JPS6032243A - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
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- JPS6032243A JPS6032243A JP58140109A JP14010983A JPS6032243A JP S6032243 A JPS6032243 A JP S6032243A JP 58140109 A JP58140109 A JP 58140109A JP 14010983 A JP14010983 A JP 14010983A JP S6032243 A JPS6032243 A JP S6032243A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 21
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 5
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- 150000003736 xenon Chemical class 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J47/00—Tubes for determining the presence, intensity, density or energy of radiation or particles
- H01J47/02—Ionisation chambers
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は電子計算区を用いたX線断層撮影装置(以下、
r X、 a CT装置」という)に用いられる放射線
検出器に関し、特に多素子電離箱型X線検出器における
各素子の信号出力特性のばらつきを低減させることが可
能な放射線検出器に関するものである。
r X、 a CT装置」という)に用いられる放射線
検出器に関し、特に多素子電離箱型X線検出器における
各素子の信号出力特性のばらつきを低減させることが可
能な放射線検出器に関するものである。
X !?I CT装置には幾つかの撮影方式があるが、
現在型も多く用いら、1tでいる第3世代方式と呼ばれ
る方式について、その概要を説明しておく、。
現在型も多く用いら、1tでいる第3世代方式と呼ばれ
る方式について、その概要を説明しておく、。
この方式は、40度前後の開き角を有するファンビーム
X線を放射するX線源と、多素子X線検出器(以下、単
に「検出器」という)とを約Lmの距雛で対向させて設
置し、上記XvA源と検出器とを、該Xa源と検出器と
の間に置かれた被写体を回転中心として、相互の位置関
係を保持したまま回転させ、多方向から)lを照射して
X線強度分布を計測し、その信号を計算機処理すること
によって断層像を得る方式である。
X線を放射するX線源と、多素子X線検出器(以下、単
に「検出器」という)とを約Lmの距雛で対向させて設
置し、上記XvA源と検出器とを、該Xa源と検出器と
の間に置かれた被写体を回転中心として、相互の位置関
係を保持したまま回転させ、多方向から)lを照射して
X線強度分布を計測し、その信号を計算機処理すること
によって断層像を得る方式である。
この方式の難点は、断層像にリング状アーチファク1−
が発生し易いことである。リング状アーチファク1〜は
、検出器の素子間にある程度以上の感度差がある場合に
発生するものであり、このため、検出器の素子間の感度
ばらつきを低減させることが必要である。
が発生し易いことである。リング状アーチファク1〜は
、検出器の素子間にある程度以上の感度差がある場合に
発生するものであり、このため、検出器の素子間の感度
ばらつきを低減させることが必要である。
この種の撮影方式のX線CT装置においては、検出器と
して、主に、キセノン電離箱検出器が用いられている(
特開昭5/l−17889号、同54−89701号公
報参照)。
して、主に、キセノン電離箱検出器が用いられている(
特開昭5/l−17889号、同54−89701号公
報参照)。
第1図はキセノン電離箱検出器の構造の一例を示す断面
図である。図において、1,2はそれぞれ後述する電極
部を構成する高圧電極板およびイご量定極板、3A、3
Bは該電極板1,2を保持する電極保持用溝板、4は圧
力容器、5はX線入射窓、I5は上記高圧電極板1に設
けられた電圧印加端子、9は」二記信号電極板2に設け
ら九た(B号出力端子を示している。また、10は後に
詳述する電極部の放射線入射方向後側(以下、これを[
電極部後側」という)の空間を、11は配線手段を示し
ている。
図である。図において、1,2はそれぞれ後述する電極
部を構成する高圧電極板およびイご量定極板、3A、3
Bは該電極板1,2を保持する電極保持用溝板、4は圧
力容器、5はX線入射窓、I5は上記高圧電極板1に設
けられた電圧印加端子、9は」二記信号電極板2に設け
ら九た(B号出力端子を示している。また、10は後に
詳述する電極部の放射線入射方向後側(以下、これを[
電極部後側」という)の空間を、11は配線手段を示し
ている。
第2図に電極部の詳細な構成を示す。前記電極Fil、
2はX線を透過させない材質、例えば、モリブデンやタ
ングステンで構成され、その厚さは0.05〜0.15
mmさなっている。l素子は2枚の高圧電極板とその中
間に置かわだ1枚の同材質の信号電極板とから構成され
ている。上記両電極板1゜2は、相対して固定された2
枚の電極保持用)1与板3A、3Bの溝内に挿入・固定
され、要求される精度で配列さJtでいる。電極保持用
溝板3A、3Bの材質は、上記両電極板】、2の間の絶
縁を十分に保持し、かつ、放射線に対して安定であるこ
とが必要な点から、ガラス、セラミックスまたは樹脂材
料等が用いられている。上記電極部は、前記圧力容器4
中に封入された高圧のキセノンまたはクリプトンガス中
に設置されて、電離箱検出器として機能する。
2はX線を透過させない材質、例えば、モリブデンやタ
ングステンで構成され、その厚さは0.05〜0.15
mmさなっている。l素子は2枚の高圧電極板とその中
間に置かわだ1枚の同材質の信号電極板とから構成され
ている。上記両電極板1゜2は、相対して固定された2
枚の電極保持用)1与板3A、3Bの溝内に挿入・固定
され、要求される精度で配列さJtでいる。電極保持用
溝板3A、3Bの材質は、上記両電極板】、2の間の絶
縁を十分に保持し、かつ、放射線に対して安定であるこ
とが必要な点から、ガラス、セラミックスまたは樹脂材
料等が用いられている。上記電極部は、前記圧力容器4
中に封入された高圧のキセノンまたはクリプトンガス中
に設置されて、電離箱検出器として機能する。
第1図に戻って説明を続ける。扇形のX線ビーム12は
、通常、約10Iηn1程度の厚さを有しており、精密
測定の場合には、コリメータを用いてI 、 O+++
m程度まで狭くして撮影を行う。上記X線ビームは検出
器の入射窓5を通過して電離箱に入り、(r1号電極と
+500■または一500V程度の電圧が印加された高
圧電極とで形成される電離空間で上記封入ガスを電離す
る。電離したイオンおよび電子は、それぞれの極性に応
じて電極板1または2に流入して信号電流となる。
、通常、約10Iηn1程度の厚さを有しており、精密
測定の場合には、コリメータを用いてI 、 O+++
m程度まで狭くして撮影を行う。上記X線ビームは検出
器の入射窓5を通過して電離箱に入り、(r1号電極と
+500■または一500V程度の電圧が印加された高
圧電極とで形成される電離空間で上記封入ガスを電離す
る。電離したイオンおよび電子は、それぞれの極性に応
じて電極板1または2に流入して信号電流となる。
xac’r装置においては、X線照射方法としてパルス
状照射と連続照射が用いられるが、上記第3世代方式の
装置においてはパルス状照射が用いられている。パルス
状照射は1例えば、5m5ec間XIfArKc躬、1
0m5ec間休止を繰り返すものである。
状照射と連続照射が用いられるが、上記第3世代方式の
装置においてはパルス状照射が用いられている。パルス
状照射は1例えば、5m5ec間XIfArKc躬、1
0m5ec間休止を繰り返すものである。
上記パルス状照射の場合のキセノン電離箱検出器の出力
電流を測定したところ、第3図に示す如く、X線照射停
止後も出力電流が零にならず残留電流14が生ずること
がわかった。13は1−記残留電流がない場合の出力電
流を示すものである。に記検出器の出力電流は検出回路
の積分H5によりfjt分され、信号電圧として画像処
理装置に転送される。
電流を測定したところ、第3図に示す如く、X線照射停
止後も出力電流が零にならず残留電流14が生ずること
がわかった。13は1−記残留電流がない場合の出力電
流を示すものである。に記検出器の出力電流は検出回路
の積分H5によりfjt分され、信号電圧として画像処
理装置に転送される。
第4図は上記残留電流がない場合の上記信号電圧17と
、残留電流がある場合の信号電圧18とを示すものであ
る。図から明らかな如く、検出器の各素子に異なった残
留電流が生ずると上記積分器の出力が各素子ごとにばら
つき、前記リング状アーチファクトを生ずる原囚斜なる
。
、残留電流がある場合の信号電圧18とを示すものであ
る。図から明らかな如く、検出器の各素子に異なった残
留電流が生ずると上記積分器の出力が各素子ごとにばら
つき、前記リング状アーチファクトを生ずる原囚斜なる
。
上記残留電流の影響を少なくする方法として、上記積分
器の積分時間を上記パルス照射のXUA照射時間のみに
限る方法があるが、この方法では、照射時間と積分時間
とを厳密に一致連せるために回路部品の数が増大すると
いう別の問題を生ずることになる。
器の積分時間を上記パルス照射のXUA照射時間のみに
限る方法があるが、この方法では、照射時間と積分時間
とを厳密に一致連せるために回路部品の数が増大すると
いう別の問題を生ずることになる。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、その目的と
するところは、従来の検出器における上述の如き問題を
解消し、簡単な構造で、各素子の信号出力特性のばらつ
きを低減させることが可能な検出器を提供することにあ
る。
するところは、従来の検出器における上述の如き問題を
解消し、簡単な構造で、各素子の信号出力特性のばらつ
きを低減させることが可能な検出器を提供することにあ
る。
本発明の上記目的は、平行または放射状に交互に配置さ
れた禎数の高圧電極板と信号型ti仮とから成る電極抜
群と、該電極板群を外部回路に接続するための接続手段
および入射する放射線により電離する気体を収納する容
器から成る検出器において、前記電極板群の電圧印加端
子および信号出力端子をそれぞれ前記電極板群に対して
均等に配置したことを特徴とする検出器によって達成さ
Jしる。
れた禎数の高圧電極板と信号型ti仮とから成る電極抜
群と、該電極板群を外部回路に接続するための接続手段
および入射する放射線により電離する気体を収納する容
器から成る検出器において、前記電極板群の電圧印加端
子および信号出力端子をそれぞれ前記電極板群に対して
均等に配置したことを特徴とする検出器によって達成さ
Jしる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第5図は本発明の一実施例を示す検出器の断面図である
。図において、記号]、2.3A、3B。
。図において、記号]、2.3A、3B。
5.9.15は第1図に示したと同じ構成要素を示して
おり、4Aは前記電極部後側の空間10Aを有する圧力
容器、8は信号電流引出しのための気密端子部を示して
いる。
おり、4Aは前記電極部後側の空間10Aを有する圧力
容器、8は信号電流引出しのための気密端子部を示して
いる。
第6゛図は本実施例の電極部の構造を示す斜視図である
。本実施例の電極部の基本的な構造は第2図に示した従
来の電極部と同じであり、従来の電極部との相異点は各
電極板への電圧印加端子、信号出力端子の!![!置に
ある。すなわち、従来の電極部においては、電圧印加端
子15を電極板1の中央部に、また、信号出力端子9を
電極板2の上側端。
。本実施例の電極部の基本的な構造は第2図に示した従
来の電極部と同じであり、従来の電極部との相異点は各
電極板への電圧印加端子、信号出力端子の!![!置に
ある。すなわち、従来の電極部においては、電圧印加端
子15を電極板1の中央部に、また、信号出力端子9を
電極板2の上側端。
下側端に交互に設けていたのに対して、本実施例の電極
部においては、電圧印加端子15を電極板1の下側端に
、また、信号出力端子を電極板2の上側端にそれぞれ設
けている。
部においては、電圧印加端子15を電極板1の下側端に
、また、信号出力端子を電極板2の上側端にそれぞれ設
けている。
なお、上記電極部の各部の材質・寸法は以下の通りとな
っている。電極板1,2はタングステン板から成り、厚
さは0.15mm、電極板間隔はX線入H(1111で
0.5mmである。また、圧力容器4A内には、20
atomのキセノンガスが封入されており、電極板]、
2の奥行寸法は30n+mとなっている。
っている。電極板1,2はタングステン板から成り、厚
さは0.15mm、電極板間隔はX線入H(1111で
0.5mmである。また、圧力容器4A内には、20
atomのキセノンガスが封入されており、電極板]、
2の奥行寸法は30n+mとなっている。
電極部を上述の如く構成することにより、電極部の各信
号電極板2の周囲の電界が均一になり、検出器の各素子
に生ずる残留電流は均一になる。
号電極板2の周囲の電界が均一になり、検出器の各素子
に生ずる残留電流は均一になる。
これにより、前記残留電流に起因するリング状アーチフ
ァクトを防止することが可能となる。
ァクトを防止することが可能となる。
また、電極部を上述の如く構成することにより、信号電
流は前記電極板2の信号出力端子9から、信号電流引出
し用気密端子部8を通じて外部に引出されるため、前記
電極部後側の配線手段は殆んど空間10A内に露出しな
くなる。これにより、第5図に示す如く、電極部後側の
空間10Aが従来に比較して格段に小さくできる。電極
部後側の空間10Aが小さいということは、ここで電離
するガスの量が少ないということであり、これは前述の
残留電流を減少させることに大きな効果がある。
流は前記電極板2の信号出力端子9から、信号電流引出
し用気密端子部8を通じて外部に引出されるため、前記
電極部後側の配線手段は殆んど空間10A内に露出しな
くなる。これにより、第5図に示す如く、電極部後側の
空間10Aが従来に比較して格段に小さくできる。電極
部後側の空間10Aが小さいということは、ここで電離
するガスの量が少ないということであり、これは前述の
残留電流を減少させることに大きな効果がある。
実験的にめた結果によれば、上記電極部後側の空間10
Aの大きさは、電極Fil、2で形成される電離空間に
おいて発生する荷電粒子数に対し、上記?!I!極部後
側の空間において発生する荷電粒子数を1 /100以
下程度にする必要がある。これは。
Aの大きさは、電極Fil、2で形成される電離空間に
おいて発生する荷電粒子数に対し、上記?!I!極部後
側の空間において発生する荷電粒子数を1 /100以
下程度にする必要がある。これは。
上i2電極板1.2により形成される電離空間を通過す
るX線量が数%〜」0%あるものとして、このX線が電
極部後側の空間においてガスを電離し、電離したイオン
と電子の信号電極板2への流入が発生したとしても、一
様であるために無視てきるところから定められたもので
ある。このための上起電極部後側の空間の奥行寸法は前
記電極部を用いた場合、X線を60Kvの単色X線とし
て、前記電極板奥行寸法30 m mの約7%、211
1111以下となる。
るX線量が数%〜」0%あるものとして、このX線が電
極部後側の空間においてガスを電離し、電離したイオン
と電子の信号電極板2への流入が発生したとしても、一
様であるために無視てきるところから定められたもので
ある。このための上起電極部後側の空間の奥行寸法は前
記電極部を用いた場合、X線を60Kvの単色X線とし
て、前記電極板奥行寸法30 m mの約7%、211
1111以下となる。
なお、同様の効果は、第5図に16で示した遮蔽用電極
板を設けることによっても達成される。すなわち、圧力
容器4の電極部後側の空間10が多少広くても、該空間
内の電極部後端に高圧電極板Iと同電位を有する遮蔽用
電極板16を設けることにより、上記空間を実質的に狭
める効果がある。
板を設けることによっても達成される。すなわち、圧力
容器4の電極部後側の空間10が多少広くても、該空間
内の電極部後端に高圧電極板Iと同電位を有する遮蔽用
電極板16を設けることにより、上記空間を実質的に狭
める効果がある。
本発明は」二記実施例に限定されるべきものではないこ
とは言うまでもない。例えば、電極部の材質・寸法等は
適宜選択されて良いものであるし、上記電極部からの信
号引出し方式等も種々の方式を用いることが可能である
。また、引出した信号の処理方式も特に限定されるもの
ではない。
とは言うまでもない。例えば、電極部の材質・寸法等は
適宜選択されて良いものであるし、上記電極部からの信
号引出し方式等も種々の方式を用いることが可能である
。また、引出した信号の処理方式も特に限定されるもの
ではない。
以上述べた如く、本発明によれば、平行または放射状に
交互に配置された複数の高圧電極板と信号電極板とから
成る電極板群と、該電極板群を外部回路に接続するため
の接続手段および入射する放射線により電離する気体を
収納する容器から成る検出器において、前記電極板群の
電圧印加端子および信号出力端子をそれぞれ前記電極板
群に対して均等に配置したので、前記各電極板間での電
界を均一にすることが可能となり、簡単な構造で、各素
子の信号出力特性のばらつきを低減させることが可能な
検出器を実現できるという顕著な効果を奏するものであ
る。また、上記電極部の後側の空間を狭く構成すること
により、ここで発生する荷電粒子数を減少させることが
でき、これも」二記各素子の信号出力特性のばらつきを
低減させる−にで有効である。
交互に配置された複数の高圧電極板と信号電極板とから
成る電極板群と、該電極板群を外部回路に接続するため
の接続手段および入射する放射線により電離する気体を
収納する容器から成る検出器において、前記電極板群の
電圧印加端子および信号出力端子をそれぞれ前記電極板
群に対して均等に配置したので、前記各電極板間での電
界を均一にすることが可能となり、簡単な構造で、各素
子の信号出力特性のばらつきを低減させることが可能な
検出器を実現できるという顕著な効果を奏するものであ
る。また、上記電極部の後側の空間を狭く構成すること
により、ここで発生する荷電粒子数を減少させることが
でき、これも」二記各素子の信号出力特性のばらつきを
低減させる−にで有効である。
第1図は従来の検出器の一例を示す断面図、第2図はそ
の電極部を示す斜視図、第3図は素子の出力電流を示す
図、第4図は信号電圧を示す図。 第5図は本発明の一実施例を示す断面図、第6図はその
電極部を示す斜視図である。 1:高圧電極板、2:信号電極板、3A、313:電極
保持用溝板、4A:圧力容器、5 : X j、?入射
窓、8:気密端子部、9:信号出力端子、10A=電極
部後側の空間、12:X線ビーム、15:電圧印加端子
。 第 1 図 第 2 図 第 3 図 υ j 、L(J lfi (ms) 第 5 図 第 6 図
の電極部を示す斜視図、第3図は素子の出力電流を示す
図、第4図は信号電圧を示す図。 第5図は本発明の一実施例を示す断面図、第6図はその
電極部を示す斜視図である。 1:高圧電極板、2:信号電極板、3A、313:電極
保持用溝板、4A:圧力容器、5 : X j、?入射
窓、8:気密端子部、9:信号出力端子、10A=電極
部後側の空間、12:X線ビーム、15:電圧印加端子
。 第 1 図 第 2 図 第 3 図 υ j 、L(J lfi (ms) 第 5 図 第 6 図
Claims (4)
- (1)平行または放射状に交互に配置された複数の高圧
電極板と信号電極板とから成る電極板群と。 該電極板群を外部回路に接続するための接続手段および
入射する放射線により電離する気体を収納する容器から
成る多素子放射線検出器において。 前記電極板群の電圧印加端子および信号出力端子をそれ
ぞれ前記電極板群に対して均等に配置したことを特徴と
する放射線検出器。 - (2)前記電極板群の電圧印加端子および信号出力端子
をそれぞれ前記電極板群の相異なる端部に配置したこと
を特徴とする特許請求の範rIIi第1項記載の放射線
検出器。 - (3)平行または放射状に交互に配置された複数の高圧
電極板と信号電極板とから成る電極板群と。 該電極板群を外部回路に接続するための接続手段および
入射する放射線により電離する気体を収納する容器から
成る多素子放射線検出器において、前記電極板群の電圧
印加端子および信号出力端子をそれぞれ前記電極板群に
対して均等に配置するとどもに、前記電極板群の放射線
入射方向後側の空間で発生する荷電粒子数を、前記高圧
電t@ jfiによって形成される電離空間で発生する
荷電粒子数の1 /100以下とする如く、前記空間の
容積を減少させたことを特徴とする放射線検出器。 - (4)平行または放射状に交互に配置されたtllAl
lの高圧電極板と信号電極板とから成る電極板群ど、該
電極板群を外部回路に接続するための接続手段および入
射する放射線により電離する気体を収納する容器から成
る多素子放射線検出器において、前記電極板群の電圧印
加端子および信号出力端子をそ九ぞれ前記電極Fi群に
対して均等に配置するとともに、前記電極抜群の放射線
入射方向後側の前記電極板群に近接した位置に、放射線
入射方向に略直角に配置された、前記高圧電極板と同電
位の遮蔽用電極板を設けたことを特徴とする放射線検出
器。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58140109A JPH081797B2 (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | 放射線検出器 |
FR848412023A FR2550006B1 (fr) | 1983-07-30 | 1984-07-27 | Detecteur de rayonnement a cellules multiples |
US06/635,738 US4625117A (en) | 1983-07-30 | 1984-07-30 | Multi-cell radiation detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58140109A JPH081797B2 (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | 放射線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6032243A true JPS6032243A (ja) | 1985-02-19 |
JPH081797B2 JPH081797B2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=15261135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58140109A Expired - Lifetime JPH081797B2 (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | 放射線検出器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4625117A (ja) |
JP (1) | JPH081797B2 (ja) |
FR (1) | FR2550006B1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS623682A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-09 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 電離箱型x線検出器の電極板整列体の位置決め装置 |
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WO2009139039A1 (ja) * | 2008-05-12 | 2009-11-19 | 株式会社島津製作所 | 放射線断層撮影装置、およびその製造方法 |
FR2996954B1 (fr) * | 2012-10-15 | 2014-12-05 | Commissariat Energie Atomique | Detecteur courbe de particules gazeux |
CN103681179B (zh) * | 2013-12-31 | 2016-06-22 | 中国原子能科学研究院 | 一种平板电离室 |
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Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4031396A (en) * | 1975-02-28 | 1977-06-21 | General Electric Company | X-ray detector |
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NL8006216A (nl) * | 1980-11-13 | 1982-06-01 | Philips Nv | Golflengtegevoelig stralingsonderzoekapparaat. |
JPS5983077A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-14 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | X線検出器 |
-
1983
- 1983-07-30 JP JP58140109A patent/JPH081797B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-07-27 FR FR848412023A patent/FR2550006B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1984-07-30 US US06/635,738 patent/US4625117A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4625117A (en) | 1986-11-25 |
JPH081797B2 (ja) | 1996-01-10 |
FR2550006A1 (fr) | 1985-02-01 |
FR2550006B1 (fr) | 1991-04-19 |
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