JPS62112245A - 光記録デイスクの記録再生装置 - Google Patents
光記録デイスクの記録再生装置Info
- Publication number
- JPS62112245A JPS62112245A JP25339485A JP25339485A JPS62112245A JP S62112245 A JPS62112245 A JP S62112245A JP 25339485 A JP25339485 A JP 25339485A JP 25339485 A JP25339485 A JP 25339485A JP S62112245 A JPS62112245 A JP S62112245A
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- Japan
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- recording
- mask
- polarized light
- optical
- polarization
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は光記録ディスクの情報記録（Ｉｆ生装置に関す
るものである。
るものである。
［従来の技術］
従来、この種の記録（１生装置は第５図に示すように、
半導体レーザ１から放射ごれる光をコリメータレンズ２
．偏光子３．偏光ビームスプリッタ４．プリズム５及び
コリメータレンズ６を経て例えば光磁気ディスクのよう
な記録媒体７にスポット状に集束して光情報を記録する
と共に、記録媒体７から反射した光を１４びコリメータ
レンズ６及びプリズム５を経て偏光ビームスプリンタ４
に入射し、その反射面４ａで反射し、且つ検光子８及び
コリメータレンズ９を介してＡＰＤＩＯに入射させ、こ
れにより半導体レーザ１の出力制御を行う、又、偏光ビ
ームスプリッタ４に入射した光はその反射面４ｂで反射
し、且つプリズム１１を介して四分割ディテクタ１２に
入射させ。
半導体レーザ１から放射ごれる光をコリメータレンズ２
．偏光子３．偏光ビームスプリッタ４．プリズム５及び
コリメータレンズ６を経て例えば光磁気ディスクのよう
な記録媒体７にスポット状に集束して光情報を記録する
と共に、記録媒体７から反射した光を１４びコリメータ
レンズ６及びプリズム５を経て偏光ビームスプリンタ４
に入射し、その反射面４ａで反射し、且つ検光子８及び
コリメータレンズ９を介してＡＰＤＩＯに入射させ、こ
れにより半導体レーザ１の出力制御を行う、又、偏光ビ
ームスプリッタ４に入射した光はその反射面４ｂで反射
し、且つプリズム１１を介して四分割ディテクタ１２に
入射させ。
これによりフォーカッシング及びトラッキングの制御を
行う。
行う。
［発明が解決しようとする問題点］
又、記録媒体の基板としては、ガラス。
ＰＭＭＡ及びポリカーボネート（ＰＣ）’９が用いられ
て記録媒体としての光記録ディスクは、第６ａ図に示す
ように゛ト導体レーザの直径４〜５ｍｍのレーザビーム
をコリメータレンズ６よりｌ終ｍのスポットに集束して
いる。
て記録媒体としての光記録ディスクは、第６ａ図に示す
ように゛ト導体レーザの直径４〜５ｍｍのレーザビーム
をコリメータレンズ６よりｌ終ｍのスポットに集束して
いる。
又、ＰＣ等の複屈折率の大きな基板を有する記録媒体か
ら情報を読取る場合にも、通常のＰＭＭＡ 、ガラス等
の基板を有す記録媒体に用いられる光ピンクアップを使
用していた。
ら情報を読取る場合にも、通常のＰＭＭＡ 、ガラス等
の基板を有す記録媒体に用いられる光ピンクアップを使
用していた。
又、直線偏光を用いる光磁気ディスクにおいては、直線
偏光をレンズにより絞ると第６ｂ図に示すようにＰ偏光
の入射とＳ偏光の入射とが９０゜の角度を成すと共に、
この９０’の角度間に入射面に対して上行な成分、及び
垂直な成分の双方の成分を有するＰ偏光とＳ偏光との中
間的な状態の偏光が存在する。特にＰＣのように複屈折
の大きな記録媒体を用いる場合には、Ｐ偏光及びＳ偏光
の双方に成分を含む偏光において直線偏光が大きくなり
、従って楕円化する。又、特に開口数ＮＡの大きなレン
ズにより直径数ｍｍのレーザビームを集束する場合には
偏光の楕円化が著しくなり、その結果ノイズレベルが上
昇し、Ｃ／Ｎが劣化する。この点は、第７図に示す短軸
方向の光だと長袖方向の光量との比重を縦軸にとり、偏
光角ψを横軸にとって示すＰＣ及びＰＭＭＡの特性曲線
からも明らかである。
偏光をレンズにより絞ると第６ｂ図に示すようにＰ偏光
の入射とＳ偏光の入射とが９０゜の角度を成すと共に、
この９０’の角度間に入射面に対して上行な成分、及び
垂直な成分の双方の成分を有するＰ偏光とＳ偏光との中
間的な状態の偏光が存在する。特にＰＣのように複屈折
の大きな記録媒体を用いる場合には、Ｐ偏光及びＳ偏光
の双方に成分を含む偏光において直線偏光が大きくなり
、従って楕円化する。又、特に開口数ＮＡの大きなレン
ズにより直径数ｍｍのレーザビームを集束する場合には
偏光の楕円化が著しくなり、その結果ノイズレベルが上
昇し、Ｃ／Ｎが劣化する。この点は、第７図に示す短軸
方向の光だと長袖方向の光量との比重を縦軸にとり、偏
光角ψを横軸にとって示すＰＣ及びＰＭＭＡの特性曲線
からも明らかである。
未発ＩＪＪは上述したＣ／Ｎの劣化を防止し得るように
適切に構成配置した光記録ディスクの記録再生装置を提
供することを［１的とする。
適切に構成配置した光記録ディスクの記録再生装置を提
供することを［１的とする。
［問題点を解決するための手段］
本発明は光ピツクアップの光路内に十文字状の切欠きを
有するマスクを介挿するようにしたことを特徴とする。
有するマスクを介挿するようにしたことを特徴とする。
即ち、本発明では第１図に示すように半導体レーザ１と
偏光ビームスプリッタ４との間に十文字状の切欠き即ち
スリット１４を有するマスク１５を挿入する。
偏光ビームスプリッタ４との間に十文字状の切欠き即ち
スリット１４を有するマスク１５を挿入する。
［作 川 〕
かように十文字状のスリット１４を有するマスク１５を
レーザ光の光路内に挿入することにより、Ｐ偏光とＳ偏
光との成す９０’の偏光角間に存在するＰ偏光成分及び
Ｓ偏光成分の双方を含む中間的な状態の偏光を良好に除
去することができ、従ってＣ／Ｎの劣化をも防止するこ
とができる。
レーザ光の光路内に挿入することにより、Ｐ偏光とＳ偏
光との成す９０’の偏光角間に存在するＰ偏光成分及び
Ｓ偏光成分の双方を含む中間的な状態の偏光を良好に除
去することができ、従ってＣ／Ｎの劣化をも防止するこ
とができる。
［実施例］
本発明の１例では−Ｌ述したマスク１５を第２図に示す
ように偏光子３と偏光ビームスプリッタ、例えばハーフ
ミラ−４との間に介挿する。この際注意すべきことは、
第３に示すように十文字状にスリット１４の何れかの方
向のスリットを通過した光がディスク７の表面に到達し
た際、ディスク７の゛に径方向とスリット通過光の長さ
方向とが正しく−・致し１１するようにすることである
。その他の構成は第５図につき説明した所と同様である
のでその説明は省略する。
ように偏光子３と偏光ビームスプリッタ、例えばハーフ
ミラ−４との間に介挿する。この際注意すべきことは、
第３に示すように十文字状にスリット１４の何れかの方
向のスリットを通過した光がディスク７の表面に到達し
た際、ディスク７の゛に径方向とスリット通過光の長さ
方向とが正しく−・致し１１するようにすることである
。その他の構成は第５図につき説明した所と同様である
のでその説明は省略する。
かように構成することにより、本発明装置を用いて通常
のトランキング及びフォー力ツシングサーポを何丁の支
承もな〈実施することができる。
のトランキング及びフォー力ツシングサーポを何丁の支
承もな〈実施することができる。
１−述した本発明装置を用いて実験したＣ ／ Ｎ Ｎ
Ｗ定の結果を以ドに示す。
Ｗ定の結果を以ドに示す。
記録媒体の膜としてＧｄ−Ｔｂ−Ｆｅ（成分化１６：４
：８０）を用いて、これを１−：ｉ周波スパッタリング
によりｊ膜厚約＋ｏｏｏｚに成ｎｑ したものをＰＣ基
板（φ１３０）に設けた記録媒体に対し１本発明の装置
及び従来の装置によりＣ／ＮＪ脚定を行い、その結果を
次表及び第４図に示す。
：８０）を用いて、これを１−：ｉ周波スパッタリング
によりｊ膜厚約＋ｏｏｏｚに成ｎｑ したものをＰＣ基
板（φ１３０）に設けた記録媒体に対し１本発明の装置
及び従来の装置によりＣ／ＮＪ脚定を行い、その結果を
次表及び第４図に示す。
表
基板ＰＣφ１３０
記録ピントの長さ ２壓
第４図においてはノイズレベルを縦軸にプロットし、ア
ナライザー角度ψを横軸にプロットして示す。
ナライザー角度ψを横軸にプロットして示す。
Ｌ記の表及び第４図から明らかなように本発明装置を用
いたほうがノイズレベルも低く、しかもＣ／Ｎを向−ヒ
させることができる。
いたほうがノイズレベルも低く、しかもＣ／Ｎを向−ヒ
させることができる。
本発明の他の例では第２図に点線で示すようにマスク１
５を検光／−８とコリメータレンズ９との間に介挿する
。この場合にも上述した所と同様の結果を得ることがで
きた。
５を検光／−８とコリメータレンズ９との間に介挿する
。この場合にも上述した所と同様の結果を得ることがで
きた。
本発明は上述した例に限定されるものではなく種々の変
更を加えることができる。
更を加えることができる。
と述した例では直線偏光を用いる光磁気ディスクに対す
る例を説明したが、円偏光を用いるＤＲＡＷタイプの光
ディスクに対し、本発明装置を用いても位相ずれを著し
く抑圧することができる。
る例を説明したが、円偏光を用いるＤＲＡＷタイプの光
ディスクに対し、本発明装置を用いても位相ずれを著し
く抑圧することができる。
又、マスク１５は、第１及び第２実施例に示す位置以外
の光路内の任意の位置に介挿することができる。
の光路内の任意の位置に介挿することができる。
［発明の効果］
上述したように、本発明によれば、光ピツクアップの光
路内に七文字状のスリー／ ）を有するマスクを介挿す
ることにより、ノイズレベルを低くすると共にＣ／Ｎを
著しく向上させることができる。
路内に七文字状のスリー／ ）を有するマスクを介挿す
ることにより、ノイズレベルを低くすると共にＣ／Ｎを
著しく向上させることができる。
第１図は本発明によるマスクの構成を示す平面図及び斜
視図、第２図は本発明によるマスクを用いた光ピツクア
ップの光学系の構成を示す説明図、第３図は未発１町装
置の作動を説明する斜視図、第４図は本発明装置及び従
来の装置による実験結果を示す説ＩＩ図、第５図は従来
の装置の構成を示す説明図、第６図は記録媒体に入射す
る光のＰ偏光とＳ偏光との状態を示す説１貝図、第７図
はＰＣ及びＰＭＭＡに対する偏光の光、ＩＲを示す説明
図である。 １・・・半導体レーザ ２．６．９・・・コリメータレンズ ３・・・偏光子 ４・・・偏光ビームスプリッタ ５．１１・・・臨界角プリズム ７・・・記録媒体 ８・・・検光子 １０・・・ＡＰＤ １２・・・四分割ディテクタ １４・・・スリット １５・・・マスク 第１図 第２図 で １ａ 第３図 テイテクター Ｓべ Ｒ温 哩ｑ 巨
視図、第２図は本発明によるマスクを用いた光ピツクア
ップの光学系の構成を示す説明図、第３図は未発１町装
置の作動を説明する斜視図、第４図は本発明装置及び従
来の装置による実験結果を示す説ＩＩ図、第５図は従来
の装置の構成を示す説明図、第６図は記録媒体に入射す
る光のＰ偏光とＳ偏光との状態を示す説１貝図、第７図
はＰＣ及びＰＭＭＡに対する偏光の光、ＩＲを示す説明
図である。 １・・・半導体レーザ ２．６．９・・・コリメータレンズ ３・・・偏光子 ４・・・偏光ビームスプリッタ ５．１１・・・臨界角プリズム ７・・・記録媒体 ８・・・検光子 １０・・・ＡＰＤ １２・・・四分割ディテクタ １４・・・スリット １５・・・マスク 第１図 第２図 で １ａ 第３図 テイテクター Ｓべ Ｒ温 哩ｑ 巨
Claims (1)
- （１）レーザ光源、フォーカッシング及びトラッキング
用偏光ビームスプリッタ、又は信号検出用ビームスプリ
ッタを備える光記録ディスクの情報記録再生用ピックア
ップ装置において、該ピックアップ装置の光路内に十文
字状の切欠きを有するマスクを介挿するようにしたこと
を特徴とする光記録ディスクの記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25339485A JPS62112245A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 光記録デイスクの記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25339485A JPS62112245A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 光記録デイスクの記録再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62112245A true JPS62112245A (ja) | 1987-05-23 |
Family
ID=17250758
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25339485A Pending JPS62112245A (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 光記録デイスクの記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62112245A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62239452A (ja) * | 1986-04-10 | 1987-10-20 | Sharp Corp | 光ヘツド |
| JPS63193356A (ja) * | 1987-02-06 | 1988-08-10 | Nec Corp | 光磁気ヘツド |
| JPS63251952A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 | Brother Ind Ltd | 光磁気デイスクの光ピツクアツプ |
| WO2001035399A1 (fr) * | 1999-11-11 | 2001-05-17 | Fujitsu Limited | Memoire d'informations optique et tete optique |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214433A (ja) * | 1984-04-10 | 1985-10-26 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光学式ピツクアツプ装置 |
-
1985
- 1985-11-12 JP JP25339485A patent/JPS62112245A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214433A (ja) * | 1984-04-10 | 1985-10-26 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光学式ピツクアツプ装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62239452A (ja) * | 1986-04-10 | 1987-10-20 | Sharp Corp | 光ヘツド |
| JPS63193356A (ja) * | 1987-02-06 | 1988-08-10 | Nec Corp | 光磁気ヘツド |
| JPS63251952A (ja) * | 1987-04-08 | 1988-10-19 | Brother Ind Ltd | 光磁気デイスクの光ピツクアツプ |
| WO2001035399A1 (fr) * | 1999-11-11 | 2001-05-17 | Fujitsu Limited | Memoire d'informations optique et tete optique |
| US6563781B2 (en) | 1999-11-11 | 2003-05-13 | Fujitsu Limited | Optical information storage device and optical head |
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