JPS618786A - メモリ制御方式 - Google Patents
メモリ制御方式Info
- Publication number
- JPS618786A JPS618786A JP59127826A JP12782684A JPS618786A JP S618786 A JPS618786 A JP S618786A JP 59127826 A JP59127826 A JP 59127826A JP 12782684 A JP12782684 A JP 12782684A JP S618786 A JPS618786 A JP S618786A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- write
- read
- rams
- scan chain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は情報処理システムにおけるメモリンステムの制
御方式に関する。
御方式に関する。
近年半導体技術特に集積化技術の発達に伴い、1パツケ
ージに多数の論理回路ン搭載し、て高度の論理制御機能
またはデータ蓄積機能ケ実現する例えばマイクロプロセ
ッサ(MPU)や256にビット(Kb)のランダムア
クセスメモリ(RAM)か低コストで提供されるように
なった。
ージに多数の論理回路ン搭載し、て高度の論理制御機能
またはデータ蓄積機能ケ実現する例えばマイクロプロセ
ッサ(MPU)や256にビット(Kb)のランダムア
クセスメモリ(RAM)か低コストで提供されるように
なった。
これ等の高集積回路素子(LSI)または複数のLSI
を搭載して更に上位の論理機能を実現する中間実装体、
例えば印刷配線板においては一定の物理的寸法の下でこ
れ等高t#iW災装における論理回路のデータ入出カケ
実現するのでこれ等のデーl入出力接続におけるビン数
か著しく制限される事態ン招くようになった。
を搭載して更に上位の論理機能を実現する中間実装体、
例えば印刷配線板においては一定の物理的寸法の下でこ
れ等高t#iW災装における論理回路のデータ入出カケ
実現するのでこれ等のデーl入出力接続におけるビン数
か著しく制限される事態ン招くようになった。
従来よりLSlf、rCはLSI乞搭ト就する印刷配線
初レベルにおいて、例えばMPUに内蔵する、RAM
ま1こはMPUより見て同一印刷配線板上に搭載する外
けRAMK#積する文字または図形デー・りについてデ
ータ交替のための書込み(以下AL−TgRと略)まK
は表示出力のための読出しく以ド])ISPLAYと略
)においては、文字/図形データの属性毎にRAMの制
御巣位とするので、該゛属性の拌頑即ちRAMの制御単
位数か増え各制御単位のRAM毎に説出し/′4込みの
信号線乞必要とする、 )11】ち1tAM単位当り接地縁(GND)ならびに
・電源供給線(Vcc)の他、データ入力と出カン切遺
えて供用するデータ入出力1に対線(Ilo)に凶えは
8ビツト、+CAM4位当りの記憶答1kを64Kb(
8bx8KW)(!:Lそo)BKsVw例工ば28×
25により展開する場合ではアドレスデータ(ADD)
に13ピッhv要すので、Ilo、ADDン共通線によ
ってもRA IVI単位数がn個となると記憶システム
として入用な総ビン数N=2n+8+13+2(GND
+Vcc)”を準備する必要があった。
初レベルにおいて、例えばMPUに内蔵する、RAM
ま1こはMPUより見て同一印刷配線板上に搭載する外
けRAMK#積する文字または図形デー・りについてデ
ータ交替のための書込み(以下AL−TgRと略)まK
は表示出力のための読出しく以ド])ISPLAYと略
)においては、文字/図形データの属性毎にRAMの制
御巣位とするので、該゛属性の拌頑即ちRAMの制御単
位数か増え各制御単位のRAM毎に説出し/′4込みの
信号線乞必要とする、 )11】ち1tAM単位当り接地縁(GND)ならびに
・電源供給線(Vcc)の他、データ入力と出カン切遺
えて供用するデータ入出力1に対線(Ilo)に凶えは
8ビツト、+CAM4位当りの記憶答1kを64Kb(
8bx8KW)(!:Lそo)BKsVw例工ば28×
25により展開する場合ではアドレスデータ(ADD)
に13ピッhv要すので、Ilo、ADDン共通線によ
ってもRA IVI単位数がn個となると記憶システム
として入用な総ビン数N=2n+8+13+2(GND
+Vcc)”を準備する必要があった。
ALTER/DISPLAYにおけるメモリ制御は高密
度実装の特徴ン失うことなくビン数が出来るだけ少いこ
とが望ましい。
度実装の特徴ン失うことなくビン数が出来るだけ少いこ
とが望ましい。
従来においては上記のRAMn個VLSIまKは印刷配
線板に収容しようとするとLSIまたは印刷配線板にお
ける入出力接続ビン数の制限に接触して高密度実装の利
点ン生かせない問題点が存在する。こ\でALTER/
DISPLAYにおけるデータ転送速度が通常5Mb/
sレベル以下であることに着目しデータ転送速度ン損う
ことな(、RAM単位数nにおいてもビン数ン最小限に
収容するメモリ制御方式を提供しようとするものモある
。
線板に収容しようとするとLSIまたは印刷配線板にお
ける入出力接続ビン数の制限に接触して高密度実装の利
点ン生かせない問題点が存在する。こ\でALTER/
DISPLAYにおけるデータ転送速度が通常5Mb/
sレベル以下であることに着目しデータ転送速度ン損う
ことな(、RAM単位数nにおいてもビン数ン最小限に
収容するメモリ制御方式を提供しようとするものモある
。
この目的は、記憶システムにおける制御部はランダムア
クセスメモリの該単位毎に備えた入力、アドレス、出力
データケ一時蓄積′″fる各手段ならびに書込み/読出
し動作の有効/無効を選択する手段と共に縦続接続して
スキャンチェーンをm成し、該制御部はスキャングロッ
ク乞送出するクロック発生手段ビ介し該スキャンチェー
ンのシフトc山作を制御して任意のランダムアクセスメ
モリ単位ケ選択[2、データの入力または…力動作乞ス
ギヤンイン/アウトにより実行せしめる本発明によって
達成される。
クセスメモリの該単位毎に備えた入力、アドレス、出力
データケ一時蓄積′″fる各手段ならびに書込み/読出
し動作の有効/無効を選択する手段と共に縦続接続して
スキャンチェーンをm成し、該制御部はスキャングロッ
ク乞送出するクロック発生手段ビ介し該スキャンチェー
ンのシフトc山作を制御して任意のランダムアクセスメ
モリ単位ケ選択[2、データの入力または…力動作乞ス
ギヤンイン/アウトにより実行せしめる本発明によって
達成される。
以下図面ン参照】−7つつ本発明の一実施例について説
明する。
明する。
図は本発明の一実施例におけるメモリ制御方式によるブ
ロック図である。サービスプロセッサ(SVP)1は外
部からの要求に伴い構成各部をしてRAM3 a =
nより任意のRAM例えばRAMaY選択してALT’
ER/DISPLY Tt制御する機能である。
ロック図である。サービスプロセッサ(SVP)1は外
部からの要求に伴い構成各部をしてRAM3 a =
nより任意のRAM例えばRAMaY選択してALT’
ER/DISPLY Tt制御する機能である。
また図示省略したが複数ビットのシフトレジスタl内蔵
し、該内蔵レジスタはフリップフロラ1回路(FF)7
n〜7a1書込データレジスタ(WDKEG)4a、ア
ドレスデータレジスタ(AD REG)6a、市も出し
データレジスタ(RD REG)5a・・・・・・WD
REG4n、AD REG6n、RD REG5n’
ft縦続し再び該内蔵レジスタに戻って、この図では時
計廻りに一巡1′るスキャンチェーンン構成しており、
該スキャンチェーンにおけるデータは別途SVP 1の
制御に従って送出するスキャンクロック発生部2よりの
スキャンクロック(SCLK)の1クロツク毎に1ステ
ツプずつシフト動作ン実行する。従つ −て5VPI
の内蔵レジスタに逐−設定するスキャンインデータ(S
I )は5CLKに従ってスキャンチェーン上の任意の
RKG6a=n、4a−nならびにFF7a〜nにシフ
トされ設定することか出来る。
し、該内蔵レジスタはフリップフロラ1回路(FF)7
n〜7a1書込データレジスタ(WDKEG)4a、ア
ドレスデータレジスタ(AD REG)6a、市も出し
データレジスタ(RD REG)5a・・・・・・WD
REG4n、AD REG6n、RD REG5n’
ft縦続し再び該内蔵レジスタに戻って、この図では時
計廻りに一巡1′るスキャンチェーンン構成しており、
該スキャンチェーンにおけるデータは別途SVP 1の
制御に従って送出するスキャンクロック発生部2よりの
スキャンクロック(SCLK)の1クロツク毎に1ステ
ツプずつシフト動作ン実行する。従つ −て5VPI
の内蔵レジスタに逐−設定するスキャンインデータ(S
I )は5CLKに従ってスキャンチェーン上の任意の
RKG6a=n、4a−nならびにFF7a〜nにシフ
トされ設定することか出来る。
従って書込有効信号(WE)としてlが送出されるとき
、例えばFF7aに1が設定されAND Y介しRAM
3aが書込み状態で選択されたとき&’!ADREG6
aに設定されkS工に従いWD RgG 4aにSIさ
れたデータが該RAM3aに書込まれる。
、例えばFF7aに1が設定されAND Y介しRAM
3aが書込み状態で選択されたとき&’!ADREG6
aに設定されkS工に従いWD RgG 4aにSIさ
れたデータが該RAM3aに書込まれる。
同様にFF6aに1が設定され、靜に変えて絖出し有効
信号(01)が送出されAND’に介しRAM’3a
が読出し状態で選択されたときはAD REG6aに
設定されrs SIに伴うアドレス位置によるRAM3
aの蓄積データが送出されRDREG5aに設定される
ので、5VPIはスキャンクロツタ発生部2ンして5C
LK′ft送出せしめてスキャンチェーンにシフト動作
ン実行させ該RDREG5aに取込んだデータン内蔵レ
ジスタにスキャンアウトデータ(So)として読出すこ
とが出来る。
信号(01)が送出されAND’に介しRAM’3a
が読出し状態で選択されたときはAD REG6aに
設定されrs SIに伴うアドレス位置によるRAM3
aの蓄積データが送出されRDREG5aに設定される
ので、5VPIはスキャンクロツタ発生部2ンして5C
LK′ft送出せしめてスキャンチェーンにシフト動作
ン実行させ該RDREG5aに取込んだデータン内蔵レ
ジスタにスキャンアウトデータ(So)として読出すこ
とが出来る。
本実施例では以上のように構成されているので5VPI
は外部からのALTgR/DISPLAY要求にRAM
3 a = Hより任意のRAMY選択してSI/SO
として入出力することが出来る。
は外部からのALTgR/DISPLAY要求にRAM
3 a = Hより任意のRAMY選択してSI/SO
として入出力することが出来る。
本方式によるデータの入出力はシフト方式によるスキャ
ンイン/アウトとなるので5CLK(7)1クロツク毎
に1ビツトの直列伝送になり該5CLKのサイクルタイ
ムとして200ns即ち5Mb/s程度の伝送速度とは
なるがALTER/DISPLAYの目的には充分の仕
様であり、一方n個のRAM単位に対して本発明による
記憶システムのメモリ制御方式では入出力動作のための
必要ビン数N a = 2(SI +SO)+2(Wg
+OE)+2(SCLK)+2(GND +’Vc c
)の8本となり、RAM単位数のn個に関係f、r<
n乞例えば8個としL;とき従来の必要ビン数N8=3
9に対し1/4以下に削減するメモリ制御方式が得られ
る。
ンイン/アウトとなるので5CLK(7)1クロツク毎
に1ビツトの直列伝送になり該5CLKのサイクルタイ
ムとして200ns即ち5Mb/s程度の伝送速度とは
なるがALTER/DISPLAYの目的には充分の仕
様であり、一方n個のRAM単位に対して本発明による
記憶システムのメモリ制御方式では入出力動作のための
必要ビン数N a = 2(SI +SO)+2(Wg
+OE)+2(SCLK)+2(GND +’Vc c
)の8本となり、RAM単位数のn個に関係f、r<
n乞例えば8個としL;とき従来の必要ビン数N8=3
9に対し1/4以下に削減するメモリ制御方式が得られ
る。
以上説明したように本発明によればA L T E R
/DISPLAYに使用する記憶システムにおいて、伝
送速度の点では必要仕様ン確保しつ\従来のメモリ制御
方式における必要ビン数を大幅に削減するメモリ制御方
式ン提供することが出来るっ
/DISPLAYに使用する記憶システムにおいて、伝
送速度の点では必要仕様ン確保しつ\従来のメモリ制御
方式における必要ビン数を大幅に削減するメモリ制御方
式ン提供することが出来るっ
図は本発明の一実施例におけるメモリ制御方式によるブ
ロック図である。図において、1はサービスプロセッサ
(SVP) 2はスキャンクロック発生回路
ロック図である。図において、1はサービスプロセッサ
(SVP) 2はスキャンクロック発生回路
Claims (1)
- 複数の制御単位による構成するランダムアクセスメモ
リの単位毎にデータ交替のための書込みならびに表示出
力のためのデータ読出しを実行する記憶システムにあっ
て、該システムの制御部はランダムアクセスメモリの該
単位毎に備えた入力、アドレス、出力データを一時蓄積
する各手段ならびに書込み/読出し動作の有効/無効を
選択する手段と共に縦続接続してスキャンチェーンを構
成し、該制御部はスキャンクロックを送出するクロック
発生手段を介し該スキャンチェーンのシフト動作を制御
して任意のランダムアクセスメモリ単位を選択すると同
時に書込みデータ、書込みアドレス〆読出しアドンスを
設値し、かつサービスプロセッサからの書込み有効信号
によりデータ交替のためのデータ書込み動作を実行し、
またはサービスプロセッサからの読出し有効信号とスキ
ャンチェーンのシフト動作により設定した読出しアドレ
スのデータ読出し動作を実行せしめることを特徴とする
メモリ制御方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59127826A JPS618786A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | メモリ制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59127826A JPS618786A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | メモリ制御方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS618786A true JPS618786A (ja) | 1986-01-16 |
JPH0150036B2 JPH0150036B2 (ja) | 1989-10-26 |
Family
ID=14969623
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59127826A Granted JPS618786A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | メモリ制御方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS618786A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7205815B2 (en) | 2003-11-25 | 2007-04-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and integrated circuit apparatus for reducing simultaneously switching output |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP59127826A patent/JPS618786A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7205815B2 (en) | 2003-11-25 | 2007-04-17 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and integrated circuit apparatus for reducing simultaneously switching output |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0150036B2 (ja) | 1989-10-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4128234B2 (ja) | メモリ素子、処理システム、メモリ素子を制御する方法およびダイナミックランダムアクセスメモリを操作する方法 | |
KR890013648A (ko) | 내부적으로 기입신호발생기능을 갖는 반도체 메모리장치 | |
JPH05282192A (ja) | Dramインタフェースアダプタ回路 | |
KR100546335B1 (ko) | 데이터 반전 스킴을 가지는 반도체 장치 | |
EP1026692A3 (en) | Data output buffers in semiconductor memory devices | |
US4667310A (en) | Large scale circuit device containing simultaneously accessible memory cells | |
KR950034777A (ko) | 반도체 기억장치 | |
JPS61239491A (ja) | 電子装置 | |
EP1220077A2 (en) | Data processing apparatus and memory card using the same | |
KR100237565B1 (ko) | 반도체 메모리장치 | |
JP2744154B2 (ja) | バスシステム | |
JPS6244284B2 (ja) | ||
KR920010621A (ko) | 데이타 레지스터 및 포인터와 감지 증폭기 유닛을 공유하는 반도체 메모리 장치 | |
JP4313488B2 (ja) | 半導体装置 | |
US4905240A (en) | Semi-custom-made integrated circuit device | |
JPS618786A (ja) | メモリ制御方式 | |
US5177573A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
US5179713A (en) | Apparatus for allowing external control of local bus read using zero wait stats input of combined I/O and DRAM controller | |
US5926424A (en) | Semiconductor memory device capable of performing internal test at high speed | |
US5926519A (en) | Semiconductor integrated circuit including dynamic registers | |
JPS6085500A (ja) | 高集積回路素子内蔵メモリの試験方式 | |
US6477608B1 (en) | Interface circuit for transferring data on bus between modules of integrated circuit with reduced delay | |
JPH04302165A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH0672910B2 (ja) | テストパタ−ンメモリ回路 | |
JPS63106989A (ja) | 半導体記憶装置 |