JPS62159061A

JPS62159061A - 導通／絶縁試験機

Info

Publication number: JPS62159061A
Application number: JP61001098A
Authority: JP
Inventors: Tsuneo Yamaha; 山羽　常雄
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1986-01-07
Filing date: 1986-01-07
Publication date: 1987-07-15
Anticipated expiration: 2009-01-19
Also published as: JPH065241B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コこの発明は、印刷回路基板などの導通試験または絶縁試
験を行う導通／絶縁試験機に関する。

［従来の技術］一般に、このような導通／絶縁試験機は多数のプローブ
ピンを備えており、被試験物としての例えば印刷回路基
板がそのプローブピン群に押し付けられる。そして、一
対のプローブピンに選択的に電源が接続され、その一対
のプローブピンの相互間について印刷回路基板の導通試
験または絶縁試験が行われる。プローブピンの選択的接
続ハ、トランジスタなどのスイッチング素子によってな
される。

そのような従来の導通／絶縁試験機の概略回路図を第２
図に示す。この図を参照して、従来の導通／絶縁試験機
について説明する。

この図において、１１〜Ｉｎはプローブビンであり、数
千水から数万木がプローバボードと呼ばれるボードに植
設されているものである。導通試験時には、被試験基板
２は図示のようにプローブピン１１〜ｉ　ｎに押し付け
られ、その各テストポイントと特定のプローブピンとが
接触せしめられる。

２Ａは定電流源、２Ｂは定電圧源である。３は切り換え
スイッチであり、これにより導通試験時には定電流源２
Ａが選択され、絶縁試験時には定電圧源２Ｂが選択され
る。選択された定電流源２Ａまたは定電圧源２Ｂは試験
すべき選択された一対のテストポイント間に接続される
が、その選択的接続のためにバイポーラトランジスタ４
１〜４ｎ　（上流側スイッチング素Ｔ−）およびバイポ
ーラトランジスタ５１〜５ｎ（下流側スイッチング素Ｊ
’）が設けられている。また、その選択されたテストポ
イント間の電圧を電圧判定器７に人力させるために（導
通試験時）、バイポーラトランジスタスイ、ソチ６１〜
６　ｎが設けられている。８は−Ｕ流判定器である。

なお、前記各バイポーラトランジスタ（スイッチング素
子）の駆動制御行う回路などは図中省略されている。

次に動作を説明する。導通試験の場合を想定すれば、切
り換えスイッチ３によって定電流源２Ａが選択される。

例えばプローブピンｌｌ、ｌｚに接触しているテストポ
イント間について被試験基板の導通試験を行う時は、上
流側スイッチング素子であるバイポーラトランジスタ４
ノおよび下流側スイッチング素子としてのバイポーラト
ランジスタ５２がオンさせられることにより、プローブ
ビン１７９１２間に定電流源２Ｂが接続される。

また、バイポーラトランジスタ６１がオンさせられ、プ
ローブビン１フ、１２間の電圧が電圧判定器７に印加さ
れる。

ここでプローブピンｔ／、ｔ２に接触しているテストポ
イント間が正常に導通しているならば、電圧判定器７の
入力電圧は充分低い。他方、そのテストポイント間が断
線しているならば、電圧判定器７の入力端子は大きな値
となる。そこで電圧判定Ｚ＋７において、入力電圧を所
定の判定閾値と比較することにより、注目するテストポ
イント間の導通を判定する。

絶縁試験の場合には、切り換えスイッチ３によって定電
圧源２Ｂが選択される。そして、プローブピンｔ１．ｉ
２に接触しているテストポイント間について被試験基板
２の絶縁試験を行う時には、バイポーラトランジスタ４
７．５２がオンさせられる。

そのテストポイント間が１１：、常に絶縁されているな
らば、定電圧源２Ｂに流れる電流は充分に小さいが、そ
の絶縁が不完全ならば、その電流は増加する。そこで、
その電流と判定閾値との比較を電流判定器８にて行い、
テストポイント間の絶縁を判定する。

［解決しようとする問題点］このような従来の導通／絶縁試験機において、上流側の
バイポーラトランジスタ５の破壊が比較的頻繁に起こる
という問題があった。このような破壊の頻度は、定電圧
源２Ｂの電圧が高いほど増加することも分かっている。

［発明の［１的コこの発明の目的は、そのような定電圧源または定電流源
をプローブピンに選択的に接続するためのバイポーラト
ランジスタなどのスイッチング素子の破壊を防１１：、
することにより、信頼性の高い導通／絶縁試験機を提供
することにある。

［問題点を解決するための手段］発明者の研究によれば、第２図に示した従来の導通／絶
縁試験機において、定電流源２Ａまたは定電圧源２Ｂを
選択した一対のプローブピン１に接続するために−Ｉｔ
流側のバイポーラトランジスタ４および下流側のバイポ
ーラトランジスタ５をオンさせた時に、過渡的に大きな
電流がバイポーラトランジスタ５に流れ、この過渡電流
によってバイボーラトランジスタ５の破壊を招いている
ことがわかった。

そして、この時に流れる過渡電流は、被試験基板２、プ
ローブピンｌの植設されたブローバボード、プローブピ
ン１の配線などに蓄積されている静電荷の放電電流であ
り、バイポーラトランジスタ５のコレクタからエミッタ
に流れることがわかった。

このようなことに着目し、この発明は、プローブピンに
定電圧源または定電流源を選択的に接続するためのスイ
ッチング素子に、それに流れる電流を許容限界以下に制
限するための過電流保護回路を接続するものである。

［作用コこのようにプローブピンと電源との接続制御用のスイッ
チング素子に過電流保護回路が接続され、それによって
スイッチング素子の電流は許容限界以下に制限される。

したがって、スイッチング素子のオン時に許容限界を越
えるような静電荷の放電電流が流れなくなるため、従来
のような静電荷放電電流によるスイッチング素子の破壊
を防雨でき、導通／絶縁試験機の信頼性を改占できる。

［実施例コ以ド図面を参照し、この発明の一実施例について説明す
る。

第１図は、この発明による導通／遮断試験機の一実施例
を簡略化して示す概略回路図である。この図において、
第２図と同一部分には同一参照番号が付けられており、
その部分の説明は省略する。

ド流側スイッチング素子である各バイポーラトランジス
タ５（５１〜５ｎ）のエミッタに、過電流保護回路１０
が共通に接続されている。

この過電流保護回路１０の構成について説明すれば、１
１は抵抗であり、バイポーラトランジスタ５のエミッタ
はこの抵抗１１を介してマイナス極性の定電圧電源１２
に接続されている。バイポーラトランジスタ１３のエミ
ッタは抵抗１１およびバイポーラトランジスタ５のエミ
ッタとの接続点に接続されている。このバイポーラトラ
ンジスタ１３のコレクタはプラス極性の電源１４に接続
され、この電源１４とアースとの間に抵抗１８および定
電圧ダイオード１６（またはツェナーダイオード）の直
列接続体が接続されている。この抵抗１５と定電圧ダイ
オード１６との接続点は一定電位に保持されており、そ
れはバイポーラトランジスタ１３のベースに接続されて
いる。

このような構成の過電流保護回路１０において、バイポ
ーラトランジスタ１３はベースが一定電位に保持される
ため、そのエミッタの電位を一定化するように作用する
。つまり、バイポーラトランジスタ５から抵抗１１に流
入する電流が減少（増加）すると、バイポーラトランジ
スタ１３のエミッタ電流が増加（減少）して抵抗１１の
電流が一定化され、その結果、バイポーラトランジスタ
１３のエミッタ（バイポーラトランジスタ５のエミッタ
）の電位が一定化される。

しかし、そのようなバイポーラトランジスタ１３による
電圧安定化作用が有効に働くのは、バイポーラトランジ
スタ５から抵抗１１に流入する電流（同時にはバイポー
ラトランジスタ５は１個しかオンしないから、そのエミ
ッタ電流に等しいとみなし得る）が所定値以下であって
、バイポーラトランジスタ１３が活性状態にある場合で
ある。

その流入電流が所定値を越えると、バイポーラトランジ
スタ１３のエミッタ電位が」ユ界してバイポーラトラン
ジスタ１３はベース・エミッタ接合が逆バイアス１大態
となる。したがって、バイポーラトランジスタ１３によ
る電圧安定化が行われなくなり、バイポーラトランジス
タ５のエミッタ電位はそのエミッタ電流に比例して上昇
するようになる。その結果、バイポーラトランジスタ５
のベースΦエミッタ接合のバイポーラトランジスタが浅
くなり、そのエミッタ電流の増加が抑制される。

このように、抵抗１１の値およびバイポーラトランジス
タ１３のベース電位などを適切に決定すれば、バイポー
ラトランジスタ５に流れる電流を許容限界以下に抑える
ことができる。

ここで前述のように、バイポーラトランジスタ５のオン
時に、そのコレクタ側布線などに蓄積していた静電荷が
そのバイポーラトランジスタ５を通じて放電しようとす
る。そして従来は、バイポーラトランジスタ５の電流を
制限するための手段は格別設けられていなかったため、
許容限界を越える放電電流がながれ、その過電流によっ
てバイポーラトランジスタ５の破壊を招いていた。

これに対して、この発明による導通／絶縁試験機にあっ
ては、過電流保護回路１０によってバイポーラトランジ
スタ５の電流は許容限界以下に制限されるため、バイポ
ーラトランジスタ５はオン時に静電荷放電電流による破
壊から保護される。

さらに、この実施例においては、バイポーラトランジス
タ５の電流が許容限界以下であれば、そのエミッタ電位
は過電流保護回路１０によって一定化される。したがっ
て、バイポーラトランジスタ５のベース駆動は従来と同
様の比較的＠弔なベース駆動回路（図示せず）によって
安定に行うことができる。

因みに、す１純にバイポーラトランジスタ５のエミッタ
に電流制限用抵抗を直列接続することによって過電流保
護を行った場合、そのエミッタ電流が許容限界量ドの範
囲であっても、その増減に比例してエミッタ電位が変動
することになる。その結果、バイポーラトランジスタ５
のベース駆動が不安定になりやすく、安定なベース駆動
を可能とするにはベース駆動回路の複雑化を招く。

以−１−１過電流保護回路１０に関連して説明したが、
導通試験および絶縁試験の全体的動作は従来と同様であ
るので、その説明を割愛する。

なお、この実施例にあっては、すべてのバイポーラトラ
ンジスタ５のエミッタに一つの過電流保護回路１０を共
通に接続したが、バイポーラトランジスタ５の一つ毎、
または所定個数毎に同様の過電流制御回路を接続しても
よい。

また、バイポーラトランジスタ４，５．６はいずれも電
界効果トランジスタに置換可能である。

バイポーラトランジスタ５が電界効果トランジスタに置
換された場合、そのソースに同様の過電流保護回路を接
続することにより、同様の過電流保護を達成できる。

定電圧電源１２を省き、抵抗１１の一端を直接アースに
接続することも可能である。

さらに、以上に述べた以外にも、この発明は適宜変形し
て実施し得るものである。

［発明の効果］以−１−説明したように、この発明は、プローブピンに
定電圧源または定電流源を選択的に接続するためのスイ
ッチング素子に、それに流れる電流を許容限界量Ｆに制
限するための過電流保護回路を接続するものであるから
、スイッチング素子のオン時に許容限界を越えるような
静電荷の放電電流が流れなくなるため、従来のような静
電荷放電電流によるスイッチング素子の破壊を防止でき
、信頼性の向」−シた導通／絶縁試験機を実現できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の導通試験機の一実施例を示す概略回
路図、第２図は従来の導通・絶縁試験機の概略回路図で
ある。１７”Ｉｎ（１）・・・プローブピン、２・・・被試験
ノ＾板、２Ａ・・・定電流源、２Ｂ・・・定電圧源、３
・・・切り換えスイッチ、４１〜４ｎ（４）・・・］二
流側バイポーラトランジスタ、５１〜５ｎ（５）・・・
下流側バイポーラトランジスタ、６ノ〜６ｎ・・・電圧
印加ＩＩ　御用バイポーラトランジスタ、７・・・電圧
判定器、８・・・電流判定器、１０・・・過電流保護回
路、１１・・・抵抗、１２・・・定電圧電源、１３・・
・バイポーラトランジスタ、１４・・・電源、１６・・
・定電圧ダイオード。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）印刷回路基板などの被試験物に接触した多数のプ
ローブピン中の一対のプローブピンに選択的に電源を接
続し、その一対のプローブピンの相互間について前記被
試験物の導通試験または絶縁試験を行う導通／絶縁試験
機において、前記プローブピンと電源との接続を制御す
るためのスイッチング素子に、それに流れる電流を許容
限界以下に制限するための過電流保護回路が接続された
ことを特徴とする導通／絶縁試験機。
（２）複数のスイッチング素子に一つの過電流保護回路
が共通に接続されることを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の導通／絶縁試験機。
（３）スイッチング素子はトランジスタであり、そのエ
ミッタまたはソースに過電流保護回路が接続されること
を特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項に記載
の導通／絶縁試験機。
（４）過電流保護回路は、スイッチング素子と直列に抵
抗を接続し、バイポーラトランジスタのエミッタを前記
スイッチング素子と前記抵抗との接続点に接続し、その
バイポーラトランジスタのベースを一定電位に保持し、
かつそのコレクタを作動電源に接続してなることを特徴
とする特許請求の範囲第３項記載の導通／絶縁試験機。