載の回路
。１５、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持続時間
の１〜３倍の間で変化され、励磁パルスが一様な持続時
間を有する特許請求の範囲第５項、第１２項又は第５項
に従属する第６〜１０、１３、１４項のいずれか１項記
載の回路。１６、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持続時間
の１〜２倍の間で変化される特許請求の範囲第１５項記
載の回路。１７、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持続時間
の１〜１（１／２）倍の間で変化される特許請求の範囲
第１５項記載の回路。１８、複数の所定値がゼロ、１つの励磁パルスの持続時
間の１／２倍、１倍及び２倍から成る特許請求の範囲第
１１項に従属する第１５項記載の回路。１９、複数の所定値がゼロ、１つの励磁パルスの持続時
間の１／３倍、２／３倍及び１倍から成る特許請求の範
囲第１１項に従属する第１６項記載の回路。２０、複数の所定値がゼロ、１つの励磁パルスの持続時
間の１／６倍、１／３倍及び１／２倍から成る特許請求
の範囲第１１項に従属する第１７項記載の回路。２１、添付の図面を参照して説明し、図面に示した通り
の流量計用回路。２２、流れをモニターすべき流体を横切って、順及び逆
方向のパルスの形で磁場を印加することで、該パルスが
時間的に相互に離間していると、磁場の印加中の時点で
、流体と接触する電極から取り出した誘導信号をサンプ
リングすることと、サンプリング信号を処理して流量を
表わす出力信号を生じることとを含み、さらにサンプリ
ング時点の間隔を非一様に変化させることを含む流量計
測方法。２３、サンプリング時点が各励磁パルスの開始または終
りに対して固定関係にあり、励磁パルスの期間がサンプ
リング時点の間隔を非一様にするように変化される特許
請求の範囲第２２項記載の回路。２４、各サンプリング時点が励磁パルスの開始後所定の
時間間隔で生じる特許請求の範囲第２２項記載の方法。２５、サンプリング時点が励磁パルスの長さを変えるこ
とによって変化される特許請求の範囲第２３又は２４項
記載の方法。２６、サンプリング時点が励磁パルスの間隔を変えるこ
とによって変化される特許請求の範囲第２３又は２４項
記載の方法。２７、励磁パルス間の時点において電極での信号をサン
プルし、信号中のＤ、Ｃ、オフセットを補正することを
含む前記特許請求の範囲いずれか１項記載の方法。２８、Ｄ、Ｃ、オフセットが次のＤ、Ｃ、オフセットの
サンプリング時点前にゼロに減少せず、幾つかのＤ、Ｃ
、オフセットサンプリング時点が生じる期間にわたって
徐々に減少する特許請求の範囲第２７項記載の方法。２９、前記徐々の減少を与えるような時定数を持つ積分
回路を用いることを含む特許請求の範囲第２８項記載の
方法。３０、各ゼロ補正サンプリング時点が励磁パルスの終り
から所定の間隔後に生じる特許請求の範囲第２５項に従
属する第２７、２８又は２９項記載の方法。３１、サンプリング時点を変化させる手段が反復される
擬似乱数シーケンスを使用する前記特許請求の範囲いず
れか１項記載の方法。３２、サンプリング時点が、複数の所定値の１つとして
選択される可変長と組み合わされた固定長から成る長さ
を各励磁パルス毎に生じることによって変化される特許
請求の範囲第２５項又は該第２５項に従属する第２７〜
３１項のいずれか１項記載の方法。３３、サンプリング時点が、複数の所定値の１つとして
選択される可変間隔と組み合わされた固定間隔から成る
間隔を連続する励磁パルス間に生じることによって変化
される特許請求の範囲第２６項又は該第２６項に従属す
る第２７〜３１項のいずれか１項記載の方法。３４、流量計の動作を制御するマイクロプロセッサを使
用し、複数の所定値をマイクロプロセッサの動作を制御
するソフトウェアによって限定する特許請求の範囲第３
２又は３３項記載の方法。３５、擬似乱数シーケンスが、可変長または可変間隔の
連続値を限定するソフトウェア内の探索テーブルの形で
与えられる特許請求の範囲第３１又は３４項記載の方法
。３６、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持続時間
の１〜３倍の間で変化され、励磁パルスが一様な持続時
間を有する特許請求の範囲第２６項、第３３項又は第２
６項に従属する第２７〜３１、３３、３４項のいずれか
１項記載の方法。３７、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持続時間
の１〜２倍の間で変化される特許請求の範囲第３６項記
載の方法。３８、励磁パルスの間隔が１つの励磁パルスの持続時間
の１〜１（１／２）倍の間で変化される特許請求の範囲
第３６項記載の方法。３９、複数の所定値がゼロ、１つの励磁パルスの持続時
間の１／２倍、１倍及び２倍から成る特許請求の範囲第
３６項に従属する第３２項記載の回路。４０、複数の所定値がゼロ、１つの励磁パルスの持続時
間の１／３倍、２／３倍及び１倍から成る特許請求の範
囲第１１項に従属する第３７項記載の方法。４１、複数の所定値がゼロ、１つの励磁パルスの持続時
間の１／６倍、１／３倍及び１／２倍から成る特許請求
の範囲第１１項に従属する第３８項記載の方法。４２、添付の図面を参照して説明し、図面に示した通り
の流量計測方法。