JPS62125319A - パタ−ン描画装置 - Google Patents

パタ−ン描画装置

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Publication number
JPS62125319A
JPS62125319A JP60266326A JP26632685A JPS62125319A JP S62125319 A JPS62125319 A JP S62125319A JP 60266326 A JP60266326 A JP 60266326A JP 26632685 A JP26632685 A JP 26632685A JP S62125319 A JPS62125319 A JP S62125319A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holder
dust
scale
reference scale
light
Prior art date
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Pending
Application number
JP60266326A
Other languages
English (en)
Inventor
Yuichi Aoki
裕一 青木
Shinji Miura
三浦 紳治
Yoshihisa Fujiwara
義久 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
Priority to JP60266326A priority Critical patent/JPS62125319A/ja
Publication of JPS62125319A publication Critical patent/JPS62125319A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は、パターン描画装置に関し、特にそのクロック
信号生成用基準スケールへの塵埃の付着を防止したパタ
ーン描画装置に関する。
(発明の背景) 従来のレーザビームパターン描画装置においては、光ビ
ームを回転多面鏡等の光偏向装置によって走査し、プリ
ント基板等の上に所望のパターンが描画されるように構
成されている。第6図はこのようなパターン描画装置の
一例を示し、レーザ光源1から出射されたレーザビーム
は参照ビーム生成手段としてのビームスプリッタ2によ
り描画用の光ビームB1と参照ビームB2に分割される
。描画用の光ビームBlは描画ビーム生成手段としての
光変調器3によって強度変調された後に、また参照ビー
ムB2はそのままビームエクスパンダ4に入射され、そ
れらビームの幅が拡大される。次いでそれらのビームB
l、B2は、走査手段としての回転多面鏡5の反射方向
、すなわち矢印A方向の回転によって反射・偏向され、
結像レンズ6により集光されて反射鏡13の所定位置に
入射される。反射鏡13に水平に入射されたビームBl
、B2は下方に向きが変えられ、描画用の光ビームBl
は1次元移動ステージ7上の感光材8の上に結像され、
光変調器3の働きにより明減しなからX方向に直線走査
される。この主走査方向のビーム走査に同期して移動ス
テージ7が副走査方向であるY方向に移動され、以って
、2次元パターンが感光材8上に描画される。
一方、反射鏡13で下向きに反射された参照ビームB2
は、描画用の光ビームBlの感光材上の走査位置から離
れて配置された反射鏡9でY方向に反射される0反射鏡
9からY方向に離間した位置には基準スケール10がX
方向に延在して配設されている。
なお、スケール10は、詳述はしないが、参照ビームB
2が透過する受光部としての透過部とビームB2が透過
しない反射部とを有しており、スケール10上の参照ビ
ームB2の入射位置に応じて明滅する光パルス信号をこ
のスケールlOを介して得ることができる。更にまた本
例ではスケール10の後方にはライトガイド11が配置
され、スケール10を通過して得られる光パルス信号は
フォトマルチプライヤ等の光検出器12に導かれ、ここ
で、上記パルス信号と等しい周期でオン争オフする変調
用クロック信号が生成されて光変調器3に供給されるよ
うにしである。なお、CCD等の受光型光学素子アレイ
によりスケールlOを構成してもよく、この場合、参照
ビームB2はCCD等のアレイで受光される。また参照
ビームB2はレーザ光源lとは別設した別の光源から常
時発生するようにしても同様である。ただしビームB1
とB2は同時に回転多面鏡5に入射させる必要がある。
従来のこの種のパターン描画装置においては、クロック
信号に同期して、描画すべきパターンの描画データに相
応して光ビームが変調されるものであって、光ビームの
走査装置を検出するためのモータとして使用される上記
の光パルス信号をクロック信号として用いることにより
主走査方向の位置精度が保証されている。しかるに、上
述した基準スケール10に塵埃等が付着すると、その付
着した透過部から参照ビームB2が透過しなかったり、
あるいは透過してもその光量が減少し、正確なりロック
信号が得られないという問題がある。
(発明の目的) 本発明の目的は、このような問題点を解消し、基準スケ
ールへの塵埃付着を防止するようにしたパターン描画装
置を提供することにある。
(発明の概要) 本発明は、内部に描画ビームおよび参照ビームを導く光
学系を設けるとともに基準スケールを保持する保持手段
を設け、さらにその保持手段内部への塵埃の侵入を防止
する防塵手段を設けたことを特徴とする。
(実施例) 一第1の実施例− 第1図は本発明の第1の実施例を示し、20は防塵が施
されたスケール保持構造、21は保持手段を構成するホ
ルダであり、このホルダ21は回転多面鏡5や結像レン
ズ6が配設されている上部架台22に固着されている。
ホルダ21内には光学通路211が形成され、その入口
212および出口213には防塵手段を構成する窓ガラ
ス23および24がそれぞれ嵌め込まれている。ホルダ
21には、その光学通路211内に設けられた光学系を
構成する反射鏡13および9が保持されるとともに上述
した基準スケールlOも保持される。また、基準スケー
ル10の後方ではライトガイド11がホルダ21に保持
されている。
このように構成されたスケール保持構造20においては
、描画ビームBlおよび参照ビームB2は窓ガラス23
を透過して光学通路211内に入射され、反射鏡13に
より下方に曲折された後、描画ビームBlは窓ガラス2
4を透過して光学通路211から出射されて感光材8の
表面8Aに結像され、参照ビームB2は反射鏡9で曲折
されて基準スケール10上に結像される。しかして、基
準スケール10を通過した明滅する光パルス信号はライ
トガイド11を介して例えばフォトマルチプライヤで光
電変換されて変調用クロック信号が得られる。
この実施例によれば、窓ガラス23および24により光
学通路211内が封止されるので通路211内への塵埃
の侵入が防止され、その通路211内でホルダ21に保
持された基準スケール10に塵埃が付着するおそれが少
なくなる。
−第2の実施例− 第2図は本発明の第2の実施例を示し、本例では、第1
図に示したホルダ21を上部ホルダ21Aおよび下部ホ
ルダ21Bに分割し、それぞれを図示のようにボルト2
5により上部架台22の」二面および下面に螺着したも
のであり、上部架台22には光学通路211を構成する
ため紙面と垂直方向に延在する細長い開口221があけ
られている。その他の構成9作用については第1の実施
例と同様であり説明を省略する。
この実施例によれば、特に反射鏡9や基準スケール10
のホルダ21への組立が第1の実施例に比べて容易とな
る。
一部3の実施例− 第3図は本発明の第3の実施例を示し、本例では、窓ガ
ラス23の代りに、反射鏡13の後方の光学通路211
内で、紙面と垂直の方向に延在する細長いレンズ(シリ
ンドリカルレンズ等)26がホルダ21に保持され、レ
ンズ26と窓ガラス24とによりホルダ21内の光学通
路211の一部214を封止して防塵手段が構成されて
いる。
ここで、レンズ26は、複数枚のレンズから構成される
結像レンズ6の一枚のレンズとして機部するものである
。その他の構成9作用については第1の実施例と同様で
あり説明を省略する。
第3の実施例では窓ガラス23が省略されているのでそ
の分だけレーザビームの光量損失が少なく、第1および
第2の実施例に比べて効果的である。
一部4の実施例− 第4図は本発明の第4の実施例を示し、第3の実施例に
おいて窓ガラス24を省略し、レンズ26後方のホルダ
21に空気導入口215を設けて光学通路214内に圧
縮空気等の気体を供給し、その気体を光学通路出口21
3から排出するように構成したものである。本例では光
学通路214は密閉されていないが、光学通路214内
に例えば圧力源27から圧縮空気が導かれて出口213
から排出されるので、光学通路214内への塵埃の侵入
が防止される。ここで、圧力源27、レンズ26.空気
導入口215.出口213により防塵手段が構成される
第4の実施例では窓ガラス23.24が共に省略されて
いるので、第3の実施例に比べてレーザビームの損失が
更に少ない。
一部5の実施例− 第5図は本発明の第5の実施例を示し、第3の実施例と
比較して説明するに、光学通路出口213を突設して形
成するとともに、その出口断面積を上記各実施例に比べ
て小さくしてオリフィス213を形成する。そのオリフ
ィス213の周囲に沿って開口216が設けられるとと
もに、ホルダ21の底面に沿って開口216に連通ずる
気体通路217が形成され、圧力源27から通路217
に気体を導入してオリフィス213の周囲から噴出させ
る。ここで、圧力源27.レンズ26、オリフィス21
3.開口2169通路217により防塵手段が構成され
る。
この実施例ではオリフィス213の周囲にいわゆるエア
カーテンが構成され、オリフィス213から光学通路2
14内への塵埃の侵入が防止される。
第5の実施例を第4の実施例と比較してその効果に言及
すると、第4の実施例と同様にレーザビームの損失のな
い防塵構造20が構成され、更に加えて、光学通路21
4内へは気体が導入されずその内部の圧力が上昇しない
ので、レンズ26やその保持金具等の耐久性に優れ、ま
た、光学通路214内でのゆらぎも生じないので、第4
の実施例に比べればより良好な描画パターンを感光材8
上に描画できる。
なお、組立性を考慮して、第3〜第5の実施例において
もホルダ21を上下に分割してもよく、また、レンズ2
6の位置に窓ガラスを配置してもよい。
また、本発明はレーザビームプリンタ等、この種クロッ
ク信号生成用スケールを有するその他のレーザビーム露
光装置へも適用できる。
(発明の効果) 本発明によれば、基準スケールを保持手段内で保持する
とともに、その保持手段内への塵埃の侵入を防止する防
塵手段を設けたので、基準スケールへの塵埃の付着が防
止され、正確なりロック信号を生成することができ、以
って、描画パターンの寸法および位置精度の向上に寄与
する。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第5図は本発明に係るスケール保持構造の第1
〜第5の実施例を示すそれぞれ縦断面図、第6図はパタ
ーン描画装置の概略構成を示す図である。 1:レーザビーム光源 2:ビームスプリッタ  3:光変調器5:回転多面鏡
     6:結像レンズ7:移動ステージ    8
:感光材 9:反射鏡       10ニスケールllニライト
ガイド    12:光検出器20ニスケール保持構造
  21:ホルダ22:上部架台    23,24:
窓ガラス28:レンズ       27:圧力源21
1.214 :光学通路     212:入口213
:出口(オリフィス)  215:空気導入口216:
開口 出 願 人  日本光学工業株式会社 代理人弁理士  永  井  冬  紀iJ’3 ’1
図′ ざii 2図 笛3@ 第4図 第5図 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 入力されるクロック信号と同期させて光ビームを変調し
    て描画ビームを得る描画ビーム生成手段と、参照ビーム
    を得る参照ビーム生成手段と、前記描画ビームと同期さ
    せて前記参照ビームを走査する走査手段と、走査される
    前記参照ビームを受光する受光部が所定のピッチで配列
    された基準スケールと、前記受光部からの信号により光
    ビーム変調用の前記クロック信号を生成するクロック信
    号生成手段と、を有するパターン描画装置において、 前記参照ビームを前記基準スケールに導く光学系と前記
    基準スケールとを内部で保持する保持手段と、 その保持手段の内部への塵埃侵入を防止する防塵手段と
    を、具備したことを特徴とするパターン描画装置。
JP60266326A 1985-11-27 1985-11-27 パタ−ン描画装置 Pending JPS62125319A (ja)

Priority Applications (1)

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JP60266326A JPS62125319A (ja) 1985-11-27 1985-11-27 パタ−ン描画装置

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JP60266326A JPS62125319A (ja) 1985-11-27 1985-11-27 パタ−ン描画装置

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JPS62125319A true JPS62125319A (ja) 1987-06-06

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JP60266326A Pending JPS62125319A (ja) 1985-11-27 1985-11-27 パタ−ン描画装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009061207A1 (en) * 2007-11-07 2009-05-14 Tomra Systems Asa An apparatus, an optical unit and devices for use in detection of objects

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009061207A1 (en) * 2007-11-07 2009-05-14 Tomra Systems Asa An apparatus, an optical unit and devices for use in detection of objects
JP2011503573A (ja) * 2007-11-07 2011-01-27 トムラ・システムズ・エイ・エス・エイ 対称物の検出に使用する装置、光学ユニット及びデバイス
US8126325B2 (en) 2007-11-07 2012-02-28 Tomra Systems Asa Apparatus, an optical unit and devices for use in detection of objects

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