JPS62174634A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
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- JPS62174634A JPS62174634A JP1662286A JP1662286A JPS62174634A JP S62174634 A JPS62174634 A JP S62174634A JP 1662286 A JP1662286 A JP 1662286A JP 1662286 A JP1662286 A JP 1662286A JP S62174634 A JPS62174634 A JP S62174634A
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- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明に原子吸光分析装置に関し、特に原子吸光分析装
置における光源装置に係るものである。
置における光源装置に係るものである。
口 従来の技術
原子吸光分析では、検出しようとする元素の輝線スペク
トル放射光源としてホローカソードランフカ使用されて
いる。このホローカン−トランプは長期間放電を繰返す
ことにより、ホローカソードを講説する合金からスパッ
ターされた原子蒸気がランプの管壁に沈着するため光強
度が低下していき、遂にはホローカソードの変形、封入
ガス圧或はガス成分の変化による異常放電が起るよう（
こなる。このようをこしてホローカソードランプの寿命
はつきる。
トル放射光源としてホローカソードランフカ使用されて
いる。このホローカン−トランプは長期間放電を繰返す
ことにより、ホローカソードを講説する合金からスパッ
ターされた原子蒸気がランプの管壁に沈着するため光強
度が低下していき、遂にはホローカソードの変形、封入
ガス圧或はガス成分の変化による異常放電が起るよう（
こなる。このようをこしてホローカソードランプの寿命
はつきる。
上述したようなホローカソードランプを使用する原子吸
光分析で近年、ホローカン−トランプを大電流パルスで
点灯し、大電流点灯によって輝線幅が広がることを利用
して、バックグランランド補正を行う方法が用いられる
ようになり、ホローカソードランプの寿命は従来に比し
短寿命になっテキタ。しかしホローカソードランプは分
析上不可欠のもので、しかも高価なものであるので、分
析コストの低減の要求が強い。
光分析で近年、ホローカン−トランプを大電流パルスで
点灯し、大電流点灯によって輝線幅が広がることを利用
して、バックグランランド補正を行う方法が用いられる
ようになり、ホローカソードランプの寿命は従来に比し
短寿命になっテキタ。しかしホローカソードランプは分
析上不可欠のもので、しかも高価なものであるので、分
析コストの低減の要求が強い。
ハ 発明が解決しようとする問題点
本発明は上述したような要求番こ応じるため、点灯方式
の工夫によってホローカソードランプの長寿命化を計り
、分析コストの低減を計るものである〇 二 問題点解決のための手段 ホローカソードランプを常時小電流或は小？ａ流パルス
或はそれらを重畳させた電流で点灯し、測定時のみホロ
ーカソードランプに大電流パルスを与えるようにした。
の工夫によってホローカソードランプの長寿命化を計り
、分析コストの低減を計るものである〇 二 問題点解決のための手段 ホローカソードランプを常時小電流或は小？ａ流パルス
或はそれらを重畳させた電流で点灯し、測定時のみホロ
ーカソードランプに大電流パルスを与えるようにした。
第り図にこのようなホロカン−トランプの点灯様式を示
す。この図で１の期間は非測定期間で、ホローカソード
ランプには小電流が供給されており、ホローカソードラ
ンプは、いわばアイドリングの状態にあり、Ｍの期間が
測定期間で、アイドリング中の小電流に重ねて大電流パ
ルスが供給される。
す。この図で１の期間は非測定期間で、ホローカソード
ランプには小電流が供給されており、ホローカソードラ
ンプは、いわばアイドリングの状態にあり、Ｍの期間が
測定期間で、アイドリング中の小電流に重ねて大電流パ
ルスが供給される。
ホ 作用
第１図において、測定期間Ｍの始めのＴｌの部分は試料
の原子化が未だ起っておらず、この時期における測定に
よって試料原子化の直前におけるベースラインのデータ
が得られ、その後のＴ２の期間番こおける測定によって
試料による吸収のデータが得られる。このような点灯様
式によると、必要最小限の期間だけ大電流パルスによる
点灯が行われ、他の期間はアイドリングを続けているだ
けであるから、大電流パルス（こよる点灯を行っている
にもか＼わらず、従来に比しホローカソードランプの寿
命は著るしく延長Ｃ数倍以上）され、非測定期間中もア
イドリングを続けているので、測定時にも直ちに安定し
た広幅輝線スペクトルの発光が得られる。
の原子化が未だ起っておらず、この時期における測定に
よって試料原子化の直前におけるベースラインのデータ
が得られ、その後のＴ２の期間番こおける測定によって
試料による吸収のデータが得られる。このような点灯様
式によると、必要最小限の期間だけ大電流パルスによる
点灯が行われ、他の期間はアイドリングを続けているだ
けであるから、大電流パルス（こよる点灯を行っている
にもか＼わらず、従来に比しホローカソードランプの寿
命は著るしく延長Ｃ数倍以上）され、非測定期間中もア
イドリングを続けているので、測定時にも直ちに安定し
た広幅輝線スペクトルの発光が得られる。
へ 実施例
第２図は本発明の一実施例を示す。この実施例はフレー
ムレス原子吸光分析を行う装置であって、ＨＣＬがホロ
ーカソードランプ、ＧＡが試料原子化部のグラファイト
チューブ、ＭＣはモノクロメータ、ＰＭはホトマルチプ
ライヤ、ＰＡはプリアンプである。プリアンプＰＡの出
力は二つに分けられ、その−万はスイッチＳｌを介して
吸光変換回路Ｌ１に接続され、他方はスイッチＳ２を介
して吸光度変換回路Ｌ２に接続されている。これらの吸
光度変換回路は平滑用のコンデンサと対数変換増幅器と
で構成されている。スイッチＳｔは第丁 １図における鹸ｌの期間即ち試料原子化期間の期間にお
けるプリアンプＰＡの出力をサンプリングするスイッチ
であり、Ｓ２は第１図における匈／ｆ２の期間即ち試料
原子化中のプリアンプＰＡの出力をサンプリングするス
イッチである。吸光度変換回路Ｌｌ、Ｌ２の出力は引算
回路ＳＢＩに入力される。従ってＳＢＩの出力はベース
ライン補正された試料の吸光度データとなっている。引
算回路ＳＢＩの出力は二つに分けられ、その一つは直接
用２の引算回路ＳＢ２に接続され、他方はスイッチＳ３
を介してサンプルホールド回路ＳＨに接続されており、
ＳＨの出力が引算回路ＳＢ２に接続されている。サンプ
ルホールド回路ＳＨは試料原子化部に試料として溶媒の
みのブランク試料を注入したときの吸光度信号を保持さ
せるものであり、吸光度０の信号を保持する。従って、
第２引算回路ＳＢ２の出力が試料の真の吸光度を与える
。ＣＲはコントローラで、ホローカソードランプＨＣＬ
の点灯制御、試料原子化部ＧＡへの供給電流の制御、ス
イッチ５＋、５２．５３の開閉制御を行う。
ムレス原子吸光分析を行う装置であって、ＨＣＬがホロ
ーカソードランプ、ＧＡが試料原子化部のグラファイト
チューブ、ＭＣはモノクロメータ、ＰＭはホトマルチプ
ライヤ、ＰＡはプリアンプである。プリアンプＰＡの出
力は二つに分けられ、その−万はスイッチＳｌを介して
吸光変換回路Ｌ１に接続され、他方はスイッチＳ２を介
して吸光度変換回路Ｌ２に接続されている。これらの吸
光度変換回路は平滑用のコンデンサと対数変換増幅器と
で構成されている。スイッチＳｔは第丁 １図における鹸ｌの期間即ち試料原子化期間の期間にお
けるプリアンプＰＡの出力をサンプリングするスイッチ
であり、Ｓ２は第１図における匈／ｆ２の期間即ち試料
原子化中のプリアンプＰＡの出力をサンプリングするス
イッチである。吸光度変換回路Ｌｌ、Ｌ２の出力は引算
回路ＳＢＩに入力される。従ってＳＢＩの出力はベース
ライン補正された試料の吸光度データとなっている。引
算回路ＳＢＩの出力は二つに分けられ、その一つは直接
用２の引算回路ＳＢ２に接続され、他方はスイッチＳ３
を介してサンプルホールド回路ＳＨに接続されており、
ＳＨの出力が引算回路ＳＢ２に接続されている。サンプ
ルホールド回路ＳＨは試料原子化部に試料として溶媒の
みのブランク試料を注入したときの吸光度信号を保持さ
せるものであり、吸光度０の信号を保持する。従って、
第２引算回路ＳＢ２の出力が試料の真の吸光度を与える
。ＣＲはコントローラで、ホローカソードランプＨＣＬ
の点灯制御、試料原子化部ＧＡへの供給電流の制御、ス
イッチ５＋、５２．５３の開閉制御を行う。
第３図はコントローラＣＲの側！１ａｆｆｌｂ作その他
のタイムチャートである。Ａは試料原子化部ＧＡに電流
を供給して試料原子化を行っている期間を示す。コント
ローラＣＲは試料原子化部への電流供給の立上りを検知
してホローカソードランプＨＣＬをアイドリング状態か
ら大電流パルス点灯状態に切換える。第３図Ｈがこの点
灯状態の変化を示す。こ＼で大電流パルスの幅は１００
μｓ程度である。第３図ＰＡはプリアンプＰＡの出力を
吸光度変換した信号を示し、試料原子化の初期には未だ
試料の原子化は行われておらず、試料原子化期間の立上
りから遅れて試料原子（こよる吸光が現れる。第３図Ｓ
ＩはスイッチＳ）のオンオフを示し、試料原子化期間の
初期に閉成され、ベースラインのデータが採取される。
のタイムチャートである。Ａは試料原子化部ＧＡに電流
を供給して試料原子化を行っている期間を示す。コント
ローラＣＲは試料原子化部への電流供給の立上りを検知
してホローカソードランプＨＣＬをアイドリング状態か
ら大電流パルス点灯状態に切換える。第３図Ｈがこの点
灯状態の変化を示す。こ＼で大電流パルスの幅は１００
μｓ程度である。第３図ＰＡはプリアンプＰＡの出力を
吸光度変換した信号を示し、試料原子化の初期には未だ
試料の原子化は行われておらず、試料原子化期間の立上
りから遅れて試料原子（こよる吸光が現れる。第３図Ｓ
ＩはスイッチＳ）のオンオフを示し、試料原子化期間の
初期に閉成され、ベースラインのデータが採取される。
第３図８２はスイッチＳ２のオンオフを示し、５１オフ
後、試料原子化期間の終りまで閉成されている。第３図
ＳＢＩは引算回路ＳＢｌの出力を示し、第３図ＰＡのカ
ーブからベースラインｂを引算した信号になっている。
後、試料原子化期間の終りまで閉成されている。第３図
ＳＢＩは引算回路ＳＢｌの出力を示し、第３図ＰＡのカ
ーブからベースラインｂを引算した信号になっている。
第３図８３はスイッチＳ３のオンオフを示し、ブランク
試料を用いて吸光度Ｏの信号を採取する場合に、スイッ
チＳ２と同じタイミングでオンとなる。
試料を用いて吸光度Ｏの信号を採取する場合に、スイッ
チＳ２と同じタイミングでオンとなる。
第４図はホローカソードランプの点灯形式の他の実施例
のタイムチャートである。この実施例ではアイドリング
状態では微小電流に小電流パルスを重畳させた形であり
、測定時にはこの小電流パルスの後部に更に幅が！００
μｓ程度の大７ａ流パルスを重ねた形とする。この点灯
方式では小電流パルスによる点灯時、ホローカソードラ
ンプは幅のせまい輝線の発光をしており、大電流パルス
による点灯時には幅の広がった輝線発光を行う。この場
合、小電流パルスによる点灯時のサンプリングデータと
大電流パルスによる点灯時のサンプリングデータとの差
によって婢ベースラインの補正と共に試料中の目的元素
の濃度を求めることができる。その詳細は本件出願人に
よって昭和６０年１２月２３日に特許出願された「原子
吸光分析装置（Ｍａ−６０−２９１７”；７七）」の明
細書に記載されている。
のタイムチャートである。この実施例ではアイドリング
状態では微小電流に小電流パルスを重畳させた形であり
、測定時にはこの小電流パルスの後部に更に幅が！００
μｓ程度の大７ａ流パルスを重ねた形とする。この点灯
方式では小電流パルスによる点灯時、ホローカソードラ
ンプは幅のせまい輝線の発光をしており、大電流パルス
による点灯時には幅の広がった輝線発光を行う。この場
合、小電流パルスによる点灯時のサンプリングデータと
大電流パルスによる点灯時のサンプリングデータとの差
によって婢ベースラインの補正と共に試料中の目的元素
の濃度を求めることができる。その詳細は本件出願人に
よって昭和６０年１２月２３日に特許出願された「原子
吸光分析装置（Ｍａ−６０−２９１７”；７七）」の明
細書に記載されている。
ト 効果
本発明原子吸光分析装置は上述したような構成で、測定
期間だけホローカン−トランプを大電流パルスで点灯し
、他の期間中は小電流による点灯を続けているので、ホ
ローカソードランプの寿命が長くなり、分析コストが低
減される。
期間だけホローカン−トランプを大電流パルスで点灯し
、他の期間中は小電流による点灯を続けているので、ホ
ローカソードランプの寿命が長くなり、分析コストが低
減される。
第１図は本発明におけるホローカソードランプの点灯様
式を例示するタイムチャート、第２図は本発明の一実胤
例装置の溝徴を示すブロック図、第３図は同実旌例の動
作を説明するタイムチャート、第４図はホローカン−ト
ランプの点灯様式の他の一例のタイムチャートである。 代理人 弁理士 縣 浩 介第１図 ＧＡ ： 省人；ｆ＋や子イと部 Ｌｌ 、１２ ： ’反光７に、’１才弁口テでタ
第 ２ 図ＳＨ： −ワ
′シ２゛ルホーノムドロ１各ＰＭ：ホＦマノＬ＋フ゛ラ
イヤ ＰＡ： フ０リアシフ゛ 第３図 第４図
式を例示するタイムチャート、第２図は本発明の一実胤
例装置の溝徴を示すブロック図、第３図は同実旌例の動
作を説明するタイムチャート、第４図はホローカン−ト
ランプの点灯様式の他の一例のタイムチャートである。 代理人 弁理士 縣 浩 介第１図 ＧＡ ： 省人；ｆ＋や子イと部 Ｌｌ 、１２ ： ’反光７に、’１才弁口テでタ
第 ２ 図ＳＨ： −ワ
′シ２゛ルホーノムドロ１各ＰＭ：ホＦマノＬ＋フ゛ラ
イヤ ＰＡ： フ０リアシフ゛ 第３図 第４図
Claims (1)
- 測定期間と他の期間とを弁別して、測定期間中だけ光源
のホローカソードランプに大電流パルスを供給し、他の
期間中はホローカソードランプに小電流或は小電流パル
スのみを供給するホローカソードランプ点灯コントロー
ラを設けたことを特徴とする原子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1662286A JPS62174634A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1662286A JPS62174634A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 原子吸光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62174634A true JPS62174634A (ja) | 1987-07-31 |
Family
ID=11921438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1662286A Pending JPS62174634A (ja) | 1986-01-28 | 1986-01-28 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62174634A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51111373A (en) * | 1975-03-26 | 1976-10-01 | Hitachi Ltd | Method and the apparatus to light a lamp for a spectral analyzer |
| JPS5629222A (en) * | 1979-08-16 | 1981-03-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Camera device |
-
1986
- 1986-01-28 JP JP1662286A patent/JPS62174634A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51111373A (en) * | 1975-03-26 | 1976-10-01 | Hitachi Ltd | Method and the apparatus to light a lamp for a spectral analyzer |
| JPS5629222A (en) * | 1979-08-16 | 1981-03-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Camera device |
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