JPS62155581A - 半導体レ−ザ光スイツチ - Google Patents
半導体レ−ザ光スイツチInfo
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- JPS62155581A JPS62155581A JP29527585A JP29527585A JPS62155581A JP S62155581 A JPS62155581 A JP S62155581A JP 29527585 A JP29527585 A JP 29527585A JP 29527585 A JP29527585 A JP 29527585A JP S62155581 A JPS62155581 A JP S62155581A
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- optical
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光通信及び光情報処理用の光スィッチに関し、
特に半導体レーザを用いた光スィッチに関する。
特に半導体レーザを用いた光スィッチに関する。
従来、光スィッチはリチウム・ナイオペイト(LiNb
03)に代表される電気光学結晶を用いた方向性結合器
型のものや、コレステリック液晶を用いて光の透過率を
変化させたもの等であシ、能動素子と言うよりはむしろ
受動素子である。であるから一般的に光スィッチの通過
後の光出力が数〔dB〕の損失を伴う。例えば長波長帯
の場合、光スィッチによる損失増加は、光ファイバーの
伝送距離10〜数10km分に相娼するため、改善すべ
き重要な課題である。したがって光スィッチとしては。
03)に代表される電気光学結晶を用いた方向性結合器
型のものや、コレステリック液晶を用いて光の透過率を
変化させたもの等であシ、能動素子と言うよりはむしろ
受動素子である。であるから一般的に光スィッチの通過
後の光出力が数〔dB〕の損失を伴う。例えば長波長帯
の場合、光スィッチによる損失増加は、光ファイバーの
伝送距離10〜数10km分に相娼するため、改善すべ
き重要な課題である。したがって光スィッチとしては。
損失の小さい、増幅効果のあるものが望ましい。
よって半導体レーザを用いることが望ましいと考えられ
ている。代表的な例として昭和59年度電子通信学会総
合全国大会1065番分冊4−119頁に記載された半
導体レーザ(LD)光スィッチがある。このLD光スイ
ッチでは光が出入りする開口面に無反射コーティング処
理を施しだLDを用いる。
ている。代表的な例として昭和59年度電子通信学会総
合全国大会1065番分冊4−119頁に記載された半
導体レーザ(LD)光スィッチがある。このLD光スイ
ッチでは光が出入りする開口面に無反射コーティング処
理を施しだLDを用いる。
以下余日
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、LD自身が無反射コーティングによってファブ
リ・ベロモードが抑圧されるため、レーザ発振閾値直前
に見られるケ゛インピークが消え。
リ・ベロモードが抑圧されるため、レーザ発振閾値直前
に見られるケ゛インピークが消え。
全体として光入力の波長に対してケ9インが平坦なもの
になっている。このため外部よシ光入力信号をLD壁壁
画面光注入すると、光入力信号の波長に対応するLD光
スイッチのゲインが増幅されて同一波長の光出力信号が
得られる。この場合の実験例では入力レベルが一〇、4
dBmに対して出力レベルが−10dBmであった。こ
のように、このLD光スイッチの場合には従来の他の光
スィッチと同様損失が大きくなるという欠点があった。
になっている。このため外部よシ光入力信号をLD壁壁
画面光注入すると、光入力信号の波長に対応するLD光
スイッチのゲインが増幅されて同一波長の光出力信号が
得られる。この場合の実験例では入力レベルが一〇、4
dBmに対して出力レベルが−10dBmであった。こ
のように、このLD光スイッチの場合には従来の他の光
スィッチと同様損失が大きくなるという欠点があった。
損失が大きくなった原因は無反射コーティングによって
LD内のゲインが全体として小さく抑えられてしまうた
めである。
LD内のゲインが全体として小さく抑えられてしまうた
めである。
このため、無反射コーティングをしないLDを光スィッ
チとして用いることが考えられる。この場合には鋭いケ
゛インビークを利用してロスレスあるいは増幅効果のあ
る光スィッチが期待できる。
チとして用いることが考えられる。この場合には鋭いケ
゛インビークを利用してロスレスあるいは増幅効果のあ
る光スィッチが期待できる。
だがLDの発振波長が温度変動によって移動するため、
入力信号の波長とLD光スイッチのゲインビークが完全
に一致せずオン・オフ動作しない。
入力信号の波長とLD光スイッチのゲインビークが完全
に一致せずオン・オフ動作しない。
このためにはLD光スイッチの温度を±0.01℃以内
の精度で制御しなければならず特別な用途に限定される
という欠点があった。
の精度で制御しなければならず特別な用途に限定される
という欠点があった。
本発明は電極が共振器軸方向に垂直な溝にょシ分割され
、さらに前記溝の直下の半導体層に、活性層に達しない
深さの高抵抗領域を設けた半導体レーザと、第1の光フ
ァイバーから前記半導体レーザからの光出力信号を第2
の光ファイバーに光学的に結合する手段とを備えること
を特徴とする半導体レーザ光スィッチでアル。
、さらに前記溝の直下の半導体層に、活性層に達しない
深さの高抵抗領域を設けた半導体レーザと、第1の光フ
ァイバーから前記半導体レーザからの光出力信号を第2
の光ファイバーに光学的に結合する手段とを備えること
を特徴とする半導体レーザ光スィッチでアル。
次に2本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の側面図、第2図は光入力信
号の波長とオン・オフ動作に必要な最小光入力の関係、
第3図はLDのオン状態とオフ状態でのケ°イン曲線と
光入力信号の波長の関係を各告示す図である。
号の波長とオン・オフ動作に必要な最小光入力の関係、
第3図はLDのオン状態とオフ状態でのケ°イン曲線と
光入力信号の波長の関係を各告示す図である。
半導体レーザ(LD)光スィッチに用いる半導体レーザ
1はまずn−InP基板10上にn−InPnラグド層
11.ノンドープのInGaAsP活性層12゜p−I
nPグラッド層13 r p−InGaAsPキャップ
層14を頭次エピタキシャルに成長する。次にn−In
P基板10側にn側オーミック電極15 、 p−In
GaAsPキャップ層14側にp側オーミック電極16
に溝17を設けて共振器軸方向に溢って2分割する。
1はまずn−InP基板10上にn−InPnラグド層
11.ノンドープのInGaAsP活性層12゜p−I
nPグラッド層13 r p−InGaAsPキャップ
層14を頭次エピタキシャルに成長する。次にn−In
P基板10側にn側オーミック電極15 、 p−In
GaAsPキャップ層14側にp側オーミック電極16
に溝17を設けて共振器軸方向に溢って2分割する。
それぞれ電極をA電極18.B電極19とする。
溝17直下の領域30が高抵抗となるようにマスクを用
いてグロトン照射によシ溝17直下のp−InGaAs
Pキャップ層14と低屈折部クラッド層130大部分の
結晶性を破壊する。このようにして形成した半導体レー
ザ1ではA電極18とB電極19が溝17の高抵抗化の
ためにほとんど独立に機能できる。このときの溝17は
直下のInGaAsP活性層へ電流が注入されないため
光入出力特性でヒステリシスや微分利得特性の原因とな
る可飽和吸収領域として機能する。2つのA電極18と
B動作を述べると、半導体レーザ1へ第1の光ファイバ
ー31から光入力信号20が第1のレンズ結合系32を
介して注入されると、半導体レーザ1は光入力信号20
の波長に対して、わずかな光入力でオフ状態からオン状
態に変化する。第2図で明らかなように発振閾値と半導
体レーザへの注入電流の差Δ工が0.5mAでは入力信
号20として4〜10μW程度でよく、これに対して光
出力信号21は5 mW以上のものが得られる。光出力
信号21は第2のレンズ結合系33を介して第2の光フ
ァイバー34に送られる。オン状態で高い光出力の得ら
れる理由は、可飽和吸収領域を有する半導体レーザ1で
は、レーザ発振時に可飽和吸収領域の損失が光の注入に
よって急激に減少して全体としてゲインが損失を土建る
ためである。これは第3図に示しである。注入電流と光
出力の関係や光入力と光出力の関係を示す実験例では急
峻な立上シを示す結果が得られており 、 o、 1m
W程度のEL状態(オフ状態)から5〜10mWのレー
ザ発振状態(オン状態)にかわる。光入力は従来例に示
したLD光スイッチのようにLD光入力信号のケ°イン
を高めるために用いられるのではなく、光入力の吸収が
バンド間遷移により、可飽和吸収領域の損失ス硬りトル
(第3図における(a)曲線)を相対的に小さくするた
めに用いられる。第2図で示したようにかなりの波長範
囲にわたって小さな光トリがレベルでオン状態となるこ
とから本発明の実施例では半導体レーザ1の温度を±1
℃の精度で制御するだけでよいことがわかり、したがっ
て高性能な温度制御が不要となることがわかった。
いてグロトン照射によシ溝17直下のp−InGaAs
Pキャップ層14と低屈折部クラッド層130大部分の
結晶性を破壊する。このようにして形成した半導体レー
ザ1ではA電極18とB電極19が溝17の高抵抗化の
ためにほとんど独立に機能できる。このときの溝17は
直下のInGaAsP活性層へ電流が注入されないため
光入出力特性でヒステリシスや微分利得特性の原因とな
る可飽和吸収領域として機能する。2つのA電極18と
B動作を述べると、半導体レーザ1へ第1の光ファイバ
ー31から光入力信号20が第1のレンズ結合系32を
介して注入されると、半導体レーザ1は光入力信号20
の波長に対して、わずかな光入力でオフ状態からオン状
態に変化する。第2図で明らかなように発振閾値と半導
体レーザへの注入電流の差Δ工が0.5mAでは入力信
号20として4〜10μW程度でよく、これに対して光
出力信号21は5 mW以上のものが得られる。光出力
信号21は第2のレンズ結合系33を介して第2の光フ
ァイバー34に送られる。オン状態で高い光出力の得ら
れる理由は、可飽和吸収領域を有する半導体レーザ1で
は、レーザ発振時に可飽和吸収領域の損失が光の注入に
よって急激に減少して全体としてゲインが損失を土建る
ためである。これは第3図に示しである。注入電流と光
出力の関係や光入力と光出力の関係を示す実験例では急
峻な立上シを示す結果が得られており 、 o、 1m
W程度のEL状態(オフ状態)から5〜10mWのレー
ザ発振状態(オン状態)にかわる。光入力は従来例に示
したLD光スイッチのようにLD光入力信号のケ°イン
を高めるために用いられるのではなく、光入力の吸収が
バンド間遷移により、可飽和吸収領域の損失ス硬りトル
(第3図における(a)曲線)を相対的に小さくするた
めに用いられる。第2図で示したようにかなりの波長範
囲にわたって小さな光トリがレベルでオン状態となるこ
とから本発明の実施例では半導体レーザ1の温度を±1
℃の精度で制御するだけでよいことがわかり、したがっ
て高性能な温度制御が不要となることがわかった。
なお上記実施例の長波長帯のInGaAsP/ InP
系の半導体材料を用いたが、材料が限定されないのは言
うまでもない。また以上の実施例では通常の全面電極構
造の半導体レーザ1を用いだが、埋め込み構造、単一軸
モード発振用のDFBあるいはDBR構造でもよく可飽
和吸収領域の大きさを自在に制御できるような構造をし
ていれば特に限定されない。まだ以上の実施例では反射
光による半導体し一デ1への影響を配慮しなかったが、
光アイソレータと半導体レーザ1を組合せてもよい。
系の半導体材料を用いたが、材料が限定されないのは言
うまでもない。また以上の実施例では通常の全面電極構
造の半導体レーザ1を用いだが、埋め込み構造、単一軸
モード発振用のDFBあるいはDBR構造でもよく可飽
和吸収領域の大きさを自在に制御できるような構造をし
ていれば特に限定されない。まだ以上の実施例では反射
光による半導体し一デ1への影響を配慮しなかったが、
光アイソレータと半導体レーザ1を組合せてもよい。
以上説明したように本発明は、高抵抗体を有する半導体
レーザを用いることによシ、半導体レーザの温度制御が
緩く、まだ光入力に対して光出力を増幅でき、さらに光
入力と光出力の波長を厳密
レーザを用いることによシ、半導体レーザの温度制御が
緩く、まだ光入力に対して光出力を増幅でき、さらに光
入力と光出力の波長を厳密
第1図は本発明の一実施例の側面図、第2図は第1図に
用いたLD光スイッチの光入力信号の波長とオン・オフ
動作に必要な最小光入力の関係。 第3図はLD光スイッチのオン状態とオフ状態でのディ
ン曲線と光入力信号の波長の関係を示す図である。 1・・・半導体レーザ、10・・・n−InP基板、1
1・・・n−InPクラッド層、 l 2・−InGa
AsP活性層、13・・・p−InPクラッド層、14
・・・InGaAsPキャップ層。 15・・・n側オーミック電極、16・・・p側オーミ
ック電極、17・・・溝、18・・・A電極、19・・
・B電極。 20・・・光入力信号、21・・・光出力信号、30・
・・溝直下の領域、31・・・第1の光ファイバ、32
・・・第1のレンズ結合系、33・・・第2のレンズ結
合系。 34・・・第2の光ファイバ。 第1図 了 第 2 図 光入力信号の波長
用いたLD光スイッチの光入力信号の波長とオン・オフ
動作に必要な最小光入力の関係。 第3図はLD光スイッチのオン状態とオフ状態でのディ
ン曲線と光入力信号の波長の関係を示す図である。 1・・・半導体レーザ、10・・・n−InP基板、1
1・・・n−InPクラッド層、 l 2・−InGa
AsP活性層、13・・・p−InPクラッド層、14
・・・InGaAsPキャップ層。 15・・・n側オーミック電極、16・・・p側オーミ
ック電極、17・・・溝、18・・・A電極、19・・
・B電極。 20・・・光入力信号、21・・・光出力信号、30・
・・溝直下の領域、31・・・第1の光ファイバ、32
・・・第1のレンズ結合系、33・・・第2のレンズ結
合系。 34・・・第2の光ファイバ。 第1図 了 第 2 図 光入力信号の波長
Claims (1)
- 1、電極が共振器軸方向に垂直な溝により分割され、さ
らに前記溝の直下の半導体層に、活性層に達しない深さ
の高抵抗領域を設けた半導体レーザと、第1の光ファイ
バから前記半導体レーザへ光入力信号を光学的に結合す
る手段と、前記半導体レーザからの光出力信号を第2の
光ファイバに光学的に結合する手段とを備えることを特
徴とする半導体レーザ光スイッチ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29527585A JPS62155581A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 半導体レ−ザ光スイツチ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29527585A JPS62155581A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 半導体レ−ザ光スイツチ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62155581A true JPS62155581A (ja) | 1987-07-10 |
Family
ID=17818486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29527585A Pending JPS62155581A (ja) | 1985-12-27 | 1985-12-27 | 半導体レ−ザ光スイツチ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62155581A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03505006A (ja) * | 1988-04-22 | 1991-10-31 | ブリテツシユ・テレコミュニケイシヨンズ・パブリツク・リミテツド・カンパニー | 非線形光増幅 |
-
1985
- 1985-12-27 JP JP29527585A patent/JPS62155581A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03505006A (ja) * | 1988-04-22 | 1991-10-31 | ブリテツシユ・テレコミュニケイシヨンズ・パブリツク・リミテツド・カンパニー | 非線形光増幅 |
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