JPS6212273Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は、試験片の変位量を測定するための
クリツプ式変位計に関するものである。

切り欠きを設けた試験片に、切り欠きの両側か
ら引張、圧縮繰返し荷重を与え、試験片を開口変
位させる疲労試験が一般に行なわれている。この
種の試験では、多くの場合、第１図、第２図に示
されているように、互いに対向させて配置した一
対の板ばね１，２を本体３に固定したクリツプ式
変位計が使用される。この変位計は、一対の板ば
ね１，２を互いに接近する方向にたわませ、その
先端を試験片４の変位位置、例えば切り欠き５の
エツジ６に接触させると、板ばね１，２の復元力
によつて試験片４に装備することができる。試験
片４に切り欠き５の両側から引張、圧縮繰返し荷
重を与え、試験片４を開口変位させると、板ばね
１，２のひずみ量が変化する。したがつて、板ば
ね１，２のひずみ量を検出すると、試験片４の変
位量を測定することができる。従来は、各板ばね
１，２の両面に直接抵抗線ひずみゲージT₁，
C₁，T₂，C₂を貼り付けていた。一方の面のひず
みゲージT₁，T₂は、板ばね１，２の引張ひずみ
量を検出する。他方の面のひずみゲージC₁，C₂
は、板ばね１，２の圧縮ひずみ量を検出する。こ
れをリード線７から取り出し、試験片４の変位量
を測定していたものである。

しかしながら、変位計を試験片４に確実に装備
するには、板ばね１，２を相当大きくたわませ、
その復元力を強くせねばならない。したがつて、
板ばね１，２のひずみ量が大きくなることはさけ
られない。このため、ひずみゲージT₁，C₁，
T₂，C₂およびその接着材が損傷し、その寿命が
短かいという欠点があつた。また、板ばね１，２
を大きくたわませると、これが塑性変形し、残留
ひずみが生じる。このため、ひずみゲージT₁，
C₁，T₂，C₂のゼロドリフトが大きくなり、誤差
が生じるという問題もあつた。

この考案は、前記従来の欠点を除去すべくなさ
れたもので、互いに対向させて配置した一対の板
ばねを本体に固定し、これら一対の板ばねを互い
に接近する方向にたわませ、その先端を試験片の
変位位置に接触させ、前記板ばねの復元力によつ
て試験片に装備するようにしたクリツプ式変位計
において、ひずみゲージを貼り付けた弾性ばねの
一端を前記本体に近接した位置において一方の板
ばねに取り付け、前記弾性ばねの他端を前記本体
に近接した位置において他方の板ばねに取り付け
るか、または前記本体に取り付けたことを特徴と
するものである。

以下、この考案の実施例を図面について説明す
る。

第３図に示されている実施例では、一対の板ば
ね１，２の間に配置された円弧状に湾曲した弾性
ばね８の両面に、抵抗線ひずみゲージT₁，C₁，
T₂，C₂，T₃，C₃が貼り付けられている。なお、
図面では合計６つのひずみゲージが貼り付けられ
ているが、これはひずみゲージを貼り付ける個所
を示しているもので、実際には弾性ばね８の両面
に一対のひずみゲージT₁，C₁、またはT₂，C₂、
またはT₃，C₃だけを貼り付ければよい。もつと
も、場合によつては合計６つのひずみゲージ
T₁，C₁，T₂，C₂，T₃，C₃をすべて貼り付けるこ
とも考えられる。弾性ばね８の一端は、本体３に
近接した位置において一方の板ばね１に締付金具
９によつて取り付けられている。弾性ばね８の他
端は、本体３に近接した位置において他方の板ば
ね２に締付金具によつて取り付けられている。

一対の板ばね１，２をたわませ、その先端を試
験片４の変位位置に接触させ、試験片４を開口変
位させると、板ばね１，２と同様、弾性ばね８の
ひずみ量も変化する。弾性ばね８の一方の面のひ
ずみゲージT₁，T₂，T₃は、それぞれ弾性ばね８
の引張ひずみ量を検出する。他方の面のひずみゲ
ージC₁，C₂，C₃は、それぞれ弾性ばね８の圧縮
ひずみ量を検出する。これによつて、試験片４の
開口変位量を測定することができる。

前述したように、変位計を試験片４に確実に装
備するには、板ばね１，２を相当大きくたわませ
る必要がある。しかしながら、弾性ばね８の両端
は本体３に近接した位置において板ばね１，２に
取り付けられているため、板ばね１，２をたわま
せたとき、板ばね１，２の先端は大きく変位する
が、弾性ばね８の両端はわずかに変位するだけで
ある。したがつて、板ばね１，２のひずみ量が大
きくなつても、弾性ばね８のひずみ量は小さく、
ひずみゲージT₁，C₁，T₂，C₂，T₃，C₃およびそ
の接着材の損傷を回避することができる。すなわ
ち、ひずみゲージT₁，C₁，T₂，C₂，T₃，C₃およ
びその接着材の寿命を長くすることができるもの
である。板ばね１，２が塑性変形し、残留ひずみ
が生じても、弾性ばね８には残留ひずみは生じな
い。したがつて、ひずみゲージT₁，C₁，T₂，
C₂，T₃，C₃のゼロドリフトは小さく、誤差は生
じない。

第４図に示されている実施例では、くの字形状
に折曲した弾性ばね１０の両面に、抵抗線ひずみ
ゲージT₁，C₁，T₂，C₂が貼り付けられている。
弾性ばね１０の両端は、第３図の場合と同様、本
体３に近接した位置において板ばね１，２にそれ
ぞれ締付金具９によつて取り付けられている。こ
の場合も、弾性ばね１０のひずみ量は小さく、ひ
ずみゲージT₁，C₁，T₁，C₂およびその接着材は
損傷せず、その寿命は長い。弾性ばね１０は塑性
変形せず、残留ひずみは生じない。したがつて、
ひずみゲージT₁，C₁，T₂，C₂のゼロドリフトは
小さく、誤差は生じない。

なお、板ばね１，２をたわませる方向と反対の
方向に、弾性ばね８または１０をあらかじめわず
かにたわませ、これに負のひずみ量をもたせてお
いてもよい。この場合は、板ばね１，２をたわま
せたときの弾性ばね８または１０の正のひずみ量
を、板ばね１，２をたわませる前の弾性ばね８ま
たは１０の負のひずみ量だけさらに小さくするこ
とができる。

前記実施例では、弾性ばね８または１０の両端
を板ばね１，２に取り付けた場合について説明し
たが、弾性ばね８または１０の一端を一方の板ば
ね１に取り付け、他端は本体３に取り付けてもよ
い。この場合にも、前記実施例と同様の作用効果
を得ることができるのは、明らかである。

以上説明したように、この考案は、互いに対向
させて配置した一対の板ばね１，２を本体３に固
定したから、これに一対の板ばね１，２を互いに
接近する方向に撓ませ、その先端を試験片４の変
位位置、たとえば切り欠き５のエツジ６に接触さ
せ、板ばね１，２の復元力によつて変位計を試験
片４に装備することができる。また、この考案は
ひずみゲージT₁〜T₃，C₁〜C₃を貼り付けた弾性
ばね８，１０の一端を一方の板ばねに取り付け、
他端を他方の板ばね、または本体３に取り付けた
から、ひずみゲージT₁〜T₃，C₁〜C₃によつて弾
性ばね８，１０のひずみ量を検出し、試験片４の
変位量を測定することができる。さらに、この考
案は、ひずみゲージT₁〜T₃，C₁〜C₃を板ばね
１，２ではなく、弾性ばね８，１０に貼り付け、
この弾性ばね８，１０の一端を本体３に近接した
位置において一方の板ばねに取り付け、他端を本
体３に近接した位置において他方の板ばねに取り
付けるか、または本体３に取り付けたから、従来
のクリツプ式変位計のひずみゲージに伴う問題は
生じない。試験片４に装備するとき、板ばね１，
２を大きく撓ませても、板ばね１，２の先端は大
きく変位するが、弾性ばね８，１０が取り付けら
れているのは本体３に近接した位置であり、弾性
ばね８の両端はわずかに変位するだけである。し
たがつて、弾性ばね８のひずみ量は小さく、ひず
みゲージT₁〜T₃，C₁〜C₃およびその接着剤は損
傷しない。さらに、板ばね１，２が塑性変形し、
残留ひずみが生じても、弾性ばね８に残留ひずみ
は生じない。したがつて、ひずみゲージT₁〜
T₃，C₁〜C₃のゼロドリフトが小さく、誤差が生
じないものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のクリツプ式変位計を示す平面
図、第２図は第１図の側面図、第３図はこの考案
の一実施例を示す側面図、第４図は第３図の変形
例を示す側面図である。 １，２……板ばね、３……本体、４……試験
片、８，１０……弾性ばね、T₁，C₁，T₂，C₂，
T₃，C₃……抵抗線ひずみゲージ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 互いに対向させて配置した一対の板ばねを本体
   に固定し、これら一対の板ばねを互いに接近する
   方向にたわませ、その先端を試験片の変位位置に
   接触させ、前記板ばねの復元力によつて試験片に
   装備するようにしたクリツプ式変位計において、
   ひずみゲージを貼り付けた弾性ばねの一端を前記
   本体に近接した位置において一方の板ばねに取り
   付け、前記弾性ばねの他端を前記本体に近接した
   位置において他方の板ばねに取り付けるか、また
   は前記本体に取り付けたことを特徴とするクリツ
   プ式変位計。