JPS6212618Y2 - - Google Patents

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JPS6212618Y2
JPS6212618Y2 JP16143281U JP16143281U JPS6212618Y2 JP S6212618 Y2 JPS6212618 Y2 JP S6212618Y2 JP 16143281 U JP16143281 U JP 16143281U JP 16143281 U JP16143281 U JP 16143281U JP S6212618 Y2 JPS6212618 Y2 JP S6212618Y2
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JP
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pattern
mask
heating resistor
alignment
common electrode
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JP16143281U
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案はサーマルヘツドを製造する際に用いる
マスクパターンに関する。
サーマルヘツドは、一例として第1図に発熱抵
抗体部の一部分の平面図を示すように、例えばミ
アンダ形状で互いに平行に、長手方向(図では縦
方向)に配列された多数の発熱抵抗体1を備えて
いる。各発熱抵抗体1は、一端が共通電極2に接
続され、他端がそれぞれ対応する電極3に接続さ
れている。この発熱抵抗体1の配列に沿つて感熱
記録紙を接触させ、所定の発熱抵抗体1に共通電
極2と電極3間で通電すると感熱記録紙のその位
置が発色する。次に、感熱記録紙を発熱抵抗体1
の配列方向(長手方向)と直角方向に移動させ、
同様に所定の発熱抵抗体1に通電する。この操作
を繰返すことにより、感熱記録紙上に文字、図形
などの情報を記録することができる。
発熱抵抗体1の数は分解能と記録幅とに依存す
るが、例えば8ドツト/mmの記録密度でA4判
(216mm)の記録幅を有するサーマルヘツドの場合
には1728個の同一パターンの発熱抵抗体が配列さ
れることになる。
第2図は第1図のA,A′線断面図で、セラミ
ツク基板4上に発熱抵抗体1が形成され、その上
に電極3及び共通電極2が形成されて発熱抵抗体
1と接続し、これらの上には発熱抵抗体1の耐酸
化保護層として二酸化珪素(SiO2)層5が被覆さ
れ、更にその上に耐磨耗層として五酸化タンタル
層6が被覆されている。
発熱抵抗体1、共通電極2、及び電極3のパタ
ーン形成は、よく知られた微細加工技術を用いて
行なうことができる。例えば、セラミツク基板4
上に発熱抵抗体層と導電体層との積層体を有する
試料表面にホトレジストを塗布し、電極パターン
用マスクを重ねて露光と現像を行なつてホトレジ
ストパターンを形成した後、このホトレジストパ
ターンをマスクとして導電体層をエツチングして
共通電極2及び電極3のパターンを形成する。次
にその上に再びホトレジストを塗布し、今度は発
熱抵抗体パターン用マスクを重ねて同様に露光、
現像及びエツチングを行なつて発熱抵抗体1のパ
ターンを形成する。
このパターン形成プロセスにおいて、発熱抵抗
体パターン用マスクは、先に形成された共通電極
パターン2及び電極パターン3の上に正しく位置
合せして重ねなければならない。そこで、従来、
位置合せのためのパターンを別途各マスクに設け
ることが行なわれている。
従来の方法を、第1図に示したパターンを形成
するためのマスクについて示すと、その発熱抵抗
体パターン用マスクは、第3図に左側端部を示す
ように発熱抵抗体用のパターン7の他に斜線で示
した十字形の位置合せ用パターン8を備える。
尚、右側端部にも同様に位置合せ用パターン8を
備える。また、電極パターン用マスクは、第4図
に左側端部を示すように、共通電極用のパターン
9及び電極用のパターン10の他に斜線で示した
四角形の位置合せ用パターン11を、第3図の発
熱抵抗体パターン用マスクの位置合せ用パターン
8と対応する位置に備える。尚、右側端部にも位
置合せ用パターン11を備える。これらのマスク
を用いてサーマルヘツドのパターンを形成するに
は、第5図に示すように、第4図の電極パターン
用マスクにより形成され導電体層からなる四角形
の位置合せ用パターン11′に位置合せ用パター
ン8が合致するように第3図の発熱抵抗体パター
ン用マスクを重ねる。
しかしながら、第3図のような発熱抵抗体用の
多くの繰返しパターン7を有するマスクに、その
繰返し単位のパターンとは別異の形状の位置合せ
用パターン8を設けることにより以下の問題が発
生する。すなわち、発熱抵抗体用の繰返しパター
ン7部分はホトリピータにより同一パターンを繰
返し露光することにより作画するのが一般である
が、位置合せ用パターン8の部分ではホトリピー
タを使用することができない。その結果、パター
ンの作画精度が低下し、したがつてマスクの精度
が低下する。マスクの誤差は、長さが200mmにも
及ぶサーマルヘツドの歩留りに特に重大な影響を
及ぼすので、高度のマスク精度が要求される。ま
た、ホトリピータが完全に利用できないことによ
り、作画時間が長くかかり、マスクの価格を上昇
させる要因ともなる。
本考案は上記問題に鑑みてなされたもので、同
一の繰返しパターンを多数有するマスクにおい
て、位置合せ精度が高く、かつ作画精度の高いマ
スクを安価に製造することのできるマスクパター
ンを提供することを目的とするものであつて、発
熱抵抗体パターン用マスクにおいては発熱抵抗体
用のパターンと同一形状のパターンを余分に並べ
て形成し、その余分に形成されたパターンの少な
くとも1個を位置合せ用パターンに利用すると共
に、電極パターン用マスクにおいては共通電極用
のパターンと位置合せ用パターンとがつながつて
一体化しないように共通電極用のパターンの一部
を切欠くことにより、上記目的を達成せんとする
ものである。
以下、一実施例により本考案を詳細に説明す
る。
第6図は一実施例における発熱抵抗体パターン
用マスクの左側端部を示す図で、多数の発熱抵抗
体用のパターン7の外側に2個のパターン12を
介してパターン13が配置されている。このマス
クの右側端部には図示はされていないが、同様に
2個のパターン12を介してパターン13が配置
されている。これらのパターン7,12,13は
全て同一パターンからなり、かつ等間隔に配列さ
れている。斜線を施したパターン13はマスクの
位置合せ用パターン、パターン12はパターン7
とパターン13との間隔を調整するためのダミー
パターンである。
第7図は第6図の発熱抵抗体パターン用マスク
に対応する電極パターン用マスクの左側端部を示
す図である。9は共通電極用のパターン、10は
電極用のパターン、斜線を施したパターン14は
本図の電極パターン用マスクと第6図の発熱抵抗
体パターン用マスクとを重ねたとき、パターン1
3に正確に重なり合うような大きさと位置に設計
されている。第7図においては、位置合せ用パタ
ーン14と共通電極用パターン9とがつながらな
いように、共通電極用パターン9に切欠き15が
設けられている。尚、第7図も第6図と同様に、
図示はされていないが右側端部にも位置合せ用パ
ターン14と切欠き15とが設けられている。
これらのマスクを用いてサーマルヘツドのパタ
ーンを形成するプロセスは、従来例として第5図
で記述したところと全く同様である。すなわち、
第8図に示すように、第7図の電極パターン用マ
スクを用いてホトリソグラフイー技術により形成
された、導電体層からなるパターン2,3及び1
4′の上に、ポジ型ホトレジストを塗布した後、
第6図の発熱抵抗体パターン用マスクを重ねる。
この際、導電体層からなる長方形の位置合せパタ
ーン14′に、位置合せパターン13の矩形部分
が正確に重なり合うように位置合せを行なう。そ
の後、電極パターンを形成したのと同じホトリソ
グラフイー技術により発熱抵抗体パターンを形成
すれば、第1図に示したサーマルヘツドが得られ
る。
本実施例において、発熱抵抗体パターンとして
ミアンダ形状のものを例示したが、他の形状の発
熱抵抗体パターンであつても、それが繰返して設
けられる構造である以上、本実施例と全く同様に
扱いうることは明らかである。また、本実施例の
発熱抵抗体パターン用マスクで、両端にそれぞれ
2個のダミーパターンを設けたが、その数は適宜
定めることができ、あるいは設けなくてもよい。
更に、本実施例はポジ型ホトレジストを使用す
るマスクについて示したが、ネガ型ホトレジスト
を使用するマスクについても、パターンが反転す
る点を除いて全く同様に適用することができる。
以上詳述した如く、本考案は発熱抵抗体パター
ン用マスクにおいて、マスクの位置合せ用パター
ンとして繰返し形成される発熱抵抗体用のパター
ンと同一パターンを利用すると共に、電極パター
ン用マスクにおいて、位置合せ用パターンと共通
電極用パターンとがつながらないように共通電極
用パターンの一部を切欠いたので、発熱抵抗体パ
ターン用マスクの位置合せ用パターンもホトリピ
ータにより発熱抵抗体パターンと同時に形成でき
るようにして作画精度を高め、かつ作画時間を短
縮すると共に、位置合せ精度を高めたサーマルヘ
ツドのマスクパターンを提供することを可能にし
た。
【図面の簡単な説明】
第1図はサーマルヘツドの一例の発熱抵抗体部
を示す部分平面図、第2図は第1図のA,A′線
断面図、第3図は従来の位置合せ用パターンを有
する発熱抵抗体パターン用マスクを示す平面図、
第4図は同じく従来の位置合せ用パターンを有す
る電極パターン用マスクを示す平面図、第5図は
第3図に示した発熱抵抗体パターン用マスクの位
置合せ状態を示す平面図、第6図は本考案の一実
施例の位置合せ用パターンを有する発熱抵抗体パ
ターン用マスクを示す平面図、第7図は第6図に
示された位置合せ用パターンに対応する位置合せ
用パターンを有する電極パターン用マスクを示す
平面図、第8図は第6図に示した発熱抵抗体パタ
ーン用マスクの位置合せ状態を示す平面図であ
る。 1……発熱抵抗体、2……共通電極、3……電
極、4……セラミツク基板、5……二酸化珪素
層、6……五酸化タンタル層、7……発熱抵抗体
用パターン、8,11,13,14……位置合せ
用パターン、9……共通電極用パターン、10…
…電極用パターン、15……切欠き。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ホトリソグラフイーによりサーマルヘツドのパ
    ターンを形成するための発熱抵抗体パターン用マ
    スク及び電極パターン用マスクにおいて、上記発
    熱抵抗体パターン用マスクが発熱抵抗体用パター
    ンとして多数の同一形状パターンを繰返して有す
    ると共に、位置合せ用パターンとして上記発熱抵
    抗体用パターンに並べて別設され、かつ発熱抵抗
    体用パターンと同一形状を有するパターンを用
    い、また上記電極パターン用マスクが共通電極用
    パターン、電極用パターン及び位置合せ用パター
    ンを有すると共に、該位置合せ用パターンと共通
    電極用パターンとがつながつて一体化しないよう
    に共通電極用パターンが切欠かれていることを特
    徴とするサーマルヘツド用マスクパターン。
JP16143281U 1981-10-28 1981-10-28 サ−マルヘツド用マスクパタ−ン Granted JPS5864453U (ja)

Priority Applications (1)

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JP16143281U JPS5864453U (ja) 1981-10-28 1981-10-28 サ−マルヘツド用マスクパタ−ン

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JP16143281U JPS5864453U (ja) 1981-10-28 1981-10-28 サ−マルヘツド用マスクパタ−ン

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Publication Number Publication Date
JPS5864453U JPS5864453U (ja) 1983-04-30
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JP16143281U Granted JPS5864453U (ja) 1981-10-28 1981-10-28 サ−マルヘツド用マスクパタ−ン

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0737173B2 (ja) * 1985-06-19 1995-04-26 大日本印刷株式会社 部分金属薄膜層を有する転写シ−トの製造方法

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JPS5864453U (ja) 1983-04-30

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