JPS6191537A - 光ファイバ波長分散測定装置 - Google Patents
光ファイバ波長分散測定装置Info
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- JPS6191537A JPS6191537A JP21335784A JP21335784A JPS6191537A JP S6191537 A JPS6191537 A JP S6191537A JP 21335784 A JP21335784 A JP 21335784A JP 21335784 A JP21335784 A JP 21335784A JP S6191537 A JPS6191537 A JP S6191537A
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- G01M11/338—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring dispersion other than PMD, e.g. chromatic dispersion
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ファイバの特性の測定に関する。
特に、光ファイバの波長分散を測定する方法およびその
ための装置に関する。
ための装置に関する。
光ファイバの波長分散を測定する方法としては、従来は
、二つの光束の干渉により測定する方法が−ｉ的である
。すなわち、一つの光源から出力された光束を空間的に
二つに分離し、この一方の光束を被測定光ファイバ中に
伝搬させ、他方の光束を空間中に伝搬させ、これらの二
つの光束の干渉縞の可視度が最大となる位置をビジコン
等の撮像装置により検出する。これを異なる波長の光源
について行い、干渉縞の可視度が同じ位置で最大となる
ような光路長差を測定する。この測定により波長に対す
る光路長差が測定され、その測定値か −ら計算により
波長分散を求める。
、二つの光束の干渉により測定する方法が−ｉ的である
。すなわち、一つの光源から出力された光束を空間的に
二つに分離し、この一方の光束を被測定光ファイバ中に
伝搬させ、他方の光束を空間中に伝搬させ、これらの二
つの光束の干渉縞の可視度が最大となる位置をビジコン
等の撮像装置により検出する。これを異なる波長の光源
について行い、干渉縞の可視度が同じ位置で最大となる
ような光路長差を測定する。この測定により波長に対す
る光路長差が測定され、その測定値か −ら計算により
波長分散を求める。
しかし、このような従来例光ファイバ波長分散測定方法
では、干渉縞の信号雑音比が低く、可視度が最大となる
位置に幅があり、精度の高い測定が困難である欠点があ
った。
では、干渉縞の信号雑音比が低く、可視度が最大となる
位置に幅があり、精度の高い測定が困難である欠点があ
った。
本発明は、干渉が最大となる光路長を高精度で測定し、
高精度で光ファイバ波長分散を測定できる方法および装
置を提供することを目的とする。
高精度で光ファイバ波長分散を測定できる方法および装
置を提供することを目的とする。
本発明の光ファイバ波長分散測定方法は、光源から出射
された光束を信号光と参照光とに分離し、上記信号光を
被測定光ファイバに伝搬させ、上記参照光を上記被測定
光ファイバ以外の通路に伝搬させ、上記被測定光ファイ
バを伝搬した信号光と上記被測定光ファイバ以外の通路
を伝搬した参照光とを干渉させ、異なる波長の光源に対
してそれぞれの干渉強度が最大となるような信号光と参
照光との光路長差を測定し、波長差に対する光路長差に
より上記被測定光ファイバの波長分散を求める光ファイ
バ波長分散測定方法において、上記信号光と上記参照光
の少なくとも一方に強度変調または位相変調を施し、干
渉した光強度の情報を変調周波数を含む狭帯域周波数で
取り出して検波することを特徴とする。
された光束を信号光と参照光とに分離し、上記信号光を
被測定光ファイバに伝搬させ、上記参照光を上記被測定
光ファイバ以外の通路に伝搬させ、上記被測定光ファイ
バを伝搬した信号光と上記被測定光ファイバ以外の通路
を伝搬した参照光とを干渉させ、異なる波長の光源に対
してそれぞれの干渉強度が最大となるような信号光と参
照光との光路長差を測定し、波長差に対する光路長差に
より上記被測定光ファイバの波長分散を求める光ファイ
バ波長分散測定方法において、上記信号光と上記参照光
の少なくとも一方に強度変調または位相変調を施し、干
渉した光強度の情報を変調周波数を含む狭帯域周波数で
取り出して検波することを特徴とする。
さらに、本発明の光ファイバ波長分散測定装置は上記の
方法を実施する装置であって、可干渉性の光束を出力す
る光源と、この光源から出射された光束を信号光と参照
光とに分離する光学的手段と、この信号光を被測定光フ
ァイバに入射させる光学的手段と、被測定光ファイバを
伝搬した信号光と被測定光ファイバ以外の通路を伝搬し
た参照光とを干渉させる光学的手段と、この手段で得ら
れる干渉光を検波する手段とを備え、上記光源が２以上
の異なる波長の出力光を発生する光源であり、この光源
の異なる波長の出力光に対してそれぞれの干渉強度が最
大となるように信号光と参照光との光路長差を可変に設
定する手段とを備えた光ファイバ波長分散測定装置にお
いて、′上記信号光と上記参照光の少なくとも一方に強
度変調または位相変調を施す手段と、干渉した光強度の
情報をこの手段の変調周波数を含む狭帯域周波数で抽出
する手段とを備えたことを特徴とする。
方法を実施する装置であって、可干渉性の光束を出力す
る光源と、この光源から出射された光束を信号光と参照
光とに分離する光学的手段と、この信号光を被測定光フ
ァイバに入射させる光学的手段と、被測定光ファイバを
伝搬した信号光と被測定光ファイバ以外の通路を伝搬し
た参照光とを干渉させる光学的手段と、この手段で得ら
れる干渉光を検波する手段とを備え、上記光源が２以上
の異なる波長の出力光を発生する光源であり、この光源
の異なる波長の出力光に対してそれぞれの干渉強度が最
大となるように信号光と参照光との光路長差を可変に設
定する手段とを備えた光ファイバ波長分散測定装置にお
いて、′上記信号光と上記参照光の少なくとも一方に強
度変調または位相変調を施す手段と、干渉した光強度の
情報をこの手段の変調周波数を含む狭帯域周波数で抽出
する手段とを備えたことを特徴とする。
（作用〕
本発明光ファイバ波長分散測定方法および装置は、光束
を交流信号で変調することにより二つの光束の干渉強度
にこの交流信号成分の変化を与え、これを狭帯域の周波
数で検出することにより信号雑音比を改善する。
を交流信号で変調することにより二つの光束の干渉強度
にこの交流信号成分の変化を与え、これを狭帯域の周波
数で検出することにより信号雑音比を改善する。
第１図は本発明第一実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図である。
のブロック構成図である。
光源１は可干渉性の光束を出力する。−例としては半導
体レーザである。この光束は強度変調器２により強度変
調が施される。強度変調が施された光束は、半透鏡３に
より二つの光束に分離される。半透鏡３を透過した光束
は信号光として被測定光ファイバ４を伝搬する。半透鏡
３に反射された光束は、参照光として空間中を伝搬し、
反射鏡５．６で反射され、半透鏡７を透過し、パルスモ
ータ等により移動可能な台座に固定された可動鏡８で反
射される。被測定光ファイバ４から出力された信号光は
半透鏡７を透過し、可動鏡８で反射された参照光は半透
鏡７で反射され、これらの光束が合波される。合波され
た光束は、直線検光子９を透過し、シリコン・アバラン
シェ・フォトダイオードまたはゲルマニューム・アバラ
ンシェ・フォトダイオード等で構成された光検出器１０
に入射する。
体レーザである。この光束は強度変調器２により強度変
調が施される。強度変調が施された光束は、半透鏡３に
より二つの光束に分離される。半透鏡３を透過した光束
は信号光として被測定光ファイバ４を伝搬する。半透鏡
３に反射された光束は、参照光として空間中を伝搬し、
反射鏡５．６で反射され、半透鏡７を透過し、パルスモ
ータ等により移動可能な台座に固定された可動鏡８で反
射される。被測定光ファイバ４から出力された信号光は
半透鏡７を透過し、可動鏡８で反射された参照光は半透
鏡７で反射され、これらの光束が合波される。合波され
た光束は、直線検光子９を透過し、シリコン・アバラン
シェ・フォトダイオードまたはゲルマニューム・アバラ
ンシェ・フォトダイオード等で構成された光検出器１０
に入射する。
光検出器１０は帯域濾波器１２に接続される。帯域濾波
器１２は記録装置１３に接続される。さらに、発振回路
１１が強度変調器２および帯域濾波器１２に接続される
。
器１２は記録装置１３に接続される。さらに、発振回路
１１が強度変調器２および帯域濾波器１２に接続される
。
光検出器１０に入射された光信号は、強度変調器２によ
り周波数ｆで変調されている。このため、帯域濾波器１
２は、発振回路１１からの周波数ｆの参照信号を用いて
、光検出器ＩＯの出力信号から周波数ｆの成分を抽出す
る。帯域濾波器１２の出力は、記録装置１３により記録
される。
り周波数ｆで変調されている。このため、帯域濾波器１
２は、発振回路１１からの周波数ｆの参照信号を用いて
、光検出器ＩＯの出力信号から周波数ｆの成分を抽出す
る。帯域濾波器１２の出力は、記録装置１３により記録
される。
光源１として、近接した波長λ１、λ２の光束を出力す
る光源を用いた場合を比較する。どちらの場合にも、信
号光および参照光の自由空間における光路長に変化はな
い。しかし、被測定光ファイバ４中を伝搬する信号光の
光路長は、被測定光ファイバ４０波長分散により変化す
る。したがって、波長分散の変化を測定するには、可動
鏡８の位置を調整し、信号光と参照光との光路長が等し
くなるようにする。光ファイバの波長分散により、波長
λ１、λ２に対して可動鏡８の位置が異なり、その位置
の変位量から波長分散が得られる。
る光源を用いた場合を比較する。どちらの場合にも、信
号光および参照光の自由空間における光路長に変化はな
い。しかし、被測定光ファイバ４中を伝搬する信号光の
光路長は、被測定光ファイバ４０波長分散により変化す
る。したがって、波長分散の変化を測定するには、可動
鏡８の位置を調整し、信号光と参照光との光路長が等し
くなるようにする。光ファイバの波長分散により、波長
λ１、λ２に対して可動鏡８の位置が異なり、その位置
の変位量から波長分散が得られる。
本実施例の特徴は、信号光および参照光に強度変調が施
されていることにある。これにより、光路長が等しい場
合には、半透鏡７で合波された光束の干渉強度の周波数
ｆ成分が最大となる。この周波数ｒ成分の変化は大きく
、光路長が等しいことを容易に知ることができる。した
がって、光路長差を高精度で測定でき、正確な波長分散
を得ることができる。
されていることにある。これにより、光路長が等しい場
合には、半透鏡７で合波された光束の干渉強度の周波数
ｆ成分が最大となる。この周波数ｒ成分の変化は大きく
、光路長が等しいことを容易に知ることができる。した
がって、光路長差を高精度で測定でき、正確な波長分散
を得ることができる。
以下に、式を用いて本実施例を定量的に説明する。
光検出器１０で検出される光強度の周波数ｆ成分、すな
わち干渉強度Ｉは、 Ｉ ＝ （１１＋Ｉｚ＋２−ＪＩ＋ｈ Ｉ ｒ Ｄ ＋
ｚ） ｌ ｃＯ３δ、２〕Ｘ ｃｏｓ２πｆｔ
−・（１）で与えられる。ここで、 ■ｌ：信号光強度、 ■２：参照光強度、 １γ（τ、、）、１：コヒーレンス度 （Ｔはτ１２の関数）、 τ１２：半透鏡３から光検出器１０に至る二つの光束の
間の群遅延時間差、 δ夏２：半透鏡３から光検出器１０に至る二つの光束の
間の位相差 である。可動鏡８を掃引すると、 τＩ２−〇 の位置では、 １γ（τ１□）ｌ＝１．ｃｏｓδ、２＝１となり、干渉
強度ｌの振幅が最大となる。
わち干渉強度Ｉは、 Ｉ ＝ （１１＋Ｉｚ＋２−ＪＩ＋ｈ Ｉ ｒ Ｄ ＋
ｚ） ｌ ｃＯ３δ、２〕Ｘ ｃｏｓ２πｆｔ
−・（１）で与えられる。ここで、 ■ｌ：信号光強度、 ■２：参照光強度、 １γ（τ、、）、１：コヒーレンス度 （Ｔはτ１２の関数）、 τ１２：半透鏡３から光検出器１０に至る二つの光束の
間の群遅延時間差、 δ夏２：半透鏡３から光検出器１０に至る二つの光束の
間の位相差 である。可動鏡８を掃引すると、 τＩ２−〇 の位置では、 １γ（τ１□）ｌ＝１．ｃｏｓδ、２＝１となり、干渉
強度ｌの振幅が最大となる。
異なる波長の光源を用いて干渉強度Ｉが最大となる可動
鏡８の位置を求める。この可動鏡８の相対的な位置すれ
か、被測定光ファイバ４の波長分散による光路長差とな
る。光路長差を光速Ｃで割ることにより群遅延時間差τ
が求められる。この群遅延時間差τは、長さしの被測定
光ファイバ４の波長分散りと、 Ｄ＝ （１／Ｌ）（ｄτ／ｄλ） −（２）の
関係がある。ここでλは波長である。第（２）式により
、異なる波長λに対して群遅延時間差τを求めることに
より、被測定光ファイバ４の波長分散が得られる。
鏡８の位置を求める。この可動鏡８の相対的な位置すれ
か、被測定光ファイバ４の波長分散による光路長差とな
る。光路長差を光速Ｃで割ることにより群遅延時間差τ
が求められる。この群遅延時間差τは、長さしの被測定
光ファイバ４の波長分散りと、 Ｄ＝ （１／Ｌ）（ｄτ／ｄλ） −（２）の
関係がある。ここでλは波長である。第（２）式により
、異なる波長λに対して群遅延時間差τを求めることに
より、被測定光ファイバ４の波長分散が得られる。
本実施例では、光源１が出力した光束を強度変調を施し
た後に信号光と参照光とに分離しているが、信号光と参
照光とに分離した後にその双方に強度変調を施しても本
発明を同様に実施できる。
た後に信号光と参照光とに分離しているが、信号光と参
照光とに分離した後にその双方に強度変調を施しても本
発明を同様に実施できる。
また、干渉強度が小さくなるが、信号光と参照光の一方
のみに強度変調を施しても本発明を実施できる。
のみに強度変調を施しても本発明を実施できる。
第２図は本発明第二実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図である。
のブロック構成図である。
光源１が出力した光束は、半透鏡３により二つの光束に
分離される。半透鏡３を透過した光束は信号光として被
測定光ファイバ４を伝搬する。半透鏡３に反射された光
束は、参照光として空間中を伝搬し、反射鏡５で反射さ
れ、位相変調素子１４により位相変調が施され、反射鏡
６で反射され、半透鏡７を透過し、可動鏡８で反射され
る。被測定光ファイバ４から出力された信号光は半透鏡
７を透過し、可動鏡８で反射された参照光は半透鏡７で
反射され、これらの光束が合波される。合波された光束
は、直線検光子９を透過し、光検出器ｌＯに入射する。
分離される。半透鏡３を透過した光束は信号光として被
測定光ファイバ４を伝搬する。半透鏡３に反射された光
束は、参照光として空間中を伝搬し、反射鏡５で反射さ
れ、位相変調素子１４により位相変調が施され、反射鏡
６で反射され、半透鏡７を透過し、可動鏡８で反射され
る。被測定光ファイバ４から出力された信号光は半透鏡
７を透過し、可動鏡８で反射された参照光は半透鏡７で
反射され、これらの光束が合波される。合波された光束
は、直線検光子９を透過し、光検出器ｌＯに入射する。
光検出器１０は帯域濾波器１２に接続される。帯域濾波
器１２は記録装置１３に接続される。さらに、発振回路
１１が位相変調素子１４および帯域濾波器１２に接続さ
れる。
器１２は記録装置１３に接続される。さらに、発振回路
１１が位相変調素子１４および帯域濾波器１２に接続さ
れる。
本実施例の特徴は、光源１が出力した光束に強度変調を
施すのではなく、位相変調素子１４が参照光に位相変調
を施すことにある。これにより、信号光と参照光との干
渉強度が変調周波数で時間的に変化し、信号光と干渉光
との光路長が一致したときにその干渉強度が最大となる
。
施すのではなく、位相変調素子１４が参照光に位相変調
を施すことにある。これにより、信号光と参照光との干
渉強度が変調周波数で時間的に変化し、信号光と干渉光
との光路長が一致したときにその干渉強度が最大となる
。
本実施例の作用をさらに定量的に説明する。
位相変調素子Ｉ４が、周波数ｆの矩形波ｒｅｃｔ（ｔ）
で参照光を位相変調したとする。このとき光検出器１０
で検出される干渉強度Ｉは、第（１）式と同じ表記によ
り、 １＝１．＋Ｉ。
で参照光を位相変調したとする。このとき光検出器１０
で検出される干渉強度Ｉは、第（１）式と同じ表記によ
り、 １＝１．＋Ｉ。
＋２引〒１２ ｌ ｒ （ｒ ｔｚ） ｌ ｃｏｓ（ｒ
ｅｃｔ（ｔ） ＋６１□）、・・−・（３） で与えられる。
ｅｃｔ（ｔ） ＋６１□）、・・−・（３） で与えられる。
矩形波による位相変調の深さがπの近傍に設定されると
、第（３）式は、 １ ＝１． ＋１．＋２７ＬＩｚ ｌ ｒ Ｄ １２）
Ｉ ｃｔ ｒｅｃｔ（ｔ）・・−（４） ここでαは定数である。したがって、干渉強度Ｉは周波
数ｆで時間的に変化し、 τ１２＝０ でコヒーレンス度Ｔ（τ１□）が最大となり、干渉強度
Ｉの振幅が最大となる。したがって、第一実施例と同様
に可動鏡８を掃引し、異なる波長の光源に対して干渉強
度Ｉが最大となる位置を測定し、波長に対する光路長差
から光ファイバの波長分散を得ることができる。
、第（３）式は、 １ ＝１． ＋１．＋２７ＬＩｚ ｌ ｒ Ｄ １２）
Ｉ ｃｔ ｒｅｃｔ（ｔ）・・−（４） ここでαは定数である。したがって、干渉強度Ｉは周波
数ｆで時間的に変化し、 τ１２＝０ でコヒーレンス度Ｔ（τ１□）が最大となり、干渉強度
Ｉの振幅が最大となる。したがって、第一実施例と同様
に可動鏡８を掃引し、異なる波長の光源に対して干渉強
度Ｉが最大となる位置を測定し、波長に対する光路長差
から光ファイバの波長分散を得ることができる。
本実施例では、位相変調素子１４を反射鏡５と反射鏡６
との間に配置したが、参照光の光路上であればその位置
は任意である。
との間に配置したが、参照光の光路上であればその位置
は任意である。
第３図は本発明第三実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図である。
のブロック構成図である。
光源１が出力した光束は、半透鏡３により二つの光束に
分離される。半透鏡３で反射された光束は、信号光とし
て被測定光ファイバ４を伝搬し、水銀槽１５により反射
され、再び被測定光ファイバ４を伝搬する。半透鏡３を
透過した光束は、参照光として空間中を伝搬し、位相変
調素子１４により位相変調が施され、可動鏡８で反射さ
れ、再び位相変調素子１４により位相変調が施される。
分離される。半透鏡３で反射された光束は、信号光とし
て被測定光ファイバ４を伝搬し、水銀槽１５により反射
され、再び被測定光ファイバ４を伝搬する。半透鏡３を
透過した光束は、参照光として空間中を伝搬し、位相変
調素子１４により位相変調が施され、可動鏡８で反射さ
れ、再び位相変調素子１４により位相変調が施される。
被測定光ファイバ４を往復した信号光は半透鏡３を透過
し、二度位相変調された参照光は半透鏡３で反射され、
これらの光束が合波される。合波された光束は、直線検
光子９を透過し、光検出器１０に入射する。
し、二度位相変調された参照光は半透鏡３で反射され、
これらの光束が合波される。合波された光束は、直線検
光子９を透過し、光検出器１０に入射する。
光検出器１０は帯域濾波器１２に接続される。帯域濾波
器１２は記録装置１３に接続される。さらに、発振回路
１１が位相変調素子１４および帯域濾波器１２に接続さ
れる。
器１２は記録装置１３に接続される。さらに、発振回路
１１が位相変調素子１４および帯域濾波器１２に接続さ
れる。
本実施例は基本的に第二実施例と同等であるが、信号光
が被測定光ファイバ４を往復し、参照光も一つの光路を
往復することが異なる。本実施例では、被測定光ファイ
バ４の端面を水銀槽に浸すことにより、この端面で信号
光を全反射させている。
が被測定光ファイバ４を往復し、参照光も一つの光路を
往復することが異なる。本実施例では、被測定光ファイ
バ４の端面を水銀槽に浸すことにより、この端面で信号
光を全反射させている。
光検出器１０で測定される干渉強度■は第二実施例と同
等であるが、信号光が被測定光ファイバ４を二度通過す
るので、長さが二倍の光ファイバと等価になる。また、
参照光も位相変調素子１４を二度通過するため、位相変
調の深さも二倍となる。したがって参照光が往復してπ
程度の変調の深さになるように、位相変調素子１４を設
定する。
等であるが、信号光が被測定光ファイバ４を二度通過す
るので、長さが二倍の光ファイバと等価になる。また、
参照光も位相変調素子１４を二度通過するため、位相変
調の深さも二倍となる。したがって参照光が往復してπ
程度の変調の深さになるように、位相変調素子１４を設
定する。
信号光と参照光との干渉強度の測定は、第二実施例と同
じである。
じである。
以上説明したように、本発明により良好な信号雑音比で
光ファイバの波長分散を測定できる。このため、比較的
短い光ファイバの波長分散の測定も可能になる。
光ファイバの波長分散を測定できる。このため、比較的
短い光ファイバの波長分散の測定も可能になる。
本発明は、簡単な構成で精度の高い測定が可能となるの
で、光ファイバの品質検査や品質管理に大きな効果があ
る。
で、光ファイバの品質検査や品質管理に大きな効果があ
る。
第１図は本発明第一実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図。 第２図は本発明第二実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図。 第３図は本発明第三実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図。 ■・・・光源、２・・・強度変調器、３．７・・・半透
鏡、４・・・被測定光ファイバ、５．６・・・反射鏡、
８・・・可動鏡、９・・・直線検光子、１０・・・光検
出器、１１・・・発振回路、１２・・・帯域濾波器、１
３・・・記録装置、１４・・・位相変調素子、１５・・
・水銀槽。
のブロック構成図。 第２図は本発明第二実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図。 第３図は本発明第三実施例光ファイバ波長分散測定装置
のブロック構成図。 ■・・・光源、２・・・強度変調器、３．７・・・半透
鏡、４・・・被測定光ファイバ、５．６・・・反射鏡、
８・・・可動鏡、９・・・直線検光子、１０・・・光検
出器、１１・・・発振回路、１２・・・帯域濾波器、１
３・・・記録装置、１４・・・位相変調素子、１５・・
・水銀槽。
Claims (2)
- （１）光源から出射された光束を信号光と参照光とに分
離し、 上記信号光を被測定光ファイバに伝搬させ、上記参照光
を上記被測定光ファイバ以外の通路に伝搬させ、 上記被測定光ファイバを伝搬した信号光と上記被測定光
ファイバ以外の通路を伝搬した参照光とを干渉させ、 異なる波長の光源に対してそれぞれの干渉強度が最大と
なるような信号光と参照光との光路長差を測定し、 波長差に対する光路長差により上記被測定光ファイバの
波長分散を求める 光ファイバ波長分散測定方法において、 上記信号光と上記参照光の少なくとも一方に強度変調ま
たは位相変調を施し、 干渉した光強度の情報を変調周波数を含む狭帯域周波数
で取り出して検波する ことを特徴とする光ファイバ波長分散測定方法。 - （２）可干渉性の光束を出力する光源と、 この光源から出射された光束を信号光と参照光とに分離
する光学的手段と、 この信号光を被測定光ファイバに入射させる光学的手段
と、 被測定光ファイバを伝搬した信号光と被測定光ファイバ
以外の通路を伝搬した参照光とを干渉させる光学的手段
と、 この手段で得られる干渉光を検波する手段とを備え、 上記光源が２以上の異なる波長の出力光を発生する光源
であり、 この光源の異なる波長の出力光に対してそれぞれの干渉
強度が最大となるように信号光と参照光との光路長差を
可変に設定する手段と を備えた光ファイバ波長分散測定装置において、上記信
号光と上記参照光の少なくとも一方に強度変調または位
相変調を施す手段と、 干渉した光強度の情報をこの手段の変調周波数を含む狭
帯域周波数で抽出する手段と を備えたことを特徴とする光ファイバ波長分散測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21335784A JPS6191537A (ja) | 1984-10-12 | 1984-10-12 | 光ファイバ波長分散測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21335784A JPS6191537A (ja) | 1984-10-12 | 1984-10-12 | 光ファイバ波長分散測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6191537A true JPS6191537A (ja) | 1986-05-09 |
| JPH0564289B2 JPH0564289B2 (ja) | 1993-09-14 |
Family
ID=16637831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21335784A Granted JPS6191537A (ja) | 1984-10-12 | 1984-10-12 | 光ファイバ波長分散測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6191537A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ304375B6 (cs) * | 2012-08-02 | 2014-04-02 | Fyzikální ústav AV ČR, v.v.i. | Rozptylová modulační jednotka |
| CN112816180A (zh) * | 2020-12-27 | 2021-05-18 | 苏州六幺四信息科技有限责任公司 | 光纤色散测量方法及测量装置 |
-
1984
- 1984-10-12 JP JP21335784A patent/JPS6191537A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ304375B6 (cs) * | 2012-08-02 | 2014-04-02 | Fyzikální ústav AV ČR, v.v.i. | Rozptylová modulační jednotka |
| CN112816180A (zh) * | 2020-12-27 | 2021-05-18 | 苏州六幺四信息科技有限责任公司 | 光纤色散测量方法及测量装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0564289B2 (ja) | 1993-09-14 |
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