JPS62134653A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS62134653A JPS62134653A JP27536385A JP27536385A JPS62134653A JP S62134653 A JPS62134653 A JP S62134653A JP 27536385 A JP27536385 A JP 27536385A JP 27536385 A JP27536385 A JP 27536385A JP S62134653 A JPS62134653 A JP S62134653A
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- JP
- Japan
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- charge transfer
- transfer layer
- carbide
- stannic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電荷蓄積モードで利用する光(ここでは、広
義の光を示し、可視光線、X線、紫外線、赤外線等を含
む電磁波を言う。)に感度を有する光導電体に関し、電
子写真感光体に利用される。
義の光を示し、可視光線、X線、紫外線、赤外線等を含
む電磁波を言う。)に感度を有する光導電体に関し、電
子写真感光体に利用される。
従来判の技術
電荷蓄積モードで利用する電子写真用感光体における光
導電体として、高い光感度と無公害性、高い硬度を有す
ることから、10〜40atm%の水素を局在化状態密
度を減少せしめる修飾物質として含む非晶質シリコン(
以下、a−8iと記す。)が注目されておシ、電子写真
感光体として利用されている。
導電体として、高い光感度と無公害性、高い硬度を有す
ることから、10〜40atm%の水素を局在化状態密
度を減少せしめる修飾物質として含む非晶質シリコン(
以下、a−8iと記す。)が注目されておシ、電子写真
感光体として利用されている。
しかしながら、上記のa−S iで構成される電子写真
感光体では暗抵抗値、光応答性、電荷蓄積に伴う帯電電
位の低さ、あるいは、耐湿性等の使用環境特性の点など
、総合的な特性向上がまだまだ必要である。
感光体では暗抵抗値、光応答性、電荷蓄積に伴う帯電電
位の低さ、あるいは、耐湿性等の使用環境特性の点など
、総合的な特性向上がまだまだ必要である。
例えば、第1の問題としてa−3iを用いた電子写真感
光体は、曲の感光体材t、1である有機光導電体(以下
、OPCと記す。)、あるいはSeに比較して比誘電率
が犬きく’ (OPC: 3 、Se〜e、a−si:
〜11)静電容量が大きいため、表面への帯電処理の際
大きな帯電電流を必要とする。
光体は、曲の感光体材t、1である有機光導電体(以下
、OPCと記す。)、あるいはSeに比較して比誘電率
が犬きく’ (OPC: 3 、Se〜e、a−si:
〜11)静電容量が大きいため、表面への帯電処理の際
大きな帯電電流を必要とする。
このため、他の電子写真感光体材料(OPC,Ss等で
i’6.600〜BOOV )に比べ、低い表面電位(
400V前後)で使用しなければならないのが現状であ
る。またこのことによシ、例えば、通常の電子写真装置
として2成分現(巣剤を用いる一般の複写機では、特に
通常の電荷帯金もつトナーと用いて両峰の複写をおこな
う場合、高い飽和濃度の画像を連続して安定に得るのは
困難となる。
i’6.600〜BOOV )に比べ、低い表面電位(
400V前後)で使用しなければならないのが現状であ
る。またこのことによシ、例えば、通常の電子写真装置
として2成分現(巣剤を用いる一般の複写機では、特に
通常の電荷帯金もつトナーと用いて両峰の複写をおこな
う場合、高い飽和濃度の画像を連続して安定に得るのは
困難となる。
更に、静電容量の大きい感光体は光感度特性においても
問題がある。しIJえば比誘電率の小さい感光体に比べ
表面の電荷量が多いため、表面電荷を光キャリアによっ
て打ち消して表面電位を下げるのにより多くの光子(p
hot on )f必要とし、実用上不利な点が多い。
問題がある。しIJえば比誘電率の小さい感光体に比べ
表面の電荷量が多いため、表面電荷を光キャリアによっ
て打ち消して表面電位を下げるのにより多くの光子(p
hot on )f必要とし、実用上不利な点が多い。
次に、第2の問題として光導電体?高抵抗化し表面電位
を向上させるため、a−Sユ巾に酸素、炭素、窒素等と
添加し使用する場合、従来ではその使用時に残留電位が
多く残る。また繰シ返し使用1時においては疲労の蓄積
によるゴースト現象金発住する。あるいは、光応答性が
悪化する等の問題があった。
を向上させるため、a−Sユ巾に酸素、炭素、窒素等と
添加し使用する場合、従来ではその使用時に残留電位が
多く残る。また繰シ返し使用1時においては疲労の蓄積
によるゴースト現象金発住する。あるいは、光応答性が
悪化する等の問題があった。
更には、第3の問題として感光体の構成によっては高温
、高湿時において画像の「ボケ」が生じる等の問題も無
視できない。
、高湿時において画像の「ボケ」が生じる等の問題も無
視できない。
発明が解決しようとする問題点
第1の静電容量を減少せしめる手段として、特開昭54
−143645号報には有後半導体材料を用いた機能分
離型の感光部材が、また特開昭56−24365号報に
は無機半導体材料を用いた機能分離型感光体が開示され
ている。
−143645号報には有後半導体材料を用いた機能分
離型の感光部材が、また特開昭56−24365号報に
は無機半導体材料を用いた機能分離型感光体が開示され
ている。
前者の有機半導体材料を用いた場合、a−5iの持つ高
い硬度の特徴を生がした長寿命感光体として機能しなく
なるため、決して有効な手段とは言えなめう また、後者では多結晶化しゃすいカルコゲン材料、ある
いは比誘電率の大きい材料(SiCでは〜10)等のた
め比抵抗の大きい材料を使用することによる帯電電圧の
向上が期待されるものの、前記第2の問題であった残留
電位の増加等の問題が解決されず、Δ−81の特長であ
る長寿命で、高感度で、しかも低残留電位のままで、高
い帯電電位のあるいは早い光応答性?有した感光体を得
ることはできないと言う問題があった。
い硬度の特徴を生がした長寿命感光体として機能しなく
なるため、決して有効な手段とは言えなめう また、後者では多結晶化しゃすいカルコゲン材料、ある
いは比誘電率の大きい材料(SiCでは〜10)等のた
め比抵抗の大きい材料を使用することによる帯電電圧の
向上が期待されるものの、前記第2の問題であった残留
電位の増加等の問題が解決されず、Δ−81の特長であ
る長寿命で、高感度で、しかも低残留電位のままで、高
い帯電電位のあるいは早い光応答性?有した感光体を得
ることはできないと言う問題があった。
問題点を解決するための手段
光励起によって移動可能なキャリアを発生する光導電層
と、上記キャリアが効率よく注入され効果的に輸送され
る電荷移動層とが積層された構造を有し、上記電荷移動
層が炭化スズを主成分とする無機材料で構成する。
と、上記キャリアが効率よく注入され効果的に輸送され
る電荷移動層とが積層された構造を有し、上記電荷移動
層が炭化スズを主成分とする無機材料で構成する。
作用
炭化スズは、炭素の組成比によって、その光学的禁止帯
幅が〜3.○eV以下と大きく変化する。
幅が〜3.○eV以下と大きく変化する。
ま姐シリフ化ゲルマニューム全添加シ1.5〜a、5e
Vまで変化させてもn型伝導を示す。また、その大きな
光学的禁止帯幅の材料でも活性化エネルギーが1.○e
V以下と小さく、電子の移動度が大きいため、光導電層
から炭化スズ化合物の伝導帯に効率よく電子が注入され
るように、それぞれの光学的禁止帯幅を制調すれば容易
に良好な感光部材が得られる。また、炭化スズ化合物の
比誘電率は、光学的禁止帯幅が1.6〜3.5eVの材
料で5〜9と小さい。
Vまで変化させてもn型伝導を示す。また、その大きな
光学的禁止帯幅の材料でも活性化エネルギーが1.○e
V以下と小さく、電子の移動度が大きいため、光導電層
から炭化スズ化合物の伝導帯に効率よく電子が注入され
るように、それぞれの光学的禁止帯幅を制調すれば容易
に良好な感光部材が得られる。また、炭化スズ化合物の
比誘電率は、光学的禁止帯幅が1.6〜3.5eVの材
料で5〜9と小さい。
このような炭化スズ全電荷移動層として感光体に使用す
ることによって、a−Si 、非晶質/リコンゲルマ
ニウム(以下a−81(、θと記す。)あるいは非晶質
ゲルマニウム(以下1−Gaと記す。)などの比誘電率
の大きな感光層を光導電層として用いても全体として比
誘電率の小さい感光体かえられ、実用上高い光感度の、
−また高い表面電位の感光体が得られる。
ることによって、a−Si 、非晶質/リコンゲルマ
ニウム(以下a−81(、θと記す。)あるいは非晶質
ゲルマニウム(以下1−Gaと記す。)などの比誘電率
の大きな感光層を光導電層として用いても全体として比
誘電率の小さい感光体かえられ、実用上高い光感度の、
−また高い表面電位の感光体が得られる。
電荷移動層としては、1〜80μm、好1しくは1o〜
60μm、光導電層としては。、5〜507+m好まし
くは1〜6μm形成し用いることが望ましい。
60μm、光導電層としては。、5〜507+m好まし
くは1〜6μm形成し用いることが望ましい。
実施eグリ
非晶質炭化スズ(以下、a Sn、−xcx、但し0
〈xく1と記し水素あるいは・・ロゲン原子を含む膜を
言う。)膜の作成には、5nC64,テトラメチルスズ
〔(CH3)4Sn〕、テトラエチルスズ〔(C2H5
)4Sn〕、加熱溶融されたSnF2等のSn原子の原
料ガスをあるいはH2、Ar 、He等のガスで希釈し
たガスおよび、CH41C2H61C2H41C2H2
,C,H8,C,H6,C5H4,0H3C−CH。
〈xく1と記し水素あるいは・・ロゲン原子を含む膜を
言う。)膜の作成には、5nC64,テトラメチルスズ
〔(CH3)4Sn〕、テトラエチルスズ〔(C2H5
)4Sn〕、加熱溶融されたSnF2等のSn原子の原
料ガスをあるいはH2、Ar 、He等のガスで希釈し
たガスおよび、CH41C2H61C2H41C2H2
,C,H8,C,H6,C5H4,0H3C−CH。
OH,Br 、 CH,、Br2. C2H5Br 、
OH,C;e、 aH2c6.、。
OH,C;e、 aH2c6.、。
CHCJ5. CH2CHCe、 CH20C12,C
2H,CH3゜(CH3)2CHCe、 CH3I 、
C2H5C−CH,(C:H3)4C。
2H,CH3゜(CH3)2CHCe、 CH3I 、
C2H5C−CH,(C:H3)4C。
CF4. CA:rlF、 、 CHF、 、 02F
6. C3F8. CH,F等のC原子の原料ガスを用
いたプラズマCVD法や、タープ:yl−isnまたば
SnF2 、 SnI。、5n12゜5nO12,Sn
P 、 Sn、PあるいはこれらとCの混合されたター
ゲットあるいはこれらとCの2枚のターゲットを用い、
Ar+ H2+ CH4+ C2H6+ C2H4+C
2H2等の中での反応性スズくツタ法や反応性蒸着法が
使用される。また、光導電層としてのa −3iば、S
iH4,Si2H6,si、1(8,SiF 4,5i
HF、 。
6. C3F8. CH,F等のC原子の原料ガスを用
いたプラズマCVD法や、タープ:yl−isnまたば
SnF2 、 SnI。、5n12゜5nO12,Sn
P 、 Sn、PあるいはこれらとCの混合されたター
ゲットあるいはこれらとCの2枚のターゲットを用い、
Ar+ H2+ CH4+ C2H6+ C2H4+C
2H2等の中での反応性スズくツタ法や反応性蒸着法が
使用される。また、光導電層としてのa −3iば、S
iH4,Si2H6,si、1(8,SiF 4,5i
HF、 。
SiH、、F 2. SiH5F 、5i(44,5j
−HCj’、 、SiH,、CJ2.SiH,C/l’
等の81原子の原料ガスあるいはこれらのガス全H29
人r、He等のガスで希釈したガスを用いたプラズマC
VD法または、S1企ターゲツトとし、人r、H2中で
の反応性スパッタ法や反応性蒸着法で形成できる。a−
(reば、GeHa 、 G e 2 H6゜Ge、H
8,GeF4. GeHF3. GeH2F2. Ge
H3F 。
−HCj’、 、SiH,、CJ2.SiH,C/l’
等の81原子の原料ガスあるいはこれらのガス全H29
人r、He等のガスで希釈したガスを用いたプラズマC
VD法または、S1企ターゲツトとし、人r、H2中で
の反応性スパッタ法や反応性蒸着法で形成できる。a−
(reば、GeHa 、 G e 2 H6゜Ge、H
8,GeF4. GeHF3. GeH2F2. Ge
H3F 。
GeCe4 、 GeHCe3. GeH2fJ’2.
GeH,Cj! 、 GaF2゜GeCe2等のGe
原子の原料ガスあるいはこれらのガスをH21人r、H
a等で希釈したガスを用いたプラズマCVD法またはG
e全ターゲットとしたAr、H2中での反応性スパッタ
法や反応性蒸着法で形成され、a −5iGeも同様に
、上記のGe原子の原料ガスと81原子の原料ガスの混
合ガスあるいは、この混合ガスk H21人r、He等
のガスで希釈したガスをもちいたプラズマCVD法や、
SlとGeの混合されたターゲットあるいはSlとG。
GeH,Cj! 、 GaF2゜GeCe2等のGe
原子の原料ガスあるいはこれらのガスをH21人r、H
a等で希釈したガスを用いたプラズマCVD法またはG
e全ターゲットとしたAr、H2中での反応性スパッタ
法や反応性蒸着法で形成され、a −5iGeも同様に
、上記のGe原子の原料ガスと81原子の原料ガスの混
合ガスあるいは、この混合ガスk H21人r、He等
のガスで希釈したガスをもちいたプラズマCVD法や、
SlとGeの混合されたターゲットあるいはSlとG。
の2枚のターゲットを用いた反応性スパッタ法や反応性
蒸着法で形成される。
蒸着法で形成される。
また、a−8n、 −xCxKsi、Ge等を添加する
場合も同じく、上記のSn原子の原料ガスと81または
Ge原子の原料ガスあるいは、この混合ガスをH2,H
e、Ar等のガスで希釈したガス’ISn原子の原料ガ
スに加えて用いたプラズマCVD法や、Si、Geを混
合したターゲットあるいは複数のターゲットを用いた反
応性スパッタ法や反応性蒸着法によって形成される。
場合も同じく、上記のSn原子の原料ガスと81または
Ge原子の原料ガスあるいは、この混合ガスをH2,H
e、Ar等のガスで希釈したガス’ISn原子の原料ガ
スに加えて用いたプラズマCVD法や、Si、Geを混
合したターゲットあるいは複数のターゲットを用いた反
応性スパッタ法や反応性蒸着法によって形成される。
下記、実施レリ1では反応性スパッタ法を用いた列につ
いて、実施列2.3および実施例4ではプラズマCVD
法を用いた列について説明する。
いて、実施列2.3および実施例4ではプラズマCVD
法を用いた列について説明する。
実7殉列1
第1図に示した本発明の感光体の断面図を参考にして説
明する。
明する。
鏡面研磨したアルミニウム(1)基板11をマグネトロ
ンスパッタ装置内に配置し、2X10 ’Torr以下
に排気後、基板温度全60〜250°Cに上昇させた。
ンスパッタ装置内に配置し、2X10 ’Torr以下
に排気後、基板温度全60〜250°Cに上昇させた。
Sniターゲットとし、Ar全全1御〜6ー内圧力とし
ては20〜200mTorr,好ましくは8o〜120
mTorrとなるよう装置内に導入し、周波数i 3
、 56 MHzの高周波電力50〜200Wにより、
電荷移動層であるa Sn, XCX層12i16μ
m形成した。続いてAr k 1 〜10 mTorr
。
ては20〜200mTorr,好ましくは8o〜120
mTorrとなるよう装置内に導入し、周波数i 3
、 56 MHzの高周波電力50〜200Wにより、
電荷移動層であるa Sn, XCX層12i16μ
m形成した。続いてAr k 1 〜10 mTorr
。
H2 f 0.3 〜4 mTorr 、 チャンバ
ー内圧力としては、2 〜1 2mTorr導入し、多
結晶Si fターゲットとして、放電電力200〜80
0Wにて光導電層であるa−3i層13全1μm形成し
た。
ー内圧力としては、2 〜1 2mTorr導入し、多
結晶Si fターゲットとして、放電電力200〜80
0Wにて光導電層であるa−3i層13全1μm形成し
た。
この時のa−8n1−xCx層12の比誘電率は8〜9
で電荷発生層であるa−3i層13は10〜11であっ
た。また、第1図の構造の光導電体に電子写真感光体と
して、負帯電にてその感光体特性を評価すると、全体の
膜厚が16μmであるにも拘らず飽和帯電電位900V
,残留電位15V以下と電位受容度が非常に大きい、残
留電位の小さい電子写真感光体が得られた。
で電荷発生層であるa−3i層13は10〜11であっ
た。また、第1図の構造の光導電体に電子写真感光体と
して、負帯電にてその感光体特性を評価すると、全体の
膜厚が16μmであるにも拘らず飽和帯電電位900V
,残留電位15V以下と電位受容度が非常に大きい、残
留電位の小さい電子写真感光体が得られた。
しかし、このような光導電層が表面に形成された感光体
は、帯電の繰シ返しに比例して帯電電位が減少する傾向
にある。これは、自由表面にある光導電層のa−5lは
オゾン等の影響(でよシ表面酸化が急速に進み酸化層中
の捕獲準位が表面の電荷の注入を促進するためと考えら
れる。
は、帯電の繰シ返しに比例して帯電電位が減少する傾向
にある。これは、自由表面にある光導電層のa−5lは
オゾン等の影響(でよシ表面酸化が急速に進み酸化層中
の捕獲準位が表面の電荷の注入を促進するためと考えら
れる。
このため、第2図のように光導電層の自由表面に新たな
表面被覆層14として、Si、−xNx。
表面被覆層14として、Si、−xNx。
S11 X Cz 1GeI −X CX 、 A (
! 205 、 A l 1xN x。
! 205 、 A l 1xN x。
(0<Xく1)、a−C:H(非晶質カーボン)等の表
面被覆層i0.05〜1μm形成することによって帯電
電位の変化を小さくし、また、高温、高湿時の画像の「
ボケ」の発生金防ぐことができた。
面被覆層i0.05〜1μm形成することによって帯電
電位の変化を小さくし、また、高温、高湿時の画像の「
ボケ」の発生金防ぐことができた。
実施例2
本実施列における感光体の断面図を第3図に示すっ
境面研磨した9oφ×31Q朋のAl ドラム基板40
を電泳間距離55m肩の容量結合方式プラズマCvD装
置内に1本配置し、反応容器内を5 x 10 ’To
rr以下に排気後、Ag基板40i50〜25Q″Cに
加熱する。SnF2 f 0.1〜1 sccm 。
を電泳間距離55m肩の容量結合方式プラズマCvD装
置内に1本配置し、反応容器内を5 x 10 ’To
rr以下に排気後、Ag基板40i50〜25Q″Cに
加熱する。SnF2 f 0.1〜1 sccm 。
GeF4全1〜5sccm、CHaを190〜200
sccm導入し、反応容器内の圧力全0.2〜1.OT
orrに調整後、高周波電力30〜800Wで a (Sn 1 yGey ) I−XCX (
0< Y + x< 1)層41 ’(515〜soμ
m形成し、史に08F4’i70.5〜10 sccm
、5iH4f 100〜20osccm。
sccm導入し、反応容器内の圧力全0.2〜1.OT
orrに調整後、高周波電力30〜800Wで a (Sn 1 yGey ) I−XCX (
0< Y + x< 1)層41 ’(515〜soμ
m形成し、史に08F4’i70.5〜10 sccm
、5iH4f 100〜20osccm。
水素希釈した10ppm製度の132H6f 6〜50
secm導入し、o、2〜2.OTorrに制御し放電
電力150〜500WでB添加したフン素含有の非晶質
シリコンゲルマニウム(以下a−SiGts:H:F
(!:記す。)層42’i1〜3μm形成し、続いてS
iH4’i5〜10SOQm、 NH3−1100〜2
00SCCm導入し圧力0.2〜1.○Torr1放電
電力150〜60QWでsi、 xNx層44を0.1
〜0.2μm形成し電子写真感光体を得た。
secm導入し、o、2〜2.OTorrに制御し放電
電力150〜500WでB添加したフン素含有の非晶質
シリコンゲルマニウム(以下a−SiGts:H:F
(!:記す。)層42’i1〜3μm形成し、続いてS
iH4’i5〜10SOQm、 NH3−1100〜2
00SCCm導入し圧力0.2〜1.○Torr1放電
電力150〜60QWでsi、 xNx層44を0.1
〜0.2μm形成し電子写真感光体を得た。
この感光体は負帯電によって使用され、その分光感度は
400〜850nm Q広範囲に渡って高感度であり、
a−31層に比較して?h−3iCra:H:F層42
を電荷発生届とすることにより赤外線領域の波長にまで
光感度の向上が見られ、この感光部材を800nmの半
導体レーザーを光源とするレーザービームプリンタに実
装し1.鮮明な印字を確認した。この場合のa (S
n 1y(rey)+−xcx層41は、光学的禁止帯
幅を狭くしておシ、比誘電率が8〜9で、正孔のブロッ
キング層としてのみでなくレーザー光の吸収層としても
機能するためAIM板40からの反射による解1栄度の
低下を防止している。また、比誘電率の比較的大きなa
−(Sn、 、Gey)、 、Cxは室温での暗比抵抗
が小さい傾向が見られる。この場合、 a−(Sn、、Gey)、−XCX層にBQ添加するこ
とにより暗比抵抗を高めることができる。[Ziえば、
8の比誘電率をもつa−(Sn、 yGey)+−xc
x は〜109Ω−ffと小さいが、0 、01〜10
atm%のBi不添加ることにより〜1015Ω・α
に高抵抗化できる。このことにより、更に、階調再現
が可能となり、中間調の再現に侵れた印字ができた。
400〜850nm Q広範囲に渡って高感度であり、
a−31層に比較して?h−3iCra:H:F層42
を電荷発生届とすることにより赤外線領域の波長にまで
光感度の向上が見られ、この感光部材を800nmの半
導体レーザーを光源とするレーザービームプリンタに実
装し1.鮮明な印字を確認した。この場合のa (S
n 1y(rey)+−xcx層41は、光学的禁止帯
幅を狭くしておシ、比誘電率が8〜9で、正孔のブロッ
キング層としてのみでなくレーザー光の吸収層としても
機能するためAIM板40からの反射による解1栄度の
低下を防止している。また、比誘電率の比較的大きなa
−(Sn、 、Gey)、 、Cxは室温での暗比抵抗
が小さい傾向が見られる。この場合、 a−(Sn、、Gey)、−XCX層にBQ添加するこ
とにより暗比抵抗を高めることができる。[Ziえば、
8の比誘電率をもつa−(Sn、 yGey)+−xc
x は〜109Ω−ffと小さいが、0 、01〜10
atm%のBi不添加ることにより〜1015Ω・α
に高抵抗化できる。このことにより、更に、階調再現
が可能となり、中間調の再現に侵れた印字ができた。
実施例3
実施例2と同じ< ZL (Sn、−yGe、)、 −
xcx(0<’I 、 X<1 )層41をプラグ−r
CV D法によって形成した。この時、Sn原子の原
料ガスとしてテトラメチルスズ((CHs)asn)f
用いて行ない15〜3Qμmの膜を得た。室温時の暗比
抵抗は1012〜1o15Ω・(7)と高い膜が得られ
、中間調の再現に優れた印字が可能であった。ここで、
テトラエチルスズ((C2Hs)4sn)をSn原子の
原料ガスとして用いても同じ結果が得られた。
xcx(0<’I 、 X<1 )層41をプラグ−r
CV D法によって形成した。この時、Sn原子の原
料ガスとしてテトラメチルスズ((CHs)asn)f
用いて行ない15〜3Qμmの膜を得た。室温時の暗比
抵抗は1012〜1o15Ω・(7)と高い膜が得られ
、中間調の再現に優れた印字が可能であった。ここで、
テトラエチルスズ((C2Hs)4sn)をSn原子の
原料ガスとして用いても同じ結果が得られた。
また、a (Sn 1yG ey ) I−XCX
(○<y、x<1)層41には水素、フッ素が含まれ、
1〜50+atm%で繰シ返し使用にも安定な電子写真
感光体が得られた。
(○<y、x<1)層41には水素、フッ素が含まれ、
1〜50+atm%で繰シ返し使用にも安定な電子写真
感光体が得られた。
実施列4
実施列2と同じくプラズマCvD法により膜の形成を行
なった。基板加熱は150〜260′Cに制(財)し第
4図に示すようにA7ドラム基板60上にSiH4を1
00〜200secm、水素希釈をした4 00 pp
m濃度のBF3’1100〜200secm 。
なった。基板加熱は150〜260′Cに制(財)し第
4図に示すようにA7ドラム基板60上にSiH4を1
00〜200secm、水素希釈をした4 00 pp
m濃度のBF3’1100〜200secm 。
ガス圧力0.2〜1.0 ’rorr 、放電電力1o
○〜400 W T B g加したP型a−3i層51
全0.2〜1μm形成した。続いてSiH4f 100
〜200sCam 、水素希釈をしf140 ppm
t7) BF 、f 1〜10105e、ガス圧力0.
2〜1.○Torr、放電電力io。
○〜400 W T B g加したP型a−3i層51
全0.2〜1μm形成した。続いてSiH4f 100
〜200sCam 、水素希釈をしf140 ppm
t7) BF 、f 1〜10105e、ガス圧力0.
2〜1.○Torr、放電電力io。
〜400WでB添加の1型a−3i層52’i11−2
zz形成した。更に、SnF 2 f 1〜o、s s
ccm 。
zz形成した。更に、SnF 2 f 1〜o、s s
ccm 。
5iHaを1〜2sccm 、CH4’i1 50〜2
00scanガス圧力0.2〜1 、OTorr 、放
電電力300〜600Wでh (Sn + ysxy
) HXCX (0(x 、 y (1)層53を10
〜20μm形成し、電子写真感光体を形成した。
00scanガス圧力0.2〜1 、OTorr 、放
電電力300〜600Wでh (Sn + ysxy
) HXCX (0(x 、 y (1)層53を10
〜20μm形成し、電子写真感光体を形成した。
a−Si:H膜の比誘電率は〜11であるのに対し、a
(Sn、 ysly)+−xcx膜53は5〜7と小
さく、光学的禁止帯幅も2.3〜3.○eV と大きく
光吸収によるロスも少ない。
(Sn、 ysly)+−xcx膜53は5〜7と小
さく、光学的禁止帯幅も2.3〜3.○eV と大きく
光吸収によるロスも少ない。
また、実施レリ2と同様にBを0.1〜10 atm%
添加したa−(Sn、 ysiy)+−xCx膜を用い
れば、更に室温での暗比抵抗が増加し中間調の再現に優
れた特徴のある電子写真感光体が得られた。
添加したa−(Sn、 ysiy)+−xCx膜を用い
れば、更に室温での暗比抵抗が増加し中間調の再現に優
れた特徴のある電子写真感光体が得られた。
この感光体は、正帯電にて飽和帯電電位1000〜16
00vとすぐれ、市販の複写機に実装してテスト’&加
えた所、良好な画像が得られ、20万枚以上の耐刷性が
確認された。
00vとすぐれ、市販の複写機に実装してテスト’&加
えた所、良好な画像が得られ、20万枚以上の耐刷性が
確認された。
また、a (5nj−ysly) 1−xcx (0
(x 、7<1 )層には炭素と同時に水素、あるいは
フッ素が含有されていることは明らかであり、1〜so
atm%の範囲で長寿命の電子写真感光体が得られた。
(x 、7<1 )層には炭素と同時に水素、あるいは
フッ素が含有されていることは明らかであり、1〜so
atm%の範囲で長寿命の電子写真感光体が得られた。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明による光導電体は、電荷
移動層としテa−3n 、 −xCx(○<X<1 )
、2L (Sn、 ysly) +−xCx(○<x
、y<1)。
移動層としテa−3n 、 −xCx(○<X<1 )
、2L (Sn、 ysly) +−xCx(○<x
、y<1)。
a (S n + yG ey ) +−XCX (0
(x、Y < ’ )を主成分とする層を用いることに
より、電荷蓄積モードで使用する電子写真感光体の静電
容量を減少せしめ、光応答の優れた高電圧動作の可能な
俊れた感光部材を提供することができる。
(x、Y < ’ )を主成分とする層を用いることに
より、電荷蓄積モードで使用する電子写真感光体の静電
容量を減少せしめ、光応答の優れた高電圧動作の可能な
俊れた感光部材を提供することができる。
第1図は本発明の一実施例における感光体の断面図、第
2図は他の実施レリの断面図、第3図はレーザービーム
プリンタに好適な実施列の感光体の断面図、第4図は更
に他の実施列における正帯電に好適な感光体の断面図で
ある。 11・・・・・アルミニウム基板、12・・・・・・a
−3n、−xCx層、13−・−a −Si層、14・
・・・・・表面被覆層、40・・・・・・Al ドラム
基板、41・・・・・・a (Sn + yG ’3
y ) I X CX層、42−・中−a−SiGe
:H:2層、44・・・・・511−xNx層、50−
=・A l ドラム基板、51川・・a−81層、5
2 山川a−8i層、63・・・・・・a−(Sn1−
ySiy)1−xCx層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 イ1−−−アルSニラ4差材 第2図 14−我面法1脅
2図は他の実施レリの断面図、第3図はレーザービーム
プリンタに好適な実施列の感光体の断面図、第4図は更
に他の実施列における正帯電に好適な感光体の断面図で
ある。 11・・・・・アルミニウム基板、12・・・・・・a
−3n、−xCx層、13−・−a −Si層、14・
・・・・・表面被覆層、40・・・・・・Al ドラム
基板、41・・・・・・a (Sn + yG ’3
y ) I X CX層、42−・中−a−SiGe
:H:2層、44・・・・・511−xNx層、50−
=・A l ドラム基板、51川・・a−81層、5
2 山川a−8i層、63・・・・・・a−(Sn1−
ySiy)1−xCx層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 イ1−−−アルSニラ4差材 第2図 14−我面法1脅
Claims (5)
- (1)光励起によって移動可能なキャリアを発生する光
導電層と、上記キャリアが効率よく注入され効果的に輸
送される電荷移動層とが支持体上に積層され、上記電荷
移動層が炭化スズを主成分とすることを特徴とする電子
写真感光体。 - (2)電荷移動層に、少なくともゲルマニュームおよび
シリコンのいずれかを含む特許請求の範囲第1項記載の
電子写真感光体。 - (3)電荷移動層が、少なくとも水素あるいはハロゲン
原子のいずれかを含有する特許請求の範囲第1項記載の
電子写真感光体。 - (4)光導電層が、少なくとも水素あるいはハロゲン原
子のいずれかを含有し、非晶質シリコン、ゲルマニュー
ムあるいはシリコンゲルマニュームの内いずれかを主成
分とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。 - (5)自由表面に表面被覆層を有する、特許請求の範囲
第1項記載の電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60275363A JPH0668628B2 (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60275363A JPH0668628B2 (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | 電子写真感光体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62134653A true JPS62134653A (ja) | 1987-06-17 |
JPH0668628B2 JPH0668628B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=17554432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60275363A Expired - Lifetime JPH0668628B2 (ja) | 1985-12-06 | 1985-12-06 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0668628B2 (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5971060A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-21 | Sanyo Electric Co Ltd | 静電潜像形成部材 |
-
1985
- 1985-12-06 JP JP60275363A patent/JPH0668628B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5971060A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-21 | Sanyo Electric Co Ltd | 静電潜像形成部材 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0668628B2 (ja) | 1994-08-31 |
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