JPS62150839A - 半導体組立装置 - Google Patents
半導体組立装置Info
- Publication number
- JPS62150839A JPS62150839A JP29067785A JP29067785A JPS62150839A JP S62150839 A JPS62150839 A JP S62150839A JP 29067785 A JP29067785 A JP 29067785A JP 29067785 A JP29067785 A JP 29067785A JP S62150839 A JPS62150839 A JP S62150839A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpiece
- optical fiber
- laser chip
- stage
- cameras
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は光ファイバとレーザチップ(半導体し−ザ素子
)1発光ダイオード等の発光素子との光軸合わせを行う
半導体組立装置に関する。
)1発光ダイオード等の発光素子との光軸合わせを行う
半導体組立装置に関する。
−ず
〔背景技術〕
光通信用半導体レーザ装置にあっては、コア径の細いシ
ングル・モード・ファイバ(SMF)が使用されている
が、このコア径の細い光ファイバに、レーザチップ(半
導体レーザ素子)から発光されたレーザ光を的確に取り
込ませるようにするには、高い組立技術が要求される。
ングル・モード・ファイバ(SMF)が使用されている
が、このコア径の細い光ファイバに、レーザチップ(半
導体レーザ素子)から発光されたレーザ光を的確に取り
込ませるようにするには、高い組立技術が要求される。
レーザチップと光ファイバとの光軸合わせを行う場合、
従来、前記レーザチップを駆動させ、発光されたレーザ
光を光ファイバに取り込み、その取り込んだレーザ光の
光強度を検出しながら光ファイバあるいはレーザチップ
を移動させることによって光軸合わせを行う技術が採用
されている。たとえば、光ファイバに入射するレーザ光
の入射位置(X、 Y。
従来、前記レーザチップを駆動させ、発光されたレーザ
光を光ファイバに取り込み、その取り込んだレーザ光の
光強度を検出しながら光ファイバあるいはレーザチップ
を移動させることによって光軸合わせを行う技術が採用
されている。たとえば、光ファイバに入射するレーザ光
の入射位置(X、 Y。
Z)および入射角(θX、θY)を検出しながら光軸合
わせする技術が、工業調査会発行「自動化技術J 19
82年9月号、昭和57年9月1日発行、P2Oに記載
されている。
わせする技術が、工業調査会発行「自動化技術J 19
82年9月号、昭和57年9月1日発行、P2Oに記載
されている。
本出願人も前記同様にレーザ光を光ファイバに取り込み
、かつ取り込んだレーザ光の強度を検出しながら光ファ
イバをレーザチップに対して相対的に移動させながら光
軸合わせを行う技術(自動光軸合わせ装置)を開発して
いる。
、かつ取り込んだレーザ光の強度を検出しながら光ファ
イバをレーザチップに対して相対的に移動させながら光
軸合わせを行う技術(自動光軸合わせ装置)を開発して
いる。
このような技術にあって、自動光軸合わ廿を開始するに
先立つレーザチップを発光させた時点で、既に光フアイ
バ内にレーザ光が取り込まれるような位置関係にしてお
くことが、自動光軸合わせ装置をより効率的に使用する
ことができることになる。
先立つレーザチップを発光させた時点で、既に光フアイ
バ内にレーザ光が取り込まれるような位置関係にしてお
くことが、自動光軸合わせ装置をより効率的に使用する
ことができることになる。
本発明の目的は、光学系と発光素子との位置決め作業が
自動的に行える半導体組立装置を提供することにある。
自動的に行える半導体組立装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、光学系と発光素子との位置決めが
高い精度で行える半導体組立装置を提供することにある
。
高い精度で行える半導体組立装置を提供することにある
。
本発明の他の目的は、シングル・モード・ファイバにレ
ーザチップから発光されるレーザ光を取り込むことがで
きるような機械的位置決め精度が高い半導体組立装置を
提供することにある。
ーザチップから発光されるレーザ光を取り込むことがで
きるような機械的位置決め精度が高い半導体組立装置を
提供することにある。
本発明の前記ならびにそのほがの目的と新規な特徴は、
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
本明細書の記述および添付図面からあきらかになるであ
ろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、本発明の半導体組立装置にあっては、光ファ
イバとレーザチップに対して、真上がら検出するカメラ
と、45度傾斜した斜め上方から検出するカメラとによ
って、光ファイバとレーザチップの共振器の立体的位置
関係を検出し、この検出情報を演算処理して両者の位置
ズレを求め、前記位置ズレを零とするように光ファイバ
に対してレーザチップを移動することによって、レーザ
チップと光ファイバの位置合わせを行うことがら、自動
光軸合わせ装置の自動検出開始条件である精度に機械的
に位置合わせが行える。すなわち、本発明の半導体組立
装置によって位置決めされた半導体レーザ装置にあって
は、レーザチップを駆動させてレーザ光を発光させた時
点で、シングル・モード・ファイバのコアにレーザ光が
取り込まれる状態になっているため、自動光軸合わせ装
置でより高い精度で光軸合わせを行う場合、作業者が調
整作業を行うことなく自動光軸合わせ装置を稼働できる
ことになる。
イバとレーザチップに対して、真上がら検出するカメラ
と、45度傾斜した斜め上方から検出するカメラとによ
って、光ファイバとレーザチップの共振器の立体的位置
関係を検出し、この検出情報を演算処理して両者の位置
ズレを求め、前記位置ズレを零とするように光ファイバ
に対してレーザチップを移動することによって、レーザ
チップと光ファイバの位置合わせを行うことがら、自動
光軸合わせ装置の自動検出開始条件である精度に機械的
に位置合わせが行える。すなわち、本発明の半導体組立
装置によって位置決めされた半導体レーザ装置にあって
は、レーザチップを駆動させてレーザ光を発光させた時
点で、シングル・モード・ファイバのコアにレーザ光が
取り込まれる状態になっているため、自動光軸合わせ装
置でより高い精度で光軸合わせを行う場合、作業者が調
整作業を行うことなく自動光軸合わせ装置を稼働できる
ことになる。
第1図は本発明の一実施例による半導体組立装置の要部
を示す斜視図、第2図は同じく本発明の装置を用いて組
立られる半導体レーザ装置の外観を示す斜視図、第3図
は同じく一部を示す断面図、第4図は同じくカメラと光
ファイバおよびレーザチップとの関係を示す模式図、第
5図は同じくレーザチップと光ファイバとを真上から見
た状態を示す模式図、第6図は本発明の半導体組立装置
における光ファイバとレーザチップの立体的位置ズレを
求める方法を示す説明図である。
を示す斜視図、第2図は同じく本発明の装置を用いて組
立られる半導体レーザ装置の外観を示す斜視図、第3図
は同じく一部を示す断面図、第4図は同じくカメラと光
ファイバおよびレーザチップとの関係を示す模式図、第
5図は同じくレーザチップと光ファイバとを真上から見
た状態を示す模式図、第6図は本発明の半導体組立装置
における光ファイバとレーザチップの立体的位置ズレを
求める方法を示す説明図である。
この実施例では、本発明をシングル・モード・ファイバ
を取り付ける半導体レーザ装置の組立に適用した例につ
いて説明する。
を取り付ける半導体レーザ装置の組立に適用した例につ
いて説明する。
光ファイバ1は、第5図に示されるように、直径7μm
のコア2と、このコア2を被覆する直径125μmのク
ラッド3とからなっている。また、この光ファイバlは
、図示しないがジャケット等によって被覆され光ケーブ
ルとして扱われる。前記コア2はB、 F、 P、
Ge等が添加され、純石英からなるクラッド3と屈折
率差が付けられている。また、この光ファイバ1の先端
は円錐状のテーパ部4となっているとともに、露出する
先端のコア2の面は球面(先球)5となっている。また
、この光ファイバlは、第2図に示されるような半導体
レーザ装置に組み込まれた場合、第5図に示されるよう
に、レーザチップ6の共振器7の端から発光されるレー
ザ光8を光ファイバ1の先端に取り込む。本発明の装置
は、光ファイバ1に取り込まれた光強度を検出しながら
光ファイバlとレーザチップ6との光軸合わせを行う作
業に先立って、光ファイバ1とレーザチップ6の立体的
位置決めを機械的に行うものである。
のコア2と、このコア2を被覆する直径125μmのク
ラッド3とからなっている。また、この光ファイバlは
、図示しないがジャケット等によって被覆され光ケーブ
ルとして扱われる。前記コア2はB、 F、 P、
Ge等が添加され、純石英からなるクラッド3と屈折
率差が付けられている。また、この光ファイバ1の先端
は円錐状のテーパ部4となっているとともに、露出する
先端のコア2の面は球面(先球)5となっている。また
、この光ファイバlは、第2図に示されるような半導体
レーザ装置に組み込まれた場合、第5図に示されるよう
に、レーザチップ6の共振器7の端から発光されるレー
ザ光8を光ファイバ1の先端に取り込む。本発明の装置
は、光ファイバ1に取り込まれた光強度を検出しながら
光ファイバlとレーザチップ6との光軸合わせを行う作
業に先立って、光ファイバ1とレーザチップ6の立体的
位置決めを機械的に行うものである。
ここで、光ファイバ1とレーザチップ6との光軸合わせ
が必要な半導体レーザ装置について説明する。第2図に
示される半導体レーザ装置9は、パッケージ10は偏平
構造となり、一端に光ケーブル11を接続するとともに
、他端にモニター用受光素子のリード12が2本取り付
けられている。
が必要な半導体レーザ装置について説明する。第2図に
示される半導体レーザ装置9は、パッケージ10は偏平
構造となり、一端に光ケーブル11を接続するとともに
、他端にモニター用受光素子のリード12が2本取り付
けられている。
また、前記パッケージ10の側面にはレーザチップ6用
のり−ド13が2本取り付けられている。
のり−ド13が2本取り付けられている。
前記パッケージ10はステム14と、このステム14を
塞ぐキャップ15とからなる。前記パッケージ10はキ
ャップ15により気密シールされている。さらに、前記
パフケージ10には取付孔17が設けられていて、半導
体レーザ装置9は取付孔17を利用して所定箇所に設置
されるようになっている。
塞ぐキャップ15とからなる。前記パッケージ10はキ
ャップ15により気密シールされている。さらに、前記
パフケージ10には取付孔17が設けられていて、半導
体レーザ装置9は取付孔17を利用して所定箇所に設置
されるようになっている。
つぎに、第3図を参照しながらパフケージ10内部のレ
ーザチップ6および受光素子等について説明する。前記
パッケージlOの主面中央には台座18が設けられてい
るとともに、この台座18上にはサブマウント19を介
してレーザチップ6が固定されている。なお、前記レー
ザチップ6は、サブマウント19にソルダー20を介し
て固定された後、サブマウント19をソルダー21によ
って台座18に固定することによってステム10に固定
される。また、前記パフケージ10内に延在する光ファ
イバ1はファイバーガイド22によって案内されるとと
もに、このファイバーガイド22の内端を塞ぐように取
り付けられた固定材23によってファイバーガイド22
に固定されている。
ーザチップ6および受光素子等について説明する。前記
パッケージlOの主面中央には台座18が設けられてい
るとともに、この台座18上にはサブマウント19を介
してレーザチップ6が固定されている。なお、前記レー
ザチップ6は、サブマウント19にソルダー20を介し
て固定された後、サブマウント19をソルダー21によ
って台座18に固定することによってステム10に固定
される。また、前記パフケージ10内に延在する光ファ
イバ1はファイバーガイド22によって案内されるとと
もに、このファイバーガイド22の内端を塞ぐように取
り付けられた固定材23によってファイバーガイド22
に固定されている。
前記、光ファイバlの内端、すなわち、球面5となるコ
ア2の先端はレーザチップ6の共振器7端に対面してい
ることから、レーザチップ6の共振器7から発光される
レーザ光8をその内部に取り込むことができる。
ア2の先端はレーザチップ6の共振器7端に対面してい
ることから、レーザチップ6の共振器7から発光される
レーザ光8をその内部に取り込むことができる。
一方、レーザチップ6を挟んで光ファイバ1と反対側と
なるステム14主面には、セラミックからなるブロック
26がソルダー27によって固定されている。このブロ
ック26の主面、すなわち、レーザチップ6に対面する
面には、外端を前記パッケージ10の外に突出させる前
記モニター用受光素子の2本のリード12の内端がそれ
ぞれ固定 。
なるステム14主面には、セラミックからなるブロック
26がソルダー27によって固定されている。このブロ
ック26の主面、すなわち、レーザチップ6に対面する
面には、外端を前記パッケージ10の外に突出させる前
記モニター用受光素子の2本のリード12の内端がそれ
ぞれ固定 。
されている。前記一方のり−ド12の内端には、前記レ
ーザチップ6から発光されたレーザ光8を受光する受光
素子28がソルダー29によって固定されている。また
、この受光素子28の図示しない電極と、前記他方のり
−ド12の内端とは図示しないワイヤによって電気的に
接続されている。
ーザチップ6から発光されたレーザ光8を受光する受光
素子28がソルダー29によって固定されている。また
、この受光素子28の図示しない電極と、前記他方のり
−ド12の内端とは図示しないワイヤによって電気的に
接続されている。
また、前記レーザチップ6の電極は、第3図では図示さ
れてないリード13とワイヤ等によってそれぞれ電気的
に接続されている。
れてないリード13とワイヤ等によってそれぞれ電気的
に接続されている。
このような半導体レーザ装W9は、前記受光素子28に
よってレーザ光8の出力をモニターするとともに、この
モニター情報によってレーザチップ6に印可する電圧を
調整しながら光ケーブル11を使用して光通信を行う。
よってレーザ光8の出力をモニターするとともに、この
モニター情報によってレーザチップ6に印可する電圧を
調整しながら光ケーブル11を使用して光通信を行う。
つぎに、本発明に係わる半導体組立装置について説明す
る。
る。
半導体組立装置は、第1図に示されるように、第1ワー
クであるステム14を載置するステージ30を有してい
る。このステージ30は、平面XY方向および上下Z方
向に移動制御可能となっている。また、前記ステージ3
0の上方には、2台のカメラ31.32が配設されてい
る。一方のカメラ31は、第4図にも示されるように、
前記ステージ30の真上に配設され、他方のカメラ32
は 所定の角度θだけ傾斜した方向、たとえば、45度
の斜め上方からワークを検出するように配設されている
。また、前記ステージ30の上方に先端機構部分を突出
させたチャック機構33が設けられている。このチャッ
ク機構33はxYZ方向に位置制御可能な図示しないX
YZテーブルと、このXYZテーブルから突出する2本
のアーム34とからなっている。前記アーム34はその
先端部分は下方に曲がりかつ再度水平方向に延在し、こ
の水平方向に延在する爪35で前記サブマウント19を
保持するようになっている。また、この半導体組立装置
は、演算処理部(演算処理回路)を内蔵した制御装置3
6を有している。
クであるステム14を載置するステージ30を有してい
る。このステージ30は、平面XY方向および上下Z方
向に移動制御可能となっている。また、前記ステージ3
0の上方には、2台のカメラ31.32が配設されてい
る。一方のカメラ31は、第4図にも示されるように、
前記ステージ30の真上に配設され、他方のカメラ32
は 所定の角度θだけ傾斜した方向、たとえば、45度
の斜め上方からワークを検出するように配設されている
。また、前記ステージ30の上方に先端機構部分を突出
させたチャック機構33が設けられている。このチャッ
ク機構33はxYZ方向に位置制御可能な図示しないX
YZテーブルと、このXYZテーブルから突出する2本
のアーム34とからなっている。前記アーム34はその
先端部分は下方に曲がりかつ再度水平方向に延在し、こ
の水平方向に延在する爪35で前記サブマウント19を
保持するようになっている。また、この半導体組立装置
は、演算処理部(演算処理回路)を内蔵した制御装置3
6を有している。
このような半導体組立装置で第1ワークであるステム1
0上に、第2ワークであるレーザチップ6、すなわち、
レーザチップ6が固定されたサブマウン)19を位置決
め固定する場合、光ファイバ1が固定されたステム10
を前記ステージ30上に載置する。ステム10は機械的
手段あるいは真空吸着手段によってステージ30にクラ
ンプされる。そこで、前記カメラ31およびカメラ32
で光ファイバlおよびレーザチップ6を検出し、両者の
位置合わせを行う。前記レーザチップ6の位置確認は、
レーザチップ6の中心点の検出あるいは共振器7がスト
ライプ状に見えることからこの共振器7を検出すること
によって確認検出できる。第3図では、サブマウント1
9を保持し、サブマウント19の位置を移動制御するこ
とによって、光ファイバ1とレーザチップ6の立体的位
置合わせを行う例が示されている。
0上に、第2ワークであるレーザチップ6、すなわち、
レーザチップ6が固定されたサブマウン)19を位置決
め固定する場合、光ファイバ1が固定されたステム10
を前記ステージ30上に載置する。ステム10は機械的
手段あるいは真空吸着手段によってステージ30にクラ
ンプされる。そこで、前記カメラ31およびカメラ32
で光ファイバlおよびレーザチップ6を検出し、両者の
位置合わせを行う。前記レーザチップ6の位置確認は、
レーザチップ6の中心点の検出あるいは共振器7がスト
ライプ状に見えることからこの共振器7を検出すること
によって確認検出できる。第3図では、サブマウント1
9を保持し、サブマウント19の位置を移動制御するこ
とによって、光ファイバ1とレーザチップ6の立体的位
置合わせを行う例が示されている。
ここで、二台のカメラで位置合わせを行う原理について
、第6図を参照して説明する。今、実線で示す円を前記
カメラ31およびカメラ32で捕らえたものとする。こ
れに対して、二点鎖線で示す円を本来光ファイバ1が位
置する必要のある位置、すなわち、レーザチップ6の共
振器7が存在する理想位置とすると、前記カメラ31は
第1ワークおよび第2ワークを真上から観察するように
なっていることから、L2が測定できる。また、同様に
して、θが45度となる位置に配設された前記カメラ3
2によって、L4が検出できる。この結果、次式が成り
立つ。
、第6図を参照して説明する。今、実線で示す円を前記
カメラ31およびカメラ32で捕らえたものとする。こ
れに対して、二点鎖線で示す円を本来光ファイバ1が位
置する必要のある位置、すなわち、レーザチップ6の共
振器7が存在する理想位置とすると、前記カメラ31は
第1ワークおよび第2ワークを真上から観察するように
なっていることから、L2が測定できる。また、同様に
して、θが45度となる位置に配設された前記カメラ3
2によって、L4が検出できる。この結果、次式が成り
立つ。
L3 =S in−’45°×L4 ・・・(1)L1
=Lz+L、 ・・・(2)L、=L、
・・・(3)そこで、これらの式から
前記制御装置36の演算処理部によって、光ファイバ1
のXYの修正距離が演算できることになる。
=Lz+L、 ・・・(2)L、=L、
・・・(3)そこで、これらの式から
前記制御装置36の演算処理部によって、光ファイバ1
のXYの修正距離が演算できることになる。
前記演算は、光ファイバ1を移動調整する例について説
明したが、原理的には、レーザチップ6すなわち、レー
ザチップ6が固定されたサブマウント19を移動調整す
る場合でも同様である。
明したが、原理的には、レーザチップ6すなわち、レー
ザチップ6が固定されたサブマウント19を移動調整す
る場合でも同様である。
このような半導体組立装置によれば、チャック機構33
でサブマウント19の位置調整を行うことによれば光フ
ァイバlとレーザチップ6との機械的位置合わせが高精
度、たとえば、±10μmの精度で行える。なお、Y方
向の位置はサブマウント19をステム14に固定するソ
ルダー21の厚さの調整によれば行われる。
でサブマウント19の位置調整を行うことによれば光フ
ァイバlとレーザチップ6との機械的位置合わせが高精
度、たとえば、±10μmの精度で行える。なお、Y方
向の位置はサブマウント19をステム14に固定するソ
ルダー21の厚さの調整によれば行われる。
(1)本発明の半導体組立装置は、光ファイバとレーザ
チップを2台のカメラで立体的に検出し、その検出情報
から演算処理によって位置ズレ量を求め、これを修正す
るようにレーザチップの位置調整をするため、高精度の
位置合わせが行えるという効果が得られる。
チップを2台のカメラで立体的に検出し、その検出情報
から演算処理によって位置ズレ量を求め、これを修正す
るようにレーザチップの位置調整をするため、高精度の
位置合わせが行えるという効果が得られる。
(2)上記(1)により、本発明の半導体組立装置は自
動的に光ファイバとレーザチップの位置合わせを行うこ
とから、半導体レーザ装置の組立の自動化が図れ、量産
化が可能となるという効果が得られる。
動的に光ファイバとレーザチップの位置合わせを行うこ
とから、半導体レーザ装置の組立の自動化が図れ、量産
化が可能となるという効果が得られる。
(3)上記(11により、本発明の半導体組立装置は、
高精度の位置合わせが行えることから、レーザチップか
ら発光されるレーザ光を光ファイバに取り込み、取り込
んだレーザ光の光強度を検出しながら光ファイバとレー
ザチップの光軸合わせを行う自動光軸合わせ装置による
光軸合わせ作業の前工程としての粗合わせ装置として利
用できるという効果が得られる。。
高精度の位置合わせが行えることから、レーザチップか
ら発光されるレーザ光を光ファイバに取り込み、取り込
んだレーザ光の光強度を検出しながら光ファイバとレー
ザチップの光軸合わせを行う自動光軸合わせ装置による
光軸合わせ作業の前工程としての粗合わせ装置として利
用できるという効果が得られる。。
以上本発明者によって蛙された発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない、たとえば、光ファイバl
のコア2は、前述のように、添加物を含んでいるが、そ
の添加物の内、Geは紫外線等の短波長の照射を受ける
と、自己発光する。そこで、第7図に示されるように、
半導体組立装置に紫外線37等を光ファイバ1に対して
照射する照射装置38を配設しておき、コア2の位置を
検出するようにすれば、さらに高い精度で光ファイバ1
とレーザチップ6を検出できることから、より一層高い
精度で位置合わせができるようになる。
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない、たとえば、光ファイバl
のコア2は、前述のように、添加物を含んでいるが、そ
の添加物の内、Geは紫外線等の短波長の照射を受ける
と、自己発光する。そこで、第7図に示されるように、
半導体組立装置に紫外線37等を光ファイバ1に対して
照射する照射装置38を配設しておき、コア2の位置を
検出するようにすれば、さらに高い精度で光ファイバ1
とレーザチップ6を検出できることから、より一層高い
精度で位置合わせができるようになる。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるシングル・モード・
ファイバを組み込んだ半導体レーザ装置の組立技術に適
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、たとえば、コア径が50μmと太いマルチ・
モード・ファイバを組み込む半導体レーザ装置の組立に
ついても同様に適用できる。この場合、コアが太いこと
と、本発明の半導体組立装置による位置決め精度が高い
ことによって、この作業が光軸合わせの最終作業とする
こともできる。また、本発明は発光ダイオード等の他の
発光素子と光ファイバあるいは他の光学系との位置合わ
せ技術にも適用できる。
をその背景となった利用分野であるシングル・モード・
ファイバを組み込んだ半導体レーザ装置の組立技術に適
用した場合について説明したが、それに限定されるもの
ではなく、たとえば、コア径が50μmと太いマルチ・
モード・ファイバを組み込む半導体レーザ装置の組立に
ついても同様に適用できる。この場合、コアが太いこと
と、本発明の半導体組立装置による位置決め精度が高い
ことによって、この作業が光軸合わせの最終作業とする
こともできる。また、本発明は発光ダイオード等の他の
発光素子と光ファイバあるいは他の光学系との位置合わ
せ技術にも適用できる。
本発明は少なくとも第1ワークと第2ワークとの立体的
位置決め技術には適用できる。
位置決め技術には適用できる。
第1図は本発明の一実施例による半導体組立装置の要部
を示す斜視図、 第2図は同じく本発明の装置を用いて組立られる半導体
レーザ装置の外観を示す斜視図、第3図は同じく一部を
示す断面図、 第4図は同じ(カメラと光ファイバおよびレーザチップ
との関係を示す模式図、 第5図は同じくレーザチップと光ファイバとを真上から
見た状態を示す模式図、 第6図は本発明の半導体組立装置における光ファイバと
レーザチップの立体的位置ズレを求める方法を示す説明
図、 第7図は本発明の他の実施例による半導体組立装置の要
部を示す斜視図である。 1・・・光ファイバ、2・・・コア、3・・・クランド
、4・・・テーバ部、5・・・球面、6・・・レーザチ
ップ、7・・・共振器、8・・・レーザ光、9・・・半
導体レーザ装置、10・・・パンケージ(ステム)、1
1・・・光)y−−7” /l/、12.13・・・リ
ード、14・・・ステム、15・・・キャップ、17・
・・取付孔、18・・・台座、19・・・サブマウント
、20.21・・・ソルダー、22・・・プアイバーガ
イド、23・・・固定材、26・・・ブロック、27・
・・ソルダー、28・・・受光素子、29・・・ソルダ
ー、30・・・ステージ、31.32・・・カメラ、3
3・・・チャック機構、34・・・アーム、35・・・
爪、36・・・制御装置、37・・・紫外線、38・・
・照射装置。 代理人 弁理士 小川勝率′、”′:”i第 1
図 第 2 図 第3図 第 5 図 第 6 図
を示す斜視図、 第2図は同じく本発明の装置を用いて組立られる半導体
レーザ装置の外観を示す斜視図、第3図は同じく一部を
示す断面図、 第4図は同じ(カメラと光ファイバおよびレーザチップ
との関係を示す模式図、 第5図は同じくレーザチップと光ファイバとを真上から
見た状態を示す模式図、 第6図は本発明の半導体組立装置における光ファイバと
レーザチップの立体的位置ズレを求める方法を示す説明
図、 第7図は本発明の他の実施例による半導体組立装置の要
部を示す斜視図である。 1・・・光ファイバ、2・・・コア、3・・・クランド
、4・・・テーバ部、5・・・球面、6・・・レーザチ
ップ、7・・・共振器、8・・・レーザ光、9・・・半
導体レーザ装置、10・・・パンケージ(ステム)、1
1・・・光)y−−7” /l/、12.13・・・リ
ード、14・・・ステム、15・・・キャップ、17・
・・取付孔、18・・・台座、19・・・サブマウント
、20.21・・・ソルダー、22・・・プアイバーガ
イド、23・・・固定材、26・・・ブロック、27・
・・ソルダー、28・・・受光素子、29・・・ソルダ
ー、30・・・ステージ、31.32・・・カメラ、3
3・・・チャック機構、34・・・アーム、35・・・
爪、36・・・制御装置、37・・・紫外線、38・・
・照射装置。 代理人 弁理士 小川勝率′、”′:”i第 1
図 第 2 図 第3図 第 5 図 第 6 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、位置制御可能なステージと、前記ステージ上に載置
される第1ワークに取り付けられる第2ワークを保持す
る位置制御可能なチャック機構と、前記ステージの第1
ワークおよび第2ワークを光学的に二方向から相互に独
立して検出する複数のカメラと、前記複数のカメラによ
って得られた第1ワークと第2ワークの立体的関係から
両者の位置ズレを演算する演算処理部と、前記各部を有
機的に制御する制御部と、を有することを特徴とする半
導体組立装置。 2、前記カメラは二台配置され、一方のカメラは第1ワ
ークおよび第2ワークの真上から第1ワークと第2ワー
クを検出するようになっているとともに、他方のカメラ
は45度傾斜した方向から第1ワークと第2ワークを検
出するようになっていることを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載の半導体組立装置。 3、位置制御可能なステージと、前記ステージ上に載置
される第1ワークに取り付けられる第2ワークを保持す
る位置制御可能なチャック機構と、前記ステージの第1
ワークおよび第2ワークを光学的に二方向から相互に独
立して検出する複数のカメラと、前記複数のカメラによ
って得られた第1ワークと第2ワークの立体的関係から
両者の位置ズレを演算する演算処理部と、前記各部を有
機的に制御する制御部と、前記第1ワークおよび第2ワ
ークに光を照射する照射装置と、を有することを特徴と
する半導体組立装置。 4、前記第1ワークおよび第2ワークの内、一方はコア
を有する光ファイバであり、他方はレーザチップとなっ
ているとともに、前記照射装置は紫外線を少なくとも光
ファイバに照射することを特徴とする特許請求の範囲第
3項記載の半導体組立装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29067785A JPS62150839A (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | 半導体組立装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29067785A JPS62150839A (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | 半導体組立装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62150839A true JPS62150839A (ja) | 1987-07-04 |
Family
ID=17759060
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29067785A Pending JPS62150839A (ja) | 1985-12-25 | 1985-12-25 | 半導体組立装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62150839A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007300057A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-15 | Applied Materials Inc | 二重温度帯を有する静電チャックをもつ基板支持体 |
-
1985
- 1985-12-25 JP JP29067785A patent/JPS62150839A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007300057A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-15 | Applied Materials Inc | 二重温度帯を有する静電チャックをもつ基板支持体 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5403773A (en) | Method for producing a semiconductor light emitting device | |
US5700084A (en) | Optical source position adjustment device | |
US6385223B1 (en) | Method for connecting optical waveguide and optical semiconductor device and apparatus for connecting the same | |
US7523848B2 (en) | Method and apparatus for measuring the size of free air balls on a wire bonder | |
JPH0685322A (ja) | 光電子デバイスの作製方法 | |
US5324954A (en) | Systems for adjusting and evaluating positional relationship between light-receiving element and optical fiber | |
JP7065725B2 (ja) | 接合装置および接合方法 | |
JP4514316B2 (ja) | 半導体レーザモジュールの製造方法 | |
JPS62150839A (ja) | 半導体組立装置 | |
JP2002043673A (ja) | 光モジュール組立方法及び組立装置 | |
US6857554B2 (en) | Method and device for determining the vectorial distance between the capillary and the image recognition system of a wire bonder | |
US6999494B2 (en) | Packaging and passive alignment of microlens and molded receptacle | |
KR100583649B1 (ko) | 콜리메이팅 검출장치 및 이를 이용한 광모듈 패키징 장치 | |
JPH0882724A (ja) | 光モジュール組み立て位置決め方法および光モジュール組み立て位置決め装置 | |
US20020061038A1 (en) | Method of producing semiconductor laser module and semiconductor laser module | |
JP2002258118A (ja) | 光半導体モジュールの製造方法および製造装置 | |
JP2003156655A (ja) | 平面光デバイスの導波路を通る光を結合させるシステムおよび方法 | |
JPS62252179A (ja) | 光電子装置組立装置 | |
JP2003084175A (ja) | 光モジュールおよび光モジュールの生産方法 | |
JPH01196187A (ja) | 光学装置及びその製造方法 | |
JP2023080540A (ja) | 光通信モジュールの製造方法および光通信モジュール製造装置 | |
JPH0738201A (ja) | 半導体レーザチップの実装方位調整方法 | |
JP2003133340A (ja) | 半導体デバイスの製造方法及び装置、並びに検査方法 | |
JPS62198185A (ja) | レ−ザダイオ−ドチツプの位置調整装置 | |
JP2004061868A (ja) | レーザ集光位置測定方法、光モジュール組立て方法及び光ファイバ調芯固定装置 |