JPS62120964A - 電子回路用基板の貫通穴形成方法 - Google Patents
電子回路用基板の貫通穴形成方法Info
- Publication number
- JPS62120964A JPS62120964A JP25715385A JP25715385A JPS62120964A JP S62120964 A JPS62120964 A JP S62120964A JP 25715385 A JP25715385 A JP 25715385A JP 25715385 A JP25715385 A JP 25715385A JP S62120964 A JPS62120964 A JP S62120964A
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- JP
- Japan
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- hole
- groove
- boring
- holes
- electronic circuit
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B1/00—Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes
- B24B1/04—Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes subjecting the grinding or polishing tools, the abrading or polishing medium or work to vibration, e.g. grinding with ultrasonic frequency
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子回路用基板の貫通穴形成方法に関する。
セラミックやシリコン、フェライト、ガラス等からなる
電子回路用基板には、搭載部品の固定用あるいは実装筐
体への取付用としての貫通穴が設けられることがある。
電子回路用基板には、搭載部品の固定用あるいは実装筐
体への取付用としての貫通穴が設けられることがある。
従来、この種の貫通穴を形成する方法の一つに超音波加
工方法がある。第2図は超音波加工による貫通穴形成方
法を説明する断面図である。同図において、被加工基板
1がガラス製台座2に接着樹脂3で接着されている。貫
通穴形状と同一形状に成型された掘削ピース4には、被
加工基板1に対して垂直方向(矢印で図示)の振幅をも
つ超音波振動が印加される。まだ加工部5には、アルミ
ナ粉末等からなる砥粒が供給される(この砥粒は図示さ
れていない)。掘削ピース4が被加工基板1に加圧接触
すると、砥粒が加工部5を摺擦し、深さ方向に徐々に掘
削していき、遂には貫通穴を形成する。
工方法がある。第2図は超音波加工による貫通穴形成方
法を説明する断面図である。同図において、被加工基板
1がガラス製台座2に接着樹脂3で接着されている。貫
通穴形状と同一形状に成型された掘削ピース4には、被
加工基板1に対して垂直方向(矢印で図示)の振幅をも
つ超音波振動が印加される。まだ加工部5には、アルミ
ナ粉末等からなる砥粒が供給される(この砥粒は図示さ
れていない)。掘削ピース4が被加工基板1に加圧接触
すると、砥粒が加工部5を摺擦し、深さ方向に徐々に掘
削していき、遂には貫通穴を形成する。
しかし、前述した従来の貫通穴形成方法では、掘削時、
穴周囲に相当量の歪みが蓄積されるので、穴内壁部や稜
部に欠け6やクラック7等の欠陥が発生するという欠点
がある。まだ歪量を抑制しようとして掘削速度を遅くす
ると、加工時間が大幅に増加するという欠点がある。
穴周囲に相当量の歪みが蓄積されるので、穴内壁部や稜
部に欠け6やクラック7等の欠陥が発生するという欠点
がある。まだ歪量を抑制しようとして掘削速度を遅くす
ると、加工時間が大幅に増加するという欠点がある。
本発明の目的は、前記欠点が改善され、欠けやクラック
等の欠陥が生じる心配のないようにした電子回路用基板
の貫通穴形成方法を提供することにある。
等の欠陥が生じる心配のないようにした電子回路用基板
の貫通穴形成方法を提供することにある。
本発明の電子回路用基板の貫通穴形成方法の構成は、超
音波を印加して貫通穴を形成する際、予め前記貫通穴の
形成領域内の基板面に溝を設けておくことを特徴とする
。
音波を印加して貫通穴を形成する際、予め前記貫通穴の
形成領域内の基板面に溝を設けておくことを特徴とする
。
次に本発明について図面を参照して詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例の電子回路用基板の貫通穴形
成方法を示す断面図である。同図において、板厚1mm
のアルミナ・セラミック基板1′に直径10mの円形貫
通穴を形成する例を示す。この基板1′には、予め貫通
穴形成領域A内に直径8Mの円形の溝8が、貫通穴と同
心円状に設けられている。溝8はレーザ光照射により、
深さ0.2m。
成方法を示す断面図である。同図において、板厚1mm
のアルミナ・セラミック基板1′に直径10mの円形貫
通穴を形成する例を示す。この基板1′には、予め貫通
穴形成領域A内に直径8Mの円形の溝8が、貫通穴と同
心円状に設けられている。溝8はレーザ光照射により、
深さ0.2m。
開口幅0.1閣で形成されている。このような溝8を、
予め設けておく点を除いては第2図を用いて説明した従
来の貫通穴形成方法と略同じでめる。
予め設けておく点を除いては第2図を用いて説明した従
来の貫通穴形成方法と略同じでめる。
掘削時、溝8は掘削ピース4の周囲に発生する歪みを解
放する役割シを果たすので、欠けやクラック等の欠陥部
のない貫通穴が形成できる。
放する役割シを果たすので、欠けやクラック等の欠陥部
のない貫通穴が形成できる。
なお、予め形成した溝8は、貫通穴形成領域A内に設け
られているので、貫通穴形成後、除去されて残ることは
ない。したがって、溝8の位置や大きさ、形状等の加工
精度には余裕がある。
られているので、貫通穴形成後、除去されて残ることは
ない。したがって、溝8の位置や大きさ、形状等の加工
精度には余裕がある。
以上説明したように1本発明によれば、電子回路用基板
に貫通穴を形成する場合、予め貫通穴領域内に溝を設け
ておくことで、超音波による穴あけ加工時に発生する歪
みを解放することができ、欠けやクラック等の欠陥部の
存在しない良質な貫通穴を歩留シよく形成できるという
効果が得られる。
に貫通穴を形成する場合、予め貫通穴領域内に溝を設け
ておくことで、超音波による穴あけ加工時に発生する歪
みを解放することができ、欠けやクラック等の欠陥部の
存在しない良質な貫通穴を歩留シよく形成できるという
効果が得られる。
尚、本実施例においては、溝を円形に1個設けたが、他
の形状、例えば多角形や複数のドツト状の溝を設けても
、歪みを解放できる。また本実施例においては、溝の形
成にレーザ光照射を行っているが、他の機械的、化学的
な方法であっても溝が形成されさえすれば同様な効果が
達成される。
の形状、例えば多角形や複数のドツト状の溝を設けても
、歪みを解放できる。また本実施例においては、溝の形
成にレーザ光照射を行っているが、他の機械的、化学的
な方法であっても溝が形成されさえすれば同様な効果が
達成される。
第1図は本発明の実施例の電子回路用基板の貫通穴形成
方法を示す断面図、第2図は従来の電子回路用基板の貫
通穴形成方法を示す断面図である。 同図において、1・・・・・・被加工基板、1′・・・
・・・アルミナ・セラミック基板、2・・・・・・台座
、3・・・・・・接着樹脂、4・・・・・・掘削ピース
、5・・・・・・加工部、6・・・・・・欠け、7・・
・・・・クラック、8・・・・・・溝。
方法を示す断面図、第2図は従来の電子回路用基板の貫
通穴形成方法を示す断面図である。 同図において、1・・・・・・被加工基板、1′・・・
・・・アルミナ・セラミック基板、2・・・・・・台座
、3・・・・・・接着樹脂、4・・・・・・掘削ピース
、5・・・・・・加工部、6・・・・・・欠け、7・・
・・・・クラック、8・・・・・・溝。
Claims (1)
- 電子回路用基板に超音波を印加して貫通穴を形成する
際に、予め前記貫通穴の形成領域内の基板面に溝を設け
ておくことを特徴とする電子回路用基板の貫通穴形成方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25715385A JPS62120964A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子回路用基板の貫通穴形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25715385A JPS62120964A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子回路用基板の貫通穴形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62120964A true JPS62120964A (ja) | 1987-06-02 |
Family
ID=17302448
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25715385A Pending JPS62120964A (ja) | 1985-11-15 | 1985-11-15 | 電子回路用基板の貫通穴形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62120964A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6583364B1 (en) | 1999-08-26 | 2003-06-24 | Sony Chemicals Corp. | Ultrasonic manufacturing apparatuses, multilayer flexible wiring boards and processes for manufacturing multilayer flexible wiring boards |
CN107738142A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-02-27 | 南京理工大学 | 一种超声振动辅助磨削牙科氧化锆陶瓷表面微观结构的预测方法 |
-
1985
- 1985-11-15 JP JP25715385A patent/JPS62120964A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6583364B1 (en) | 1999-08-26 | 2003-06-24 | Sony Chemicals Corp. | Ultrasonic manufacturing apparatuses, multilayer flexible wiring boards and processes for manufacturing multilayer flexible wiring boards |
US6926187B2 (en) | 1999-08-26 | 2005-08-09 | Sony Chemicals Corp. | Ultrasonic manufacturing apparatus |
US6991148B2 (en) | 1999-08-26 | 2006-01-31 | Sony Corporation | Process for manufacturing multilayer flexible wiring boards |
CN107738142A (zh) * | 2017-10-31 | 2018-02-27 | 南京理工大学 | 一种超声振动辅助磨削牙科氧化锆陶瓷表面微观结构的预测方法 |
CN107738142B (zh) * | 2017-10-31 | 2019-07-02 | 南京理工大学 | 一种超声振动磨削牙科氧化锆陶瓷微观结构的预测方法 |
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