JPS62177044A - 耐放射線性ポリエチレン組成物 - Google Patents

耐放射線性ポリエチレン組成物

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JPS62177044A
JPS62177044A JP1743486A JP1743486A JPS62177044A JP S62177044 A JPS62177044 A JP S62177044A JP 1743486 A JP1743486 A JP 1743486A JP 1743486 A JP1743486 A JP 1743486A JP S62177044 A JPS62177044 A JP S62177044A
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JP
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phosphite
polyethylene
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alkylaryl
radiation
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Tsutomu Kagitani
勤 鍵谷
Seiichi Nishimoto
清一 西本
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は入線量の放射線の被曝にも耐えつる耐放射線性
ポリエチレン組成物に関する。
〔従来の技術〕
近年、原子力時代に入ると共に、原子力産業分野におい
て10〜1000メガラドという大線量の放射線の被曝
に耐えうる有機材料が必要になってきた。しかしながら
、ポリエチレンを代表とする高分子材料にこのような大
線量の放射線を照射すると、崩壊や架橋反応が起り、そ
の材料物性は著しく低下することが問題となっている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明者らは、大線量の被曝によっても材料物性の低下
を著しく抑制でき、かつ加工性に優れ、しかも安価な耐
放射線性ポリエチレン組成物を提供するべく研究を重ね
た結果、トリス−(2,4−ジ−t−ブチルフェニル)
ホスファイトを添加することにより叙上の効果がえられ
ることを見出し、さらにその周辺を鋭意探査したところ
、アルキルアリール−モノ −および一ビスーホスファ
イトが勝るとも劣らない効果を奏しうろことを見出し、
本発明を完成するに至った。
C問題を解決するための手段〕 本発明は、一般式: (式中、R1は炭素数1〜18の直鎖状または分岐鎖状
のアルキル基、R2およびR3は同じかまたは異なり、
水素原子または炭素数1〜9の直鎖状または分岐鎖状ア
ルキル基、nは0.1または2である)で示されるアル
キルアリール−モノ −ホスファイト(ただし、トリス
−(2゜4−ジルt−ブチルフェニル)ホスファイトを
除く)一般式: (式中、R1,R2およびR3は前記と同じ、R4は炭
素数1以上の直鎖状または分岐鎖を有するアルキレン基
である)で示されるアルキルアリール−ビス−ホスファ
イト、および一般式:%式% (式中、R1、R2、R3およびR4は前記と同じ)で
示されるアルキルアリール−ビス−ホスファイトよりな
る群からえらばれた少なくとも11mを2〜20重量%
含有するポリエチレンからなる耐放射線性ポリエチレン
組成物に関する。
〔作 用〕
ポリエチレンにγ線や電子線などの電離放射線を照射す
ると架橋反応が生起する。すなわち、ポリエチレンに電
離放射線が照射されると、炭素−炭素結合および炭素−
水素結合が切断されて高分子ラジカルが生成する。これ
らの高分子ラジカルが再結合するか、あるいは高分子中
に存在する二重結合に付加して 長鎖間が結合することが放射線架橋であり、その結果溶
剤に溶けない部分、すなわちゲル部分が生ずる。また5
0メガラド程度の中線量の放射線によって部分架橋され
たポリエチレンに100〜200メガラドの大線量の放
射線が照射されるばあいには、放射線架橋反応はゲル部
の内部で生起し、架橋網目密度が増大する。
このように、線状のポリエチレンでは放射線の照射線量
の増大に伴なってゲル部の分率が増大し、高度に架橋さ
れたポリエチレンではゲル部の分率は増大しないが、架
橋網目密度が増大し、その結果重量膨潤比が減少する。
本発明者らの研究によると、重量膨潤比と材料物性、た
とえば破断点の伸び率との関係はS字型曲線で表わされ
る一義的なものであって、未架橋および架橋ポリエチレ
ンのいずれのばあいも破断点の伸び率は重量膨潤比の減
少と共に減少するので、重量膨潤比の減少すなわち架橋
網目密度の増大が破断点の伸び率の減少の原因であると
推察される。このことは、ゲル部内部の架橋網目点間に
存在するメチレン基の数が少なくなると破断点の伸び率
が低下することを示している。
かかる本発明者らの研究の成果から、架橋網目密度の増
大を抑制すれば破断点の伸び率などの材料物性の低下を
防ぐことができると考えられる。この推定に基づき研究
を重ねたところ、前記のごとくトリス−(2,4−ジ−
t−ブチルフェニル)ホスファイトを2〜20%(重量
%、以下同様)添加することにより、放射線が照射され
たばあいに、破断点の伸び率の低下が著しく抑制されう
ろことを見出し、さらに前記一般式で示されるアルキル
アリール−モノ −および一ビスーホスファイトが前記
化合物に勝るとも劣らない作用を有することを見出した
。これは、前記アルキルアリール−モノ −および−ビ
ス−ホスファイトが放射線の照射によって生ずるゲル部
に均一に分散し、ラジカル間の結合あるいは二重結合へ
の付加を抑制し、架橋網目密度の増大を抑制しているも
のと推定される。
〔実施例〕
本発明で使用するアルキルアリール−モノ −および一
ビスーホスファイトは、前記一般式で示される1分子中
に芳香族炭化水素基を少なくとも1個有する亜リン酸塩
である。前記一般式中、R1は炭素数1〜18、好まし
くは8〜18のアルキル基である。R2およびR3は水
素原子または炭素数1〜9、好ましくは4〜9のアルキ
ル基であり、アルキル基のばあいはR1と同じでも異な
っていてもよい。非晶部のポリエチレン分子鎖との親和
性の点からみて、好ましいアルキル基としては、たとえ
ばt−ブチル、ペンチル、2−メチルペンチル、オクチ
ル、ノニル、デシル、トリデシル、オクタデシルなどが
あげられるがこれらのみに限定されるものではない。
R4は炭素数1以上、好ましくは1〜30.より好まし
くは1〜10の直鎖状または分岐鎖を有するアルキレン
基である。nは0.1または2である。
好ましいアルキルアリールホスファイトとしては、たと
えばn=0のトリス−(七ツノニルフェニル)ホスファ
イト、ビス−(七ツノニルフェニル) (ジノニルフェ
ニル)ホスファイト、トリス−(2−1−ブチル−5−
メチルフェニル)ホスファイト、n=1のデカニルジフ
ェニルホスファイト、オクタデシルジフェニルホスファ
イト、n=2のジデカニルフェニルホスファイトなどが
あげられるが、ポリエチレンの非晶部への均一分散が良
好なアルキル置換体であればよいのであって、これらの
みに限定されるものではない。そのほか、ペンタエリス
リトールのビス−(ノニルフェニル)ホスファイト、4
.4’−ブチリデン−ビス−(2−t−ブチル−5−メ
チルフェノール)のビス−(トリデシル)ホスファイト
などのビス−ホスファイトも用いることができる。
本発明の組成物の基材樹脂であるポリエチレンとは、放
射線が照射されると架橋が生ずる性質を有するポリエチ
レン系の樹脂であり、高密度ないし低密度ポリエチレン
、エチレン−酢酸ビニル共重合体、■チレンープロピレ
ン共重合体などのエチレンを主成分とする共重合体、ポ
リエチレンに塩化ビニル、ブタジェンやスチレンなどを
グラフト重合したグラフト共重合体、それらのポリマー
の混合物または化学架橋物などがあげられる。化学架橋
に使用する化学架橋剤としてはアゾ型、ペルオキシ型、
過酸型、硅素化合物型、多価イオン型などの共有結合ま
たはイオン結合によってポリエチレンの長鎖間を化学結
合させうる従来公知の架橋剤が使用でき、添加量は組成
物の0〜5%が好ましい。架橋剤を添加するときは、化
学架橋を行なわせるまえに前記アルキルアリールホスフ
ァイトを配合しておくのが好ましい。
本発明の耐放射線性ポリエチレン組成物は、ポリエチレ
ンにアルキルアリール−モノ −または一ビスーホスフ
ァイトを2〜20%、要すればさらに所定量の化学架橋
剤、可塑剤、安定剤、酸化防止剤などを加えて加熱混練
することによりえられる。化学架橋剤を添加したばあい
は、架橋温度にまで加熱することにより、熱可塑性また
は熱硬化性の材料がえられる。本発明の組成物では加工
性を低下させる物質を使用しないので、加工性が低下す
ることはない。本発明の組成物は、繊維状、フィルム状
、板状などの適宜な形状に成形してもよく、また原子力
関連機器などの電離放射線を浴びる機器表面にコーティ
ングして用いてもよい。
 11一 本発明におけるアルキルアリール−モノ −または−ビ
スーホスファイトの配合母は、前記のごとく組成物中に
2〜20%存在せしめればよい。
2%未満のばあいは放射線架橋反応を抑制する効果が小
さく、20%を超えてもその効果は増さず、かえって材
料物性が低下するので好ましくない。
本発明のポリエチレン組成物は、すぐれた耐放射線性を
示し、200メガラドという大線量の放射線を照射して
も、その材料物性の低下を著しく抑制することができる
なお、本発明において放射線とはX線、α線、β線、γ
線、加速電子線、原子力発電使用済燃料などの電離放射
線のことをいう。
つぎに本発明の耐放射線性ポリエチレン組成物を実施例
に基づいて説明するが、本発明はかかる実施例のみに限
定されるものではない。
実施例1 低密度ポリエチレン(密度二 〇、’a17g/cm3
、融点:107℃)に第1表に示すアルキルアリ−ルー
モノ −および−ビスーホスファイトを5%添加し、8
0℃でオープンロール混練後、160℃、50Kg/c
rdで40分間加圧し、厚さ2.0mのJIS 3型試
料片を作製した。各試料片に0060を線源とするγ線
(線量率=1.0メガラド/時)を空気中で100メガ
ラドになるように照射し、試料片を被曝させた。えられ
た各被曝試料片の照射前後の破断点の伸び率を23℃、
引張り速度=200m/分の条件で測定した。結果を第
1表および第2表に示す。
[以下余白] =  15 − 第1表および第2表から明らかなごとく、アルキルアリ
ール−モノ −および−ビスーホスファイトを配合する
ことにより、ポリエチレンの開放DA″/lA性が大き
く向上する。
実施例2 低密13i[ホIJ エチL/ン(密度:  0.91
7g/cm”、融点=1079C)にヒンダードフェノ
ール系安定剤を0,25%添加し、さらに第2表に示す
母のジデカニルフェニルホスファイトを添加して80℃
にてオープンロール混練後、160℃、501/dにて
40分間加圧し、厚さ2.0#のJIS3型試料片を作
製した。
各試料片に実施例1と同様にしてγ線を200メガラド
照射し、照射前後の破断点の伸び率を実施例1と同様の
方法で測定した。結果を第2表に示す。
〔以下余白〕
第3表から明らかなごとく、ジデカニルフェニルホスフ
ァイトの添加により、ポリエチレンは200メガラドの
放射線被曝にも耐えうるようになる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 一般式: ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、R^1は炭素数1〜18の直鎖状または分岐鎖
    状のアルキル基、R^2およびR^3は同じかまたは異
    なり、水素原子または炭素数1〜9の直鎖状または分岐
    鎖状アルキル基、nは0、1または2である)で示され
    るアルキルアリール−モノ−ホスファイト(ただし、ト
    リス−(2,4−ジ−t−ブチルフェニル)ホスファイ
    トを除く)、一般式: ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、R^1、R^2およびR^3は前記と同じ、R
    ^4は炭素数1以上の直鎖状または分岐鎖を有するアル
    キレン基である)で示されるアルキルアリール−ビス−
    ホスファイト、および一般式: ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、R^1、R^2、R^3およびR^4は前記と
    同じ)で示されるアルキルアリール−ビス−ホスファイ
    トよりなる群からえらばれた少なくとも1種を2〜20
    重量%含有するポリエチレンからなる耐放射線性ポリエ
    チレン組成物。 2 ポリエチレンが化学架橋剤を含有しているポリエチ
    レンである特許請求の範囲第1項記載のポリエチレン組
    成物。 3 ポリエチレンが架橋ポリエチレンである特許請求の
    範囲第1項記載のポリエチレン組成物。
JP1743486A 1986-01-29 1986-01-29 耐放射線性ポリエチレン組成物 Pending JPS62177044A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018213122A1 (en) * 2017-05-19 2018-11-22 Dover Chemical Corporation Stabilized polyolefin-polymer compositions and related methods
JP2019038873A (ja) * 2017-08-22 2019-03-14 Agcエンジニアリング株式会社 グラフト鎖付き高分子基材の製造方法

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