JPH08201359A - アレイ超音波探傷方法及びその装置 - Google Patents
アレイ超音波探傷方法及びその装置Info
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- JPH08201359A JPH08201359A JP7010277A JP1027795A JPH08201359A JP H08201359 A JPH08201359 A JP H08201359A JP 7010277 A JP7010277 A JP 7010277A JP 1027795 A JP1027795 A JP 1027795A JP H08201359 A JPH08201359 A JP H08201359A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 微細なきずの位置と大きさ、形状を高精度で
測定する。 【構成】 アレイ超音波振動子2…を駆動して得た振動
子2…毎の受信位相又は受信位相差の分布と、予め計算
或いは実験により求めて記憶装置5に記憶しておいた受
信位相又は受信位相差の分布とをパターンマッチング計
算器6によりパターンマッチングして反射体の形状及び
サイズを推定する。
測定する。 【構成】 アレイ超音波振動子2…を駆動して得た振動
子2…毎の受信位相又は受信位相差の分布と、予め計算
或いは実験により求めて記憶装置5に記憶しておいた受
信位相又は受信位相差の分布とをパターンマッチング計
算器6によりパターンマッチングして反射体の形状及び
サイズを推定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、鉄鋼材料中のきずの形
状及びサイズを精度よく測定するために用いるアレイ超
音波探傷方法及びその装置に関する。
状及びサイズを精度よく測定するために用いるアレイ超
音波探傷方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】鉄鋼材料中のきずの形状及びサイズを測
定する方法としては、次の方法が知られている。
定する方法としては、次の方法が知られている。
【0003】・通常の測定方法 この方法は、反射源のサイズや位置及び形状を推定する
ために、まず例えばJIS Z 3060に規定される
ように超音波の送受信位置と送信から受信までにかかっ
た時間、反射波の強度、送受信に使用するセンサーの特
性及び被検体の音速から超音波の反射点を計算により求
め、次にそれを複数の送受信位置で行い、得られた反射
点をマッピングすることで反射源の形状及びサイズを推
定する方法である。
ために、まず例えばJIS Z 3060に規定される
ように超音波の送受信位置と送信から受信までにかかっ
た時間、反射波の強度、送受信に使用するセンサーの特
性及び被検体の音速から超音波の反射点を計算により求
め、次にそれを複数の送受信位置で行い、得られた反射
点をマッピングすることで反射源の形状及びサイズを推
定する方法である。
【0004】・TOFD この方法は、例えば横軸に受信位置、縦軸に時間をと
り、各受信位置毎の受信波形を時間軸に合わせて表示す
る。受信波の強弱は濃淡などの色調で表示する。通常の
方法と同様に受信時間が反射源の位置を示しているので
反射体のサイズや位置及び形状を推定することが可能で
ある。通常の方法では反射波の強度があるレベルを超え
たもののみを扱うのに対して、全ての受信波を対象とし
ている方法である。
り、各受信位置毎の受信波形を時間軸に合わせて表示す
る。受信波の強弱は濃淡などの色調で表示する。通常の
方法と同様に受信時間が反射源の位置を示しているので
反射体のサイズや位置及び形状を推定することが可能で
ある。通常の方法では反射波の強度があるレベルを超え
たもののみを扱うのに対して、全ての受信波を対象とし
ている方法である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】鉄鋼材料中のきずは、
そのサイズ、位置及び形状によってその有害度が決まる
ので、それらを精度よく測定することが重要である。前
記通常の測定方法では反射源が、例えば送信された超音
波のビームの幅より細いなど充分な大きさを持たない場
合には測定のピッチを細かくしてもその反射点が特定で
きないために、形状の測定精度の向上が望めないといっ
た欠点がある。また、受信器の分解能から、計算によっ
て求められる反射点の位置精度も低下する。さらに、超
音波探傷法は、基本原理として超音波ビームの反射を利
用しているために、その超音波ビームの進行方向と反射
体面のなす角によって反射率が変化する。その結果、き
ずサイズの測定精度はそのなす角によっては低下する。
一方、TOFDを用いた場合、反射源の大きさ及び位置
を前記通常の方法よりも精度よく知ることはできるが、
その形状を精度よく知ることは前記通常の方法と同様に
困難である。また、通常の探触子を使用するので指向性
が強く、反射体の形状によっては、反射エコーがその指
向性よりも大きな角度を持つために充分な受信が困難と
なる。さらに、大きく広がった面状あるいは円形の反射
源には有効であるが、微細な反射源の認識は従来法に比
して大きな向上は望めない。
そのサイズ、位置及び形状によってその有害度が決まる
ので、それらを精度よく測定することが重要である。前
記通常の測定方法では反射源が、例えば送信された超音
波のビームの幅より細いなど充分な大きさを持たない場
合には測定のピッチを細かくしてもその反射点が特定で
きないために、形状の測定精度の向上が望めないといっ
た欠点がある。また、受信器の分解能から、計算によっ
て求められる反射点の位置精度も低下する。さらに、超
音波探傷法は、基本原理として超音波ビームの反射を利
用しているために、その超音波ビームの進行方向と反射
体面のなす角によって反射率が変化する。その結果、き
ずサイズの測定精度はそのなす角によっては低下する。
一方、TOFDを用いた場合、反射源の大きさ及び位置
を前記通常の方法よりも精度よく知ることはできるが、
その形状を精度よく知ることは前記通常の方法と同様に
困難である。また、通常の探触子を使用するので指向性
が強く、反射体の形状によっては、反射エコーがその指
向性よりも大きな角度を持つために充分な受信が困難と
なる。さらに、大きく広がった面状あるいは円形の反射
源には有効であるが、微細な反射源の認識は従来法に比
して大きな向上は望めない。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するのが目的であって、その技術手段は次のとおりで
ある。
決するのが目的であって、その技術手段は次のとおりで
ある。
【0007】1.アレイ超音波探傷において、複数のア
レイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動
子毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておい
た位相又は位相差の分布とをパターンマッチングするこ
とにより、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超
音波探傷方法。
レイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動
子毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておい
た位相又は位相差の分布とをパターンマッチングするこ
とにより、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超
音波探傷方法。
【0008】2.アレイ超音波探傷において、複数のア
レイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動
子毎の同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信感
度差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておい
た感度又は感度差の分布とをパターンマッチングするこ
とにより、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超
音波探傷方法。
レイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動
子毎の同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信感
度差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておい
た感度又は感度差の分布とをパターンマッチングするこ
とにより、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超
音波探傷方法。
【0009】3.アレイ超音波探傷において、複数のア
レイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動
子毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差及び受信感度又は受信感度差の分布を用いたパター
ンマッチングにより反射体の形状及びサイズを推定する
アレイ超音波探傷方法。
レイ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動
子毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差及び受信感度又は受信感度差の分布を用いたパター
ンマッチングにより反射体の形状及びサイズを推定する
アレイ超音波探傷方法。
【0010】4.アレイ振動子を横一列に複数枚並べて
設けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子
を制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の
反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差を求める
位相差計算器と、前記位相差計算器で求めた受信位相又
は受信位相差とパターンマッチングをするための複数の
パターンを保持している記憶装置と、前記パターンマッ
チングを行うための計算器と、必要に応じてデータを記
録しておくための記録装置と、結果を表示するための表
示装置と、から成る同一の反射源からの反射波の受信位
相又は受信位相差の分布を用いたパターンマッチングに
より反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超音波探
傷装置。
設けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子
を制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の
反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差を求める
位相差計算器と、前記位相差計算器で求めた受信位相又
は受信位相差とパターンマッチングをするための複数の
パターンを保持している記憶装置と、前記パターンマッ
チングを行うための計算器と、必要に応じてデータを記
録しておくための記録装置と、結果を表示するための表
示装置と、から成る同一の反射源からの反射波の受信位
相又は受信位相差の分布を用いたパターンマッチングに
より反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超音波探
傷装置。
【0011】5.アレイ振動子を横一列に複数枚並べて
設けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子
を制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の
反射源からの反射波の受信感度又は受信感度差を求める
受信感度差計算器と、前記受信感度差計算器により求め
た受信感度又は受信感度差とパターンマッチングをする
ための複数のパターンを保持している記憶装置と、前記
パターンマッチングを行うための計算器と、必要に応じ
てデータを記録しておくための記録装置と、結果を表示
するための表示装置と、から成る同一の反射源からの反
射波の受信感度又は受信感度差の分布を用いたパターン
マッチングにより反射体の形状及びサイズを推定するア
レイ超音波探傷装置。
設けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子
を制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の
反射源からの反射波の受信感度又は受信感度差を求める
受信感度差計算器と、前記受信感度差計算器により求め
た受信感度又は受信感度差とパターンマッチングをする
ための複数のパターンを保持している記憶装置と、前記
パターンマッチングを行うための計算器と、必要に応じ
てデータを記録しておくための記録装置と、結果を表示
するための表示装置と、から成る同一の反射源からの反
射波の受信感度又は受信感度差の分布を用いたパターン
マッチングにより反射体の形状及びサイズを推定するア
レイ超音波探傷装置。
【0012】6.アレイ振動子を横一列に複数枚並べて
設けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子
を制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の
反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差及び受信
感度又は受信感度差を求める位相差及び受信感度差計算
器と、前記位相差及び受信感度差計算器により求めた同
一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差及び
受信感度又は受信感度差とパターンマッチングをするた
めの複数のパターンを保持している記憶装置と、前記パ
ターンマッチングを行うための計算器と、必要に応じて
データを記録しておくための記録装置と、結果を表示す
るための表示装置と、から成る同一の反射源からの反射
波の受信位相又は受信位相差及び受信感度又は受信感度
差の分布を用いたパターンマッチングにより反射体の形
状及びサイズを推定するアレイ超音波探傷装置。
設けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子
を制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の
反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差及び受信
感度又は受信感度差を求める位相差及び受信感度差計算
器と、前記位相差及び受信感度差計算器により求めた同
一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差及び
受信感度又は受信感度差とパターンマッチングをするた
めの複数のパターンを保持している記憶装置と、前記パ
ターンマッチングを行うための計算器と、必要に応じて
データを記録しておくための記録装置と、結果を表示す
るための表示装置と、から成る同一の反射源からの反射
波の受信位相又は受信位相差及び受信感度又は受信感度
差の分布を用いたパターンマッチングにより反射体の形
状及びサイズを推定するアレイ超音波探傷装置。
【0013】
【作用】アレイ超音波探傷器によりアレイ探触子から被
検体中に超音波を伝播させ、反射体から反射してきた超
音波をアレイ探触子中の振動子で受信する。各振動子で
受信した超音波は電気信号に変換される。各振動子間の
同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差を
位相差計算器によって求める。求めた同一の反射源から
の反射波の受信位相又は受信位相差と記憶装置に保持し
ている同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差データとをパターンマッチングする。また、各振動
子間の同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信感
度差を受信感度差計算器によって求める。求めた同一の
反射源からの反射波の受信感度又は受信感度差と、記憶
装置に保持している同一の反射源からの反射波の受信感
度又は受信感度差データとをパターンマッチングする。
それぞれ、または双方のパターンマッチングの結果及び
受信信号を処理装置で処理し、一番可能性の高い形状及
びサイズを推定する。その結果を必要に応じて記録装置
に記録し、また表示装置に表示する。
検体中に超音波を伝播させ、反射体から反射してきた超
音波をアレイ探触子中の振動子で受信する。各振動子で
受信した超音波は電気信号に変換される。各振動子間の
同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差を
位相差計算器によって求める。求めた同一の反射源から
の反射波の受信位相又は受信位相差と記憶装置に保持し
ている同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差データとをパターンマッチングする。また、各振動
子間の同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信感
度差を受信感度差計算器によって求める。求めた同一の
反射源からの反射波の受信感度又は受信感度差と、記憶
装置に保持している同一の反射源からの反射波の受信感
度又は受信感度差データとをパターンマッチングする。
それぞれ、または双方のパターンマッチングの結果及び
受信信号を処理装置で処理し、一番可能性の高い形状及
びサイズを推定する。その結果を必要に応じて記録装置
に記録し、また表示装置に表示する。
【0014】
【実施例】図1は請求項1及び4に対応する実施例であ
って、1はアレイ振動子2…を横一列に複数枚並べて内
蔵したアレイ超音波探触子、3は前記アレイ超音波探触
子1を制御するアレイ超音波探傷器、4は各振動子2…
毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相
差を求める位相差計算器、5は同一の反射源からの反射
波の受信位相又は受信位相差とパターンマッチングをす
るための複数のパターンを保持している記憶装置、6は
前記パターンマッチングを行うための計算器、7は処理
装置、8は表示装置、9は記録装置である。
って、1はアレイ振動子2…を横一列に複数枚並べて内
蔵したアレイ超音波探触子、3は前記アレイ超音波探触
子1を制御するアレイ超音波探傷器、4は各振動子2…
毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相
差を求める位相差計算器、5は同一の反射源からの反射
波の受信位相又は受信位相差とパターンマッチングをす
るための複数のパターンを保持している記憶装置、6は
前記パターンマッチングを行うための計算器、7は処理
装置、8は表示装置、9は記録装置である。
【0015】図2は請求項2及び5に対応する実施例で
あって、1はアレイ振動子2…を横一列に複数枚並べて
内蔵したアレイ超音波探触子、3は前記アレイ超音波探
触子1を制御するアレイ超音波探傷器、5は同一の反射
源からの反射波の受信感度又は受信感度差とパターンマ
ッチングをするための複数のパターンマッチングをする
ための複数のパターンを保持している記憶装置、6は前
記パターンマッチングを行うための計算器、7は処理装
置、8は表示装置、9は記録装置、10は各振動子2…
毎の同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信感度
差を求める受信感度差計算器である。
あって、1はアレイ振動子2…を横一列に複数枚並べて
内蔵したアレイ超音波探触子、3は前記アレイ超音波探
触子1を制御するアレイ超音波探傷器、5は同一の反射
源からの反射波の受信感度又は受信感度差とパターンマ
ッチングをするための複数のパターンマッチングをする
ための複数のパターンを保持している記憶装置、6は前
記パターンマッチングを行うための計算器、7は処理装
置、8は表示装置、9は記録装置、10は各振動子2…
毎の同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信感度
差を求める受信感度差計算器である。
【0016】図3は請求項3及び6に対応する実施例で
あって、1はアレイ振動子2…を横一列に複数枚並べて
内蔵したアレイ超音波探触子、3は前記アレイ超音波探
触子1を制御するアレイ超音波探傷器、4は各振動子2
…毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差を求める位相差計算器、5は同一の反射源からの反
射波の受信位相又は受信位相差及び受信感度又は受信感
度差とパターンマッチングをするための複数のパターン
を保持している記憶装置、6は前記パターンマッチング
を行うための計算器、7は処理装置、8は表示装置、9
は記録装置、10は各振動子2…毎の同一の反射源から
の反射波の受信感度又は受信感度差を求める受信感度差
計算器である。
あって、1はアレイ振動子2…を横一列に複数枚並べて
内蔵したアレイ超音波探触子、3は前記アレイ超音波探
触子1を制御するアレイ超音波探傷器、4は各振動子2
…毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差を求める位相差計算器、5は同一の反射源からの反
射波の受信位相又は受信位相差及び受信感度又は受信感
度差とパターンマッチングをするための複数のパターン
を保持している記憶装置、6は前記パターンマッチング
を行うための計算器、7は処理装置、8は表示装置、9
は記録装置、10は各振動子2…毎の同一の反射源から
の反射波の受信感度又は受信感度差を求める受信感度差
計算器である。
【0017】上記各実施例の場合、アレイ超音波探傷器
3によりアレイ超音波探触子1を駆動して被検体中に超
音波を伝播させ、反射体から反射してきた超音波をアレ
イ探触子1中の振動子2…で受信する。各振動子2…で
受信した超音波は、電気信号に変換される。各振動子2
…間の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差又は(及び)同一の反射源からの反射波の受信感度
又は受信感度差を位相差計算器4又は(及び)受信感度
差計算器10によって求める。求めた受信位相又は受信
位相差又は(及び)受信感度又は受信感度差と記憶装置
5に保持している受信位相又は受信位相差又は(及び)
受信感度又は受信感度差とデータとをパターンマッチン
グ計算器6でマッチングする。このパターンマッチング
の結果及び受信信号を処理装置7で処理し、一番可能性
の高い形状及びサイズを推定する。その結果を必要に応
じて記録装置9に記録し、また表示装置8に表示する。
3によりアレイ超音波探触子1を駆動して被検体中に超
音波を伝播させ、反射体から反射してきた超音波をアレ
イ探触子1中の振動子2…で受信する。各振動子2…で
受信した超音波は、電気信号に変換される。各振動子2
…間の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位
相差又は(及び)同一の反射源からの反射波の受信感度
又は受信感度差を位相差計算器4又は(及び)受信感度
差計算器10によって求める。求めた受信位相又は受信
位相差又は(及び)受信感度又は受信感度差と記憶装置
5に保持している受信位相又は受信位相差又は(及び)
受信感度又は受信感度差とデータとをパターンマッチン
グ計算器6でマッチングする。このパターンマッチング
の結果及び受信信号を処理装置7で処理し、一番可能性
の高い形状及びサイズを推定する。その結果を必要に応
じて記録装置9に記録し、また表示装置8に表示する。
【0018】
【発明の効果】本発明は以上のように、各振動子で受信
した同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相
差又は(及び)受信感度又は受信感度差と、あらかじめ
求めて記憶させておいた同一の反射源からの反射波の受
信位相又は受信位相差又は(及び)受信感度又は受信感
度差データとをパターンマッチングして形状とサイズを
高精度に推定するようにした。この結果、高精度で反射
点の位置の測定が可能であると共に、微細なきずの検出
や大きく広がった面状欠陥や円形、球状の欠陥を高い精
度で測定できる。
した同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相
差又は(及び)受信感度又は受信感度差と、あらかじめ
求めて記憶させておいた同一の反射源からの反射波の受
信位相又は受信位相差又は(及び)受信感度又は受信感
度差データとをパターンマッチングして形状とサイズを
高精度に推定するようにした。この結果、高精度で反射
点の位置の測定が可能であると共に、微細なきずの検出
や大きく広がった面状欠陥や円形、球状の欠陥を高い精
度で測定できる。
【図1】同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信
位相差でパターンマッチングを行い、探傷を行う実施例
の説明図。
位相差でパターンマッチングを行い、探傷を行う実施例
の説明図。
【図2】同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信
感度差でパターンマッチングを行い、探傷を行う実施例
の説明図。
感度差でパターンマッチングを行い、探傷を行う実施例
の説明図。
【図3】同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信
位相差と受信感度又は受信感度差でパターンマッチング
を行い、探傷を行う実施例の説明図。
位相差と受信感度又は受信感度差でパターンマッチング
を行い、探傷を行う実施例の説明図。
1 アレイ探触子 2… 振動子 3 アレイ超音波探傷器 4 位相差計算器 5 記憶装置 6 パターンマッチング計算器 7 処理装置 8 表示装置 9 記録装置 10 受信感度差計算器
Claims (6)
- 【請求項1】 アレイ超音波探傷において、複数のアレ
イ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動子
毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相
差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておいた
位相又は位相差の分布とをパターンマッチングすること
により、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超音
波探傷方法。 - 【請求項2】 アレイ超音波探傷において、複数のアレ
イ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動子
毎の同一の反射源からの反射波の受信感度又は受信感度
差の分布と、予め計算あるいは実験により求めておいた
感度又は感度差の分布とをパターンマッチングすること
により、反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超音
波探傷方法。 - 【請求項3】 アレイ超音波探傷において、複数のアレ
イ振動子を駆動して前記夫々の振動子で受信した振動子
毎の同一の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相
差及び受信感度又は受信感度差の分布を用いたパターン
マッチングにより反射体の形状及びサイズを推定するア
レイ超音波探傷方法。 - 【請求項4】 アレイ振動子を横一列に複数枚並べて設
けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子を
制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の反
射源からの反射波の受信位相又は受信位相差を求める位
相差計算器と、前記位相差計算器で求めた受信位相又は
受信位相差とパターンマッチングをするための複数のパ
ターンを保持している記憶装置と、前記パターンマッチ
ングを行うための計算器と、必要に応じてデータを記録
しておくための記録装置と、結果を表示するための表示
装置と、から成る同一の反射源からの反射波の受信位相
又は受信位相差の分布を用いたパターンマッチングによ
り反射体の形状及びサイズを推定するアレイ超音波探傷
装置。 - 【請求項5】 アレイ振動子を横一列に複数枚並べて設
けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子を
制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の反
射源からの反射波の受信感度又は受信感度差を求める受
信感度差計算器と、前記受信感度差計算器により求めた
受信感度又は受信感度差とパターンマッチングをするた
めの複数のパターンを保持している記憶装置と、前記パ
ターンマッチングを行うための計算器と、必要に応じて
データを記録しておくための記録装置と、結果を表示す
るための表示装置と、から成る同一の反射源からの反射
波の受信感度又は受信感度差の分布を用いたパターンマ
ッチングにより反射体の形状及びサイズを推定するアレ
イ超音波探傷装置。 - 【請求項6】 アレイ振動子を横一列に複数枚並べて設
けたアレイ超音波探触子と、前記アレイ超音波探触子を
制御するアレイ超音波探傷器と、各振動子毎の同一の反
射源からの反射波の受信位相又は受信位相差及び受信感
度又は受信感度差を求める位相差及び受信感度差計算器
と、前記位相差及び受信感度差計算器により求めた同一
の反射源からの反射波の受信位相又は受信位相差及び受
信感度又は受信感度差とパターンマッチングをするため
の複数のパターンを保持している記憶装置と、前記パタ
ーンマッチングを行うための計算器と、必要に応じてデ
ータを記録しておくための記録装置と、結果を表示する
ための表示装置と、から成る同一の反射源からの反射波
の受信位相又は受信位相差及び受信感度又は受信感度差
の分布を用いたパターンマッチングにより反射体の形状
及びサイズを推定するアレイ超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7010277A JPH08201359A (ja) | 1995-01-26 | 1995-01-26 | アレイ超音波探傷方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7010277A JPH08201359A (ja) | 1995-01-26 | 1995-01-26 | アレイ超音波探傷方法及びその装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08201359A true JPH08201359A (ja) | 1996-08-09 |
Family
ID=11745823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7010277A Pending JPH08201359A (ja) | 1995-01-26 | 1995-01-26 | アレイ超音波探傷方法及びその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08201359A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6789428B2 (en) | 1999-11-29 | 2004-09-14 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Method and apparatus for evaluating damage of metal material |
CN113552217A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-10-26 | 大连理工大学 | 一种基于双自发自收相控阵探头的未知缺陷轮廓重建方法 |
-
1995
- 1995-01-26 JP JP7010277A patent/JPH08201359A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6789428B2 (en) | 1999-11-29 | 2004-09-14 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Method and apparatus for evaluating damage of metal material |
CN113552217A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-10-26 | 大连理工大学 | 一种基于双自发自收相控阵探头的未知缺陷轮廓重建方法 |
CN113552217B (zh) * | 2021-07-16 | 2022-05-10 | 大连理工大学 | 一种基于双自发自收相控阵探头的未知缺陷轮廓重建方法 |
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