JPS6210738A - 装置機能の診断方法 - Google Patents
装置機能の診断方法Info
- Publication number
- JPS6210738A JPS6210738A JP60151130A JP15113085A JPS6210738A JP S6210738 A JPS6210738 A JP S6210738A JP 60151130 A JP60151130 A JP 60151130A JP 15113085 A JP15113085 A JP 15113085A JP S6210738 A JPS6210738 A JP S6210738A
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- Japan
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- temperature
- diagnosed
- diagnosing
- circuit
- control circuit
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- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
装置機能の診断方式であって、被診断装置を恒温装置に
収納し゛て温度変化を与え、かつ被診断装置の起動を制
御する起動制御回路を設けて、これにより温度変化中の
被診断装置を所定時間間隔で起動し、これら起動時にお
ける装置の性能を診断するものであり、装置機能の診断
が自動的に行われる。
収納し゛て温度変化を与え、かつ被診断装置の起動を制
御する起動制御回路を設けて、これにより温度変化中の
被診断装置を所定時間間隔で起動し、これら起動時にお
ける装置の性能を診断するものであり、装置機能の診断
が自動的に行われる。
本発明は、情報処理装置などを対象とした装置機能の診
断方式に係り、さらに詳細には内部温度が変化した際の
装置の起動機能の診断方式に関するものである。
断方式に係り、さらに詳細には内部温度が変化した際の
装置の起動機能の診断方式に関するものである。
通信、情報処理等の分野で種々な装置が多方面に用いら
れている。これら装置は、特に起動時の機能および性能
が問題であり、特に装置が温度変化の激しい環境下にお
いて安全かつ確実に起動するか否かを調査することは装
置の性能を維持する上で必要である。
れている。これら装置は、特に起動時の機能および性能
が問題であり、特に装置が温度変化の激しい環境下にお
いて安全かつ確実に起動するか否かを調査することは装
置の性能を維持する上で必要である。
従って、温度変化中の装置の起動時の機能調査が容易に
行える装置の診断方式が要望されている。
行える装置の診断方式が要望されている。
従来、装置の温度試験は例えば、その装置が低温−5℃
乃至高温50℃において支障を来さないと云う規定を、
有したものである場合を考えると、この規定を満たすよ
うに設計され、製作された当該装置の品質を保証するた
めに、装置を恒温装置内に収納して内部を上記最低、最
高温度に保持し、この状態で被診断装置を起動し性能診
断を行うのが一般的である。
乃至高温50℃において支障を来さないと云う規定を、
有したものである場合を考えると、この規定を満たすよ
うに設計され、製作された当該装置の品質を保証するた
めに、装置を恒温装置内に収納して内部を上記最低、最
高温度に保持し、この状態で被診断装置を起動し性能診
断を行うのが一般的である。
勿論最低温度と最高温度の温度変化を被診断装置に繰返
し与えてその場合の品質保証も行っている。しかし何れ
にしても、装置の機能は最低温度と最高温度においての
み試験されるものである。
し与えてその場合の品質保証も行っている。しかし何れ
にしても、装置の機能は最低温度と最高温度においての
み試験されるものである。
ところが、装置は電気部品及び機構部品で構成されてお
り、温度変化時の部品材料の膨張係数による歪或いは、
機械的な嵌合の不都合等が発生するため、一定温度に保
った状態で機能保証を行っても充分と言えず、又上記し
た不都合は、特に起動時に顕著である。従って、温度変
化の過渡時で装置を起動した際の機能診断が容易に行え
る装置の診断方式が要望されている。
り、温度変化時の部品材料の膨張係数による歪或いは、
機械的な嵌合の不都合等が発生するため、一定温度に保
った状態で機能保証を行っても充分と言えず、又上記し
た不都合は、特に起動時に顕著である。従って、温度変
化の過渡時で装置を起動した際の機能診断が容易に行え
る装置の診断方式が要望されている。
従来の方式では、温度過渡時の装置機能の診断を行おう
とすると、オペレータは恒温装置の内部温度上昇中にお
いて装置を間欠的に起動する操作を行う必要があり、能
率が悪いばかりでなく、オペレータに委ねられ、診断に
精確度を求めることが困難であった。
とすると、オペレータは恒温装置の内部温度上昇中にお
いて装置を間欠的に起動する操作を行う必要があり、能
率が悪いばかりでなく、オペレータに委ねられ、診断に
精確度を求めることが困難であった。
本発明はこのような点にかんがみて創作されたもので、
簡易な構成で温度過渡中の装置の起動診断が正確に行え
る装置の診断方式を提供することを目的としている。
簡易な構成で温度過渡中の装置の起動診断が正確に行え
る装置の診断方式を提供することを目的としている。
本発明の装置診断方式では第1図の原理図に示すように
、恒温装置1は温度を一定に保つ機能を持っている。
この恒温装置1に被診断装置2を収納して被診断装置2
に対し、その許容最高温度に達するまでの温度変化を与
える一方、この温度変化中に被診断装置2の電源投入を
所定時間間隔で行って装置を所定回数起動し、診断を制
御する起動制御回路3をそなえている。
、恒温装置1は温度を一定に保つ機能を持っている。
この恒温装置1に被診断装置2を収納して被診断装置2
に対し、その許容最高温度に達するまでの温度変化を与
える一方、この温度変化中に被診断装置2の電源投入を
所定時間間隔で行って装置を所定回数起動し、診断を制
御する起動制御回路3をそなえている。
恒温装置1は被診断装置の内部温度を許容最低温度から
許容最高温度の範囲内で変化し、起動制御回路は、この
温度変化中の装置を所定時間間隔で起動し、それの起動
性能の診断を行う。
許容最高温度の範囲内で変化し、起動制御回路は、この
温度変化中の装置を所定時間間隔で起動し、それの起動
性能の診断を行う。
従って、自動的に温度変化中の装置の診断が行われる。
第2図は本発明の実施例を示すブロック図であって、起
動制御回路3は、恒温装置1の内部温度を検出する温度
センサ1−1と、被診断装置2の内部温度を検出する温
度センサ2−1との温度差を検知する温度検知回路3−
1と、一定時間間隔にて後述の電源制御回路3−4と機
能診断回路3−5とを起動するだめの「ON」信号を出
力するタイマー3−2と、温度検知回路3−1とタイマ
ー3−2との切替えを行うスイッチ回路3−3と、スイ
ッチ回路3−3に接続された電源制御回路3−4と、被
診断装置2の診断を行う機能診断回路3−5とで構成さ
れている。
動制御回路3は、恒温装置1の内部温度を検出する温度
センサ1−1と、被診断装置2の内部温度を検出する温
度センサ2−1との温度差を検知する温度検知回路3−
1と、一定時間間隔にて後述の電源制御回路3−4と機
能診断回路3−5とを起動するだめの「ON」信号を出
力するタイマー3−2と、温度検知回路3−1とタイマ
ー3−2との切替えを行うスイッチ回路3−3と、スイ
ッチ回路3−3に接続された電源制御回路3−4と、被
診断装置2の診断を行う機能診断回路3−5とで構成さ
れている。
さて恒温装置1はまず被診断装置2の許容最低温度に対
応する温度に保たれる。この温度は、被診断装置2の診
断を要する温度、例えば許容最高温度50℃であれば、
それの1/2即ち、25℃に設定される。そして、この
恒温装置1内に被診断装置2を収納する。
応する温度に保たれる。この温度は、被診断装置2の診
断を要する温度、例えば許容最高温度50℃であれば、
それの1/2即ち、25℃に設定される。そして、この
恒温装置1内に被診断装置2を収納する。
この収納状態において、被診断装置2の内部に設けた温
度センサ2−1が25℃を検出すると、温度差検知回路
3−1は温度差に対応する制御信号を出力して、電源制
御回路3−4と機能診断回路3−5とを作動させる。こ
れによって電源制御回路3−4は被診断装置2の電源を
投入する。
度センサ2−1が25℃を検出すると、温度差検知回路
3−1は温度差に対応する制御信号を出力して、電源制
御回路3−4と機能診断回路3−5とを作動させる。こ
れによって電源制御回路3−4は被診断装置2の電源を
投入する。
、また機能診断回路3−5は、起動されて診断された被
診断装置2の診断結果を蒐集し、その蒐集を終了すると
、タイマー3−2をクリアして作動させると共に、スイ
ッチ回路3−3の可動部を温度検出回路3−1側からタ
イマー3−2側に切替える。
診断装置2の診断結果を蒐集し、その蒐集を終了すると
、タイマー3−2をクリアして作動させると共に、スイ
ッチ回路3−3の可動部を温度検出回路3−1側からタ
イマー3−2側に切替える。
なお、スイッチ回路3−3は、被診断装置2の内部温度
が最高温度50℃になる迄この切換え状態を保つ。
が最高温度50℃になる迄この切換え状態を保つ。
所定時間経過してタイマー3−2が「ON」信号を出力
すると、電源制御回路3−3と機能診断回路3−5とは
作動して前述した要領で被診断装置2の電源投入、診断
結果の蒐集結果の蒐集処理を行う。
すると、電源制御回路3−3と機能診断回路3−5とは
作動して前述した要領で被診断装置2の電源投入、診断
結果の蒐集結果の蒐集処理を行う。
以後前記最高温度になるまでこの処理が数回繰返される
。
。
従って、所定時間間隔で温度変化中における被診断装置
の起動診断が自動的に行われる。
の起動診断が自動的に行われる。
なお、以上の実施例では被診断装置2の内部温度を変化
するために恒温装置lの温度を可変させるように構成し
たが、この装置温度変化付与には次のような方法も適用
可能である。即ち、恒温装置1は、被診断装置2の許容
最高温度に対応した温度に保たせ、被診断装置2はそれ
の許容最低温度付近の温度下に放置しておく。そして、
この被診断装置2を時間経過とともに、被診断装置2の
内部温度を恒温装置1内の温度まで上昇させる構成であ
る。この構成によれば、恒温装置1の温度調整が簡単で
あると云う利点がある。
するために恒温装置lの温度を可変させるように構成し
たが、この装置温度変化付与には次のような方法も適用
可能である。即ち、恒温装置1は、被診断装置2の許容
最高温度に対応した温度に保たせ、被診断装置2はそれ
の許容最低温度付近の温度下に放置しておく。そして、
この被診断装置2を時間経過とともに、被診断装置2の
内部温度を恒温装置1内の温度まで上昇させる構成であ
る。この構成によれば、恒温装置1の温度調整が簡単で
あると云う利点がある。
以上述べてきたように、本発明によれば、極めて簡易な
構成で温度変化の過渡時の装置起動診断が適切に行え、
装置性能を診断する上で極めて有効である。
構成で温度変化の過渡時の装置起動診断が適切に行え、
装置性能を診断する上で極めて有効である。
第1図は本発明に係る装置の診断方式を示す原理図、
第2図は本発明の実施例を示すブロック図である。
図において、1は恒温装置、2は被診断装置、3は起動
制御回路を示す。
制御回路を示す。
Claims (1)
- 恒温装置(1)に被診断装置(2)を収納し、該被診断
装置(2)にそれの規格許容温度範囲の温度変化を与え
、かつ前記被診断装置(2)に起動制御回路(3)を接
続し、該起動制御回路(3)により前記温度変化中の被
診断装置(2)を所定時間間隔で所定回数起動させ起動
機能を診断することを特徴とする装置機能の診断方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60151130A JPS6210738A (ja) | 1985-07-08 | 1985-07-08 | 装置機能の診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60151130A JPS6210738A (ja) | 1985-07-08 | 1985-07-08 | 装置機能の診断方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6210738A true JPS6210738A (ja) | 1987-01-19 |
JPH0325816B2 JPH0325816B2 (ja) | 1991-04-09 |
Family
ID=15512019
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60151130A Granted JPS6210738A (ja) | 1985-07-08 | 1985-07-08 | 装置機能の診断方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6210738A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112798924A (zh) * | 2019-11-14 | 2021-05-14 | 爱斯佩克株式会社 | 检查装置、检查系统以及检查方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58169258A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | Fujitsu Ltd | プロセツサを備えた装置のテスト方式 |
JPS59127158A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-21 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Mpu素子の選別試験装置 |
-
1985
- 1985-07-08 JP JP60151130A patent/JPS6210738A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58169258A (ja) * | 1982-03-31 | 1983-10-05 | Fujitsu Ltd | プロセツサを備えた装置のテスト方式 |
JPS59127158A (ja) * | 1983-01-12 | 1984-07-21 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Mpu素子の選別試験装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112798924A (zh) * | 2019-11-14 | 2021-05-14 | 爱斯佩克株式会社 | 检查装置、检查系统以及检查方法 |
JP2021081199A (ja) * | 2019-11-14 | 2021-05-27 | エスペック株式会社 | 検査装置、検査システム、及び検査方法 |
TWI825361B (zh) * | 2019-11-14 | 2023-12-11 | 日商愛斯佩克股份有限公司 | 檢查裝置、檢查系統以及檢查方法 |
CN112798924B (zh) * | 2019-11-14 | 2024-08-06 | 爱斯佩克株式会社 | 检查装置、检查系统以及检查方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0325816B2 (ja) | 1991-04-09 |
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