JPS6214695Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、ICを入出力用の端子に接続する
装置において、このICを静電気による破損から
防ぐための保護装置についてのものである。

ICは静電気に弱く、わずか数百ボルトの静電
気レベルで破損することがある。一方、人体に帯
電する静電気は数千ボルトになることもあり、
ICを扱う場合には静電気を放電させる手段が必
要になる。

例えば電気回路の導通や絶縁を試験する場合、
使用する測定器の入出力端子とその測定器の内部
回路の間をICを介して接続する場合がある。そ
して、ICをオンオフしながら、入出力端子に接
続した線間の導通・絶縁を測定していく。この場
合、測定する電気回路がプリント回路のように端
子数が多いときは、ICもその端子数に対応して
多数配列し、CPUなどでICのオンオフを制御す
る。これらのICは測定時以外は静電気から保護
するために接地する。

この考案は、このような場合に使用するもの
で、ICの数が多い場合でも能率よく接地させた
り離したりすることができる保護装置の提供を目
的とする。以下、図面によりこの考案を詳細に説
明する。

まず、この考案による実施例の系統図を第１図
に示す。図で、１Ａ〜１ＣはIC、２Ａ〜２Ｃは
測定器１０の入出力端子、３Ａ〜３Ｃは端子２Ａ
〜２Ｃとそれぞれ導通する接触端子、４は導電性
マツト、５は駆動機構、６は導電性マツト４の支
持板である。

IC１Ａ〜１Ｃはそれぞれ端子２Ａ〜２Ｃと測
定器１０の内部回路１１の間を接続する。そし
て、内部回路１１の信号によりIC１Ａ〜１Ｃを
オンオフする。端子２Ａ〜２Ｃには、測定しよう
とする外部回路を接続する。

接触端子３Ａ〜３Ｃは導電性マツト４と接触し
やすいように、先端を揃える。

なお、第１図では端子２Ａ〜２Ｃが３つの場合
を例示しているが、外部回路の数が多いときはそ
の数に合せて端子２Ａ〜２Ｃの数を増やし、IC
１Ａ〜１Ｃと接触端子３Ａ〜３Ｃの数もそれに合
せて増やせばよい。

導電性マツト４は導電性をもつとともに弾性の
あるものを用い、接触端子３Ａ〜３Ｃと容易に接
触できるようにする。

支持板６に載せた導電性マツト４は接触端子３
Ａ〜３Ｃと接触させたり離したりすることができ
るようにする。このため、導電性マツト４を接触
端子３Ａ〜３Ｃと対向する位置に配置し、駆動機
構５により図の矢印方向に支持板６を移動させ
る。

次に、第１図の扱い方を説明する。

導電性マツト４を接地電位に接続し、端子２Ａ
〜２Ｃに外部回路を接続する。したがつて、接触
端子３Ａ〜３Ｃが導電性マツト４に接触していれ
ば、IC１Ａ〜１Ｃの端子２Ａ〜２Ｃ側は接地電
位に接続されることになる。

測定器１０を使わないときは駆動機構５で接触
端子３Ａ〜３Ｃと導電性マツト４を接触させ、測
定器１０を使うときは駆動機構５で接触端子３Ａ
〜３Ｃと導電性マツト４を離す。

なお、第１図では導電性マツト４を移動してい
るが、導電性マツト４を固定し、接触端子３Ａ〜
３Ｃを移動してもよい。また、接触端子３Ａ〜３
Ｃとしてプリント配線用コネクタを利用すれば、
多数の接触端子３を導電性マツト４に接触させる
のに便利である。

以上のように、この考案によれば使用時以外は
ICを接地電位に接続するので、静電気によるIC
の破損を防ぐことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案による実施例の系統図。 １Ａ〜１Ｃ……IC、２Ａ〜２Ｃ……端子、３
Ａ〜３Ｃ……接触端子、４……導電性マツト、５
……駆動機構、６……支持板、１０……測定器、
１１……測定器１０の内部回路。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 IC１を端子２に接続する装置において、 端子２と導通する接触端子３と、 接触端子３と接触する導電性マツト４と、 接触端子３と導電性マツト４を接触させたり離
   したりする駆動機構５とを備え、 前記装置を使わないときは駆動機構５で接触端
   子３と導電性マツト４を接触させ、前記装置を使
   うときは駆動機構５で接触端子３と導電性マツト
   ４を離すことを特徴とするICの保護装置。