JPS6183966A - 電子回路基板の検査装置 - Google Patents
電子回路基板の検査装置Info
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- JPS6183966A JPS6183966A JP20610084A JP20610084A JPS6183966A JP S6183966 A JPS6183966 A JP S6183966A JP 20610084 A JP20610084 A JP 20610084A JP 20610084 A JP20610084 A JP 20610084A JP S6183966 A JPS6183966 A JP S6183966A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、電子部品を実装した電子回路基板の検査装置
１：関する。
１：関する。
従来技術
上記種の検査装置における検出先端部は、一般に、電子
回路基板上１：実装された電子部品（被検査体）に対し
て接離自在の一対のコンタクトピンと、このコンタクト
ピンな固定保持するピン保持板等より構成されており、
前記一対のコンタクトピンは、ピン保持板にその取付は
ピッチが固定された状態で差込み挿着されているのが普
通である。
回路基板上１：実装された電子部品（被検査体）に対し
て接離自在の一対のコンタクトピンと、このコンタクト
ピンな固定保持するピン保持板等より構成されており、
前記一対のコンタクトピンは、ピン保持板にその取付は
ピッチが固定された状態で差込み挿着されているのが普
通である。
しかしながら、上記構成よりなる従来の検査装置におい
ては、次のごとき問題点があった。
ては、次のごとき問題点があった。
（１） コンタクトピンは、その取付はピッチが固定
されてピン保持板（＝固装される構成であったので、被
検査体である電子部品のサイズが異なる度毎にその異な
る電子部品に対応するピッチのコンタクトピン装備部を
有するピン保持板を用意しなければならなかった。その
ために、段取り換えが大変であるとともに多数のピンを
要し、作業性が著しく低下するとともに極めて不経済で
あった。
されてピン保持板（＝固装される構成であったので、被
検査体である電子部品のサイズが異なる度毎にその異な
る電子部品に対応するピッチのコンタクトピン装備部を
有するピン保持板を用意しなければならなかった。その
ために、段取り換えが大変であるとともに多数のピンを
要し、作業性が著しく低下するとともに極めて不経済で
あった。
（２）特に、多種サイズの電子部品を実装した電子回路
基板又は多種少量もしくは多種中量の基板チェックの場
合（二段取り換えに多大な時間を要し、検査作業におけ
る作業性６作業動車が著しく低下していた。
基板又は多種少量もしくは多種中量の基板チェックの場
合（二段取り換えに多大な時間を要し、検査作業におけ
る作業性６作業動車が著しく低下していた。
発明の目的
本発明は、上記従来技術の問題点に鑑みなされたもので
あって、多種サイズの電子部品を実装した電子回路基板
又は多種少量もしくは多種中量の基板チェックをする場
合であっても、高作業性。
あって、多種サイズの電子部品を実装した電子回路基板
又は多種少量もしくは多種中量の基板チェックをする場
合であっても、高作業性。
高作業効率にて検査しうるようにした電子回路基板の検
査装置を提供することを目的とする。
査装置を提供することを目的とする。
発明の概要
本発明は、検査装置（二おける一対のコンタクトピンの
ピッチを拡縮調節自在の構成Ｉ：することにより、上記
本発明の目的を達成しようとするものである。
ピッチを拡縮調節自在の構成Ｉ：することにより、上記
本発明の目的を達成しようとするものである。
実 施 例
以下、本発明の実施例について図面を用いて詳細に説明
する。
する。
第１図ｔａ） 、 ｔｂ）は、本発明に係る電子回路基
板の検査装置の要部である検出先端部１を示す正面図及
び側面図であり、説明の都合上一部を断面にしである。
板の検査装置の要部である検出先端部１を示す正面図及
び側面図であり、説明の都合上一部を断面にしである。
検出先端部１は、電子回路基板上の電子部品の抵抗値、
容量値、インダクタンス及びオープンショートを検査す
るものであり、以下のように構成しである。即ち、図に
おいて２．２で示すのは、図示を省略している電子回路
基板上の電子部品に対して接触自在の検知部２ａ 、
２ａを有する一対のコンタクトピンで、垂直状態にして
平行に並設しである。
容量値、インダクタンス及びオープンショートを検査す
るものであり、以下のように構成しである。即ち、図に
おいて２．２で示すのは、図示を省略している電子回路
基板上の電子部品に対して接触自在の検知部２ａ 、
２ａを有する一対のコンタクトピンで、垂直状態にして
平行に並設しである。
コンタクトピン２，２は、それぞれピン保持部材３に設
けた孔４内に挿着してあり、各ピン保持部材３は、その
上端部から水平方向に突設した移動ガイド部３ａを介し
て、ピン保持枠（ピン保持本体）５に設けたかぎ溝状の
ガイド孔６に水平方向移動自在に係止保持されている。
けた孔４内に挿着してあり、各ピン保持部材３は、その
上端部から水平方向に突設した移動ガイド部３ａを介し
て、ピン保持枠（ピン保持本体）５に設けたかぎ溝状の
ガイド孔６に水平方向移動自在に係止保持されている。
即ち、各コンタクトピン２は、ピン保持部材３を移動ガ
イド部３ａ’を介してガイド孔６に沿って水平方向に移
動操作することにより、平行状態を保持してそのピッチ
Ｐが拡大、縮小操作されるようになっている。７で示す
のはコンタクトピン２（＝接続された配線用コードであ
る。
イド部３ａ’を介してガイド孔６に沿って水平方向に移
動操作することにより、平行状態を保持してそのピッチ
Ｐが拡大、縮小操作されるようになっている。７で示す
のはコンタクトピン２（＝接続された配線用コードであ
る。
前記一対のコンタクトピン２の各ピン保持部材３間には
、圧縮コイルばねのごとき弾機８が弾装してあり、各コ
ンタクトピン２はこの弾機８を介して常時そのピッｆＰ
が拡大する方向に押圧付勢されるように設定構成しであ
る。前記ピン保持枠５は、その開口部側を下方向；＝シ
たコの字形状に形設してあり、その両側部の側枠部５ａ
、 ５ａには、ピン保持部材３，３を弾機に抗してそ
のピッチＰを縮小する方向に移動操作するための調節ね
じ９．９螺着用の雌ねじ部１０が刻設しである。
、圧縮コイルばねのごとき弾機８が弾装してあり、各コ
ンタクトピン２はこの弾機８を介して常時そのピッｆＰ
が拡大する方向に押圧付勢されるように設定構成しであ
る。前記ピン保持枠５は、その開口部側を下方向；＝シ
たコの字形状に形設してあり、その両側部の側枠部５ａ
、 ５ａには、ピン保持部材３，３を弾機に抗してそ
のピッチＰを縮小する方向に移動操作するための調節ね
じ９．９螺着用の雌ねじ部１０が刻設しである。
前記コンタクトピン２．ピン保持部材３等を装備したピ
ン保持枠５は、図示を省略している上下操作機構と連動
構成された上下作動軸１１の下端部に固設されている。
ン保持枠５は、図示を省略している上下操作機構と連動
構成された上下作動軸１１の下端部に固設されている。
上下作動軸１１は、ピン保持部５の長手方向中央部上面
に固定しである。
に固定しである。
上記構成によれば、各調節ねじ９，９を螺入する方向（
二回動操作することにより、各コンタクトピン２，２の
ピッチを任意ピッチに縮小調節することができる。又、
各調節ねじ９，９を螺出方向（抜き出す方向）に回動操
作することにより、弾機８の復元作用を介してコンタク
トピン２，２のピッｆＰを任意のピッチ拡大調節するこ
とができるものである。従って、上記構成によれば、一
対のコンタクトピン２，２（二で多種サイズの電子部品
を検査することができ、電子部品のサイズが異なる度毎
にコンタクトピン及びピン保持部を交換する必要がない
。しかも、極めて簡単な構成にして短時間（二てピッチ
変更調節を行ないつるので、検査作業における作業性９
作業効率を大幅に向上しうるちのである。特に、多種サ
イズの電子部品を実装した電子回路基板の検査や、異種
サイズの電子部品を実装した多種少量もしくは多種中量
の電子回路基板の検査（＝おいては、顕著な効果を奏し
つる。
二回動操作することにより、各コンタクトピン２，２の
ピッチを任意ピッチに縮小調節することができる。又、
各調節ねじ９，９を螺出方向（抜き出す方向）に回動操
作することにより、弾機８の復元作用を介してコンタク
トピン２，２のピッｆＰを任意のピッチ拡大調節するこ
とができるものである。従って、上記構成によれば、一
対のコンタクトピン２，２（二で多種サイズの電子部品
を検査することができ、電子部品のサイズが異なる度毎
にコンタクトピン及びピン保持部を交換する必要がない
。しかも、極めて簡単な構成にして短時間（二てピッチ
変更調節を行ないつるので、検査作業における作業性９
作業効率を大幅に向上しうるちのである。特に、多種サ
イズの電子部品を実装した電子回路基板の検査や、異種
サイズの電子部品を実装した多種少量もしくは多種中量
の電子回路基板の検査（＝おいては、顕著な効果を奏し
つる。
なお、図においては配線コード７の接続先を省略しであ
るが、配線コード７をＬＣＲメーター（図示省略）に接
続させることにより、電子部品の抵抗値、容量値、イン
ダクタンス及びオーブンショートを検査しうるちのであ
る。
るが、配線コード７をＬＣＲメーター（図示省略）に接
続させることにより、電子部品の抵抗値、容量値、イン
ダクタンス及びオーブンショートを検査しうるちのであ
る。
第２実施例
第２図、第３図に本発明の要部の第２の実施例を示す。
本実施例の特徴は、一対のコンタクトピン１２ 、１３
のうちの一側のコンタクトピン１３を固定し、他側のコ
ンタクトピン１２を移動調節自在（二構成した点である
。即ち、一対のコンタクトピン１２ 、１３のうちの一
側のコンタクトピン１３は、その開口部側を下方向；ニ
ジて配置されたコの字形状のピン保持枠１４の一側の側
枠部１４ａの保持振図示省略）内（二挿通保持されてお
り、他側のコンタクトピン１２は、第１図（ａ） 、
（ｂ）にて示したコンタクトピン２及びピン保持部材３
と同様な構成にてピン保持枠１４に対して水平方向に移
動自在に係止保持される構成にしである。そして、可動
側のピン保持部材１５と固定側ピン保持部である側枠部
１４ａ内面との間に弾機１Ｂを弾装するとともに、他側
の側枠部１４ｂに貫通して螺着された調節ねじ１７を介
して、各コンタクトピン１２ 、１３間のピッｆＰを拡
縮調節しつるように構成したものである。１８で示すの
は第１図（ａ） 、 （ｂ）にて示したものと同様な上
下作動軸、１９で示すのは各コンタクトピン１２．１３
＋−接続されたコードで、その接続先は第１実施例と同
様である。
のうちの一側のコンタクトピン１３を固定し、他側のコ
ンタクトピン１２を移動調節自在（二構成した点である
。即ち、一対のコンタクトピン１２ 、１３のうちの一
側のコンタクトピン１３は、その開口部側を下方向；ニ
ジて配置されたコの字形状のピン保持枠１４の一側の側
枠部１４ａの保持振図示省略）内（二挿通保持されてお
り、他側のコンタクトピン１２は、第１図（ａ） 、
（ｂ）にて示したコンタクトピン２及びピン保持部材３
と同様な構成にてピン保持枠１４に対して水平方向に移
動自在に係止保持される構成にしである。そして、可動
側のピン保持部材１５と固定側ピン保持部である側枠部
１４ａ内面との間に弾機１Ｂを弾装するとともに、他側
の側枠部１４ｂに貫通して螺着された調節ねじ１７を介
して、各コンタクトピン１２ 、１３間のピッｆＰを拡
縮調節しつるように構成したものである。１８で示すの
は第１図（ａ） 、 （ｂ）にて示したものと同様な上
下作動軸、１９で示すのは各コンタクトピン１２．１３
＋−接続されたコードで、その接続先は第１実施例と同
様である。
上記構成においても、調節ねじ１７を回動操作して調節
ねじ１７を螺入、螺出させることにより、前記第１の実
施例を同様に各コンタクトピン１２゜１３間のピッｆ−
Ｐを任意ピッｆ−１；拡縮調節することができるもので
あり、特に、１個の調節ねじ１７の回動操作で調節操作
しつるので都合がよい。又、上下作動軸１８（二対する
固定側コンタクトピン１３の位置が一定となるので、検
出作業を自動化する際の位置決め制御が極めて容易とな
る。なお、第２図はピンピッチＰを拡大調節した状態を
示し、第３図は同縮小調節した状態を示すものである。
ねじ１７を螺入、螺出させることにより、前記第１の実
施例を同様に各コンタクトピン１２゜１３間のピッｆ−
Ｐを任意ピッｆ−１；拡縮調節することができるもので
あり、特に、１個の調節ねじ１７の回動操作で調節操作
しつるので都合がよい。又、上下作動軸１８（二対する
固定側コンタクトピン１３の位置が一定となるので、検
出作業を自動化する際の位置決め制御が極めて容易とな
る。なお、第２図はピンピッチＰを拡大調節した状態を
示し、第３図は同縮小調節した状態を示すものである。
その他の効果については、前記第１の実施例と同様であ
るのでその説明を省略する。
るのでその説明を省略する。
第３実施例
＄４図に本発明の要部の第３の実施例を示す。
本実施例の特徴は、一対のコンタクトピン２０゜２０の
ピン保持部材２１ 、２１を支持ピン２２ 、 ２２を
介してピン保持枠２３（二種動自在に支持し、ピン保持
部材２１ 、２１を上下作動軸２４の下端部に固設した
クサビ状（又はコーン状）のピッ″’ＩＦ−！１１節部
材２５を介して揺動じつるよう’ｃ構成することにより
、各コンタクトピン２０のピンピッチＰを任意ピッチに
調節しつるように設定構成した点にある。２Ｂで示すの
は、コンタクトピン２０，２０のピンピッチＰを常時拡
大させるべくピン保持部材２１．２１に張設された引張
りコイルばねのごとき弾機、２７で示すのはコンタクト
ピンと接続されたコードで、その接続先は前記第１実施
例と同様である。
ピン保持部材２１ 、２１を支持ピン２２ 、 ２２を
介してピン保持枠２３（二種動自在に支持し、ピン保持
部材２１ 、２１を上下作動軸２４の下端部に固設した
クサビ状（又はコーン状）のピッ″’ＩＦ−！１１節部
材２５を介して揺動じつるよう’ｃ構成することにより
、各コンタクトピン２０のピンピッチＰを任意ピッチに
調節しつるように設定構成した点にある。２Ｂで示すの
は、コンタクトピン２０，２０のピンピッチＰを常時拡
大させるべくピン保持部材２１．２１に張設された引張
りコイルばねのごとき弾機、２７で示すのはコンタクト
ピンと接続されたコードで、その接続先は前記第１実施
例と同様である。
上記構成によれば、ピッチ調節部材２５を上下作動軸２
４を介して上下作動させること（二より、コンタクトピ
ン２０ 、２０のピンピッチＰを任意ピッチに拡縮調節
しうるちのであり、それにより、前記第１の実施例と同
様の効果を奏しうるものである。
４を介して上下作動させること（二より、コンタクトピ
ン２０ 、２０のピンピッチＰを任意ピッチに拡縮調節
しうるちのであり、それにより、前記第１の実施例と同
様の効果を奏しうるものである。
艷４実施例
第５図に本発明の第４の実施例を示す。本実施例の特徴
は、電子回路基板２８上（＝任意位置１：かつ任意角度
に実装された任意サイズの電子部品を連続して検査しう
るように構成した点にある。即ち、電子回路基板２８は
、制御用コンピュータ２９と連繋接続されたＸ−Ｙテー
ブル（図示省略）上に支承される構成となっており、制
御用コンピュータ２９を介してＸ−Ｙ軸方向に移動制御
されるＸ−Ｙテーブルを介して任意座標位置（−移動、
停止制御しうるようになっている。従って、制御用コン
ピュータ２９（二予め被検査体である各電子部品の座標
を入力すること（二より、連続的に各電子部品を検査装
置におけるコンタクトピン３０ 、３０の真下の真下位
置（＝移動、停止制御しうるように設定構成しである。
は、電子回路基板２８上（＝任意位置１：かつ任意角度
に実装された任意サイズの電子部品を連続して検査しう
るように構成した点にある。即ち、電子回路基板２８は
、制御用コンピュータ２９と連繋接続されたＸ−Ｙテー
ブル（図示省略）上に支承される構成となっており、制
御用コンピュータ２９を介してＸ−Ｙ軸方向に移動制御
されるＸ−Ｙテーブルを介して任意座標位置（−移動、
停止制御しうるようになっている。従って、制御用コン
ピュータ２９（二予め被検査体である各電子部品の座標
を入力すること（二より、連続的に各電子部品を検査装
置におけるコンタクトピン３０ 、３０の真下の真下位
置（＝移動、停止制御しうるように設定構成しである。
一対のコンタクトピン３０は、前記第２図、第３図にて
示した構成例と同様に一側がピン保持枠３１に固定保持
される構成となっており、他側のコンタクトピン３０が
ピッチ調節作動杆３２を介して移動自在の構成となって
いる。なお、固定側及び可動側のコンタクトピン３０
、３０の保持構成は、第２図、第３図にて示した構成例
と同様であるのでその説明を省略する。
示した構成例と同様に一側がピン保持枠３１に固定保持
される構成となっており、他側のコンタクトピン３０が
ピッチ調節作動杆３２を介して移動自在の構成となって
いる。なお、固定側及び可動側のコンタクトピン３０
、３０の保持構成は、第２図、第３図にて示した構成例
と同様であるのでその説明を省略する。
前記ピッチ調節作動杆３２は、クララｆ３３を介してピ
ンピッチ調節用モータ３４と連動連結してあり、モータ
３４は制御用コンピュータ２９と連繋接続しである。即
ち、前記座標と同時Ｃ：被検査体である電子部品のサイ
ズを制御用コンピュータ２９に入力することにより、各
電子部品のサイズに対応するピンピッチＰ（−調節され
たコンタクトピン３０．３０を介して真下位置１＝停止
制御（位置決め制御）されて３／する電子部品を最適検
査状態にて次々に連続して検査しつるように設定構成し
であるのである。
ンピッチ調節用モータ３４と連動連結してあり、モータ
３４は制御用コンピュータ２９と連繋接続しである。即
ち、前記座標と同時Ｃ：被検査体である電子部品のサイ
ズを制御用コンピュータ２９に入力することにより、各
電子部品のサイズに対応するピンピッチＰ（−調節され
たコンタクトピン３０．３０を介して真下位置１＝停止
制御（位置決め制御）されて３／する電子部品を最適検
査状態にて次々に連続して検査しつるように設定構成し
であるのである。
である。
前記ピン保持枠３１は、制御用コンピュータ２９と連繋
接続された回動操作用モータ３５を介して任意の角度に
回動制御しうるとともに、上下操作用のシリンダーと連
結された上下作動軸３Ｂを介して昇降制御自在の構成と
なっている。
接続された回動操作用モータ３５を介して任意の角度に
回動制御しうるとともに、上下操作用のシリンダーと連
結された上下作動軸３Ｂを介して昇降制御自在の構成と
なっている。
前記コンタクトピン３０ 、３０と接続されたコード３
７ 、３７は、ＬＣＲメータ３８と接続されており、さ
ら＋：ＬＣＲメータ３Ｂは制御用コンピュータ２９と接
続されてそのデータが記碌されるようになっている。
７ 、３７は、ＬＣＲメータ３８と接続されており、さ
ら＋：ＬＣＲメータ３Ｂは制御用コンピュータ２９と接
続されてそのデータが記碌されるようになっている。
上記構成によれば、前記第１の実施例の効果Ｃ：加えて
、電子回路基板２８上の任意の座標位置に任意の角度で
実装されている多数の任意サイズの電子部品を連続して
正確に検査しうるものであり、特１：検査作業における
作業性９作業効率、検査信頼性の向上、自動化の推進等
が図れるものである。
、電子回路基板２８上の任意の座標位置に任意の角度で
実装されている多数の任意サイズの電子部品を連続して
正確に検査しうるものであり、特１：検査作業における
作業性９作業効率、検査信頼性の向上、自動化の推進等
が図れるものである。
発明の効果
以上のように本発明によれば、一対の（−組の）コンタ
クトピン及びピン保持部Ｃ；て多種サイズの電子部品を
検査することができ、多種サイズの電子部品を実装した
電子回路基板の検査や異種サイズの電子部品を実装した
多種少量もしくは多種中量の検査基板の検査を短時間に
て行ないうるものである。その結果、検査作業３二おけ
る作業性１作業効率の向上が図れるものである。
クトピン及びピン保持部Ｃ；て多種サイズの電子部品を
検査することができ、多種サイズの電子部品を実装した
電子回路基板の検査や異種サイズの電子部品を実装した
多種少量もしくは多種中量の検査基板の検査を短時間に
て行ないうるものである。その結果、検査作業３二おけ
る作業性１作業効率の向上が図れるものである。
第１図（ａ）は本発明に係る装置の第１の実施例を示す
一部断面正面図、第１図中）は第１図（ａ）におけるＴ
−ｒ線矢視方向の側断面図、第２図、第３図は本発明に
係る装置の第２の実施例を示す正面説明図、第４図は本
発明に係る装置の第３の実施例を示す正面図、第５図は
本発明に係る装置の第４の実施例を示す斜視説明図であ
る。 ２．１２，１３，２０．３０・・・コンタクトピン５．
１４，２３．３１・・・・・・・・・ピン保持枠９．１
７，２５．３２・・・・・・・・・ピンピッチ調節部材
１１．１８，２４．３６・・・・・・上下作動軸２９・
−・・・・・・・・・・・・・・・・・・・コンピュー
タ３４・・・・・・・・・モータ ３５・・・・・・・・・モータ ３８・・・・・・・・・ＬＣＲメータ 第２図 第３図 Ｒ 第４図
一部断面正面図、第１図中）は第１図（ａ）におけるＴ
−ｒ線矢視方向の側断面図、第２図、第３図は本発明に
係る装置の第２の実施例を示す正面説明図、第４図は本
発明に係る装置の第３の実施例を示す正面図、第５図は
本発明に係る装置の第４の実施例を示す斜視説明図であ
る。 ２．１２，１３，２０．３０・・・コンタクトピン５．
１４，２３．３１・・・・・・・・・ピン保持枠９．１
７，２５．３２・・・・・・・・・ピンピッチ調節部材
１１．１８，２４．３６・・・・・・上下作動軸２９・
−・・・・・・・・・・・・・・・・・・・コンピュー
タ３４・・・・・・・・・モータ ３５・・・・・・・・・モータ ３８・・・・・・・・・ＬＣＲメータ 第２図 第３図 Ｒ 第４図
Claims (10)
- （１）被検査体である電子回路基板上の電子部品に対し
て接触自在の複数のコンタクトピンと、前記コンタクト
ピンをそのピンピッチが可変となるべく保持するピン保
持枠と、前記コンタクトピンのピンピッチを拡縮操作す
るためのピンピッチ調節機構部と、前記ピン保持枠を上
下作動させる機構部とより構成してなる検出先端部を装
備してなる電子回路基板の検査装置。 - （２）前記複数のコンタクトピンは、一対にて構成され
ており、かつ、両コンタクトピンとも前記ピン保持枠に
移動自在に保持構成されていることを特徴とする特許請
求の範囲第１項記載の電子回路基板の検査装置。 - （３）前記複数のコンタクトピンは、一対にて構成され
ており、かつ、前記一対のコンタクトピンのうちの一方
が前記ピン保持枠に固定保持された他方のコンタクトピ
ンに対して遠近する方向に移動自在にして前記ピン保持
枠に保持構成されていることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載の電子回路基板の検査装置。 - （４）前記複数のコンタクトピンは、一対にて構成され
ており、かつ、前記一対のコンタクトピンはそのピンピ
ッチが拡縮調節しうるように支持ピンを介して前記ピン
保持枠に揺動自在に支持構成されていることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の電子回路基板の検査装置
。 - （５）前記ピンピッチ調節機構部は、前記コンタクトピ
ン間に弾装された弾機と、前記弾機の弾性力に抗して前
記コンタクトピンを移動操作せしめる調節ねじとより構
成されていることを特徴とする特許請求の範囲第１項、
第２項又は第３項記載の電子回路基板の検査装置。 - （６）前記ピンピッチ調節機構は、前記コンタクトピン
をそのピンピッチが常時拡大する方向に揺動させるべく
付勢する弾機と、前記弾機の付勢力に抗して前記コンタ
クトピンをそのピンピッチが縮小する方向に揺動せしめ
るためのピッチ調節部材とより構成されていることを特
徴とする特許請求の範囲第１項は第４項記載の電子回路
基板の検査装置。 - （７）前記弾機は張設された引張りコイルばねであり、
かつ、前記ピッチ調節部材は前記上下作動機構に固定も
しくは連結されたクサビ状もしくはコーン状の部材にて
構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第６項
記載の電子回路基板の検査装置。 - （８）前記コンタクトピンは、ＬＣＲメータに接続され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項、第２項
、第３項又は第４項記載の電子回路基板の検査装置。 - （９）ピン保持枠にそのピンピッチが調節自在となるよ
うに保持された一対のコンタクトピンと、前記ピンピッ
チ調節用の駆動装置と、被検査体である電子部品を実装
した電子回路基板をＸ−Ｙ方向に移動調節するためのＸ
−Ｙテーブルと、前記コンタクトピンとピン保持枠とよ
りなる検出先端部を任意角度回転駆動させるための駆動
装置と、前記検出先端部を上下作動させるための駆動装
置と、前記コンタクトピンと接続されたＬＣＲメータと
、前記Ｘ−Ｙテーブルの位置制御、前記検出先端部の回
転角度制御、前記コンタクトピンのピンピッチ調節制御
、前記検出先端部の上下作動制御及び前記ＬＣＲメータ
のデータを記録するためのコンピュータとにより構成し
てなる電子回路基板の検査装置。 - （１０）前記一対のコンタクトピンは、一方が前記ピン
保持枠に固定されており、他方が前記固定側コンタクト
ピンに対して遠近する方向に移動自在に保持構成されて
いることを特徴とする特許請求の範囲第９項記載の電子
回路基板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20610084A JPS6183966A (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | 電子回路基板の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20610084A JPS6183966A (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | 電子回路基板の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6183966A true JPS6183966A (ja) | 1986-04-28 |
| JPH0523389B2 JPH0523389B2 (ja) | 1993-04-02 |
Family
ID=16517801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20610084A Granted JPS6183966A (ja) | 1984-10-01 | 1984-10-01 | 電子回路基板の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6183966A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03122370U (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-13 | ||
| US5923176A (en) * | 1991-08-19 | 1999-07-13 | Ncr Corporation | High speed test fixture |
| JP2014228284A (ja) * | 2013-05-17 | 2014-12-08 | 日本メクトロン株式会社 | 同軸プローブ保持機構および電気特性検査装置 |
| JP2015508167A (ja) * | 2012-02-24 | 2015-03-16 | ローデ ウント シュワルツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディット ゲゼルシャフトＲｏｈｄｅ ＆ Ｓｃｈｗａｒｚ ＧｍｂＨ ＆ Ｃｏ．ＫＧ | 差動信号を測定するためのセンサ用アダプタ |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5036762U (ja) * | 1973-07-27 | 1975-04-17 | ||
| JPS52138257U (ja) * | 1976-04-15 | 1977-10-20 | ||
| JPS5821879U (ja) * | 1981-08-05 | 1983-02-10 | 日本電気株式会社 | 電子回路試験装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5821879B2 (ja) * | 1974-05-07 | 1983-05-04 | 古野電気株式会社 | チヨウオンパソウジユハキ |
-
1984
- 1984-10-01 JP JP20610084A patent/JPS6183966A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5036762U (ja) * | 1973-07-27 | 1975-04-17 | ||
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| JPS5821879U (ja) * | 1981-08-05 | 1983-02-10 | 日本電気株式会社 | 電子回路試験装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5923176A (en) * | 1991-08-19 | 1999-07-13 | Ncr Corporation | High speed test fixture |
| JP2015508167A (ja) * | 2012-02-24 | 2015-03-16 | ローデ ウント シュワルツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー コマンディット ゲゼルシャフトＲｏｈｄｅ ＆ Ｓｃｈｗａｒｚ ＧｍｂＨ ＆ Ｃｏ．ＫＧ | 差動信号を測定するためのセンサ用アダプタ |
| JP2014228284A (ja) * | 2013-05-17 | 2014-12-08 | 日本メクトロン株式会社 | 同軸プローブ保持機構および電気特性検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0523389B2 (ja) | 1993-04-02 |
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