JPS6217807A - Ｐｉｄ制御装置 - Google Patents
Ｐｉｄ制御装置Info
- Publication number
- JPS6217807A JPS6217807A JP15681185A JP15681185A JPS6217807A JP S6217807 A JPS6217807 A JP S6217807A JP 15681185 A JP15681185 A JP 15681185A JP 15681185 A JP15681185 A JP 15681185A JP S6217807 A JPS6217807 A JP S6217807A
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- JP
- Japan
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- control
- sampling period
- response
- maximum
- pid
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- Feedback Control In General (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の分野〕
本発明は制御対象を時間的に制御するＰＩＤ制御装置に
関し、特にサンプリング周期毎にデータを読込んで制御
を行うＰＩＤ制御装置に関するものである。
関し、特にサンプリング周期毎にデータを読込んで制御
を行うＰＩＤ制御装置に関するものである。
本発明によるＰＩＤ制御装置は、ステップ応答法により
制御量の立上り及び立下りでの応答速度と無駄時間より
ＰＩＤ定数を算出し、無駄時間よりサンプリング周期を
算出すると共にサンプリング周期での最大変化を最大変
動幅として記憶し、それを越える制御量が加わった場合
には雑音が重畳されたものとしてこのデータを排除して
ＰＩＤ制御を行うものである。
制御量の立上り及び立下りでの応答速度と無駄時間より
ＰＩＤ定数を算出し、無駄時間よりサンプリング周期を
算出すると共にサンプリング周期での最大変化を最大変
動幅として記憶し、それを越える制御量が加わった場合
には雑音が重畳されたものとしてこのデータを排除して
ＰＩＤ制御を行うものである。
各−の制御装置、例えば温度調節装置等にあっては、制
御対象内にセンサを設はセンサより得られる制御量によ
って操作量を決定し制御対象に操作を加えるＰＩＤｗｉ
Ｉ］御装置が広く用いられている。
御対象内にセンサを設はセンサより得られる制御量によ
って操作量を決定し制御対象に操作を加えるＰＩＤｗｉ
Ｉ］御装置が広く用いられている。
このような制御装置はあらかじめＰＩＤ定数を決定して
おく必要がある。又制御対象が異なればその対象に応じ
たＰＩＤ定数に変更する必要があり、その定数を決定す
るためにチューニング操作が必要となる。そしてＰ Ｉ
Ｄｗｉ御の場合には積分、微分要素にはサンプリング
周期が重要なパラメータとなっている。このような制御
装置にあつて制御量はセンサ出力が微小であるため高い
増幅率を持つ増幅器によって増幅し、Ａ／Ｄ変換器を用
いてデジタル量に変換して制御装置に読込むことが多い
。しかるにセンサ出力が微小な場合外乱の雑□音の影響
が大きく、増幅器にローパスフィルタ等を挿入してもノ
イズの影響を完全に除去することが困難であった。そし
て誤った制御量が加えられれば制御対象を安定して制御
することができなくなるという問題点があった。
おく必要がある。又制御対象が異なればその対象に応じ
たＰＩＤ定数に変更する必要があり、その定数を決定す
るためにチューニング操作が必要となる。そしてＰ Ｉ
Ｄｗｉ御の場合には積分、微分要素にはサンプリング
周期が重要なパラメータとなっている。このような制御
装置にあつて制御量はセンサ出力が微小であるため高い
増幅率を持つ増幅器によって増幅し、Ａ／Ｄ変換器を用
いてデジタル量に変換して制御装置に読込むことが多い
。しかるにセンサ出力が微小な場合外乱の雑□音の影響
が大きく、増幅器にローパスフィルタ等を挿入してもノ
イズの影響を完全に除去することが困難であった。そし
て誤った制御量が加えられれば制御対象を安定して制御
することができなくなるという問題点があった。
本発明はこのような従来のＰＩＤ制御装置の問題点に鑑
みて成されたものであって、チューニングにより適切な
サンプリング周期を算出しそれに基づいて制御量をノイ
ズの影響なく読込むことができるｐｒＤ＊Ｊｌｉｌ装置
を捉供するものである。
みて成されたものであって、チューニングにより適切な
サンプリング周期を算出しそれに基づいて制御量をノイ
ズの影響なく読込むことができるｐｒＤ＊Ｊｌｉｌ装置
を捉供するものである。
本発明は制御対象の制御量を検出する検出手段と、制御
対象に制御操作を行う出力手段とを有する制御装置であ
って、出力手段を動作させ制御対象のステップ応答によ
り応答速度及び無駄時間を測定するステップ応答手段と
、ステップ応答手段により算出された無駄時間に基づい
てサンプリング周期を算出しＰＩＤ定数を算出すると共
に、該サンプリング周期とステップ応答手段より算出さ
れた最大応答により入力値の最大変化量を算出する算出
手段と、制御量の変化幅が最大変化量内にあるときに該
制御量に基づいたＰＩＤ制御を行うＰＩＤ制御手段と、
を具備することを特徴とするものである。
対象に制御操作を行う出力手段とを有する制御装置であ
って、出力手段を動作させ制御対象のステップ応答によ
り応答速度及び無駄時間を測定するステップ応答手段と
、ステップ応答手段により算出された無駄時間に基づい
てサンプリング周期を算出しＰＩＤ定数を算出すると共
に、該サンプリング周期とステップ応答手段より算出さ
れた最大応答により入力値の最大変化量を算出する算出
手段と、制御量の変化幅が最大変化量内にあるときに該
制御量に基づいたＰＩＤ制御を行うＰＩＤ制御手段と、
を具備することを特徴とするものである。
□このような特徴を有する本発明によれば、ＰＩｂ定数
のチューニングにステップ応答を用い無駄時間によって
サンプリング周期を算出しているので、制御対象に適し
たサンプリング周期を算出することができる。又ステッ
プ応答による最大応答速度と該サンプリング周期により
蝋大変動幅を算出し、最大変動幅以内のデニタｔｙ３１
を制御データとしてＰＩＤＩｌｌｌｌｌを行っている。
のチューニングにステップ応答を用い無駄時間によって
サンプリング周期を算出しているので、制御対象に適し
たサンプリング周期を算出することができる。又ステッ
プ応答による最大応答速度と該サンプリング周期により
蝋大変動幅を算出し、最大変動幅以内のデニタｔｙ３１
を制御データとしてＰＩＤＩｌｌｌｌｌを行っている。
□゛そのためある瞬間に雑音が加わり異常な制御量が人
力された場合にもそのデータは読込まれず、サンプリン
グ周期に応じて定まる最大変動幅内のデータのみが読込
まれる。従って最大変動幅を越える雑音が重畳された場
合にその影響を除去する゛ことが可能となり、適切なＰ
ＩＤ制御を行うことが可能である。
力された場合にもそのデータは読込まれず、サンプリン
グ周期に応じて定まる最大変動幅内のデータのみが読込
まれる。従って最大変動幅を越える雑音が重畳された場
合にその影響を除去する゛ことが可能となり、適切なＰ
ＩＤ制御を行うことが可能である。
〔実施例の説明〕 ′ □
第１図は本発明の一実施例を未ナプログラム温Ｉ＊調節
装置の全体構成図である。°本図において温度調節装Ｗ
１は制御ステップの設定、チューニング要求等の操作を
行う設定器セ、ステップの番号や設定温度、現在の温度
を□表示する表示部３、制御対象４の温度を検知しデジ
タル信号に変換するセンサ入力部５、センサ入力部５よ
り得られるデータに基づいてＰＩＤ定数を算出すると共
に所定の処理手順に従って制御対象４を制御する制御部
６、ヒータやモータ等から成り制御部６に接続されて制
御対象４を直接制御する出力部７が設けられる。制御部
６は中央演算装置（以下ＣＰＵとい８う）から成り、記
憶手段としてリードオンリメモリ （以下ＲＯＭとＧ１
う）８、及びランダムアクセスメモリ（以下ＲＡＭとい
う）９から成る記憶手段が接続される。ＲＯＭＢには制
御部６の演算処理手順を記憶しており、ＲＡＭ９は設定
器２やセンサ入力部５より与えられる各種の制御データ
及びチューニング時に用いられるデータを記憶する領域
を有している。“ 第２図はＲＡＭ９の記憶内容を示すメモリマツプである
。本図においてＲＡＭ９にはセンサ入力部６からの入力
を一旦保持する入力値領域、前サンプリング時に得られ
た入力値を保持する前サンプリング値領域、その差を記
憶する今回変化幅領域、サンプリングカウンタ、ｐＩＤ
ＩＪ？１ＥＩＩする制御量を保持する制御データ領域、
チューニング時に立てられるチューニングフラグ、制御
データとして許容される最大変動幅領域及びチューニン
グ時に測定される応答速度Ｒ＋、Ｒｔ、無駄時間し、オ
フ温度及びチューニングのフェーズを示すフェーズカウ
ンタとＰＩＤの各定数を記憶する領域が設けられている
。
装置の全体構成図である。°本図において温度調節装Ｗ
１は制御ステップの設定、チューニング要求等の操作を
行う設定器セ、ステップの番号や設定温度、現在の温度
を□表示する表示部３、制御対象４の温度を検知しデジ
タル信号に変換するセンサ入力部５、センサ入力部５よ
り得られるデータに基づいてＰＩＤ定数を算出すると共
に所定の処理手順に従って制御対象４を制御する制御部
６、ヒータやモータ等から成り制御部６に接続されて制
御対象４を直接制御する出力部７が設けられる。制御部
６は中央演算装置（以下ＣＰＵとい８う）から成り、記
憶手段としてリードオンリメモリ （以下ＲＯＭとＧ１
う）８、及びランダムアクセスメモリ（以下ＲＡＭとい
う）９から成る記憶手段が接続される。ＲＯＭＢには制
御部６の演算処理手順を記憶しており、ＲＡＭ９は設定
器２やセンサ入力部５より与えられる各種の制御データ
及びチューニング時に用いられるデータを記憶する領域
を有している。“ 第２図はＲＡＭ９の記憶内容を示すメモリマツプである
。本図においてＲＡＭ９にはセンサ入力部６からの入力
を一旦保持する入力値領域、前サンプリング時に得られ
た入力値を保持する前サンプリング値領域、その差を記
憶する今回変化幅領域、サンプリングカウンタ、ｐＩＤ
ＩＪ？１ＥＩＩする制御量を保持する制御データ領域、
チューニング時に立てられるチューニングフラグ、制御
データとして許容される最大変動幅領域及びチューニン
グ時に測定される応答速度Ｒ＋、Ｒｔ、無駄時間し、オ
フ温度及びチューニングのフェーズを示すフェーズカウ
ンタとＰＩＤの各定数を記憶する領域が設けられている
。
次に本実施例の温度調節装置のチューニング動作につい
て第３図のフローチャートを参照しつつ説明する。この
フローチャートにおいて引き出し線を用いて示す番号は
制御部６の処理ルーチン又は動作ステップを示すもので
ある。まずチューニングを行う際には設定器２よりチュ
ーニング設定状態とする。そして動作を開始すると、ま
ずステップ１０においてセンサ入力部５より与えられる
入力値を読取る。そしてステップ１１に進んでチューニ
ング状態かどうかをチェックし、チューニング状態であ
ればステップ１２において基本サンプリング周期Ｓを設
定する。基本サンプリング周期ＳはこのＰＩＤ制御装置
の持つ最も速い制御速度を設定するものとする。そして
ステップ１３においてチューニングのフェーズがＯであ
るかどうかをチェックする。チューニングの開始時には
フェーズカウンタが０であるのでステップ１４に進んで
制御量が所定値以下のチューニング開始条件が整ってい
るかどうかをチェックする。この条件が整っていなけれ
ば出力をオフとして基本サンプリング周期の完了を待受
け（ステップ１５．１６） 、入力値を前サンプリング
値として（ステップ１７）、ステップ１１に戻る。そし
て同一の処理を繰り返し、第４図の時刻ｔ、に示すよう
に制御量がチューニング開始条件より低くなれば、ステ
ップ１８．１９に進んで出力をオンとしフェーズを１と
する。そうすれば出力部７より制御対象４が加熱され第
４図に示すように制御量である温度は徐々に上昇する。
て第３図のフローチャートを参照しつつ説明する。この
フローチャートにおいて引き出し線を用いて示す番号は
制御部６の処理ルーチン又は動作ステップを示すもので
ある。まずチューニングを行う際には設定器２よりチュ
ーニング設定状態とする。そして動作を開始すると、ま
ずステップ１０においてセンサ入力部５より与えられる
入力値を読取る。そしてステップ１１に進んでチューニ
ング状態かどうかをチェックし、チューニング状態であ
ればステップ１２において基本サンプリング周期Ｓを設
定する。基本サンプリング周期ＳはこのＰＩＤ制御装置
の持つ最も速い制御速度を設定するものとする。そして
ステップ１３においてチューニングのフェーズがＯであ
るかどうかをチェックする。チューニングの開始時には
フェーズカウンタが０であるのでステップ１４に進んで
制御量が所定値以下のチューニング開始条件が整ってい
るかどうかをチェックする。この条件が整っていなけれ
ば出力をオフとして基本サンプリング周期の完了を待受
け（ステップ１５．１６） 、入力値を前サンプリング
値として（ステップ１７）、ステップ１１に戻る。そし
て同一の処理を繰り返し、第４図の時刻ｔ、に示すよう
に制御量がチューニング開始条件より低くなれば、ステ
ップ１８．１９に進んで出力をオンとしフェーズを１と
する。そうすれば出力部７より制御対象４が加熱され第
４図に示すように制御量である温度は徐々に上昇する。
このときフェーズが１であるので基本サンプリング周期
の完了毎にステップ１３からステップ２０を介してステ
ップ２１に進み、立上り時の最大応答速度Ｒ１を測定す
る。そしてステップ２２においてこの温度上昇が継続し
た時に３０基本サンプリング周期（３０ｓ）の経過後に
設定値を通過すると予測される時刻ｔ２には出力部７の
操作出力をオフとしくステップ２３）、ステップ２４に
進んでオフ温度を記憶する。更にＲＡＭ９のフェーズカ
ウンタをインクリメントしくステップ２５）、ステップ
１６に進んで基本サンプリング周期の完了を待ち受ける
。次のサンプリング周期ではフェーズが２となっている
のでステップ１１．１３．２０及び２６を介してステッ
プ２７に進み、無駄時間のカウンタを更新する。そして
ステップ２８に進んで温度が立下りとなるかどうかをチ
ェックし、立下りでなければステップ１６に戻って同様
の処理を繰り返す。さてステップ２８において温度が立
下りとなればステップ２９に進み、カウンタＬの更新を
停止して無駄時間をＬとする。次いでステップ３０に進
みフェーズカウンタをインクリメントして基本サンプリ
ング周期の終了を待受ける。
の完了毎にステップ１３からステップ２０を介してステ
ップ２１に進み、立上り時の最大応答速度Ｒ１を測定す
る。そしてステップ２２においてこの温度上昇が継続し
た時に３０基本サンプリング周期（３０ｓ）の経過後に
設定値を通過すると予測される時刻ｔ２には出力部７の
操作出力をオフとしくステップ２３）、ステップ２４に
進んでオフ温度を記憶する。更にＲＡＭ９のフェーズカ
ウンタをインクリメントしくステップ２５）、ステップ
１６に進んで基本サンプリング周期の完了を待ち受ける
。次のサンプリング周期ではフェーズが２となっている
のでステップ１１．１３．２０及び２６を介してステッ
プ２７に進み、無駄時間のカウンタを更新する。そして
ステップ２８に進んで温度が立下りとなるかどうかをチ
ェックし、立下りでなければステップ１６に戻って同様
の処理を繰り返す。さてステップ２８において温度が立
下りとなればステップ２９に進み、カウンタＬの更新を
停止して無駄時間をＬとする。次いでステップ３０に進
みフェーズカウンタをインクリメントして基本サンプリ
ング周期の終了を待受ける。
次にフェーズ３ではステップ３１よりステップ３２に進
んで第４図に示すように立下り時の最大応答速度Ｒ２を
測定する。そしてステップ３３に進んでステップ２４で
記憶したオフ温度を通過するかどうかをチェックする。
んで第４図に示すように立下り時の最大応答速度Ｒ２を
測定する。そしてステップ３３に進んでステップ２４で
記憶したオフ温度を通過するかどうかをチェックする。
オフ温度を通過する時刻ｔ４にはステップ３４に進んで
フェーズカウンタをクリアし、更にルーチン３５におい
てここで求めた立上り及び立下りの最大応答ＲＩ＋ Ｒ
ｚと無駄時間しより後述するようにＰＩＤ定数及びサン
プリング周期を算出する。又ルーチン３６においてその
サンプリング周期での最大変動幅を算出しステップ１６
に戻ってチューニング処理を終了する。
フェーズカウンタをクリアし、更にルーチン３５におい
てここで求めた立上り及び立下りの最大応答ＲＩ＋ Ｒ
ｚと無駄時間しより後述するようにＰＩＤ定数及びサン
プリング周期を算出する。又ルーチン３６においてその
サンプリング周期での最大変動幅を算出しステップ１６
に戻ってチューニング処理を終了する。
次にこうして得られた応答速度ＲＩ、Ｒｔ、時間りに基
づいてＰＩＤ定数を算出する処理について説明する。Ｐ
ＴＤ定数は立上り時の最大応答Ｒ１と立下り時の最大応
答Ｒ２のうち大きい方を応答速度Ｒとし、無駄時間りと
共にジーグラエコラス法によりＰＩＤ定数を算出する。
づいてＰＩＤ定数を算出する処理について説明する。Ｐ
ＴＤ定数は立上り時の最大応答Ｒ１と立下り時の最大応
答Ｒ２のうち大きい方を応答速度Ｒとし、無駄時間りと
共にジーグラエコラス法によりＰＩＤ定数を算出する。
ここで比例定数Ｋｐ、積分時間Ｔｉ、微分時間Ｔｄは夫
々次式より求めることができる。
々次式より求めることができる。
Ｔｄ六０．５Ｌ
この式よりＰＩＤ定数定数１．Ｄを
Ｐ＝に−Ｋｐ
τ
（ｋニゲイン定数）
（τ：サンプリング周期）
ここでサンプリング周期τは無駄時間りより、最大変動
幅Ｗ、はサンプリング周期τと応答速度Ｒより夫々次式
により算出する。
幅Ｗ、はサンプリング周期τと応答速度Ｒより夫々次式
により算出する。
τ＝ Ｌ ／ Ａ −・・・（３）鴇−Ｒ×τ
−・・−（４１ （Ａ：定数（例えば２０）） このようにして系の応答から無駄時間りを求め、無駄時
間りに基づいてＰＩＤＩＩＪ御時のサンプリング周期を
算出すると共に、サンプリング周期での制御対象より得
られる最大変動幅Ｗ、をあらかじめＲＡＭ９に記憶して
おくものとする。そしてチューニング終了後はステップ
１１よりステップ３７に進んで前サンプリング値と今回
のサンプリング周期に読込まれた入力値との差である今
回変動幅Ｗｐと最大変動幅Ｗ、を比較する。今回の入力
値による変動幅Ｗ、が最大変動幅Ｗ、より小さい場合に
はステップ３８に進んで入力値を制御データとし、今回
変動幅Ｗ、が最大変動幅Ｗ、より大きい場合にはステッ
プ３９に進んで前サンプリング値に最大変動幅Ｗ、を加
えたものを制御データとしてルーチン４０に進んで制御
データによりＰ−ＩＤ制御を実行する。そしてステップ
４Ｉに進んでサンプリング周期τの完了を待受けこの周
期が終了すればステップ４２において１６１７ｍデータ
を前サンプリング領域に移動し、ステップ１０に戻って
同様の処理を繰り返す。
−・・−（４１ （Ａ：定数（例えば２０）） このようにして系の応答から無駄時間りを求め、無駄時
間りに基づいてＰＩＤＩＩＪ御時のサンプリング周期を
算出すると共に、サンプリング周期での制御対象より得
られる最大変動幅Ｗ、をあらかじめＲＡＭ９に記憶して
おくものとする。そしてチューニング終了後はステップ
１１よりステップ３７に進んで前サンプリング値と今回
のサンプリング周期に読込まれた入力値との差である今
回変動幅Ｗｐと最大変動幅Ｗ、を比較する。今回の入力
値による変動幅Ｗ、が最大変動幅Ｗ、より小さい場合に
はステップ３８に進んで入力値を制御データとし、今回
変動幅Ｗ、が最大変動幅Ｗ、より大きい場合にはステッ
プ３９に進んで前サンプリング値に最大変動幅Ｗ、を加
えたものを制御データとしてルーチン４０に進んで制御
データによりＰ−ＩＤ制御を実行する。そしてステップ
４Ｉに進んでサンプリング周期τの完了を待受けこの周
期が終了すればステップ４２において１６１７ｍデータ
を前サンプリング領域に移動し、ステップ１０に戻って
同様の処理を繰り返す。
例えば制御量が第５図に実線で示すように変化したもの
とすると、時刻ｔｌｌ〜ｔ１４までは全て今回変動幅Ｗ
、は最大変動幅Ｗカ内に入っている。しかし時刻ｔ１５
に入力値が急激に上昇しその変化幅が最大変動幅Ｗ、を
大幅に越えたものとすると、外乱ノイズの重畳により入
力値が上昇したものとして第５図に示すように前サンプ
リング値に最大並動幅Ｗ、を加える（ステップ３９）。
とすると、時刻ｔｌｌ〜ｔ１４までは全て今回変動幅Ｗ
、は最大変動幅Ｗカ内に入っている。しかし時刻ｔ１５
に入力値が急激に上昇しその変化幅が最大変動幅Ｗ、を
大幅に越えたものとすると、外乱ノイズの重畳により入
力値が上昇したものとして第５図に示すように前サンプ
リング値に最大並動幅Ｗ、を加える（ステップ３９）。
そうすれば制御量が破線で示すように変化したものとし
てＰ■ＤｆＩＩＩＪＩＩＩが実行される。又時刻ｔ Ｉ
ｑについても入力値が大幅に低下し最大変動幅を越えた
場合には前サンプリング値に最大変動幅を加えたものを
制御データとしてＰ Ｉ Ｄｌｌ！ｌ１ｍを行う＝こう
すれば制御系に最適なサンプリング時間を用いしかも外
部から重畳される雑音の影響を最小にしてＰＩＤ制御を
実行することが可能となる。
てＰ■ＤｆＩＩＩＪＩＩＩが実行される。又時刻ｔ Ｉ
ｑについても入力値が大幅に低下し最大変動幅を越えた
場合には前サンプリング値に最大変動幅を加えたものを
制御データとしてＰ Ｉ Ｄｌｌ！ｌ１ｍを行う＝こう
すれば制御系に最適なサンプリング時間を用いしかも外
部から重畳される雑音の影響を最小にしてＰＩＤ制御を
実行することが可能となる。
第１図は本発明によるＰＩＤ制御装置の一実施例を示す
ブロック図、第２図はＲＡＭ９のメモリマツプを示す図
、第３図はステップ応答によりＰＩＤ定数及びサンプリ
ング周期と最大変動幅を求め、それに基づいてＰ Ｉ
Ｄ制御する処理を示すフローチャート、第４図はチェー
ユング時の設定値と制御量の時間的変化を示す図、第５
図は入力値と制御データの一例を示すグラフである。
ブロック図、第２図はＲＡＭ９のメモリマツプを示す図
、第３図はステップ応答によりＰＩＤ定数及びサンプリ
ング周期と最大変動幅を求め、それに基づいてＰ Ｉ
Ｄ制御する処理を示すフローチャート、第４図はチェー
ユング時の設定値と制御量の時間的変化を示す図、第５
図は入力値と制御データの一例を示すグラフである。
Claims (2)
- （１）制御対象の制御量を検出する検出手段と、制御対
象に制御操作を行う出力手段とを有する制御装置におい
て、 前記出力手段を動作させ制御対象のステップ応答により
応答速度及び無駄時間を測定するステップ応答手段と、 前記ステップ応答手段により算出された無駄時間に基づ
いてサンプリング周期を算出しＰＩＤ定数を算出すると
共に、該サンプリング周期とステップ応答手段より算出
された最大応答により入力値の最大変化量を算出する算
出手段と、 制御量の変化幅が最大変化量内にあるときに該制御量に
基づいたＰＩＤ制御を行うＰＩＤ制御手段と、を具備す
ることを特徴とするＰＩＤ制御装置。 - （２）前記ステップ応答手段は、ステップ応答による制
御量の立上り時の最大応答及び立下り時の最大応答によ
り応答速度を算出するものであることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載のＰＩＤ制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15681185A JPH0619662B2 (ja) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | Ｐｉｄ制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15681185A JPH0619662B2 (ja) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | Ｐｉｄ制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6217807A true JPS6217807A (ja) | 1987-01-26 |
| JPH0619662B2 JPH0619662B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=15635844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15681185A Expired - Lifetime JPH0619662B2 (ja) | 1985-07-15 | 1985-07-15 | Ｐｉｄ制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619662B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02183302A (ja) * | 1989-01-10 | 1990-07-17 | Yokogawa Electric Corp | ファジィ制御方法 |
| JPH02186403A (ja) * | 1989-01-13 | 1990-07-20 | Toshiba Corp | 適応制御装置 |
| JP2020166577A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | オムロン株式会社 | 処理装置 |
-
1985
- 1985-07-15 JP JP15681185A patent/JPH0619662B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02183302A (ja) * | 1989-01-10 | 1990-07-17 | Yokogawa Electric Corp | ファジィ制御方法 |
| JPH02186403A (ja) * | 1989-01-13 | 1990-07-20 | Toshiba Corp | 適応制御装置 |
| JP2020166577A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | オムロン株式会社 | 処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0619662B2 (ja) | 1994-03-16 |
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