JPS62159414A - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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JPS62159414A
JPS62159414A JP188286A JP188286A JPS62159414A JP S62159414 A JPS62159414 A JP S62159414A JP 188286 A JP188286 A JP 188286A JP 188286 A JP188286 A JP 188286A JP S62159414 A JPS62159414 A JP S62159414A
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JP
Japan
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wafer
sample
stand
introduction
vacuum container
Prior art date
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Pending
Application number
JP188286A
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English (en)
Inventor
Tsuneo Takahashi
庸夫 高橋
Hitoshi Ishii
仁 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の分野 本発明は、真壁容器内に駆動部分を有しない真空容器へ
の試料導入装置に関するものである。
先行技術 従来の真空容器内へのウェハ試料の搬送導入装置では、
ウェハ試料を予備排気室に置き、比較的高い真空度まで
排気した後、真空容器と接続するゲートを開き、ウェハ
試料を真空容器に搬送する。
このとき、従来の装置では、真空容器内に外部から操作
可能な駆動機構を有しており、これを操作することによ
りウェハ試料を受は取ジ、所望の場所に設置することに
なる。
たとえば、従来の真空容器内へのウェハ試料の搬送導入
装置の一例としては、たとえば第6図に示すようにM線
導入棒1を用い、その先端のウェハ台2にウェハを置き
、予備排気室3からゲートバルブ4を通って、高真空容
器5の中にとりつけられた、上下機構6を有する試料台
7の上方にウェハを移送し、上下機構6を操作してウエ
ノ・台2から試料台7にウエノ%受けとるという方式を
用いていた(第6図参照)。直線導入の方法とじては、
第7図(a)の様な伸び縮みの可能なベロー9を用いる
方法、あるいは(b)図の様な直線導入棒の端に導入マ
グネット(あるいは鉄心)llf、取り付け、パイプn
の外側に取り付けたマグネット13の磁力により、@線
導入棒を動かす方法がある。この方法は、真空容器と外
界と全完全に分離したまま、棒を移動できる方法である
。一方、若干操作性。
気密性に劣るが、導入棒1を0リング14によっておさ
えると同時にこのOリングによって真空容器lOと外界
とを分離する方法もある(第8図参照)。
上記の試料導入法では、ウニ・・は一方向に移動し搬送
されるだけであり、真空容器内に用意した機構部分を動
かし、ウェハを受けとらなければならない。これまでの
分子線エピタキシ(MBE)用真空容器等では、この機
構部分への薄膜の堆積は殆んど生じなかったので上記方
法で問題はなかったが、MBE用のソース材料としてガ
スを用いる場合、真空容器によるCVDあるいは、ガス
ソースのエピタキシャル成長を行なう場合には、ガスの
拡散と反応により機構部分への薄膜の堆積が生じ、機構
部分の部品の劣化あるいは、それを動作させた場合の発
しんによるウェハの汚染が問題になる。
また真空容器内に複雑な機構を有するために、真空への
排気速度が遅くなるという問題もある。
発明の目的 本発明の目的は、この点を改良し内部に駆動部分を具備
しない真空反応容器への試料導入機構を提供することに
ある。
発明の特徴及び構成 本発明では、ウェハを挿入しようとする高真を容器(真
空容器も含む)内に駆動部分を持たせず、予備排気室側
に駆動機構を持たせる構造とすることを最も主要な特徴
とする。従来の高真空容器内に駆動部分を具える構成と
は駆動部分の位置が異なることを特徴とする。本発明で
は、従来の直線導入(第q図、第g図)に相当するもの
として、予備排気室内に試料を直線導入し、かつ上下機
構あるいは直線導入棒1を回転させる機構を有する構成
とし、ウェハを高真空容器(反応容器)内の試料台上に
置いてくることが可能なようにするものである。
上記の高真空容器は、試料に薄膜を堆積する薄膜成料の
発生源を内部に具備することは勿論であり、反応容器と
称せられる。
〔実施例1] 第1図は、本発明の一つの実施例を説明する図であって
、21は、第7図、第S図で説明したような従来の直線
導入装置であり、nはベロー等の変形可能なパイプ状部
品である。第1図では、例として第7図(b)の機構を
用いた場合について図示しである。これ全動作させるた
めには、ウェハ台2上にウェハを置き、試料台7の上方
にウェハを移送した後、ベロー22を変形させ直線導入
装置21を傾け、ウェハを試料台7上に置く。このとき
、試料台7にウェハ台2が入るに十分な空間を開けてシ
けば、上記の方法によりウェハ8t−試料台7の上に置
くことができる。次に、直線導入装置を傾けたまま導入
棒1を後退させることにより、ウェハのみを試料台に残
して、第1図(a)の状態にできゲート4を閉じて、高
真空容器を外界と隔離できる。この逆を行えば、ウェハ
を予備排気室にもどすことができる。なお、第1図では
、試料台がウェハの下方向に固定されている形にしであ
るが、取り付は方向、試料台構造は自由であることは言
うまでもない。また、ガスを使用する高真空容器が多数
必要な時には、本発明の試料導入機構を有した予備排気
室を多数そなえれば良い。この除温」図(b)のように
予備排気室24と2つの高真空容器5.30とゲートバ
ルブ4.23t−介して直線的に接続し、1つの予備排
気室側2つの高真空容器への試料導入機構を有する室と
して用いることも可能である。この第1図(b)の構成
の場合、予備排気室と高真空容器30の真空排気機構は
共用することも可能である。
〔実施例2〕 第2図はもう一つの本発明の実施例であり、21は第1
図と同様な直線導入装置、部は上下機構、26は導入棒
押し上げ台である。この構成では、導入棒1をわずかに
たわませることのできる金属。
合成樹脂、セラミック等の材料で作成しておき、試料台
7上方にウェハ台2を移動させた状態で、上下機構25
を操作し、導入棒を上下させ、試料台7とウェハ台2と
の間でウェハのやり取りが可能となる。この上下機構部
は回転導入機構によっても可能であることは言うまでも
ない。この場合にガスを使用する高真空容器が多数必要
となる場合は、上記の実施例と同様である。
〔実施例3〕 第3図はもう一つの実施例であり、これは直線導入装置
21に、厘扉導入棒1の回転機構を合わせもつ構成とし
たものである。この構成は、第7図(a)のベローを用
いた直線導入方式において、ベロー9と導入棒1の接続
部分に既知の回転導入装置を挿入する方式あるいは、第
7図(b)の方式でマグネットと鉄心あるいはマグネッ
トとマグネットとの磁力作用により、直線移動力と同時
に回転力も伝える方式が可能である。なお気密性は劣る
が第8図の方式を用いれば外界より直接回転できるのは
言うまでもない。第3図の例では、磁力作用を用いた構
造が図示しである。
この方式での試料台とのウェハの受は渡しは、第3図(
b)あるいは(c)の様な方式で可能となる。すなわち
、第3図(b)では、2本の導入棒を用い、その先端に
つけたつめIでウェハをはさんで高真空容器5内の試料
台7の上方に移送し、そこで2本の導入棒をつめが開く
方向に回転させ、ウェハを試料台7上に置く。逆にウェ
ハ金持ち帰る場合は、つめ27を開いた状態で試料台7
の上方につめを移動させ、導入棒1を回転させ、つめn
でウェハ8をつかみ上げ持ち帰ることが可能となる。第
3図(c)の方式は、導入棒を1本としたもので、つめ
γでウェハをすくい取る方式としたものである。
C実施例4〕 第4図に、多数の高真空容器に対して1つの予備排気呈
奮通して、試料を導入する例の立面図を示す。この例で
は3個の高真空容器5に対して、予備排気室3全1個用
意し、この予備排気室3に上記3つの実施例に示した様
な試料導入機構28を有する構造としである。この例で
は、実施例1で説明した第1図(&)の実施例を用いた
場合について図示しである。この場合、それぞれの高真
空容器に対して、1本づつの直線導入を有した試料導入
機構28を多数用意する方法があることは言うまでもな
いが、ここでは、1つの試料導入機構で行う場合につい
て示した。この方式では、直線導入機構と予備排気室と
の間をベロー等の変形可能なパイプ29で接続し、その
変形を利用して、どの高真空容器内に対しても、一つの
直線導入機構により試料の田し入れができる様にしてい
る。この様にすることにより、1つの高真空容器から取
り出した試料をもう一つの高真空容器に入れるという作
業が容易になる。なお、この第4図に図示した様な、実
施例1とを組み合わせた場合は、第1図(a)のベロー
22と本実施例のベロー29ヲ共用することができるこ
とは言うまでもない。
〔実施例5〕 第5図に、もう1つの多数の高真空容器を有する場合に
ついて例を示す。試料導入機構31ヲ有する予備排気室
32ヲゲートバルプ41を介して第1の高真空容器内に
接続し、試料の出し入れを行える様にしである。さらに
、この第1の高真空容器内もう1つのゲートパルプ42
を介して第2の予備排気室温と接続し、さらにこれとゲ
ートパルプ46を介して第2の高真空容器あが接続しで
ある。また、第2の予備排気室Mには、第1の高真空容
器から試料の出し入れを行う試料導入機構36と第2の
高真空容器から試料の出し入れを行う試料導入機構37
2a−設けである。この2つの導入機構の間では、直接
空中であるいは一旦試料台等を介して試料の受は渡しが
できる様にしておく。この様な構成を取ることにより試
料を各室間で移動できることになる。また、より多くの
高真空容器5内する場合は、この様な接続方式を繰り返
見せは良い。この実施例の試料導入機構31 、36 
、37としては、実施例1,2.3で示した試料導入機
構のどれかを用いれば良い。第5図では実施例2の場合
の例が示しである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による高真空容器へのウェハ試料導入
装置の実施例全示し、 第2図及び第3図は、本発明の他の実施例である。 第4図及び第5図は、多数の高真空容器を用いる場合の
本発明の他の実施例である。 第6図は、従来の真空容器へのウェハ試料導入装置の断
面図を示し、 第7図は、直線導入装置の例、 第8図は、気密性の劣る直線導入装置の例を示す。 図において、 1・・・試料導入棒 2・・・ウェハ置き台 3.24.32.34・・・予備排気室4.23・・・
ゲートバルブ 5.30.33.35・・・高真空容器6.25・・・
上下機構 7・・・試料台 8・・・ウェハ 9.29・・・ペロー 10・・・容器 11 、13・・・鉄心あるいはマグネット12・・・
パイプ 14・・・Oリング 21・・・直線導入装置 η・・・ペロー 26・・・導入棒押し上げ台 訃・・つめ 羽、 31 、36 、37・・・試料導入機構(G) (b) 第1図 二遍 ′ig2  図 第4図 第 5 図 第 6 図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも1個の高真空反応容器と少なくとも1
    個の予備排気室とを具え、前記高真空反応容器と予備排
    気室とは開閉可能なゲートバルブにより接続され、前記
    予備排気室内に試料の直線導入機構及び試料の上下機構
    又は回転機構を具え、前記高真空反応容器へ前記ゲート
    バルブを介して試料の設置、取り出しを可能としたこと
    を特徴とする薄膜形成装置。
  2. (2)前記高真空反応容器の内部には、前記試料に薄膜
    を堆積する薄膜材料の発生源を具える前記特許請求の範
    囲第1項記載の薄膜形成装置。
JP188286A 1986-01-08 1986-01-08 薄膜形成装置 Pending JPS62159414A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP188286A JPS62159414A (ja) 1986-01-08 1986-01-08 薄膜形成装置

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JP188286A JPS62159414A (ja) 1986-01-08 1986-01-08 薄膜形成装置

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Publication Number Publication Date
JPS62159414A true JPS62159414A (ja) 1987-07-15

Family

ID=11513934

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP188286A Pending JPS62159414A (ja) 1986-01-08 1986-01-08 薄膜形成装置

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JP (1) JPS62159414A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0349250A (ja) * 1989-07-17 1991-03-04 Hitachi Ltd 試料搬送容器および試料移送装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0349250A (ja) * 1989-07-17 1991-03-04 Hitachi Ltd 試料搬送容器および試料移送装置

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