JPS62161073A - X線写真装置 - Google Patents

X線写真装置

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JPS62161073A
JPS62161073A JP61272742A JP27274286A JPS62161073A JP S62161073 A JPS62161073 A JP S62161073A JP 61272742 A JP61272742 A JP 61272742A JP 27274286 A JP27274286 A JP 27274286A JP S62161073 A JPS62161073 A JP S62161073A
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dosimeter
strip
electrode
casing
electrodes
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J47/00Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
    • H01J47/02Ionisation chambers

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  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 分野 本発明は、その内部に動作中に電圧が存在する多数の電
極要素が伸びているケーシングによって取り囲まれてい
るガス入り測定室を有した。イオン化放射線用の線量計
に関する、このケーシングはイオン化放射線のための少
なくとも1つの入口窓を備えている。
背景 このような線量計は1986年にアムステルダム。
ニューヨーク、オックスフォードのNorth Hol
landPublishing Co′Mpanyによ
り発行された。 Ern5tEckhard Koch
によるンンクロトロン放射についてノハントブック、V
o1.1A、525−528頁により既に知られている
。前記既知の線量計の欠点はスリット形X線撮影装置へ
の適用が容易ではないということであり、ここではX線
写真の作成中いつでも隔壁のスリットを通って送らねだ
隔壁部当りの放射ffMS:をfil+定しかつ調整す
ることができなければなちない。
前述した形式の線量計を用いてはいないがこのようなス
リット形X&i撮影装置の1つの例は、オランダ特許出
願第8.40[]、E!15号に説明されている、既知
のlfM量計置針その強度が測定さねろ放射線の減衰を
できるだけ小さくシ、また線量計自体の可視X&l陰影
像の形成をできるだけ防止するようには設計されていな
い。しかし、後者は線量計を通して送られた放射線が要
求されたX線写真を生じるように作用fろのでスリット
形Xai撮影装置では非常に重要である。既知の線量計
の形状及び寸法もそれらをスリット形X線撮影装置に適
用するのに不向きに、している。
要約 本発明の目的はこの要求に適合することである。
このために、説明した形式の線量計は本発明に基づいて
、ケーシングが長方形の形状を有しまたfill定室が
ケーシング中の凹んだ長方形の空洞であり。
互いに対向して位置しているケーシングの少なくとも2
つの側壁がイオン化放射線を透過する材料から製造され
、また側壁の内側表面を大きく覆っているプレート状の
第1の電極がイオン化放射線を透過でろ一方の側壁の内
側表面上に配置さねており、一方基本的には測定室の軸
方向を横断してのびている非常に数多くのス) IJッ
グ状の第2の電極が′$2の側壁の内側表面上に配置さ
れているという特徴を有している。
本発明は典形的な実施例の添附図面を参照して以下によ
り詳細に説明される。
好適な実施例の説明 第1図は本発明に従う線量計を遠近法で図示している、
その線量計は横長(この例では実質的に長方形)のフレ
ーム1を備えており、このフレームは横長(この例では
実質的に長方形)の空満2を取り囲んでいろ(第5図)
。このフレームは2つの短いリム5及び4と、2つの長
いリム5及び6を有し1例えばガラスやバースベクス(
persp8X )のように適当な絶縁材から成る平板
から作られるためリムの側面は2つの平行な側面7,8
を画成f6゜ガラス又はパースペックスのような適当な
絶縁材で作られているカバ−プレート9.10はlll
lli面7.8に対して例えば、にかわづけにより密閉
されて取付けられる。これらのカバープレートによって
、フレームは、横長の測定室2を有する密閉されたケー
シングを形成する。
互いに向き合うカバープレートの表面上には。
電極が配置され、それら電極の間には、操作中。
電場が存在する。一方のプレート9の内側の、表面には
、測定室2の長さに渡って多数の導電材のストリップ状
電極11が一様に配置されており、これらのス) l)
ツブ状電極は測定室の長さ方向に対し実質的に横方向に
延在する。この様子は、プレート9の内側の表面を示f
第4図に再び示されろ、プレート10の内偵10表面上
には、平たい電極12が配置さねており、この電極は、
フレームによって占められていないプレート10の内側
の表面全体を実質的に占めている、 第5図に示されている好適な実施例においては、その平
た−・電極は、プレー)10の縁に溢って延びる保護電
極15によってぐるりと囲まれており。
この保護電極もプレート10の表面に配置さねている。
これら平たい電極及び保護電極は小さなでき間14によ
って互いに分けられている。本例においては、この保護
電極は、平たい電極への接続部の余地を残すために少な
くとも1箇所でさえぎ1”+tlており接続部分を通っ
てプレー1−10の縁まで延びている。本例では、2つ
の上記接続部15及び16が設け1l−1ねでおり、こ
の2つの接続部は。
プレート10の同じ端17にある。
所望ならば、中断を省略することにより保護電極の動作
は更に最適化され得る。平たい電極は。
そのとき、#L8図に図示でるように、プレート10を
通り密閉されたリードスルー (Leadthroug
h )を介fろ電気的接続部を備える、このリードスル
ーは、好適には電極11の反対側の領域の外側にあり1
図示さねるように、線によって、あるいは。
プレート10の外側に配置された導電ストリップ81を
介して接続され得る、 測定室は画定されるべき放射線でイオン化さねろ適当な
ガスで満される。そのような適当なガスは1例えは、キ
セノンである。ガスで測定室を満しかつその室を前もっ
て排気可能にてろために。
図示するような2つの孔18.19がフレームの短いリ
ム内に対向して投げらねており、そのフレームには、例
えば銅の孔空き小チューブが配置されている。このよう
な小チューブは第1図に20によって示されている。小
チューブを介して測定室が排第さねそねからガスで満さ
れた後に、小チューブは真空気密方法1例えはピンチシ
ーリング(pinch sealing )及びに−!
、A、り付’tjQシールサレ7;>。
電極が1例えば蒸着による適当な導電性物質の堆積によ
って形成され、導電性物質によって被るねるべきでない
領域は一時的にマスクされている。
パースペクトから製造されたケーシングを伴う特殊な例
においては、電極はスパッタリング技法によって所望位
置で略々1.amの厚さを有fろニッケルの薄い層の堆
積することにより形成されろ。
そのような電極はX−線を減衰させないか又は実質上X
−線を減衰させない。と述の実施例において、測定室は
略々42anの長さを有しかつ略々3、5 crnの高
さを有していて、セして略々2.54mのピッチ及び略
々11IIJのそれらの間の空隙を有する160のスト
リップ状電極が用いられた。線量計の厚さは略々10m
謂であった、 ストリップ状電極11は、平たい電極12が陰極ストリ
ップとして接続された場合に陽極ストリップとして機能
する。しかし、ストリップ状電極11が陰極スl−II
ツブとして接続され、一方事たい電極12が陽極として
接続されることも可能である。そのような回路は第6図
に示されている。
第6図において、正電圧Vは平たい電極へ供給さj、平
たい電極はこの場合は陽極である。保唇電極13はアー
スされかつ漏洩電流を放電するように機能する線量計の
特殊な応用に依り、陰極ストリップ11は関連した増幅
器21へいっしょに又はグループ毎に又は別々に接続さ
れ、この増幅器は、例えばX−線放射の影響下で、測定
室内のガスのイオン化によって発生されろ増幅された測
定信号を出力端子Sに供給でろ。もし、キセノンが測定
室を満たずガスとして使用さハている時は、陽極−陰極
電圧はガスのために妥当である電流−電圧特性のフラッ
トな範囲内に選択される。そのような特性は、放射線の
一定のitのための陽極−陰極電圧とそのイオン化放射
線の結果として現わねる信号電流との間の関係を与えろ
、に、記フラットな罰ノ囲において、信号電流は実質上
陽極−陰極電圧に影響を受けず、信号電流は受けたイオ
ン化放射線の量に依存f7−、。もし、キセノンが使用
されれば、この範囲内で動作することが可能である。何
故なら、キセノンはイオン化放射線の比較的高い吸収フ
ァクタ(大きな光子横断面)を有し。
そしてその特性の上記フラットの範囲内においても十分
な高い信号電流を与えるからである。従って、ガス増倍
領域(gas 1uultiplication re
gion )と呼はねるものにおいて、高い陽極−陰極
電圧を使用ず不必要がない。このことの利益は陽極−陰
極電圧の設定が非常に重要とはならないことである。陽
極−陰極電圧■は例えば60OVでよい。
上記の線量計の別の利点は1選択された構成の結果とし
て、陽極と電極との間の電界の力線がプレート9とプレ
ート10との間に実質的((垂直に延在¥ろということ
である。この結果、線量計の出力信号はこれら2枚のプ
レートの間の距離とは実質的に無関係になる。このため
、上記の総置針は雰囲気の圧力変化から影響されない。
電極へと続くプレー)9.10の長縁の一方がフレーム
の外側を延びるようにプレート9.10をフレームより
もいくらか長くてろことによって。
電極は簡単なやり方で電気的に接続されろ。例えば、グ
レートの突出縁を越えて突き出させろことができろ適当
なコネクタによって、電気的な接続を¥るようにしても
よい。
図示の例示的な実施例におけるプレート9.10はフレ
ームと同じ大きさであるが、2個の凹部22.25がそ
れぞれフレームの外端の長縁に泊って形成されている、
こ′に1ら凹部は互いに対角線上に対向する位置にあり
、フレームの全長にわたって延在するので、同じ効果が
達成される。
φ、7図は、この発明による線量計をスリット形X線撮
影装置へ応用する可能性を示している。
ここで指摘しておくが、線量計は他の状況にも応用しう
るのであり、広範囲にわたるイオン化放射の強度分布及
び強度変化を検出′t″るのに特に適しており、また、
検出されるべき放射線に実質的に影響を与えることなく
上記の検出を実施″t″るのに好適である、 測定区域においてイオン化放射線の線量の総量のみが問
題とされるのであれば、ス) IJッグ状電極からの信
号を合算f7−、ことができ、又は、ストリップ状電極
を一緒に接続fろことかできる。
第7図に図式的に示されているスリット形X線撮影装置
は、矢印34で示された走査運動を行う扁平なxItM
ビーム52をスリット付きの隔壁51を介して被検体5
5に照射して、被検体65の後方に置かねたX線検出器
55によってX線像を作る。
被検体65が1回又はそれ以上の走査運動の期間に照射
される線量の総量を決定イることが必要であるだけなら
ば1図解的に36で示されているように、線量計はスリ
ット付き隔壁51の近傍に。
又は該スリット付き隔壁に接して設けらjる。
しかしながら、オランダ国特許出願IC8,400,8
45号に記載さねているような補正されたX線写真を得
る目的で、スリット付き隔壁を追って局部的に送出され
る放射量を制御するのには、線量計からの出力信号を利
用することはできない。この目的のためには、線量計は
57で示されているように。
被検体56とX線検出器55との間に位置しなければな
らず、X線ビーム52の走査運動を追尾しなければなら
ないのは明白である、例えば、#i!量計置針リット付
き隔壁と同期して動くアーム58上に取り付けうる。一
度に1個のス) IJツブ状電極からの出力信号、又は
互いに隣りに位置する複数のス) IJツブ伏電極から
の出力信号は、X線ビームに関連するセクタにおいてそ
の駒間に広がる放射強度の尺度、したがって、該セクタ
に対応して作られるX線写真の部分の輝度の尺度となる
従って、この出力信号は、スリット付き隔壁の対応fろ
区画と相互作用−t″る減衰素子69を制御してX8M
像の補正を行うために使用でろことができろ。
スリット隔壁の隣り合うセクションと相互に作用fろ線
量計の(複数組の)スト11ツブ伏電極の出力信号間の
大きい差を防ぐために、ある隔壁セクションに属イる各
組のス) +1ツブ状電極からの信号、又はもしひとつ
のスト11ツブ伏電極が各隔壁セクションのために存在
イるならは、各スト11ツブ伏電極かちの出力信号は、
所望なら、関係1゛るセクションの制御信号を得るため
に、スリット隔壁の隣り合うセクションに所属する1以
上のストリップ状電極からの出力信号と結合さねでも良
い。
主要な実施例において1本発明による線量計は例えば1
60の陽極ワイヤを含んでも良い。もし、例えば、スリ
ット隔壁が20の制御可能なセクションを有するならば
、8個のストリップ状電極はセクションごとに利用でき
る。前記8個の電極からの信号は関連iる隔壁セクショ
ン用の制御信号へとそれから結合される。しかし、上述
したように、隣り合うセクションに所属てる1以上の隣
り合う電極の出力信号はまた。制御信号の栴成に付加的
に含まねても良い。
使用されるX線検出器の型に従うと、ひとつの選択とし
て、X線検出器55によって放出されろ放射線に基づい
て減挾要素を制御することが可能である。線量計はその
とぎ40で示されるように。
X&検出器の背後に置かれても良(、そこでX線ビーム
32の走査移動と同期して再び移動しなけ名ばならない
どんな場合でも1本発明による線量計は10朋又はそれ
以下のオーダの非常に薄い厚さで構成できる利点がある
非常に薄いス) IIツブ状電極が使用されろ事実にも
かかわらず、前記電極はX線写真内に薄いストリップの
形態の人工物を使用される電極材料に従って作ってしま
うという危険がある。もし、所望ならば、ス) IIツ
ブ状電極が走査方向に関して幾分斜めに傾げることを確
保することにより、この危険を防ぐことができる。これ
は、線量計自体を走査方向に関して幾分斜めに設けろか
、又はストリップ状電極を線量計の中心線に関して小さ
い角度で設けることにより、単純な方法で達成できろ。
前述したように、もしニッケル電極が使用されるならば
、煩しい人工物が生じないことが指摘できる。
前述に加えて、各種変更が当業者に明らかであることが
指摘できる。このような変更は本発明の範囲に入るもの
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明に従う線量計の実施例の一部を遠近法
により示で図であり、 第2図は、第1図の線量計の断面図であり。 第6図は、本発明に従うIfM量計置針めのフレームを
示ず図であり。 第4図は1本発明に従う線量計のフレームの第1のカバ
ープレートを示す図であり。 第5図は1本発明に従う線量計のフレームの第2のカバ
ープレートを示で図であり。 第6図は1本発明に従う線量計の電気的回路を示f図で
あり。 第7図は1本発明に従う線量計がスリット放射線写真装
置にどのように応用され得るのかを示f図であり、 第8図は、第5図の変形を略図示−′t″るものである
。 (符号説明) 1:フレーム、 2:測定室、3,4:リム。 5.6 : IJ ム、   7,8 :側面、  9
,1o:カパープレート、  11ニストリップ状電極
、  12:平たい電極、 15:保護電極、  14
:fき間。 22.25:凹部、  50:X線源、  37.40
:線量計、 80:リードスルー。 (外5名〕 手続補正内(方式) 昭和62年 /月3θ日 1、事件の表示 昭和61年特許願第272742号 2)発明の名称 イオン化放射線用の線量計 3、補正をする者 事件との関係   出 願 人 住所 名 称  べ−・ファウ・オブティシエ・インダストリ
ー・デ・オウデ・デルフト 4、代理人 住 所  東京都千代田区大手町二丁目2番1@新大手
町ビル 206号室 5、補正命令の1コイ1  昭和62年 1月27日 
(発送日)6、補正の対象 タイプした明IO書 ・ 桶ノ′

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ガス充満測定室がケーシングにより囲まれ、この
    ケーシング内に多数の電極素子が延在しており、これら
    電極間に動作中電圧が存在し、前記ケーシングにイオン
    化放射線のための少なくとも1つの入口窓が設けられた
    、イオン化放射線用の線量計において、前記ケーシング
    は横長の形状であり、前記測定室が前記ケーシング内く
    ぼんだ横長の空洞であり、互いに対向するように配置さ
    れた前記ケーシングの少なくとも2つの側壁が前記イオ
    ン化放射線に対し透明な材料から作られており、前記イ
    オン化放射線に対し透明な一方の前記側壁の内面には該
    内面を大部分被う板状の第1電極が配置され、一方第2
    の前記側壁の内面には前記測定室の長手方向を実質上横
    切るように延在する多数のストリツプ状第2電極が配置
    されていることを特徴とする線量計。
  2. (2)特許請求の範囲第1項記載の線量計において、前
    記ケーシングが前記側壁間に気密形式で装着された横長
    のフレームから形成されること、を特徴とする線量計。
  3. (3)特許請求の範囲第2項記載の線量計において、前
    記ケーシングはガラスから作られること、を特徴とする
    線量計。
  4. (4)特許請求の範囲第2項記載の線量計において、前
    記ケーシングはパースペクスから作られること、を特徴
    とする線量計。
  5. (5)特許請求の範囲第1項記載の線量計において、前
    記板状電極を囲む保護電極が前記一方の側壁に配置され
    ていること、を特徴とする線量計。
  6. (6)特許請求の範囲第1項から第5項のいずれかに記
    載の線量計において、前記電極は、導電性材料の層を所
    要のパターンで蒸着により堆積させることにより前記側
    壁に形成されること、を特徴とする線量計。
  7. (7)特許請求の範囲第1項から第5項のいずれかに記
    載の線量計において、前記電極は、スパツタリング技法
    により前記側壁に金属の層を所要のパターンで堆積させ
    ることによつて形成されること、を特徴とする線量計。
  8. (8)特許請求の範囲第6項又は第7項に記載の線量計
    において、前記電極はニツケルから成ること、を特徴と
    する線量計。
  9. (9)特許請求の範囲第1項記載の線量計において、各
    側壁の長い縁の1つに沿つて延在する少なくとも1つの
    ストリツプが前記ケーシングの外側に達し、又前記電極
    に前記ストリツプ上を延在する接続部が設けられている
    こと、を特徴とする線量計。
  10. (10)特許請求の範囲第9項記載の線量計において、
    前記側壁の前記ケーシングの外側に達する前記ストリツ
    プが接続コネクタとして構成されること、を特徴とする
    線量計。
  11. (11)特許請求の範囲第9項又は第10項に記載の線
    量計において、前記側壁の前記ケーシングの外側に達す
    る前記ストリツプがくぼみを設けることにより得られ、
    このくぼみは、互いに対角線上に位置した前記フレーム
    の2つの外側の長い縁に沿つて実質上前記フレームの全
    長に渡つて延在していること、を特徴とする線量計。
  12. (12)特許請求の範囲第1項記載の線量計において、
    前記フレームのリムの少なくとも1つには孔が設けられ
    ており、この孔には前記測定室から排気しそしてこれに
    適当なガスを充満させるために小さなチユーブが配置さ
    れ、この小さなチユーブは前記ガスが前記測定室に導入
    された後シールされること、を特徴とする線量計。
  13. (13)特許請求の範囲第1項記載の線量計において、
    前記測定室はキセノンで充満されること、を特徴とする
    線量計。
  14. (14)特許請求の範囲第13項記載の線量計において
    、動作中の一方の前記板状電極と他方のストリツプ状電
    極との間の電位差は、ガス増倍が起こらないような大き
    さであること、を特徴とする線量計。
  15. (15)特許請求の範囲第1項記載の線量計において、
    前記ストリツプ状電極は前記測定室の前記長手方向に対
    して幾分斜めに延びていること、を特徴とする線量計。
  16. (16)特許請求の範囲第1項から第15項のいずれか
    に記載の線量計を使用する方法において、前記ストリツ
    プ状電極が多数のグループに分けられ、各グループに属
    する前記電極からの信号が組み合わされて問題のこのグ
    ループに属する出力信号を与えること、を特徴とする方
    法。
  17. (17)特許請求の範囲第16項記載の方法において、
    各グループに属する前記電極からの前記信号が、隣接し
    たグループに属する1以上の電極からの信号と組み合わ
    されて問題の前記グループに属する出力信号を与えるこ
    と、を特徴とする方法。
  18. (18)特許請求の範囲第16項又は第17項に記載の
    方法において、前記線量計はスリツト隔壁を有するスリ
    ツトX線撮影装置に使用され、このスリツト隔壁には制
    御可能な減衰素子が設けられ、この減衰素子は前記スリ
    ツト隔壁を通して伝達する又は伝達すべき前記放射線を
    局所的に減衰させることができ、又前記線量計は、前記
    スリツト隔壁を通して伝達される前記放射線ビーム内に
    各瞬間に配置されて各グループのストリツプ状電極が少
    なくとも1つの特定の制御可能な減衰素子に対応する前
    記放射線ビームの部内に位置するようにし1グループの
    ストリツプ状電極に属する各出力信号は前記対応する減
    衰素子に対する制御信号として使用されること、を特徴
    とする方法。
  19. (19)特許請求の範囲第18項記載の方法において、
    前記ストリツプ状電極が前記線量計の前記長手方向に対
    し直行するように延在しており、前記線量計は前記スリ
    ツトX線撮影装置の前記X線ビームの走査移動と同期し
    て移動させられ、前記線量計の前記長手方向は前記走査
    移動に対し幾分斜めになつていること、を特徴とする方
    法。
JP61272742A 1985-11-15 1986-11-15 X線写真装置 Expired - Lifetime JPH06100657B2 (ja)

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NL8503153 1985-11-15

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JPS62161073A true JPS62161073A (ja) 1987-07-17
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NL (1) NL8503153A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02504330A (ja) * 1987-05-12 1990-12-06 デルフト インスツルメンツ インテレクチュアル プロパティ ベー.ファウ. 画像均等化付スリット放射線写真用装置

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