JPS62106640A - ウエハ検出装置 - Google Patents

ウエハ検出装置

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Publication number
JPS62106640A
JPS62106640A JP24625485A JP24625485A JPS62106640A JP S62106640 A JPS62106640 A JP S62106640A JP 24625485 A JP24625485 A JP 24625485A JP 24625485 A JP24625485 A JP 24625485A JP S62106640 A JPS62106640 A JP S62106640A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
light
carrier
detection device
end surface
Prior art date
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Pending
Application number
JP24625485A
Other languages
English (en)
Inventor
Taro Omori
大森 太郎
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Publication of JPS62106640A publication Critical patent/JPS62106640A/ja
Priority to US07/140,864 priority patent/US4786816A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はウェハ検出装置に関し、更に詳しくは、半導体
製造装置においてウェハキャリアにウェハを自動出し入
れする際のキャリア内のウェハの有無とその位置を光学
的に検出するウェハ検出装置に関する。
[従来の技術] 半導体製造装置において、キャリア内に多段に収納され
たウェハの出し入れを自動で行なう場合、キャリア内の
ウェハ収納段の位置とウェハの有無を事110に検知す
る必要がある。すなわち、キャリアの全収納段にウェハ
が存在するとは限らず、空の収納段に対してウェハ取り
出し操作を自動で実行覆ると、ウェハ取り出し装置が無
駄な動きをするだけでなく、装置の停止など、思わぬト
ラブルを起り結果となるからである。
従来、キャリア内のウェハの有無とその位置を検出する
方法には、接触方式のものと非接触方式のものとが使用
されている。接触方式のものは、キャリア内のウェハの
端部等を小型の接触子で触れてその有無をZr認する方
法であり、非接触方式のものは、静電容量形センサや光
電形ヒンサ等により非接触でウェハの有無を検知する方
法である。
このうち有利な方式は非接触方式であるが、静電容量形
センサによる方法ではキレリア内のウェハの収納位置が
前後にばらついており、ウェハ端部とセンサ間の間隔が
全収納段で均一になることが少ないので検出が不安定と
なる欠点があった。これに対して充電形センサを使用す
る方法は、キャリアの大きさや、キャリア内のウェハの
収納位置の前後のばらつき等による影響を受けにくく、
最も安定的に検出できる方法である。この方式の場合、
基本的には発光部から受光部への光を途中でウェハが遮
ることでウェハの有無が検出されるが、従来の光電セン
サ方式のウェハ検出装置の例を第7図と第8図に示す。
第7図の例では、キャリア1内のウェハ2を検知するた
めに、キャリア1の一端面側の発光部3と、他端面側の
受光部4とを、互いの光軸を合致させたまま同時に上下
方向(ウェハ収納段の積重方向)に移動させることによ
り、ウェハの有無とその位置を検出する。
第8図の例では、キャリア1の一端面側に発光部3と受
光部4とをハーフミラ−6によって組合せて配置し、キ
ャリア1の他端面側にはミラー5を配;Sして、発光部
3を出た光線がミラー5で反射したのら同一光1軸上を
戻ってハーフミラ−6がら受光部4へ入るようにし、発
光部3と受光部4およびハーフミラ−6を一体的に同時
に上下移動さけることにより、ウェハの有無とその位置
を検出する。
ところで第7図の従来例においては、間にキャリアを介
して距離を置いて配置された発光部3と受光部4とを、
それらの光軸を互いに一致させたまま同時に平行移動さ
せなければならないので、その駆動機構には極めて高い
精度が要求されると共に構造も複雑になり、また占有空
間も多く必要であるという欠点があった。
また第8図の従来例にd5いては、移動させなければな
らない発光部3と受光部4およびハーフミラ−6が近い
位置にまとまっているので駆動機構は複雑にならないが
、発光部3から受光部4へ至る光路長が良いために光軸
合わせが極めて困難であり、高精度の駆動機構が必要で
あると共に、ミラー5の反射面と上下fJI案内部との
平行度にも高精度が要求される欠点があった。
[発明が解決しようとする問題点コ 本発明の課題は、前述の従来例の欠点を解消して、発光
部と受光部とを一緒に移動させなくてもよく、従ってそ
の駆動系の複雑化を避けることができ、発光部と受光部
との間の光路長を長大にぜずに、安定的にキャリア内の
ウェハの有無とその位置を光学的に検出することのでき
るウェハ検出装置を提供づることである。
[問題点を解決するだめの手段1 本発明のウェハ検出装置は、前述の課題を達成づるため
に、ウェハを多段に収納可能なキャリアの一端面側に発
光手段を、他端面側に受光手段をそれぞれ備えており、
館記発光手段は、キャrノア内におけるウェハ収納面に
沿う検出光束をキャリアの一端面側から他端面側に貫通
して送出すると共にこの貫通光束をキャリアのウェハ収
納段の全積重寸法範囲にわたってその積重方向に平行移
動さける走査手段を含み、またキャリアの他端面側で前
記貫通光束の有無を検出する前記受光手段は前記キャリ
アに対して相対的に固定され、この受光手段の受光面に
キャリアのウェハ収納段の全段積重寸法範囲にわたる入
射光束を集光させる光学手段がキャリアの他端面側に配
設されている。
ひとつの実施態様において前記発光手段はウェハ厚さ方
向に関してウェハの厚さより充分細いビーム状の貫通光
束を発出し、また走査手段は点光源を直接移動させるも
の、或いは点光源からの光束の向きを変える反射鏡やプ
リズムなどの光学部材を移動させるものが用いられる。
尚、上記点光隙は、光源とその放射波を集光する光学部
材からなるものを包含することは述べるまでもない。
ビーム状貫通光束の走査手段による走査位置と受光手段
による受光の有無の検出結果との組合せでキャリア内の
ウェハの有無とその収納段位置を検知するが、受光手段
は本発明においては実質的に集光スポラhに対応した点
状の受光素子を固定配置すれば足りる。この集光のため
の光学手段どしては集光レンズまたは凹面鏡のいずれを
用いてもよい。
[作 用] 本発明によれば、キャリア内のウェハ収納段にウェハが
存在する位置では貫通光束が遮られるので受光手段の受
光出力からその有無が検出でさ、その位置はd通光束の
走査位置によって検知できる。従って受光側の集光用光
学手段も受光水子もキャリアに対して固定配置できるの
で、可動部を発光側だけにすることができ、発光側と受
光側とを一緒に高精度を維持したまま移動させる必要が
なく、発光側の光軸をウェハ収納面にほぼ平行に維持し
たまま走査駆動する程度の駆動部精度があればよい。受
光側に関しては固定部材であるので精反維持に問題はな
く、構造の複錐化も避けることができる。
本発明では、キャリアの一端面側から発した貫通光束を
キャリアの他端面側で検出する基本構成を崩していない
ので、発光・と受光間の光路長をむやみに長くぜずども
キャリアの片側のみでの光束の走査駆動による安定した
ウェハ検出が達成できるものである。
し実施例1 第1図は本発明の一実施例を示しており、図において1
はキャリア、2はウェハ、3は発光部、4は受光部、7
は集光レンズである。キャリア1には多段構成のウェハ
収納段にウェハ2が収納され、発光部3からは、ウェハ
2の厚さ方向に関してウェハ2の厚さより充分細いビー
ム状の光束がキャリア1の一端面側から他端面側に貞通
するようにウェハ収納面に沿って発出され、他端面側に
おいて集光レンズ7を介して受光部4へ入射するように
なっている。受光部4の受光面は、集合レンズ7の焦点
上に位置され、レンズ7に入射する平行光束は全て受光
部4の受光面に集光されるようになっている。発光部3
からの光束の光軸は、キャリア1内に収納された1クエ
ハ2の面に沿っており、この先軸をウェハ収納段の積重
方向に平行移動させるように発光部3が直接走査移動さ
れる。
この走査はキャリア1の・ウェハ収納段の全段にわたっ
て行なわれ、この走査によって光軸上にウェハ2が入る
位置で受光部4の受光が途切れるので、走査位置と受光
出力とによってキレリア1内の各ウェハ収納段のウェハ
の有無とその位置の検出が果される。
第2図は発光部3の向きを・ウェハ収納段積重方向にし
て固定配置とし、代りに光束の向きを直角に向けるミラ
ー8を走査駆動するようにした例を示し、その他の部分
については第1図のものと同様であるので説明を省略す
る。
第3図および第4図は、集光レンズの代りに凹面ff1
9を用いた実施例を示してJ3す、受光部4は凹面鏡9
の焦点位置に配置されていることは述べるまでもない。
発光部3の走査により、ウェハ収納段の全てにつき光束
が凹面鏡9の鏡面9aで反射され、lj−の固定位置に
ある受光部4に集光される。
第5図および第6図は凹面vL9を用いた場合の変形例
を示しており、凹面鏡9の手前に光路の向きを変えるた
めの平面鏡10を介装して、キャリア1の他端面側にお
ける部材配置スペースを小さくしである。
尚、以上の各実施例および変形例において、レンズ7或
いは凹面鏡9および平面鏡10は、受光素子9の受光面
の径寸法程度の幅寸法のシリンドリカルレンズ或いはシ
リンドリカル凹面鏡および細幅平面鏡とすることができ
るのは述べるまでもない。
[発明の効果1 以上に述べたように、本発明によれば受光部を移動させ
ずにしかも単一の小形の受光素子でキャリア内のウェハ
検出ができ、発光部と受光部とを一緒に移動させる必要
がないので機械的構造が簡略になり、また発光部の光軸
を受光部の光軸と高精度に合致さける必要がないので走
査部の可動部分の精度もさほど高くなくてよく、さらに
は構造が簡単で占有空間の少ない安定したウェハ検出装
置が得られ、調整個所も少なく、光路長も艮くせずに済
むしのである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成の概略を示す側面図、
第2図はその変形例を示す側面図、第3図は別の実施例
を示づ上面図、第4図は同じく側面図、第5図は前回の
変形例を示す上面図、第6図は第5図Vl −Vl線矢
視図、第7図は従来例を示す側面図、第8図は別の従来
例を示す側面図である。 1・・・キャリア、 2・・・ウェハ、 3・・・発光
部、4・・・受光部、 7・・・集光レンズ、 8・・
・ミラー、9・・・凹面鏡、 10・・・平面鏡。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ウェハを多段に収納可能なキャリア内のウェハの有
    無とその位置を光学的に検出するために、キャリア内に
    おけるウェハ収納面に沿つてキャリアの一端面側から他
    端面側に貫通光束を発する発光手段と、前記キャリアの
    他端面側にて前記貫通光束の受光の有無を検出する受光
    手段とを備えたものにおいて、前記発光手段がキャリア
    のウェハ収納段の全段積重寸法範囲にわたつてその積重
    方向に前記貫通光束を平行移動させる走査手段を含み、
    前記受光手段が前記キャリアに対して相対的に固定され
    、さらに受光手段の受光面に前記キャリアのウェハ収納
    段の全段積重寸法範囲にわたる入射光束を集光させる光
    学手段がキャリアの他端面側に配設されていることを特
    徴とするウェハ検出装置。 2、前記発光手段がウェハ厚さ方向に関してウェハの厚
    さより充分細いビーム状の貫通光束を発出するものであ
    る特許請求の範囲第1項に記載のウェハ検出装置。 3、走査手段が点光源を移動させるものである特許請求
    の範囲第1項に記載のウェハ検出装置。 4、走査手段が点光源からの光束の向きを変える光学部
    材を移動させるものである特許請求の範囲第1項に記載
    のウェハ検出装置。 5、走査手段による走査位置と受光手段による受光の有
    無の検出結果との組合せでキャリア内のウェハの有無と
    その収納段位置を検知する特許請求の範囲第1項に記載
    のウエハ検出装置。 6、光学手段が集光レンズである特許請求の範囲第1項
    に記載のウェハ検出装置。 7、光学手段が凹面鏡である特許請求の範囲第1項に記
    載のウェハ検出装置。
JP24625485A 1985-11-05 1985-11-05 ウエハ検出装置 Pending JPS62106640A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24625485A JPS62106640A (ja) 1985-11-05 1985-11-05 ウエハ検出装置
US07/140,864 US4786816A (en) 1985-11-05 1987-12-29 Wafer detecting device wherein light receiver has an effective surface larger than the dimensional range covering all the wafers being detected

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24625485A JPS62106640A (ja) 1985-11-05 1985-11-05 ウエハ検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62106640A true JPS62106640A (ja) 1987-05-18

Family

ID=17145786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24625485A Pending JPS62106640A (ja) 1985-11-05 1985-11-05 ウエハ検出装置

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Country Link
JP (1) JPS62106640A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62274739A (ja) * 1986-05-16 1987-11-28 バリアン・アソシエイツ・インコ−ポレイテッド ウエファ方向づけ装置および方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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