JPS618923A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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Publication number
JPS618923A
JPS618923A JP59130434A JP13043484A JPS618923A JP S618923 A JPS618923 A JP S618923A JP 59130434 A JP59130434 A JP 59130434A JP 13043484 A JP13043484 A JP 13043484A JP S618923 A JPS618923 A JP S618923A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
stage
chip
exposed
exposure
Prior art date
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Granted
Application number
JP59130434A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0469408B2 (ja
Inventor
Tatsuro Kawabata
川畑 辰郎
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS618923A publication Critical patent/JPS618923A/ja
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Granted legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は露光装置、詳しくはステッパー装置により露光
するに際し、ウェハを回転させることによりウェハステ
ージの移動距離を少なくし、ウェハステージの小型化と
その動きの精度向上が実現されるステッパー装置に関す
る。
レンズを用いるパターンのウェハ上への転写技術は、ウ
ェハサイズが50I11程度(2¥)のときには一括露
光が可能でマスクからウェハへ1対1で転写露光してい
た。
しかし、ウェハサイズの大型化とパターンの微細化要求
にともない一括露光は不可能となり、ウェハ全面をいく
つかに分割してステップ状に露光する方式が開発され、
現在では1チツプずつ露光する方式がとられている。
(従来の技術〕 上記したステップ状露光には第4図に示される縮小投影
型露光装置が用いられ、同図において、21は照明光学
系、22はレチクル、23はコンデンサレンズ、24は
ステップモニタ光学系、25はレチクルアラインメント
光学系、26はITVカメラ、27は縮小投影レンズ、
28はオートフォーカス検出系、29はX軸干渉針、3
0はY軸干渉針、31はウェハ、32はウェハアライン
メント光学系、33はXYステージ、34は基準マーク
、35はITVカメラ、36はHe−Neレーザ光源を
示す。XYステージ33はX方向とY方向に移動可能な
公知のステージである。
縮小投影型露光装置のアラインメント方式は2つに大別
され、1つはオフ・アクシス方式であり、それは第2図
を参照すると、レチクルの位置決めは上側に設けられた
Rxy、 Rσで示された2本のアラインメント光学系
で行い、ウェハの方は、レチクル側とは独立し・たHx
、 Wy、 Hσの3本の顕微鏡で位置決めを行う。し
かる後に、ウェハをのせたステージを移動させ、その移
動量はレーザ干渉計によって測定しながら定められた露
光位置へ送り込む。
オフ・アクシス方式は専用の顕微鏡を用いて良好なSN
の信号を得ることができるが、2つの問題がある。1つ
は、アラインメント完了後ウェハを露光位置すなわち投
影レンズの光軸の位置へ移動させなければならない。そ
の間の移動量はレーザ干渉針で測定されてはいるものの
、ウェハ31をのせたXYステージ33にヨーイングが
あると無視できない誤差が出る。これを避けるためにW
x、’Wy、W&の3本の顕微鏡をそれぞれ光軸を通る
X軸、Y軸上に配置し、いわゆるアツベの誤差を除去す
る構j        造となっている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
現在の露光装置、特にステッパー装置はウェハの直径骨
の移動距離が必要であるので、ウェハの大口径化にとも
なって移動ステージ(XYステージ)も大になり、精度
が悪くなり、露光装置全体が大型化する問題がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記問題点を解消した露光装置を提供するも
ので、その手段は、ステッパー装置による露光において
、ウェハが載置されたウェハステージのXY方向移動に
よりウェハの 1/2.1/4.、。
1/n(ただしnは正の整数)部分を露光した後に、当
該ウェハステージを操作してウェハをそれぞれ1/ 2
.1/ 4... ’1/ n回転させ前記した露光を
行い、以下かかる操作を繰り返しウェハ全面を露光する
構成としたことを特徴とする露光装置によってなされる
〔作用〕
上記露光装置特にステッパー装置は、露光をなすときに
試料例えばウェハを1/ 2.1/ 4...1/ n
ル 回転させ、例えばX方向のステージの動きを減すること
によりうエバステージの移動距離をすくなくし、XYス
テージの小型化と高精度化を実現するものである。
〔実施例〕
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
本発明は、ステッパー装置がチップを1個ずつ露光して
行くことを利用して、露光の際に、ウェハを1/2.1
/、4...回転させて、ウェハステージの移動距離を
少なくしようとするものであり、その目的T:XYスー
j−−ジ33を1/2.1./4...回転させる。
ウェハを1/2回転する実施例を第1図を参照して説明
する。
先ず第1図(a)に示される如く、ウェハ31の上半部
分を露光する。そのために、ウェハステージは図の最上
列左端にあるチップ31aに始まり1チップ分ずつX方
向に移動して最右端のチップ31mを露光する。なお、
図においては簡略化のためチップは模式的に犬なる寸法
で示す。
次いで、チップ31mからY方向に1チップ分移動し、
前とは逆のX方向に移動する。またはそれに代えて、チ
ップ31aの下のチップのところに、移動し、X方向に
最初に述べたと同様に移動してもよい。
上記の如くにしてウェハの上半部分の露光がすべて終る
と、ウェハ31を1/2回転し、第3図(ト))に示さ
れる如く残りの手部分を露光する。かかる露光方法によ
ると、ウェハステージは、X方向にウェハの直径骨だけ
移動するが、Y方向にはウェハの直径の半分の距離を移
動するだけでよい。
ウェハを1/4回転させる実施例は第2図に示され、先
ず同図(alに示される如くウェハの左上1/4部分を
チップ41aから41nまで露光し、次いでウェハを1
/4回転し同図(b)に示される如く第4図(alで露
光された部分の下の1/4部分を前と同様に露光し、次
いで同図(C)に示される如く次の1/4部分を露光し
、最後に同図fdlに示される如(残りの1/4部分を
露光する。この例において、ウェハステージは、X方向
とY方向にウェハの直径の半分の距離だけ移動すればよ
い。なお第2図においても、チップは模式的に大なる寸
法で図示した。
第3図に示される実施例においては、先ず同図fa)に
示される如くウェハの半径方向の最外側のチップ51a
を露光する。次にウェハを1/n回転し同図fb)に示
される如くウェハの半径方向最外側のチップ52aを露
光し、順次この操作を繰り返してチップ51aに戻ると
、ウェハの半径方向にチップ51aの真直ぐ下に位置す
るチップ51bを露光し、順次前述した露光をウェハの
中心部分の近くまで繰り返す。
または上記に代えて、ウェハの半径方向にウェハの中心
に最も近いチップから露光を始め、上記したと同じ操作
を繰り返してもよい。露光を外側から始めるか中心近く
から始めるかは適宜選択するが、ウェハの中心近くでは
ウェハの回転を適宜変更するとよい。
I        かくすることによって、ウェハステ
ージのX方向の移動はウェハ直径の半分かまたはOとな
り、Y方向の移動はウェハ直径の半分に減少されるので
、装置の小型化が実現され、コストが低減され、精度が
高められる。
上記はウェハの露光についての例であったが、本発明の
適用範囲はその場合に限定されるものではなく、検査装
置等にも通用可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、露光または検査目
的等のためのウェハステージの操作において、ウェハを
1/2.1/ 4...1/ n回転させることにより
同ステージのX方向移動はウェハ直径の1/2かまたは
0に、またY方向移動はウェハ直径の1/2に減少され
るので、装置の小型化と精度を高めるに効果大である。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 (bl、第2図+alないしくdl
、第3図(a)。 [b)は本発明によるウェハの回転を示す平面図、第4
図は従来の縮小露光装置の配置図である。 図において、31はウェハ、33はXYステージ、  
         □“131a 、、、31m、  
41a、、、41n 、 51a、  51b、  5
2a、  52bはチップをそれぞれ示す。 代理人 弁理士  松 岡 宏四部\;二j−,,,−
,j第1図 第2図 第3図 ■

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェハが載置されたウェハステージのXY方向移動によ
    りウェハの1/2、1/4...1/n(ただしnは正
    の整数)部分を露光した後に、当該ウェハステージを操
    作してウェハをそれぞれ1/2、1/4....1/n
    回転させ前記した露光を行い、以下かかる操作を繰り返
    しウェハ全面を露光する構成としたことを特徴とする露
    光装置。
JP59130434A 1984-06-25 1984-06-25 露光装置 Granted JPS618923A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59130434A JPS618923A (ja) 1984-06-25 1984-06-25 露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59130434A JPS618923A (ja) 1984-06-25 1984-06-25 露光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS618923A true JPS618923A (ja) 1986-01-16
JPH0469408B2 JPH0469408B2 (ja) 1992-11-06

Family

ID=15034142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59130434A Granted JPS618923A (ja) 1984-06-25 1984-06-25 露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS618923A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62102522A (ja) * 1985-10-29 1987-05-13 Canon Inc 露光方法および装置
JPH04105069U (ja) * 1991-02-18 1992-09-10 株式会社東芝 エレベータ
JPH04127781U (ja) * 1991-05-13 1992-11-20 フジテツク株式会社 エレベータかご室の芳香装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62102522A (ja) * 1985-10-29 1987-05-13 Canon Inc 露光方法および装置
JPH04105069U (ja) * 1991-02-18 1992-09-10 株式会社東芝 エレベータ
JPH04127781U (ja) * 1991-05-13 1992-11-20 フジテツク株式会社 エレベータかご室の芳香装置

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Publication number Publication date
JPH0469408B2 (ja) 1992-11-06

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