JPS5824904B2 - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
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- JPS5824904B2 JPS5824904B2 JP52038467A JP3846777A JPS5824904B2 JP S5824904 B2 JPS5824904 B2 JP S5824904B2 JP 52038467 A JP52038467 A JP 52038467A JP 3846777 A JP3846777 A JP 3846777A JP S5824904 B2 JPS5824904 B2 JP S5824904B2
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 6
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims description 4
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 3
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 claims description 3
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton atom Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 claims description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は主として医学の診断に用いられる放射線検査装
置の検出器に係り、特に放射線発生源とそれに対向する
放射線検出器とを被検体を挾んでそのまわりに回転させ
ることにより被検体の各方向からの放射線吸収データを
得、これらのデータを基にコンピュータにより画像再構
成処理して被検体の断層像を得るところの放射線検査装
置の多チャンネル検出器に関するものである。
置の検出器に係り、特に放射線発生源とそれに対向する
放射線検出器とを被検体を挾んでそのまわりに回転させ
ることにより被検体の各方向からの放射線吸収データを
得、これらのデータを基にコンピュータにより画像再構
成処理して被検体の断層像を得るところの放射線検査装
置の多チャンネル検出器に関するものである。
前記のような放射線検査装置はCT (Compute
dTomography )と称され従来のCTは第1
図のように構成されていた。
dTomography )と称され従来のCTは第1
図のように構成されていた。
即ち、カバー1及びその中に収納された回転架台2の中
心部には開口3が設けられ、この開口3内に支持台4に
載置された被検体5の被検部位が支持台4のスライドに
より挿入されるようになっており、回転架台2はその駆
動機構6によってその中心7のまわりに回転することが
できる。
心部には開口3が設けられ、この開口3内に支持台4に
載置された被検体5の被検部位が支持台4のスライドに
より挿入されるようになっており、回転架台2はその駆
動機構6によってその中心7のまわりに回転することが
できる。
又回転架台2には放射線源たとえばX線管8とこれに対
向し被検体5を挾む位置に検出器9が取付けられており
、X線管8よりの出力X線は被検体5を含む撮影領域5
aを透過してのち検出器9に入射するよう配置されてい
る。
向し被検体5を挾む位置に検出器9が取付けられており
、X線管8よりの出力X線は被検体5を含む撮影領域5
aを透過してのち検出器9に入射するよう配置されてい
る。
X線管8よりの出力X線は第1図において紙面と平行な
方向に広がりを有する扇形状をなしており検出器9はこ
の扇状X線ビーム8bの各小角度内“の強度をそれぞれ
独立に測定できるように多数のセル(DI 〜Dn)に
分割されている。
方向に広がりを有する扇形状をなしており検出器9はこ
の扇状X線ビーム8bの各小角度内“の強度をそれぞれ
独立に測定できるように多数のセル(DI 〜Dn)に
分割されている。
さてこのCTに於て被検体5の断層像を得るためには先
づ被検体5を回転架台2内に装着する。
づ被検体5を回転架台2内に装着する。
次に駆動機構6によって回転架台2を回転させながらX
線管8よりのX線を照射する。
線管8よりのX線を照射する。
第2図に示すように検出器の各セル(D、〜Dn)には
撮影領域5aを通過する細いX線パス(pt〜Pn)が
対応して入射する。
撮影領域5aを通過する細いX線パス(pt〜Pn)が
対応して入射する。
そして上記検出器の各セルは上記透過X線パス(pl
〜Pn)の強度に比例した電気信号に変換し、この信号
はそれぞれ独立に第3図に示すような積分アンプ(Al
〜An)で増幅積分されA−D変換器(B1〜Bn)に
てディジタル量に変換される。
〜Pn)の強度に比例した電気信号に変換し、この信号
はそれぞれ独立に第3図に示すような積分アンプ(Al
〜An)で増幅積分されA−D変換器(B1〜Bn)に
てディジタル量に変換される。
このディジタル量はバッファメモリ10に一時たくわえ
られたのち、演算処理装置11に入力される。
られたのち、演算処理装置11に入力される。
この動作を回転架台2を回転することにより多数回繰返
し被検体5のあらゆる方向からの透過X線強度データを
得る。
し被検体5のあらゆる方向からの透過X線強度データを
得る。
このようにして得られたデータを演算処理装置11によ
り画像再構成処理を施し、CRTディスプレイ装置12
により被検体5の断層像を得る。
り画像再構成処理を施し、CRTディスプレイ装置12
により被検体5の断層像を得る。
第4図は前記検出器の概要図である。
従来のこの種の検出器の構造は入射X線8c側にX線に
対し吸収の少ないべIJ IJウム、アルミニウム、プ
ラスチック等で構成されたX線入射窓14を配して圧力
容器13に公知の結合法で気密性をもって接合15して
なる容器部と、信号収集電極(陽極)17及び陰極18
を等間隔あるいはほぼ等間隔に配置し、それぞれ独立に
信号を取出すように構成されていた。
対し吸収の少ないべIJ IJウム、アルミニウム、プ
ラスチック等で構成されたX線入射窓14を配して圧力
容器13に公知の結合法で気密性をもって接合15して
なる容器部と、信号収集電極(陽極)17及び陰極18
を等間隔あるいはほぼ等間隔に配置し、それぞれ独立に
信号を取出すように構成されていた。
容器内にはキセノン、クリプトン、アルゴン等不活性ガ
ス16が高圧(2〜100気圧)に封入され入射X線8
cの強度及びエネルギーに比例した電離イオン対を生じ
る。
ス16が高圧(2〜100気圧)に封入され入射X線8
cの強度及びエネルギーに比例した電離イオン対を生じ
る。
そして信号収集電極(陽極)17と陰極18間に高電圧
を印加することによって入射X線8cに比例した電離電
流を得ることになる。
を印加することによって入射X線8cに比例した電離電
流を得ることになる。
ところがこの種従来の検出器は圧力容器13と信号収集
電極(陽極)17とは電気的及び圧力的に分離された公
知の絶縁シール19によって信号を取出すため陰極18
と収集電極(陽極〕17との間にリーク電流が流れ検出
器出力に雑音が重畳される欠点があった。
電極(陽極)17とは電気的及び圧力的に分離された公
知の絶縁シール19によって信号を取出すため陰極18
と収集電極(陽極〕17との間にリーク電流が流れ検出
器出力に雑音が重畳される欠点があった。
さらに信号収集電極(陽極)17、陰極18の固定も第
4図に示す様な1点固定であり検出器9を被検体5のま
わりに回転させたとき振動により振動雑音(マイクロッ
オニツクノイズ)を発生し最終的に画質を低下させ、診
断能が低下する欠点があった。
4図に示す様な1点固定であり検出器9を被検体5のま
わりに回転させたとき振動により振動雑音(マイクロッ
オニツクノイズ)を発生し最終的に画質を低下させ、診
断能が低下する欠点があった。
本発明は以上のような欠点が除去された放射線検出器を
提供することを目的とするものである。
提供することを目的とするものである。
本発明に於ては検出セルの固定を強固にし、さらに固定
枠に高圧ガート電極の機能をもたせ、リーク電流を低減
させ雑音を減少させるようにしたものである。
枠に高圧ガート電極の機能をもたせ、リーク電流を低減
させ雑音を減少させるようにしたものである。
以下にその詳細を説明する。第5図は本発明による放射
線検出器の一部の断面図、第6図及び第7図はそれぞれ
の構成電極構造を示したものである。
線検出器の一部の断面図、第6図及び第7図はそれぞれ
の構成電極構造を示したものである。
等間隔あるいはほぼ等間隔に細かい溝20を切り込んで
ある導電性の1対の電極保持板21をそれぞれの溝20
が互に面対称に位置するように対向させて配置し、同じ
く導体で構成されたスペーサ22を公知の手法で接合さ
せ1対の電極保持板の間隔を固定する。
ある導電性の1対の電極保持板21をそれぞれの溝20
が互に面対称に位置するように対向させて配置し、同じ
く導体で構成されたスペーサ22を公知の手法で接合さ
せ1対の電極保持板の間隔を固定する。
そして対向する各対溝にそれぞれの両端縁を挿着された
高耐圧の絶縁体枠23に固持された陰極18及び信号線
用絶縁枠24で固持された信号収集電極(陽極)11を
交互に挿入し、負の高電圧の陰極18及び収集電極(陽
極)17を空間的に固定する。
高耐圧の絶縁体枠23に固持された陰極18及び信号線
用絶縁枠24で固持された信号収集電極(陽極)11を
交互に挿入し、負の高電圧の陰極18及び収集電極(陽
極)17を空間的に固定する。
この陰極18の保持方法は例えば第6図に示すようにモ
リブデン、タンタル、タングステン等の薄板で構成され
た陰極18をセラミックまたはプラスチックなどで構成
された、高耐圧の絶縁体枠23にハンダ付け、ロー付け
、または接着等公知の手法で固定し電極保持板21を電
気的に絶縁する。
リブデン、タンタル、タングステン等の薄板で構成され
た陰極18をセラミックまたはプラスチックなどで構成
された、高耐圧の絶縁体枠23にハンダ付け、ロー付け
、または接着等公知の手法で固定し電極保持板21を電
気的に絶縁する。
そしてこの陰極18と電気的に接触している高圧端子2
5を電圧印加用に用意する。
5を電圧印加用に用意する。
陰極固定法は上記方法に限らず第7図に示すように陰極
18を絶縁板23aの中に挾まれたような構成とするこ
とも考えられる。
18を絶縁板23aの中に挾まれたような構成とするこ
とも考えられる。
次に信号収集電極17の保持方法は例えば第8図に示す
ようにタングステン、モリブデン、ステンレス、ニッケ
ル等の細線(直径は10〜100μmが望ましい)をセ
ラミック、ガラスエポキシ、プラスチック等の絶縁体で
構成された信号線用絶縁枠24上の金属等で作られた導
電性のパターン26上にハンダ付、ろう付、導電性接着
剤等公知の手法で固定する。
ようにタングステン、モリブデン、ステンレス、ニッケ
ル等の細線(直径は10〜100μmが望ましい)をセ
ラミック、ガラスエポキシ、プラスチック等の絶縁体で
構成された信号線用絶縁枠24上の金属等で作られた導
電性のパターン26上にハンダ付、ろう付、導電性接着
剤等公知の手法で固定する。
第7図のように構成された陰極に対する陽極としては第
9図のように構成されたものが好ましい。
9図のように構成されたものが好ましい。
信号線の固定法は上記方法に限らず信号収集電極17を
絶縁枠に形成された穴又は溝又は第10図に示したよう
に突起部27にひっかけて空間的に固定することも考え
られる。
絶縁枠に形成された穴又は溝又は第10図に示したよう
に突起部27にひっかけて空間的に固定することも考え
られる。
以上のように構成された電極系は公知の方法でX線に対
して不透明と認められるガス(例えばキセノン、クリプ
トン、アルゴン、ヘリウム等の希ガスのうちの1つある
いは数種の混合ガス)中に封入され、陰極18に負の高
電圧をかけ、電極保持板21を接地し、導電性パターン
26を信号読出回路(図示せず)に結合することにより
信号収集電極(陽極)17をアース電位にする。
して不透明と認められるガス(例えばキセノン、クリプ
トン、アルゴン、ヘリウム等の希ガスのうちの1つある
いは数種の混合ガス)中に封入され、陰極18に負の高
電圧をかけ、電極保持板21を接地し、導電性パターン
26を信号読出回路(図示せず)に結合することにより
信号収集電極(陽極)17をアース電位にする。
70KeVのX線が例えは第5図に於ける紙面に直角に
上方から実質的に透明と認められる窓を通して入射する
と光電効果によりX線光子1個当り2×103個程度の
イオン対を生じる。
上方から実質的に透明と認められる窓を通して入射する
と光電効果によりX線光子1個当り2×103個程度の
イオン対を生じる。
イオン対は電極間に印加された高電圧により信号収集電
極(陽極)に集められ正イオンは陰極に集められる。
極(陽極)に集められ正イオンは陰極に集められる。
ところで信号収集電極(陽極)17は非常に細い線を使
用しているので前記陽極17近傍は電位傾度が大きく電
子力sno速され、ガスをさらに電離するガス増幅現象
を生ずる。
用しているので前記陽極17近傍は電位傾度が大きく電
子力sno速され、ガスをさらに電離するガス増幅現象
を生ずる。
このガス増幅作用は陰極18の電圧を適当に制御すると
、入射X線強度に比例した電流出力を得ることが可能に
なる。
、入射X線強度に比例した電流出力を得ることが可能に
なる。
本発明では検出器を上記特徴のある、いわゆる比例計数
域で動作させる。
域で動作させる。
この様にすることによって電離箱として特徴づけられる
従来の公知のCT用検出器必電離4電流の10〜100
倍近い出力電流が得られる利点がある。
従来の公知のCT用検出器必電離4電流の10〜100
倍近い出力電流が得られる利点がある。
本発明は以上のようになるものであって電極保持板21
を導電体で構成しこれを接地することにより陰極18に
印加した高電圧からのリーク電流は信号収集電極(陽極
)17に流入しないので検出器出力に雑音電流として重
畳される恐れがない。
を導電体で構成しこれを接地することにより陰極18に
印加した高電圧からのリーク電流は信号収集電極(陽極
)17に流入しないので検出器出力に雑音電流として重
畳される恐れがない。
また陰極18及び収集電極(陽極)17はそれぞれ絶縁
体枠23.24に固持され、さらにその両端縁が1対の
電極保持板の平行溝にはめ込まれて固定される為耐振性
があり検出器9の回転動作による振動雑音を導入しない
。
体枠23.24に固持され、さらにその両端縁が1対の
電極保持板の平行溝にはめ込まれて固定される為耐振性
があり検出器9の回転動作による振動雑音を導入しない
。
等のためこれを用いたCTの画質の向上に役立ち、診断
能力を向上できる効果がある。
能力を向上できる効果がある。
第1図は従来の放射線検査装置の概要図、第2図はX線
ビーム、撮影領域、検出器関係の説明図、第3図は放射
線検査装置の検出信号処理関係の説明図、第4図は従来
の検出器の構造を示す側断面図、第5図は本発明1実施
例の一部を示す横断面図、第6図、第7図は本発明1実
施例に用いられる陰極構造説明図、第8〜10図は本発
明1実施例に用いられる陽極構造例の説明図である。 21:電極保持板、20:溝、23 、24 :絶縁体
枠、17:陽極、18:陰極。
ビーム、撮影領域、検出器関係の説明図、第3図は放射
線検査装置の検出信号処理関係の説明図、第4図は従来
の検出器の構造を示す側断面図、第5図は本発明1実施
例の一部を示す横断面図、第6図、第7図は本発明1実
施例に用いられる陰極構造説明図、第8〜10図は本発
明1実施例に用いられる陽極構造例の説明図である。 21:電極保持板、20:溝、23 、24 :絶縁体
枠、17:陽極、18:陰極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 対向面のそれぞれに平行な複数の溝をそれぞれ対向
させて形成された導電性の1対の電極保持板と、これら
両保持板の対向した溝に両端縁を挿入して両電極保持板
に跨がって保持される絶縁体枠と、絶縁体枠にそれぞれ
固持されて交互に並設される陽極及び陰極とを具備しこ
れらが被検出放射線に対し実質的に不透明なガス中に封
入されてなる放射線検出器。 21対の電極保持板がアルミニウムまたはその合金で構
成されたことを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載
の放射線検出器。 3 陰極がモリブデン、タングステン、タンタル等の重
金属の薄板でなり、陽極力汐ングステン、モリブデン、
ステンレス、ニッケル等のi径10〜100岬の細線で
なることを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項
に記載の放射線検出器。 4 封入されたガスがキセノン、クリプトン、アルゴン
、ヘリウムまたはそれらの混合気体であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかに記載
の放射線検出器。 5 陽極及び陰極を固持する絶縁体枠がセラミック、ガ
ラスエポキシ、プラスチック成形品中から選ばれたもの
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4
項のいずれかに記載の放射線検出器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/610,889 US4084551A (en) | 1973-01-22 | 1975-09-05 | Internal combustion engine |
JP52038467A JPS5824904B2 (ja) | 1977-04-06 | 1977-04-06 | 放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52038467A JPS5824904B2 (ja) | 1977-04-06 | 1977-04-06 | 放射線検出器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS53123987A JPS53123987A (en) | 1978-10-28 |
JPS5824904B2 true JPS5824904B2 (ja) | 1983-05-24 |
Family
ID=12526042
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52038467A Expired JPS5824904B2 (ja) | 1973-01-22 | 1977-04-06 | 放射線検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5824904B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH081797B2 (ja) * | 1983-07-30 | 1996-01-10 | 株式会社日立製作所 | 放射線検出器 |
JPH084585B2 (ja) * | 1991-07-19 | 1996-01-24 | 東京タングステン株式会社 | Ct装置用電極板およびその製造方法 |
-
1977
- 1977-04-06 JP JP52038467A patent/JPS5824904B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53123987A (en) | 1978-10-28 |
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