JPS6186649A - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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Publication number
JPS6186649A
JPS6186649A JP59208005A JP20800584A JPS6186649A JP S6186649 A JPS6186649 A JP S6186649A JP 59208005 A JP59208005 A JP 59208005A JP 20800584 A JP20800584 A JP 20800584A JP S6186649 A JPS6186649 A JP S6186649A
Authority
JP
Japan
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inspected
ultrasonic
light
ultrasonic wave
wave beam
Prior art date
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Pending
Application number
JP59208005A
Other languages
English (en)
Inventor
Ichiro Furumura
古村 一朗
Satoshi Nagai
敏 長井
Taiji Hirasawa
平沢 泰治
Masashi Takahashi
雅士 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP59208005A priority Critical patent/JPS6186649A/ja
Publication of JPS6186649A publication Critical patent/JPS6186649A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/30Arrangements for calibrating or comparing, e.g. with standard objects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は水浸探傷において被検査体内に超首波が入射す
る位置を適確に判折できる超音波探傷装置艦−関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
金属材料等の内部C;存在する欠陥を検出するための超
音波ビームC:おいてべ超音波探触′f(以後探触子と
称す)と被検査体の間に接触媒質の膜を作ることC:よ
り安定した探傷な行う直接接触法と、被検査体を水槽等
に水没させるか又は局部的≦二そのような状態を作る水
浸法が用いられる。直接接触法においては超音波が被検
査体内に入射する位置は探触子の入射点位置の直下であ
るので明fil二認識でき、従って被検査体内の探傷経
路も容易に知ることができる。他方、水浸法においては
第5因≦;示す如く水槽l内に固定した被検査体2の表
面より離して探触子3を設置し、水等の伝音媒質4を介
して被検査体内艦−超音波ビームを入射させるために、
被検量体表面I:おける超音波ビームの入射位置が分か
りin<<、従って被検査体内部における探渦経路即ち
どの部分を探傷しているのか判断に苦しむ事が通例であ
る。この場合、一般(二11探触子3の外壁に棒状の治
具等5を手で当てがい、この棒状治具5の先端が被検査
体2の表面に接する位置6から超音波ビーム7の入射点
8を推定し被検査体表面ユおける超音波ビームの経路7
′を推定するという手段を収ることが多い。この様な手
段では・超音波ビームの入射角や被検査体2と探触子3
の距離を変えるたびC:前記手段書;よる推定を行わね
ばならず、最適探傷条件の選定に多大な時間を要すると
いう欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情Cff1みてなされたもので、被検査
体表面における超音波ビームの入射点を光により視覚的
に判断することを可能とし、ひいては被検査体内の探傷
経路を分かり易くすることにより水浸探傷にお(する検
査効率を向上させることが可能な超音波探触子を提供す
ることを目的とする。
〔発明の概要〕
本発明による超音波探傷装置tマ探触子の中心部に軸方
向シー沿った小口径の穴と、この内部にレーザ光等の光
へまたは外部より導かれた光源の開口部と、この光を細
くかつ平行な光ビームにして超音波ビームの放射方向と
同一方向に元ビームを放射するレンズ系より構成し、光
ビームが被検査体表面を照射する位置を可視化すること
により超音波ビームの入射点および被検置体内部におけ
る探傷経路を明らか(ユし、迅速な水浸超音波探傷がで
きるよう!ニする。
〔発明の実施例〕
(実施例の構成) 、以下1本発明C:係る超音波探傷装置の実施例を第1
図および第2図を参照して説明する。
第11/Cおいて超音波探触子3を構成する振動子9お
よび振動子の背面+’=存在するバッキング材lOの中
心軸上に設けらrL、た小口径の穴の中には半導体レー
デ等の光源11と、発生した光を細(かつ平行にする為
のレンズ系12を有することCユより、超音波ビームと
同一方向に細く平行な光ビーム13を放射する。光源1
1は電源線144二よりコネクター15を介して外部の
光源用電源16と接続される。なお振動子用の信号線1
7は通常の探触子と同様にコネクター18を介して超音
波探傷器19に接続される。
光ビームの光源として第1図(二おいて11探触子3に
内蔵した構造としたが、第2図に示す如く光フアイバー
ケーブル20等により外部のレーザ光源等の光源21よ
り探触子内に導びいても同様の機能な以たすことが可能
である。
(実施例の作用と効果) 上記構成とすることにより、第3図に示すように探触子
3より放射さnた超音波ビーム7を求目に見えず超音波
ビームの被検歪体表面≦二おける入射位置は見えないが
、超音波と−ム7の中心軸上のレンズ系12より放射さ
れ同一方向に進む光ビーム13を求被検査体表面上CR
点を描くため、その点が超音波ビームの入射点8である
ことを容易に判断することができる。従って被検査体表
面に輝点として描かれた上記の入射点8と入射角や媒質
および被検査体の音響的定数より理論式を用いることに
より、被検査体表面C:お(する超音波ビームの経路7
′即ちどの部位を探傷しているのかについて容易(二推
定することができる。
(他の実施例) 次に第4因を参照して他の実施例を説明する。
すなわち、探触f3の中心部1:存在する小口径の穴の
内!4二は、光源11または外部より尋びかれに光源の
開口部のItnc、上記光源11より放射さ3た光ビー
ム13が被検査体表面を照射した後に反射してくる光を
受光し電気信号(:変換するための71−フミラー22
と受光素子おを内蔵した構成とする。
被検査体表面より反射してくる光の強度を求光ビーム1
3を入射する際の入射角θ≦二より腿化するために受光
素子23+二より検出された光の強度を測定することシ
ニより入射角θをデジタルの入射角表示器24(−表示
することができる為に、M音波ビーム7および被検置体
内部における経路7′のみならず入射角をも連続的にモ
ニターすることが可能となり、より適確な探傷な継続す
ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば水浸用超音波探馳子
の中心部より超音波ビームと同一方向6;細くかつ平行
な元ビームを放射する構成としたことにより、MA音波
ビームの被検査体表面における入射点および被検査体内
部における探傷経路を容易に判断できる之め、従来は探
傷位置や条件の設定に時間を要した水浸超音波探傷≦二
おける検盆効坐を向上させることか可能となる。更に被
検益体表面を照射した光ビームの反射光の強度を計測す
ることによりMAd波ビームの入射角を連続的(ニモニ
ターできるために、適確な探傷な継続することができ、
水浸探傷の正確さと効率的な探4におよぼす効果に大で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の超音波探傷装置の一笑絶倒をホす図、
第2図は他の実施例の図、第3図に作用を説明する図%
第4図は更に他の実施例の構成および作用を説明する因
、第5図を工従来の装置による探傷状況を示す凶である
。 2・・・被検査体     3・・・探触子7・・・超
音波ビーム   7′・・・被検査体内の超音波ビーム
径路    8・・・入射点11・・・光源     
  12・・・レンズ系13・・・光ビーム     
19・・・超音波探傷器20・・・光ファイバー   
お・・・受光菓子冴・・・入射角表示器。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 (ほか1名) 第1図    第2図 第3図 /A 第4図    /φ 第5図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査体に超音波ビームを放射する振動子を外面
    に有し前記超音波ビームの中心軸に沿つて光を照射する
    光源を内部に有する探触子と、前記振動子に超音波電気
    信号を送る探傷器と、前記光源用の電源とを備えたこと
    を特徴とする超音波探傷装置。
  2. (2)被検査体に超音波ビームを放射する振動子を外面
    に有し前記超音波ビームの中心軸に沿つて光を照射する
    光源とこの光の被検査体からの反射光を受ける受光素子
    とを内部に有する探触子と、前記振動子に超音波電気信
    号を送る探傷器と、前記光源用の電源と、前記受光素子
    からの信号を受けて前記超音波ビームの被検査体への入
    射角を表示する入射角表示器とを備えたことを特徴とす
    る超音波探傷装置。
JP59208005A 1984-10-05 1984-10-05 超音波探傷装置 Pending JPS6186649A (ja)

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JP59208005A JPS6186649A (ja) 1984-10-05 1984-10-05 超音波探傷装置

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JPS6186649A true JPS6186649A (ja) 1986-05-02

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ID=16549091

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JP59208005A Pending JPS6186649A (ja) 1984-10-05 1984-10-05 超音波探傷装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104792882A (zh) * 2015-04-03 2015-07-22 上海和伍新材料科技有限公司 利用激光笔进行超声探头定位的装置和方法
CN104792884A (zh) * 2015-04-03 2015-07-22 上海和伍新材料科技有限公司 超声检测中激光笔与超声探头相对位置的标定装置与方法
CN105467011A (zh) * 2015-12-09 2016-04-06 上海复合材料科技有限公司 一种超声c扫描检测中缺陷位置精确定位方法
CN105891114A (zh) * 2016-05-25 2016-08-24 广西科技大学 用于测量散射光谱的比色皿及其光学系统

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