JPS61184454A - 基準反射体付超音波探触子 - Google Patents
基準反射体付超音波探触子Info
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- JPS61184454A JPS61184454A JP60024903A JP2490385A JPS61184454A JP S61184454 A JPS61184454 A JP S61184454A JP 60024903 A JP60024903 A JP 60024903A JP 2490385 A JP2490385 A JP 2490385A JP S61184454 A JPS61184454 A JP S61184454A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、一探触子法で超音波探傷を行ない、得られ
た反射エコーを超音波周波数分析することによって被検
材中の欠陥寸法等を測定する方法において有効に使用す
ることができる基準反射体付超音波探触子に関するもの
である。
た反射エコーを超音波周波数分析することによって被検
材中の欠陥寸法等を測定する方法において有効に使用す
ることができる基準反射体付超音波探触子に関するもの
である。
〈従来の技術〉
一探触子法で超音波探傷する際に、被検材表面からの表
面エコーと被検材中の欠陥からの欠陥エコーとを受信し
、これら２つのエコー信号の時間差を周波数分析するこ
とによって、欠陥寸法を測定する方法とその装置につい
ては、本願の出願人により提案されている（特願昭月）
。
面エコーと被検材中の欠陥からの欠陥エコーとを受信し
、これら２つのエコー信号の時間差を周波数分析するこ
とによって、欠陥寸法を測定する方法とその装置につい
ては、本願の出願人により提案されている（特願昭月）
。
この方法について、いよ少し詳しく説明する。
第７図Ａに示すように、一般に超音波探触子１内の撮動
子２から入射角φで被検（Ａ３（厚さＤ）に入射した超
音波の発振パルス下は、被検材表面３１で屈折角θで屈
折したのち被検材中を進み、欠陥４（欠陥寸法ｄ１）の
先端で反射して欠陥エコー［が生ずる。このとき、超音
波の発振パルスＴの一部は被検材表面３１で反射して表
面エコーＳが生ずる。これらの反則エコーは、第７図Ｂ
に示すような時間差ｔ２をもつ表面エコーＳと欠陥エコ
ーＦとして探触子１の撮動子２で受信される。なお、図
中の符号ｄ２は被検材表面から欠陥までの距離、ｔｌは
発振パルスＴと表面エコーＳとの時間差、Ｗは超音波ビ
ーム路程を表わり。
子２から入射角φで被検（Ａ３（厚さＤ）に入射した超
音波の発振パルス下は、被検材表面３１で屈折角θで屈
折したのち被検材中を進み、欠陥４（欠陥寸法ｄ１）の
先端で反射して欠陥エコー［が生ずる。このとき、超音
波の発振パルスＴの一部は被検材表面３１で反射して表
面エコーＳが生ずる。これらの反則エコーは、第７図Ｂ
に示すような時間差ｔ２をもつ表面エコーＳと欠陥エコ
ーＦとして探触子１の撮動子２で受信される。なお、図
中の符号ｄ２は被検材表面から欠陥までの距離、ｔｌは
発振パルスＴと表面エコーＳとの時間差、Ｗは超音波ビ
ーム路程を表わり。
この場合の欠陥ス」法ｄ１は次式で表わ１こ、とができ
る。
る。
ここでＣは被検材中の超音波の音速である。
すなわち、通常の測定法では、ｔ２を知って上式により
ｄｌを求めていたから、表面エコーＳと欠陥エコー［と
が近接したり重なるようなときにはｔ、を正確に知るこ
とができず、ｄｌを求め難くしていた。
ｄｌを求めていたから、表面エコーＳと欠陥エコー［と
が近接したり重なるようなときにはｔ、を正確に知るこ
とができず、ｄｌを求め難くしていた。
これに対し、表面エコーＳとそのつぎに現われる欠陥エ
コー［どの時間差ｔ２を周波数分析Ｊる場合には次式が
成立する。
コー［どの時間差ｔ２を周波数分析Ｊる場合には次式が
成立する。
に
こでΔｆは周波数分析により１ｑられた周波数スペク１
〜ルの極大値を示す周波数間隔である。
〜ルの極大値を示す周波数間隔である。
つまり、（１）式における時間差ｔ２を、（２）式では
Ａ１に変換することができ、八ｆはｔ２よりも明瞭かつ
正確に知ることができるので、表面エコーＳと欠陥エコ
ーＦが近接したり重なるようなときにも、正確に欠陥寸
法ｄ１を求めることができる訳である。
Ａ１に変換することができ、八ｆはｔ２よりも明瞭かつ
正確に知ることができるので、表面エコーＳと欠陥エコ
ーＦが近接したり重なるようなときにも、正確に欠陥寸
法ｄ１を求めることができる訳である。
〈発明が解決しようとする問題点〉
上述した方法においては、欠陥エコーとともに表向エコ
ーを受信することが不可欠であるが、探旧条件によって
は表面エコーを受信できない揚台がおる。すなわち、被
検材に入射する超音波の入射角φまたは屈折角θが大き
くなると、被検４Ａ表面での反射波はすべて前方に反射
するため、一探触子法では受信不能で、したがって肝心
な表面エコーそれ自体が得られず、上述の方法によって
は欠陥寸法の測定が不可能となってしまう。
ーを受信することが不可欠であるが、探旧条件によって
は表面エコーを受信できない揚台がおる。すなわち、被
検材に入射する超音波の入射角φまたは屈折角θが大き
くなると、被検４Ａ表面での反射波はすべて前方に反射
するため、一探触子法では受信不能で、したがって肝心
な表面エコーそれ自体が得られず、上述の方法によって
は欠陥寸法の測定が不可能となってしまう。
この発明の目的は、前）小のごとく表面エコーが受信不
能となるような探傷条件においても、一探触子法での超
音波周波数分断による欠陥検出や欠陥用法の測定を行な
うことができるような工夫を施した超音波探触子を提供
することにある。
能となるような探傷条件においても、一探触子法での超
音波周波数分断による欠陥検出や欠陥用法の測定を行な
うことができるような工夫を施した超音波探触子を提供
することにある。
〈問題点を解決するための手段〉
超音波周波数分析法は、上記したとおり、時間差ｔ２を
周波数分析するものだから、時間差ｔ２を１ｑるための
基準となるものが先ず必要でおる。この基準となるもの
で大切なことは、それが被検材表面で反射した表面エコ
ーか否かではなく、常に一定な位置（時間）で発生ずる
か否かである。発生位置さえ一定であれば、時間差し、
を得るための基準となる条件を充足しているといってよ
い。この発明はこの点に着目してなされたものである。
周波数分析するものだから、時間差ｔ２を１ｑるための
基準となるものが先ず必要でおる。この基準となるもの
で大切なことは、それが被検材表面で反射した表面エコ
ーか否かではなく、常に一定な位置（時間）で発生ずる
か否かである。発生位置さえ一定であれば、時間差し、
を得るための基準となる条件を充足しているといってよ
い。この発明はこの点に着目してなされたものである。
すなわちこの発明は、一探触子法で超音波探傷する際に
使用する探触子で必って、探触子と被検材表面との間の
超音波ビーム路程上に定めた基準点に基準反射体を設置
し、該基準反射体を該探触子に一体的に取付けることに
より該探触子から送信された超音波パルスの一部を再度
。
使用する探触子で必って、探触子と被検材表面との間の
超音波ビーム路程上に定めた基準点に基準反射体を設置
し、該基準反射体を該探触子に一体的に取付けることに
より該探触子から送信された超音波パルスの一部を再度
。
該探触子に反射させるようにした基準反射体付超音波探
触子である。これによって、該探触子から送信された超
音波パルスが被検材中の欠陥により反射されて得られる
欠陥エコーの信号と該基準反射体により反射されて得ら
れる基準エコーの信号とを受信し、該基準エコー信号と
そのつぎに現われる欠陥エコー信号との時間差を周波数
分析することによって欠陥の１法等を測定できるように
したものである。
触子である。これによって、該探触子から送信された超
音波パルスが被検材中の欠陥により反射されて得られる
欠陥エコーの信号と該基準反射体により反射されて得ら
れる基準エコーの信号とを受信し、該基準エコー信号と
そのつぎに現われる欠陥エコー信号との時間差を周波数
分析することによって欠陥の１法等を測定できるように
したものである。
〈実施例〉
この発明の実施例を図面を参照して以下に説明する。
第１図、第２図および第３図は、超音波探触子を被検材
に直接接触させて使用する、シューを備えた直接接触式
の探触子１０の例を示ずそれぞれ斜視図、正面図および
底面図である。通常はアクリル樹脂製のシュー１２は、
被検材と直接接触する面である底面１２ａと、その底面
１２ａ上に中心をもつ半径１マの円弧状をなす湾曲案内
面１２ｂを形成している。探触子１０の取付部材１３は
、該湾曲案内面１２ｂ ［密着して摺動可能で且つ所望
の位置に固定することができるようになっている。シュ
ー１２に対重る取付部材１３の固定位置を任意に変える
ことによって、探触子１０から被検側に向けて発信され
た超音波ビームの入射角φまたは屈折角θは任意に変え
られる。しかし、その超音波ビームは必ず前記した半径
Ｒの湾曲案内面１２ｂを形成する中心を通る。かような
中心位置すなわち基準点と合致ざぜて、半径ｒ１長ざλ
の半円柱状をなす基準反射体１１（第４図参照）がこの
基準反射体１１の円弧面とシュー１２の湾曲案内面１２
ｂとが同心状の関係におるように、シュー１２の底面１
２ａに埋込まれている。そこで探触子１Ｑがら発信した
超音波ビームは基準反射体１１の円弧面に垂直に当り、
その反射波は確実に探触子１０に戻ることになる。つま
り表面エコーの代りをする基準エコーを発生することに
なる。
に直接接触させて使用する、シューを備えた直接接触式
の探触子１０の例を示ずそれぞれ斜視図、正面図および
底面図である。通常はアクリル樹脂製のシュー１２は、
被検材と直接接触する面である底面１２ａと、その底面
１２ａ上に中心をもつ半径１マの円弧状をなす湾曲案内
面１２ｂを形成している。探触子１０の取付部材１３は
、該湾曲案内面１２ｂ ［密着して摺動可能で且つ所望
の位置に固定することができるようになっている。シュ
ー１２に対重る取付部材１３の固定位置を任意に変える
ことによって、探触子１０から被検側に向けて発信され
た超音波ビームの入射角φまたは屈折角θは任意に変え
られる。しかし、その超音波ビームは必ず前記した半径
Ｒの湾曲案内面１２ｂを形成する中心を通る。かような
中心位置すなわち基準点と合致ざぜて、半径ｒ１長ざλ
の半円柱状をなす基準反射体１１（第４図参照）がこの
基準反射体１１の円弧面とシュー１２の湾曲案内面１２
ｂとが同心状の関係におるように、シュー１２の底面１
２ａに埋込まれている。そこで探触子１Ｑがら発信した
超音波ビームは基準反射体１１の円弧面に垂直に当り、
その反射波は確実に探触子１０に戻ることになる。つま
り表面エコーの代りをする基準エコーを発生することに
なる。
基準反射体１１の人きざは、実際に探傷する被検材の検
出すべき最小欠陥のエコーレベルとほぼ同等のレベルの
エコーが１ｑられるように決めるのがよい。このために
は、予め探傷条件を決めるため作った試験片を探傷試験
して欠陥のエコーレベルを知り、これによって基準反射
体１１の大きさを決めるという手順を踏む。検出すべき
欠陥の大きさによって、大きざの違う別な基準反射体に
取換え可能な取付は構造としておけば便利である。
出すべき最小欠陥のエコーレベルとほぼ同等のレベルの
エコーが１ｑられるように決めるのがよい。このために
は、予め探傷条件を決めるため作った試験片を探傷試験
して欠陥のエコーレベルを知り、これによって基準反射
体１１の大きさを決めるという手順を踏む。検出すべき
欠陥の大きさによって、大きざの違う別な基準反射体に
取換え可能な取付は構造としておけば便利である。
基準反射体１１の材質は、被検材の材質に合わせてもよ
いが、タングステン等のような反射効率のよい材料が実
用上好適といえる。また基準反射体１１の形状も第４図
に示したような半円柱状のほか、半球状２球状といった
ものでもよく、要は基準反射体１１での反則波が確実に
探触子１０に戻ることができること、そして基準反射体
１１形状によってノイズが発生したり、欠陥の検出感度
が低下したり、欠陥エコーが隠れたりしないものであれ
ばよく、試験条件に合わせて適宜法めることができる。
いが、タングステン等のような反射効率のよい材料が実
用上好適といえる。また基準反射体１１の形状も第４図
に示したような半円柱状のほか、半球状２球状といった
ものでもよく、要は基準反射体１１での反則波が確実に
探触子１０に戻ることができること、そして基準反射体
１１形状によってノイズが発生したり、欠陥の検出感度
が低下したり、欠陥エコーが隠れたりしないものであれ
ばよく、試験条件に合わせて適宜法めることができる。
尚、探触子１０は所望する周波数のものに交換容易なよ
うに、取付部材１３に対し取換え可能な取付けとすると
よい。
うに、取付部材１３に対し取換え可能な取付けとすると
よい。
直接接触式の探触子は、上記した可変角形式のほか、屈
折角θが３０°、４５°、６０°或いは７０’ といっ
た一つの角度に固定されたものがある。このような探触
子２０の例を第５図に示す。本例の場合も、超音波ビー
ムがシュー２２の底面２２ａと交わる個所に基準反射体
２１を取付けて、基準反射体２１からの反射波が基準エ
コーとして確実に探触子２０に戻るようになっている点
では前例と変わりはない。なお、図中の参照番号２３は
振動子を表わ１゜以上の二つの例の基準反射体１１．２
１は何れも被検材表面に位置するよう取イ」けているが
、基準反射体は必ずしも被検材表面に位置するよう取付
ける必要はなく、要は探触子と被検材表面との間の超音
波ビーム路程上に定めた基準点に位置させさえすればよ
い。例えば第１図乃至第４図に示した実施例において、
基準反射体１１をシュー底面１２ａに取付けずに、シュ
ー底面１２ａより上方のシュー内部の超音波ビーム路捏
上に基準点を定めて、このシ、ニー内部の基準点に基準
反射体１１を位置せしめることもできる。しかしながら
この場合には、シュー１２内と被検祠内とでは超音波の
音速が異なるため、この点についての補正を行なう必要
がある。
折角θが３０°、４５°、６０°或いは７０’ といっ
た一つの角度に固定されたものがある。このような探触
子２０の例を第５図に示す。本例の場合も、超音波ビー
ムがシュー２２の底面２２ａと交わる個所に基準反射体
２１を取付けて、基準反射体２１からの反射波が基準エ
コーとして確実に探触子２０に戻るようになっている点
では前例と変わりはない。なお、図中の参照番号２３は
振動子を表わ１゜以上の二つの例の基準反射体１１．２
１は何れも被検材表面に位置するよう取イ」けているが
、基準反射体は必ずしも被検材表面に位置するよう取付
ける必要はなく、要は探触子と被検材表面との間の超音
波ビーム路程上に定めた基準点に位置させさえすればよ
い。例えば第１図乃至第４図に示した実施例において、
基準反射体１１をシュー底面１２ａに取付けずに、シュ
ー底面１２ａより上方のシュー内部の超音波ビーム路捏
上に基準点を定めて、このシ、ニー内部の基準点に基準
反射体１１を位置せしめることもできる。しかしながら
この場合には、シュー１２内と被検祠内とでは超音波の
音速が異なるため、この点についての補正を行なう必要
がある。
第６図は、探触子と被検（４との間に水を満たして超音
波パルスる、水浸式の探触子３０についての実施例を示
す。この水浸式探触子３０は、図示していない探触子走
査装置により被検材表面から一定間隔おいて被検４Ａを
走査するようになっている。本例では探触子３０の取イ
」治具３２に適宜手段によってＬ型腕体３３の長辺側基
端部が取付いており、そのＬ型腕体３３の短辺側端部に
球状の基準反射体３１が探触子３０で発信した超音波ビ
ーム路程上に正しく位置するよう固着している。Ｌ型腕
体３３の取付治具３２に対する固定位置を加減すること
で、基準反射体３１は探触子３０と被検材の間の超音波
ビーム路程上のどの位置にも設定できる。取付治具３２
の入射角可変部３４を動かし入射角φを変えても、基準
反射体３１からの反則波は基準エコーとして常に探触子
３０に戻ること、勿論である。
波パルスる、水浸式の探触子３０についての実施例を示
す。この水浸式探触子３０は、図示していない探触子走
査装置により被検材表面から一定間隔おいて被検４Ａを
走査するようになっている。本例では探触子３０の取イ
」治具３２に適宜手段によってＬ型腕体３３の長辺側基
端部が取付いており、そのＬ型腕体３３の短辺側端部に
球状の基準反射体３１が探触子３０で発信した超音波ビ
ーム路程上に正しく位置するよう固着している。Ｌ型腕
体３３の取付治具３２に対する固定位置を加減すること
で、基準反射体３１は探触子３０と被検材の間の超音波
ビーム路程上のどの位置にも設定できる。取付治具３２
の入射角可変部３４を動かし入射角φを変えても、基準
反射体３１からの反則波は基準エコーとして常に探触子
３０に戻ること、勿論である。
上Ａのごときこの発明による基準反射体付超音波探触子
を用いて被検材中の欠陥寸法を測定する方法を以下に説
明りる。１個の探触子を用いて超音波探傷し、探触子か
ら送信された超音波パルスが被検材中の欠陥により反射
されて１σられる欠陥工］−を受信する点は従来と同様
である。この発明による基準反射体付探触子においては
、上記の欠陥エコーとともに、該探触子から送信された
超音波パルスが基準反射体により反則されて得られる基
準エコーを受信する。
を用いて被検材中の欠陥寸法を測定する方法を以下に説
明りる。１個の探触子を用いて超音波探傷し、探触子か
ら送信された超音波パルスが被検材中の欠陥により反射
されて１σられる欠陥工］−を受信する点は従来と同様
である。この発明による基準反射体付探触子においては
、上記の欠陥エコーとともに、該探触子から送信された
超音波パルスが基準反射体により反則されて得られる基
準エコーを受信する。
これら２つのエコーの信号をグー１〜回路に入力して取
出ずことによって、第７図Ｂのごとぎ波形が得られる。
出ずことによって、第７図Ｂのごとぎ波形が得られる。
ただし、第７図Ｂにおける波形Ｓは、第７図へを参照し
て説明したように被検材表面で反射された表面エコーの
信号であったが、この発明による基準反射体付探触子を
用いる場合の波形Ｓは、基準反射体から反射された基準
エコーの信号となる。
て説明したように被検材表面で反射された表面エコーの
信号であったが、この発明による基準反射体付探触子を
用いる場合の波形Ｓは、基準反射体から反射された基準
エコーの信号となる。
かくして得られた基準エコーＳの信号とそのつぎに現わ
れる欠陥エコーＦの信号との時間差ｔ２を周波数分析す
ることによって、時間差ｔ２に比例した超音波周波数ス
ペク１〜ルが１ｑられる。この周波数スペク１−ルにお
ける極大値の周波数間隔へｆを測定し、このΔｆの測定
値を用いて（２）式に示ずような旧算を行なうことによ
り欠陥寸法ｄ１を求めることができる。
れる欠陥エコーＦの信号との時間差ｔ２を周波数分析す
ることによって、時間差ｔ２に比例した超音波周波数ス
ペク１〜ルが１ｑられる。この周波数スペク１−ルにお
ける極大値の周波数間隔へｆを測定し、このΔｆの測定
値を用いて（２）式に示ずような旧算を行なうことによ
り欠陥寸法ｄ１を求めることができる。
〈発明の効果〉
以上説明したようにこの発明の探触子は、探触子と被検
材表面との間の超音波ビーム路程上に定めた基準点に基
準反射体を設置し、この反則体を探触子に一体的に取付
【ノて構成したものである。従って、一探触子法にＪ、
る超音波探傷において、探傷条イ′１によっては表面エ
コーが検知できないような場合でも、表面エコーの信号
に代えて基準反射体から反則された基準エコーの信号を
基準として用い、この基準エコー信号と欠陥エコー信号
の時間差を周波数分析することによって、欠陥寸法の測
定を精度よく行なうことができるものである。。
材表面との間の超音波ビーム路程上に定めた基準点に基
準反射体を設置し、この反則体を探触子に一体的に取付
【ノて構成したものである。従って、一探触子法にＪ、
る超音波探傷において、探傷条イ′１によっては表面エ
コーが検知できないような場合でも、表面エコーの信号
に代えて基準反射体から反則された基準エコーの信号を
基準として用い、この基準エコー信号と欠陥エコー信号
の時間差を周波数分析することによって、欠陥寸法の測
定を精度よく行なうことができるものである。。
第１図はこの発明による直接接触式の基準反射体付超音
波探触子の実施例を示す斜視図、第２図および第３図は
第１図のそれぞれ正面図および底面図、第４図は第１図
乃至第３図の実施例における基準反射体の拡大斜視図、
第５図はこの発明による直接接触式の基準反射体付超音
波探触子の他の実施例を示す正面図、第６図はこの発明
による水浸式の基準反射体付超音波探触子の実施例を示
す正面図、第７図Ａは通常の一探触子法による超音波探
傷の測定原理を示づ説明図、および第７図Ｂは第７図へ
の測定原理により得られる発振パルス、表面エコーおよ
び欠陥エコーの波形図である。 １０．２０．３０・・・探触子、’１１，２１゜３１・
・・基準反射体、１２．２２・・・シュー、１２ａ。 ２２ａ・・・シュー底面、１３・・・取付部材、３２・
・・取イｑ治具。 、１あ 第２図 １ｎ 第３図 第６図 第７図
波探触子の実施例を示す斜視図、第２図および第３図は
第１図のそれぞれ正面図および底面図、第４図は第１図
乃至第３図の実施例における基準反射体の拡大斜視図、
第５図はこの発明による直接接触式の基準反射体付超音
波探触子の他の実施例を示す正面図、第６図はこの発明
による水浸式の基準反射体付超音波探触子の実施例を示
す正面図、第７図Ａは通常の一探触子法による超音波探
傷の測定原理を示づ説明図、および第７図Ｂは第７図へ
の測定原理により得られる発振パルス、表面エコーおよ
び欠陥エコーの波形図である。 １０．２０．３０・・・探触子、’１１，２１゜３１・
・・基準反射体、１２．２２・・・シュー、１２ａ。 ２２ａ・・・シュー底面、１３・・・取付部材、３２・
・・取イｑ治具。 、１あ 第２図 １ｎ 第３図 第６図 第７図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、一探触子法で超音波探傷する際に使用する探触子で
あって、探触子と被検材表面との間の超音波ビーム路程
上に定めた基準点に基準反射体を設置し、該基準反射体
を該探触子に一体的に取付けることにより該探触子から
送信された超音波パルスの一部を再度該探触子に反射さ
せるようにし、これによって該探触子から送信された超
音波パルスが被検材中の欠陥により反射されて得られる
欠陥エコーの信号と該基準反射体により反射されて得ら
れる基準エコーの信号とを受信し、該基準エコー信号と
そのつぎに現われる欠陥エコー信号との時間差を周波数
分析することによって欠陥の寸法等を測定できるように
したことを特徴とする基準反射体付超音波探触子。 ２、被検材表面に直接接触させるシューを備えた直接接
触式探触子であって、シュー底面またはシュー内部に定
めた前記基準点に基準反射体を埋設したことを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の基準反射体付超音波探触
子。 ３、被検材と探触子との間に水が満たされる水浸式探触
子であって、探触子と被検材との間に定めた前記基準点
に該探触子から伸びる腕体を介して基準反射体を取付け
たことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の基準反
射体付超音波探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60024903A JPS61184454A (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 | 基準反射体付超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60024903A JPS61184454A (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 | 基準反射体付超音波探触子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61184454A true JPS61184454A (ja) | 1986-08-18 |
Family
ID=12151134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60024903A Pending JPS61184454A (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 | 基準反射体付超音波探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61184454A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005315636A (ja) * | 2004-04-27 | 2005-11-10 | Tohoku Univ | 閉じたき裂の定量評価法、及び閉じたき裂の定量評価装置 |
| JP2008224232A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Daido Steel Co Ltd | 超音波探傷装置、この超音波装置の感度補正方法および超音波探傷方法 |
| CN104931589A (zh) * | 2015-07-16 | 2015-09-23 | 常州市常超电子研究所有限公司 | 可调角度超声波探头 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5443087A (en) * | 1977-09-12 | 1979-04-05 | Mitsubishi Electric Corp | Ultrasonic inspector |
-
1985
- 1985-02-12 JP JP60024903A patent/JPS61184454A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5443087A (en) * | 1977-09-12 | 1979-04-05 | Mitsubishi Electric Corp | Ultrasonic inspector |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005315636A (ja) * | 2004-04-27 | 2005-11-10 | Tohoku Univ | 閉じたき裂の定量評価法、及び閉じたき裂の定量評価装置 |
| JP2008224232A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Daido Steel Co Ltd | 超音波探傷装置、この超音波装置の感度補正方法および超音波探傷方法 |
| CN104931589A (zh) * | 2015-07-16 | 2015-09-23 | 常州市常超电子研究所有限公司 | 可调角度超声波探头 |
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