JPS6215123B2 - - Google Patents

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JPS6215123B2
JPS6215123B2 JP10479779A JP10479779A JPS6215123B2 JP S6215123 B2 JPS6215123 B2 JP S6215123B2 JP 10479779 A JP10479779 A JP 10479779A JP 10479779 A JP10479779 A JP 10479779A JP S6215123 B2 JPS6215123 B2 JP S6215123B2
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transistor
light
voltage
circuit
base
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Publication of JPS6215123B2 publication Critical patent/JPS6215123B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、パルス状の光を測距対象に照射し、
測距対象から受光される光の急峻な変化を検出
し、その検出出力に基づいて測距対象までの距離
を検出する測距装置に関する。
従来、明るさが時間的に一定な光つまり定常光
に重畳して存在する瞬間的なパルス光のような交
流成分を分離検出する回路として、入射光をその
明るさに応じた光電流に変換する光電素子と直列
に負荷を接続し、さらにこの負荷にキヤパシタを
接続し、このキヤパシタを介して負荷に現われる
電圧変動成分のみを取り出すようにした回路が一
般的によく用いられている。
しかしながら上記の負荷として抵抗を用いた回
路において、定常光の明るさの大巾な変化に応じ
て飽和することなく抵抗負荷の端子間に電圧を発
生させるためには比較的大きな電圧を供給する電
源を必要とする。そこで抵抗負荷に代えてダイオ
ードなどの対数圧縮素子を用いることが考えられ
るが、この場合は、キヤパシタを介して検出され
るパルス光に対応した信号の強度は定常光の強度
に依存したものとなつてしまい、特に定常光の明
るさが大きい場合は、負荷に現われるパルス光に
対する電圧変化はさらに小さくなつて、時には変
化そのものの検出すら困難になつてしまうという
事態が生じる。
本発明は、受光される定常光の強さにかかわら
ず、これに重畳する急峻な受光強度の変化を充分
な大きさの情報として検出し、確実に測距を行う
ことができる測距装置を提供することを目的とす
る。
上記目的を達成するための本発明の構成はパル
ス状の光を発生する発光手段と、測距対象からの
光を受光する光電素子と、この光電素子の光電流
をベースへの入力とする第1のトランジスタと、
上記第1のトランジスタのベースにコレクタが接
続されている第2のトランジスタと、上記第2の
トランジスタのコレクタと上記第1のトランジス
タのベースとの接続点から上記第2のトランジス
タのベースに接続され、上記第1のトランジスタ
のベース電流がほぼ一定となるよう上記第2のト
ランジスタのコレクタ電流を制御する負帰還回路
と、上記第2のトランジスタのベースに接続され
たコンデンサと、上記第1のトランジスタのコレ
クタ電流に応答する出力回路とを有し、上記光電
素子に受光される測距対象からの光の急峻な変化
を上記第1のトランジスタのコレクタ電流として
増幅し、上記出力回路の出力に基づいて測距対象
までの距離を検出することを特徴とする測距装置
である。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。
第1図および第2図は、従来から知られている
カメラの自動焦点調節装置に適する、三角測距の
原理を応用した光ビーム投射方式の測距装置の原
理構成を示す。第1図において、光源1から発さ
れる光が集光レンズ2によつてビーム状に絞ら
れ、光軸3上の物体に向けて照射される。集光レ
ンズ2からその光軸3に対して基線長dだけ隔て
た位置に、結像レンズ4が配されてその結像面に
は複数個の光電素子9,10,11および12が
配列されている。今、図面において光軸3上の各
点5,6,7および8は、光電素子9,10,1
1および12の各受光面上にそれぞれ結像される
ような構成とすると、例えば点5または6,7,
8の位置に物体があれば、光源1から発射された
光は、その物体によつて反射されて夫々対応する
光電素子9または10,11,12に入射して来
る(このような、光電素子への入射光を大陽光な
どによる定常光と区別するために信号と呼ぶ)。
したがつて、どの光電素子9,10,11,1
2に信号光が入射するかを検知すれば、物体まで
の距離を知ることができるのである。
第2図は、光電素子の出力信号を扱う回路で、
各光電素子は、これらが発生する光電流を電圧信
号に変換する光電変換回路13,14,15およ
び16に接続されている。各光電変換回路の出力
は電圧比較回路17,18,19および20の入
力の一方にそれぞれ接続されている。各電圧比較
回路のもう一方の入力は一定の基準電圧源25に
接続され、比較のための基準電圧が与えられてい
る。各電圧比較回路の出力はレジスタ21,2
2,23および24の入力と接続されている。ま
た、これらのレジスタのクロツク入力はワンシヨ
ツト27の出力と接続されている。28はワンシ
ヨツト27の出力パルスに応答して光源1を一定
時間点灯駆動する光源駆動回路である。ここで、
測距指令に基いてワンシヨツト27のスイツチ2
6が閉じられると、ワンシヨツト27から一定時
間“高”レベルのパルスが出力され、これに応答
して被測距対象の物体に光ビームが投射される。
かくして、その反射による信号光の到来があつた
光電素子と接続されている光電変換回路からは信
号光の強度に応じた電圧信号が出力され、この信
号のレベルが電圧源25の電圧レベルを越えてい
るときに、該信号系列下の電圧比較回路から
“高”レベルの電圧信号が出力されてこれをレジ
スタが記憶する。以上に見るように、この種光ビ
ーム投射方式の測距装置は、原理的には簡単な構
成よりなり、単純な動作をするものであるが、し
かし今日まで未だカメラに組み込まれた商品とし
ては実用化されるに至つていない。この実用化を
妨げている原因の一つは、各光電素子に入射する
信号光の強度が微弱なものにならざるを得ず、加
えて光電素子には太陽光などによる定常光が同時
に入射することから、信号光の成分を効果的に分
離して検出することが容易なことではなかつたこ
とにあると考えられる。
本発明は、従来困難視されて来た、定常光と混
在する微弱な信号光成分を効果的に分離して検出
するという課題を新しい回路技術を導入すること
により解決し、上記のタイプの測距装置を実用化
に導くことにある。すなわちこの種の測距装置を
実用化するにあたつては、次のこと柄が考慮され
なければならない。光ビーム投射方式の測距装置
は、形状、消費電力がともに小さく、さらには製
造コストが低くなければならないということであ
る。このような要求を満足させようとすれば、柔
盾する問題が多く発生する。例えば、信号光の検
出を容易にするために光源の発光強度を高くすれ
ばよいが、こうすると装置の消費電力が大きくな
り、また形状も大きくなる。逆に形状を小さくす
べく基線長dをも短くすれば、光学系の精度はよ
り高くしなければならなくなるからその製造コス
トの増大を招く。
他方、この種装置の幾何学的な面からの必然的
に定められる制約がある。簡単な計算から明らか
になることであるが、例えば第1図の構成におい
て、レンズ2から点5および8までの距離をそれ
ぞれ1mおよび5mとし、基線長dを25mm、レン
ズ4の焦点距離を20mmとすると、光電素子9と1
2の距離は400μとなる。したがつて各光電素子
の配列ピツチは、それぞれを等間隔にとると約
130μとなる。ところで、レンズ4の結像面で130
μの大きさの像は、例えば1mの距離の点5の位
置における約7mmの大きさの光源に相当する。こ
のことは、物体に向けて投射される光ビームの断
面の幅が点5の位置では7mm以下とならねばなら
ないことを意味する。もし光ビームの断面幅がこ
れより大きくなれば、不要であるのにもかかわら
ず隣りの光電素子にも信号光が入射してしまう。
このようなことから、この測距システムにおいて
は、極めて細い光ビームを形成することが要求さ
れる。
今、第3図に示すように、一定の発光面を持つ
た光源1の像を集光レンズ2を用いて有限の距離
に結像せしめるようにして光ビームを形成すると
しよう。光源1とレンズ2の距離を20mm、レンズ
2から結像点までの距離を2mとすれば、この点
における光源1に対する像は100倍に拡大された
大きさとなる。この点での光ビームの断面幅を10
mm以下にするには、光源1の発光面の幅は100μ
以下にしなければならないことになる。
また、第3図から分るようにレンズ2の結像点
0を過ぎると光ビームは広がつて行き、その断面
積は次第に大きくなつて行く。したがつて、細い
光ビームを集光レンズ2を用いて形成する場合、
光源1の発光面積は点光源に迫るような小さなも
のにしなければならないことになる。このような
極めて小さな発光面積の光源という制約条件に適
うものとしては、通常発光ダイオードを最有力候
補に挙げることができる。しかしながら光源1に
発光ダイオードを内いる場合、発光ダイオードの
構造上においてその発光強度を定常光に比べてそ
んなに大きくすることは無理であり、したがつ
て、明るい信号光を期待するわけには行かない。
以上のように従来提案されている測距装置にお
いて、原理的には、特定の距離にある被測距離
体、例えば第1図の6の位置のものに対する信号
光は特定の光電素子、例えば光電素子10のみに
入射すべきところ、後述するように理想的な細い
光ビームを実現することが困難なことから、光電
素子10以外の他の光電素子9,11や12にも
同時に入射してしまう。しかしながら、光ビーム
を出来る限り細いものに絞れば、複数個の光電素
子にわたつて入射する信号光の明るさが、各光電
素子面上において均一になることを避けて、入射
の中心部を最大とし周辺に向うに従つて低くなる
という状態をつくることが可能である。各光電素
子に入射する信号光の明るさの間に差異があれば
それぞれの中から有意義な信号を選出することが
可能となる。ところが、他方において、信号光の
明るさ自体は、被測距体までの距離やその反射率
によつて広い領域にわたつて変化する。検出可能
な信号光の最小の明るさと最大の明るさとの比は
2000倍以上にもなる。
本発明は、定常光に重畳された状態で光電素子
に入射する信号光を、定常光の明るさに関係のな
い、信号光の明るさのみに応じた電流信号として
分離検出し、この電流信号を対数圧縮された電圧
に変換するようにして、実用に供することがで
き、しかも低い電圧源の下で動作の可能な測距装
置を新規に提案するものである。
以下、第4図及至第13図について本発明を詳
細に説明する。なお、図面中、同一数字は類似部
分を示すものである。
第4図は、本発明による光電変換回路の原理的
構成を示す図である。第4図において、第1の電
流回路はコレクタが光電素子30のアノードと接
続されたトランジスタ31と、これら両素子によ
る接続点32に入力が接続される一方出力がトラ
ンジスタ31のベースと接続されたバツフア回路
33と、トランジスタ31のベース・エミツタ間
に接続された遅延用のキヤパシタとより構成され
る。トランジスタ31は、光電素子30に定常的
に入射する光に応じた光電流をコレクタ電流とし
て流すように制御される。第2の電流回路を構成
するものとしての接続点32からトランジスタ3
5のベース・エミツタを介する回路は、定常光に
加えて光電素子30へインパルス状に入射する光
に応じた光電流を受け入れる。定電流源36は、
光電素子30へ定常光のみが入射している場合
に、その定常光による光電流の大きさに関係なく
トランジスタ35のコレクタ電流を該定電流の値
に保つために設けられている。定電流源36と並
列に接続されたキヤパシタ37はトランジスタ3
5のエミツタ電位の急激な変動を抑える。トラン
ジスタ38および39は電流ミラー回路をなして
おり、トランジスタ35のコレクタ電流と相似す
る電流がトランジスタ39のコレクタから出力さ
れる。トランジスタ39のコレクタには光電変換
された信号を取り出すための負荷40が接続され
ている。トランジスタ35のベースと接続された
定電流源41は、光電素子30への入射光が存在
しない場合において、特定強度の定常光に応じた
光電流の役割を演ずるダミー電流を供給する。い
いかえると定電流源41は直接的に信号光の検知
動作に掛り合うものではなく、定常光が存在しな
い場合においてもトランジスタ31や35を定常
な状態に保持するよう回路の動作を補助するもの
である。
以上のように構成された回路において、まず、
トランジスタ31を含む第1の電流回路の動作を
トランジスタ31のコレクタとトランジスタ35
のベースとを切り離すとともに定電流源41を除
外して考える。今、時間的に変動しない一定強度
の光のみが光電素子30に入射しているものとす
る。このときの入射光に応じた光電流はトランジ
スタ31のコレクタ電流となつて流れる。これ
は、トランジスタ31のコレクタがバツフア回路
33を介して負帰還が掛けられた状態にあり、こ
の負帰還の動作によつてトランジスタ31のベー
スがちようど光電流をコレクタ電流とするに必要
な電圧でバイアスされるようになるからである。
一方、定常光のみが光電素子30に入射している
場合は、キヤパシタ34は単に上記のバイアス電
圧に充電されているだけで回路動作には関与しな
い。ここで、定常光に加えてインパルス状の光が
光電素子30に入射する場合を考える。このイン
パルス光の立ち上りは、バツフア回路33の出力
抵抗と信号遅延機能が利用されるキヤパシタ34
とで構成される時定数回路の時定数に比べて十分
に速いものとする。このようなインパルス光の入
射に対しては、その時定数より短い時間領域にお
いて、トランジスタ31のベースはインパルス光
が入射する以前の定常光による光電流に対応する
バイアス電圧に維持される。したがつて、この間
においては、トランジスタ31は依然として定常
光による光電流のみを流し得る状態にあるから、
インパルス光の入射によつて増加する光電流分に
対しては、該トランジスタ31は、そのコレクタ
特性により極めて高い抵抗を示すことになる。こ
のようなトランジスタ31を含む第1の電流回路
の振舞いは、定常光の広範囲な強度領域において
繰り広げられる。
次に、第4図の回路でインパルス光に応じた光
電流の検出動作について説明すると、光電素子3
0に定常光のみが入射している定常状態において
は、トランジスタ35および38には定電流源3
6による定電流が流される。もち論、トランジス
タ35はベース電流を必要とするが、このベース
電流には光電流の一部が充てられる。定常光がな
くて光電流がつくられない場合でも、定電流源4
1によるダミー電流によつてトランジスタ35の
ベース電流は保証される。定常状態においては、
定常光の強度に関係なくトランジスタ35は定電
流源36が求める一定の電流を流している。次
に、光電素子30にインパルス光が入射し、この
インパルス光に応じた光電流が発生すると、前述
したようにトランジスタ31はこの電流増加分に
対して極めて高い抵抗を示し、その通過を妨げ
る。かくして、トランジスタ31のコレクタの電
位は上昇することになり、光電流の増加分はトラ
ンジスタ35のベースに流れ込んで行く。この増
加分に相当するベース電流はトランジスタ35に
よつて増幅され、そのコレクタ電流となつて現わ
れる。以上のように、インパルス光に応じた光電
流は、定常状態時は定常光の強度とは無関係に一
定のコレクタ電流を流しているトランジスタ35
における増幅されたコレクタ電流として取り出さ
れるのである。尚、以上の動作において、キヤパ
シタ37はキヤパシタ34と同様に端子間電圧を
一定に保つように作用する。この作用によつて、
増加した光電流がベース電流としてトランジスタ
35のベースに流入することが許される。さて、
増幅された光電流は、トランジスタ35のコレク
タに負荷を接続することにより電圧信号に変換す
ることができる。尚、電流制御素子としてのトラ
ンジスタ31を電界効果型トランジスタに代えて
も同様な効果を得ることができる。また定電流源
36を省略することもできる。
次に上記電圧信号の変換回路の具体的な一実施
例を第5図において説明する。
第5図は、第4図に示す光電変換回路を半導体
集積回路に適した回路に構成したものである。第
5図において、第4図におけるバツフア回路33
およびキヤパシタ34は、第2の電流回路を構成
するトランジスタ35およびキヤパシタ37がそ
れぞれ兼用される。すなわち、トランジスタ35
のベースがトランジスタ31を介して負帰還が掛
けられた状態にあり、この負帰還の動作によつて
トランジスタ31のベースがちようど光電流をコ
レクタ電流とするに必要な電圧でバイアスされる
ようになる。光電素子30のカソードは、定電流
源42、トランジスタ43,44および45で構
成される定電圧回路の出力であるトランジスタ4
4のベースと接続されている。トランジスタ44
のベースと接地との間からは、2個のトランジス
タ44と45の各ベース・エミツタ間電圧の和の
電圧が定電圧として出力される。他方、光電素子
30のアノードと接地間には、2個のトランジス
タ31と35の各ベース・エミツタ間の和の電圧
が現われる。これら両電圧は大略において等し
く、したがつて光電素子30の両端子間には電位
差が存在するとしてもその値は小さいので、光電
素子30からは短絡電流が出力されると考えてよ
いことになる。トランジスタ38のベースとコレ
クタはトランジスタ46のエミツタ・ベースを介
して接続されている。トランジスタ39のコレク
タには負荷として、第1の負荷をなすトランジス
タ47と、対数圧縮回路を構成するようにダイオ
ード接続された3個のトランジスタ48,49お
よび50による第2の負荷をなす直列回路が接続
されている。
また、信号出力端子をなすトランジスタ39の
コレクタは演算増幅器55の反転入力端子56と
接続されている。この演算増幅器55のもう一方
の入力端子57は、基準電圧源をなす定電流源5
2とトランジスタ53のコレクタとの接続点に接
続されている。該接続点には定電流源52と2個
のダイオード接続されたトランジスタ53,54
とよりトランジスタのベース・エミツタ間電圧V
BEの二つ分の定電圧2VBEがつくられている。演
算増幅器55の出力58はトランジスタ59のベ
ースが接続され、該トランジスタ59のコレクタ
と接地間にはダイオード接続されたトランジスタ
60が接続されている。また、トランジスタ60
と並列にキヤパシタ61が接続されている。そし
て、トランジスタ60のベースはトランジスタ4
7のベースと接続されている。かくして信号出力
端子51は、演算増幅器55、トランジスタ5
9,60および47を介して負帰還が掛けられ
る。
以上の如く構成された第5図の回路において、
まず、光電素子30に定常光のみが入射している
場合について考察する。この場合、光電素子30
が発生する光電流と電流源41によるダミー電流
とがトランジスタ35のベース電流となる分を除
いてトランジスタ31をそのコレクタ電流となつ
て流れる。トランジスタ35のコレクタには電流
源36による定電流が流されている。キヤパシタ
37は、トランジスタ31のコレクタ電流に対応
したベース・エミツタ間電圧に充電されている。
かかる定常状態においては、トランジスタ39の
コレクタ電流は一定で、トランジスタ38と39
の形状・特性が等しい場合は、トランジスタ35
のコレクタ電流と等しく、また両トランジスタの
エミツタ面積に差をつけておくとその面積比に応
じた電流となる。トランジスタ39のコレクタ電
流が一定の場合、信号出力端子51と接地間の電
圧は、演算増幅器55の負帰還作用により非反転
入力端子57と接地間の電圧つまり2個直列に接
続されたトランジスタ53,54による2個分の
ベース・エミツタ間電圧2VBEつまり基準電圧に
等しくなつている。この場合、トランジスタ39
からの一定のコレクタ電流のほとんどは次に述べ
る理由によつてトランジスタ47のコレクタ電流
となつて流れる。今、出力端子51と接地間は
2VBEの電圧に保たれている。したがつて、3個
のトランジスタ48,49,50による直列回路
にはこの2VBEの電圧が印加されていることにな
る。すなわち、各1個のトランジスタのベース・
エミツタ間には2/3VBEの電圧が印加されてい
る。ここで、例えばVBE=540mVとすれば、ト
ランジスタ48,49,50の各々に加えられて
いる電圧は360mVとなり、VBEより180mVだけ
小さい。トランジスタのコレクタ電流は、その対
数特性によりベース・エミツタ電圧の180mVの
変化に対して1000程度変化する。このようである
から、定常状態においては第2の負荷であるトラ
ンジスタ48,49,50の直列回路にはトラン
ジスタ53,54の直列回路に流れる電流の1000
分の1程度しか流れない。例えば直列回路53,
54に流れる電流とトランジスタ47のコレクタ
電流がともに4μAであれば第2の負荷であるト
ランジスタ48,49,50に流れる電流は4nA
程になる。
さて次に光電素子30へ定常光に加えて信号光
が入射する場合の動作について説明する。トラン
ジスタ31は定常光に対する一定のコレクタ電流
のみを流すようにベースがバイアスされている。
そこで光電素子30への信号光の入射に対する光
電流の増加分は、第4図の場合と同様にトランジ
スタ35のベースに流れ込む。このベースに流れ
込んだ信号光に対応した光電流は、トランジスタ
35によつて増巾され、トランジスタ39のコレ
クタ電流に変換される。トランジスタ39のコレ
クタ電流の急激な増加分に対して、トランジスタ
47は、トランジスタ31の場合と同様に、極め
て高い抵抗を示す。これは、トランジスタ47の
ベース・エミツタがキヤパシタ61の遅延作用に
よつている。そこでコレクタ電流の増加分は、第
2の負荷であるトランジスタ48,49,50の
直列回路に流れ込む。この第2の負荷はダイオー
ド負荷であるから、供給される電流の対数に比例
する。つまり対数圧縮された電圧が負荷の端子間
から発生される。ここで信号光の入射に対して第
2の負荷によつてどのくらいの電圧信号がつくら
れるか数量的に考察しよう。今、定電流源36の
電流値を0.4μA、トランジスタ35の電流増幅
率hFEを100とする。トランジスタ39のエミツ
タ面積はトランジスタ38より10倍だけ大きいも
のとする。このようであれば定常状態では、トラ
ンジスタ39のコレクタ電流はトランジスタ38
のコレクタ電流(0.4μA)の10倍の4μAとな
る。また、トランジスタ38のベース電流は4nA
となる。尚、定電流源41の電流値は4nAより大
きく設定しておけばよい。他方、第2の負荷をな
すトランジスタ48,49,50と、定電圧源を
なすトランジスタ53,54のそれぞれは互いに
等しい形状・特性を有するものとし、定電圧源か
らは540mVの電圧がつくられるものとする。こ
の場合、前述したように第2の負荷には4nAの電
流が流れることになる。さて、光電素子30へ信
号光が入射し、これに応じて100PAの光電流が発
生されたとする。この光電流は、前述した如く、
トランジスタ35のベースに流れ込み、トランジ
スタ35により100倍そしてトランジスタ39に
よりさらに10倍され、100nAに増幅されてトラン
ジスタ39のコレクタに現われる。この100nAの
コレクタ電流は、第2の負荷に流される。信号光
の入射前の状態においては、第2の負荷には4nA
の電流が流れていたから、該第2の負荷の電流増
加は25倍である。一般に、トランジスタのコレク
タ電流の2倍の増加に対しベース・エミツタ電圧
は18mVだけ増加する(ただし、周囲温度25℃の
とき)から、25倍のコレクタ電流の増加に対して
は、1個のトランジスタ当り、約83mV増加す
る。したがつて第2の負荷全体では250mV程増
加する。かくして100PAの光電流に相当する信号
光は250mVの電圧に変換された。次に信号光に
よる光電流が100nA(上述の場合の1000倍)の場
合について考えると、第2の負荷に流れ込む電流
は100μAとなり、これは2500倍の増加に相当す
る。したがつて、第2の負荷からは610mV程増
加した電圧信号が出力される。
以上が信号光をその強度に応じた電圧信号に変
換する動作である。尚、端子51から出力される
電圧信号は、例え信号光が階段状のものであつて
も、インパルス状の波形になることは明らかであ
ろう。したがつて、信号光は、光源のエネルギー
節約のためにもインパルス状の単発光であればよ
い。
以上詳述した如く第5図の光電変換回路を用い
れば、定常光の広範囲な輝度領域において、信号
光を定常光から分離検出できる。なお、第5図の
実施例においてトランジスタ48,49,50に
よる第2の負荷の機能を、これらの替りに第10
図に示す如くトランジスタ39と53の両コレク
タ間にダイオード48′を接続することによつて
このダイオードに受け持たせることができる。た
だし、この場合、定電流源52の定電流値をトラ
ンジスタ39から出力される信号光に応じた電流
値よりも十分大きく設定しておいてトランジスタ
53のコレクタ電位が一定に保たれるようにす
る。またPNPトランジスタ39のコレクタにその
負荷の一つとなるNPNトランジスタ47のコレ
クタが接続された回路構成が設けられているが、
この部分を2個のトランジスタ39′,47′を追
加することにより第11図に示すような回路に構
成することもできる。いずれの場合も、第1の負
荷となつているトランジスタのコレクタ特性を利
用している。
さて、第5図の光電変換回路を第2図における
ブロツク13,14,15,16に適用すれば、
原理的には距離検出を行うことができるのである
が、実用化のためにはまだ解決しなければならな
い問題がある。今、仮りに、発射される光ビーム
は十分に細く理想的なもので、このビームによつ
て照射された物体上の“明領域”に対する像が第
6図に示す如く幾何光学的には物体までの距離に
応じた特定の1個の光電素子上で結ばれるとして
も、実際には他の光電素子によつても同時に“領
領域”からの光成分が受光されてしまうという問
題が起るのである。これは結像すべく特定の光電
素子に向つて入射した信号光が、その光電素子の
受光面上で反射し、さらにその反射光が結像レン
ズ面で反射するというようにして、光電素子が設
けられているハウジングの中において内部反射が
起るからである。さらには、実際の光ビームは、
第3図に示す如く、距離に応じて断面積が変化
し、かつ光の分布状態も変化し、さらに、投光レ
ンズ2の収差による成分が加わつて理想的なもの
からかなり外れたものになつてしまう。その上
に、結像レンズ4は特定の距離の物体しかシヤー
プな像を結ばない。以上のようなことから、信号
光は、物体までの距離に応じた特定の光電素子の
みばかりではなく、他の光電素子にもどうしても
入射してしまうことになる。光電素子の配列面上
における入射光の強度分布は例えば第6図に示す
如く光電素子P3に向けて信号光が入射しているの
であるが、残る3個の光電素子にも入射してい
る。したがつて、各光電素子に信号光が入射した
か否かを検出するのみでは距離の検出はできない
ことがわかる。そこで、第6図において光電素子
P3に向けて信号光が入射したのであるということ
を検出するために、光電素子P3を含む光電変換回
路の出力信号と他の光電変換回路の出力信号とを
判別すべく、例えば第2図における電圧比較のた
めの基準電圧源25のレベルを定めればよいこと
になる。しかしながら、信号光の強度は物体まで
の距離やその反射率によつて種々に変化するか
ら、基準電圧源25のレベルを固定したのでは適
切な判別は行えない。そこで、目的とする距離信
号の検出のために信号光の強度に応じて基準電圧
レベルを変化させることが考えられる。
以下、信号光の強度に応じて基準電圧レベルを
変化させるようにした基準電圧変化回路およびこ
の回路を適用した測距装置について説明する。
まず、第7図を用いて光電変換回路の出力信号
と基準電圧との関係を説明すると、波形A1は最
も明るい信号光を受けた光電変換回路の出力信号
を示し、波形A2は他の光電変換回路の出力信号
の一つを示す。電圧レベルS1は、第5図の回路に
おけるトランジスタ53のコレクタ電位に相当
し、また、定常状態における各光電変換回路の出
力レベルに相当する。電圧レベルS2は、定常状態
において各光電変換回路の出力に含まれるノイズ
の振幅分を電圧レベルS1に加えたよりも高いレベ
ルに設定してある一定の基準レベルである。電圧
信号S3が、ここで目的としている信号光に応じて
変化される基準電圧である。この基準電圧S3は、
以下に述べるように、各光電変換回路の出力のう
ち最初に電圧レベルS2に到達する出力信号A1
用いてつくり出される。
以下、基準電圧S3を発生する基準電圧変化回路
の一実施例を自動焦点調節装置の全体的な構成を
示す第8図の回路においてその構成および動作を
説明する。第8図において、点線70で囲まれる
回路部分が上記の基準電圧変化回路を構成してい
る。この基準電圧変化回路において、演算増幅器
71,72,73,74の各非反転入力は、光電
変換回路13,14,15,16の出力とそれぞ
れ接続されている。なお、これら光電変換回路に
は第5図で示した回路が用いられる。演算増幅器
71,72,73,74の出力は、コレクタが電
源の正端子と接続されたトランジスタ75,7
6,77,78のベースとそれぞれ接続されてい
る。また、これらトランジスタの各エミツタは演
算増幅器71,72,73,74の反転入力とそ
れぞれ接続されるとともに、抵抗79の一端85
と共通に接続されている。この抵抗79の他端は
トランジスタ82のエミツタと抵抗83との接続
点86と接続され、該接続点86は電圧比較回路
17,18,19,20の各反転入力と接続され
ている。抵抗38の他端は定電流源84と接続さ
れるとともに演算増幅器81の反転入力と接続さ
れている。この演算増幅器81の非反転入力は定
電圧源80と接続され、出力はトランジスタ82
のベースと接続されている。ここで、定電圧源8
0として、第5図の光電変換回路における定電流
源52とトランジスタ53,54とによつて構成
されている定電圧源が兼用される。したがつて、
定電圧源80が演算増巾器81の非反転入力に与
えている電圧レベルは、第7図のグラフにおける
レベルS1と等しい。なお、抵抗79は分割して第
13図に示す如く電圧比較回路17,18,1
9,20の各反転入力と接続して夫々のレベルを
変えてもよい。
以上の構成よりなる基準電圧変化回路の動作と
して第2図の回路においては、電圧比較回路1
7,18,19,20の比較基準電圧として、定
電圧源25による一定電圧が与えられたのである
が、第8図の回路においては、基準電圧変化回路
により、最も強度の大きい信号光が入射する光電
変換回路の出力信号に応じた時間的に変化する電
圧が与えられる。
さて、第8図において、定常光のみが入射して
いる場合についてまず考察しよう。この場合、光
電変換回路は、第7図のグラフにおけるレベルS1
の電圧を出力している。他方、演算増幅器81の
非反転入力にもレベルS1の電圧が入力されている
から、該演算増幅器81の反転入力のレベルもト
ランジスタ82、抵抗83を介する負帰還の作用
でレベルS1に保たれている。したがつて接続点8
6は、定電流源84の電流による抵抗83におけ
る降下電圧分だけレベルS1より高いレベルS2の電
圧が現われ、このレベルS2の電圧が演算増幅器7
1,72,73,74および電圧比較回路17,
18,19,20の各反転入力に与えられてい
る。したがつて、これら演算増巾器と電圧比較回
路の各出力は、みな“低”レベルの電圧を出力し
ており、トランジスタ75,76,77,78は
遮断状態となつている。このようであるから、抵
抗79には電流は流れておらず、接続点85と8
6は同電位S2となつている。
次に、光電変換回路から信号光に応じた電圧信
号が出力される場合の動作の説明に移る。今、例
えば、光電変換回路14から第7図のグラフにお
ける波形A1のような最初にレベルS2に達する電
圧信号が出力されるとする。この波形A1は、当
初、レベルS1にあり、信号光の入射とともに立上
つて行く。さて、この波形A1がレベルS2に達す
ると、これまで“低”レベルの状態にあつた演算
回路72の出力は“高”レベルに向い始め、トラ
ンジスタ76はそのベースが順バイアスされるよ
うになる。こうして、演算増幅器72はトランジ
スタ76を介する負帰還動作が可能となり、その
反転入力の電圧レベルは非反転入力つまりは光電
変換回路14の出力電圧A1に等しく追従するよ
うに変化する。演算増巾器71,72,73,7
4の反転入力は互いに共通の電位にあるから、今
の状態では演算増巾器72を除いては、依然とし
て反転入力の方が非反転入力より電圧レベルは高
い状態にあり、トランジスタ75,77,78は
遮断状態に置かれている。かくして、接続点85
の電圧レベルは、光電変換回路14の出力電圧が
レベルS2より高い間t1〜t2においてその出力電圧
波形A1を辿るように動いて行く。波形A1がレベ
ルS2を越えるようになると、順バイアスされるト
ランジスタ76のエミツタ電流が抵抗79,83
を介して定電流源84に流れ込むようになる。す
ると、演算増幅器81の反転入力はレベルS1より
高い電圧レベルに引き上げられるようになり、演
算増巾器81は“低”レベルの電圧を出力するよ
うになる。かくて、トランジスタ82は遮断状態
に置かれ、接続点86からは抵抗79の抵抗値と
定電流源84の定電流値との積に相当する一定電
圧υcだけ接続点85の電圧レベルより低い電圧
信号S3が出力される。この電圧信号S3が比較基準
電圧として電圧比較回路17,18,19,20
の反転入力に与えられ、この電圧を基準にして光
電変換回路の各出力信号の大小が比較・検出され
る。
このようにして、t1からt2の間において、上述
の例の場合は、電圧比較回路18から“高”レベ
ル(“1”)の電圧が出力される。光電変換回路1
4以外のものからの出力信号が第7図の波形A2
で示されるようなものか、またはそれより低いレ
ベルのものであれば、電圧比較回路17,19,
20からは“低”レベル(“0”)の電圧が出力さ
れる。以上は、光電変換回路14の出力が他に比
べて比較的に大きい場合の動作についてであつた
が、同様な動作はいずれの光電変換回路の出力に
対してもあてはまる。なお、信号光の主要部が隣
り合う2個の光電変換素子の中間部に向けて入射
するような場合は、これらの光電素子に対応する
光電変換回路の出力は、同時に二つとも選別電圧
S3のレベルより高くなるであろう。また、光電素
子の配列面における信号光の強度分布の状態によ
つては、同時に光電変換回路の三つの出力が判別
レベルを上まわるような場合も生じ得るであろ
う。以上が基準電圧変化回路の動作である。
ここで、第8図の回路装置の全体的な動作を述
べておく。今、回路装置は動作準備完了状態にあ
り、回路の各部には電源が供給されているとす
る。発光ダイオード1の発光エネルギーを貯える
キヤパシタ108は抵抗を介して電源電圧に電荷
が充電されている。撮影を行うべく被写体に投光
レンズ2の光軸を向けておいて、スイツチ26を
閉じるこれに応答して、ワンシヨツト回路27か
ら一定時間だけ“高”レベル(“1”)の電圧信号
が発される。この電圧信号によりトランジスタ1
05,106が導通し、キヤパシタ108の充電
電荷がトランジスタ106および発光ダイオード
1を介して一気に放電される。こうしてインパル
ス状の光ビームが被写体に向けて発射される。同
時にワンシヨツト回路27からの“1”の信号は
レジスタ21,22,23,24,87の入力
cpおよびレジスタ87の入力Dに与えられる。
尚、88はこれらレジスタをリセツトするリセツ
トパルスを、不図示の電源スイツチ投入時などで
発生するリセツトパルス発生回路である。レジス
タはリセツトされると出力は“0”の状態にな
る。光ビームが発せられ、前述したようにして、
電圧比較回路17,18,19,20のいずれか
1個または隣り合う2個あるいは3個から“1”
の信号が出力される。ただし、被写体によつては
全く“1”の信号が出力されない場合もある。レ
ジスタ21,22,23,24,87は、二つの
入力Dとcpに同時に“1”が入力されると出力
は“1”にセツトされ、その後に入力が“0”に
なつても、リセツトされるか電源が切られるまで
出力“1”の状態は保持される。尚、各レジスタ
は第12図のようにANDゲートとR−Sフリツ
プフロツプを用いて構成してある。今、電圧比較
回路18から“1”の信号が出力されると、この
信号とともにワンシヨツト回路27からの“1”
の信号によつてレジスタ22の出力が“1”の状
態にセツトされる。このとき、同時にレジスタ8
7も“1”にセツトされ、光ビームが発射された
ことが記録される。レジスタ群からの信号はデコ
ーダ89により例えば第9図に示すような近距離
と遠距離に応じた出力信号に変換される。撮影レ
ンズ100は、レジスタ群に距離情報が採取され
た後に適当な駆動手段により例えば最近接位置か
ら無限遠の位置に向けて繰り込まれ、この動作に
連動してブラシ99が例えば8個の接片端子90
〜97および98上を摺動される。“1”が出力
されている接片端子、例えば92に、ブラシ99
が位置すると、ブラシ99および接片98を介し
て流れるベース電流によりトランジスタ101が
導通される。この導通によりトランジスタ102
は遮断され、電磁石103の励磁が断たれて、係
止レバー104が作動してレンズ100の繰り込
み動作に係止を掛ける。このようにして検出され
た距離情報に応じた位置に自動的に撮影レンズの
距離調節が行われる。
本発明では、上記のごとく、光電素子30の光
電流をベースへの入力とする第1のトランジスタ
35のコレクタ電流に応答する出力回路38,3
9,40より出力を取り出す。そして、第1のト
ランジスタ35のベースには第2のトランジスタ
31のコレクタが接続されるとともに、この接続
点32から第2のトランジスタ31のベースに負
帰還がかけられている。従つて光電流が増加する
と第2のトランジスタ31のコレクタ電流も増加
するごとく負帰還がかかり、第1のトランジスタ
35のベース電流は光電流にかかわらずほぼ一定
になる。これにより定常光が変動しても第1のト
ランジスタ35のコレクタ電流はほぼ一定に保た
れる。さらに、本発明では、第2のトランジスタ
31のベースにコンデンサ34が接続されてい
る。従つて発光手段から発生させられて測距対象
から反射された光が定常光に重畳して光電素子に
受光された結果、光電流に急峻な変化が生じた場
合、コンデンサ34の作用で第1のトランジスタ
31のベース電位が保持されるのでそのコレクタ
電流は変化せず、光電流の急峻な増加分は第1の
トランジスタ35のベースに流れ込み、これが増
幅されて第1のトランジスタ35のコレクタ電流
となる。
上記のようにして、本発明によれば、光電流の
急峻な変化が抽出されかつこれが増幅されるの
で、測距対象に照射したパルス光の反射光の情報
を定常光の大小や変化にかかわらず、充分な大き
さの情報として得ることができる。
なお、本発明の実施態様によれば、第1のトラ
ンジスタ35のコレクタ電流に応答する出力回路
は、対数圧縮回路48,49,50を含む。この
対数圧縮回路によつて対数圧縮される情報は、従
来のように、定常光の大小の情報に急峻な変化分
が重畳したものではなく、急峻な変化分の情報を
抽出しかつこれを増幅したものであつて、定常光
の大小を示す情報は含んでいない。
【図面の簡単な説明】
第1図は三角測距の原理を示す説明図、第2図
は従来の用いられた第1図の光電素子の出力信号
を処理する回路図、第3図は集光レンズの説明
図、第4図は本発明に係る測距装置に具備する光
電変換の回路図、第5図は第4図の他の実施例を
示す回路図、第6図は光電素子の入射光の強度分
布図、第7図は光電変換回路の出力信号と基準電
圧の関係線図、第8図は光電変換回路を自動焦点
調節装置に組み込んだ回路図、第9図は第8図の
デコーダの出力信号説明図、第10図および第1
1図は夫々第5図の一部の変形例を示す回路図、
第12図および第13図は夫々第8図の一部の変
形例を示す回路図である。 30……光電素子、31,35……トランジス
タ、33……バツフア回路、34,37……コン
デンサ、36,41……定電流源。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 パルス状の光を発生する発光手段と、 測距対象からの光を受光する光電素子と、 この光電素子の光電流をベースへの入力とする
    第1のトランジスタと、 上記第1のトランジスタのベースにコレクタが
    接続されている第2のトランジスタと、 上記第2のトランジスタのコレクタと上記第1
    のトランジスタのベースとの接続点から上記第2
    のトランジスタのベースに接続され、上記第1の
    トランジスタのベース電流がほぼ一定となるよう
    上記第2のトランジスタのコレクタ電流を制御す
    る負帰還回路と、 上記第2のトランジスタのベースに接続された
    コンデンサと、 上記第1のトランジスタのコレクタ電流に応答
    する出力回路とを有し、 上記光電素子に受光される測距対象からの光の
    急峻な変化を上記第1のトランジスタのコレクタ
    電流として増幅し、上記出力回路の出力に基づい
    て測距対象までの距離を検出することを特徴とす
    る測距装置。 2 上記出力回路が、対数圧縮回路を含むことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の測距装
    置。
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