JPS6181028A - A/d変換器の誤差検出回路 - Google Patents
A/d変換器の誤差検出回路Info
- Publication number
- JPS6181028A JPS6181028A JP20320784A JP20320784A JPS6181028A JP S6181028 A JPS6181028 A JP S6181028A JP 20320784 A JP20320784 A JP 20320784A JP 20320784 A JP20320784 A JP 20320784A JP S6181028 A JPS6181028 A JP S6181028A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- converter
- digital data
- bit
- data
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
不発fIAは比較的簡単にA/D変換器の非直線性誤差
を検出するA/D変換器の誤差検出回路区間するもので
ある。
を検出するA/D変換器の誤差検出回路区間するもので
ある。
(従来の技術)
従来、この種の誤差検出回路の代表的なものとして、A
/D変換器に入力したアナログ信号と。
/D変換器に入力したアナログ信号と。
A/D変換器によシ得られるディジタルデータをA/D
変換器より精度の扁いD/A変換器により再度、アナロ
グ信号に戻して、このD/A変換器のアナログ出力との
差を検出し、A/D変換器の非直線性誤差を検出する回
路がある0 第3図はその−fljのブロック図である。今、入力端
子10からあるアナログ入力信号を入力すると、このア
ナログ入力信号はnビットのA/Dy換器1によりディ
ジタルデータに変換され、nビット精度より上の鞘°度
を持つD/A&換器2に入力される。このD/A変換器
2はディジタルデータをアナログ信号に戻して出力する
。このD/A変換器2のアナログ出力信号とA/D変侠
器lのアナログ入力信号の差を減算器3により求め、A
/D変換器の非直線性誤差を検出する。
変換器より精度の扁いD/A変換器により再度、アナロ
グ信号に戻して、このD/A変換器のアナログ出力との
差を検出し、A/D変換器の非直線性誤差を検出する回
路がある0 第3図はその−fljのブロック図である。今、入力端
子10からあるアナログ入力信号を入力すると、このア
ナログ入力信号はnビットのA/Dy換器1によりディ
ジタルデータに変換され、nビット精度より上の鞘°度
を持つD/A&換器2に入力される。このD/A変換器
2はディジタルデータをアナログ信号に戻して出力する
。このD/A変換器2のアナログ出力信号とA/D変侠
器lのアナログ入力信号の差を減算器3により求め、A
/D変換器の非直線性誤差を検出する。
この場合には、nビットのA/D変換器lの1μ差を検
出するため罠は、少なくとも(n+1)ビットの精度を
持つD/A変換器2が必要であり、実際にこのD/A変
換器2の持つ非直線性誤差の影碑を無視できるようにす
るためには、(n+4)ビット精度程度のD/A変換器
が必贋となる。これは、A/D変換器のビット数nが犬
きくなればなるほど、より高精度のD/A変換器が必要
となり、精度の点から考えて、実現不可能となってくる
。また、仮に実現可能なビット数であったとしても、D
/A変換器が相当に高価なものとなる問題があった。
出するため罠は、少なくとも(n+1)ビットの精度を
持つD/A変換器2が必要であり、実際にこのD/A変
換器2の持つ非直線性誤差の影碑を無視できるようにす
るためには、(n+4)ビット精度程度のD/A変換器
が必贋となる。これは、A/D変換器のビット数nが犬
きくなればなるほど、より高精度のD/A変換器が必要
となり、精度の点から考えて、実現不可能となってくる
。また、仮に実現可能なビット数であったとしても、D
/A変換器が相当に高価なものとなる問題があった。
(発明の目的)
本発明の目的は、このような不都合をなくすた濃
めに、A/D変1!g!器のビット数nより精
度の低いD/A変換器2個を用いて非ば稀性誤差を精度
良く検出することのできるA/D変換器の誤差検出回路
を提供するものである。
めに、A/D変1!g!器のビット数nより精
度の低いD/A変換器2個を用いて非ば稀性誤差を精度
良く検出することのできるA/D変換器の誤差検出回路
を提供するものである。
(発明の(H成)
本発明のA/D変換器の誤差検出回路は、ディジタルデ
ータをアナログ信号に変換するmビットの第1のD/A
変換器および文ビットの第2のD/A変換器と、これら
第1.第2のD/A変換器の各アナログ出力にそれぞれ
所定の憲み付けをして加算を行いその出力を測定すべき
nビット(m、λ(n、m−+−g>n )のA/D−
f換器に供給する加算手段と、前記A/D変換器のnビ
ットのデータを記憶する記憶手段と、前記D/A変換器
のうちの下位側のD/A変換器の入力データを変化させ
た際の…■記A/D変換器のnビ、トの出力データと前
記記憶手段のnビットの出力データとの差を検出するデ
ータ比収手段とを含み構成される。
ータをアナログ信号に変換するmビットの第1のD/A
変換器および文ビットの第2のD/A変換器と、これら
第1.第2のD/A変換器の各アナログ出力にそれぞれ
所定の憲み付けをして加算を行いその出力を測定すべき
nビット(m、λ(n、m−+−g>n )のA/D−
f換器に供給する加算手段と、前記A/D変換器のnビ
ットのデータを記憶する記憶手段と、前記D/A変換器
のうちの下位側のD/A変換器の入力データを変化させ
た際の…■記A/D変換器のnビ、トの出力データと前
記記憶手段のnビットの出力データとの差を検出するデ
ータ比収手段とを含み構成される。
(発明の原理)
一般に、R−2R,ラダー抵抗型やセグメント電流源型
のA/D変換器では、抵抗及び定電流源の組合せごとの
理想電流値からの誤差により非直線性誤差が決まり、組
合せの切換り時に非直線性誤差が大きくなる。従って、
この組合せの切換り時の非直、観性?J4Mを検出する
ことにより、全体の非直線性誤差が予想される。
のA/D変換器では、抵抗及び定電流源の組合せごとの
理想電流値からの誤差により非直線性誤差が決まり、組
合せの切換り時に非直線性誤差が大きくなる。従って、
この組合せの切換り時の非直、観性?J4Mを検出する
ことにより、全体の非直線性誤差が予想される。
本発明においては、微小に離れた2つの入力ディジタル
データを2つのD/A K換器に入力し、その重み付は
加算出力をA/D変換器によりディジタルデータに買換
した際のディジタルデータの差を検出しており、これら
2つのL)/AfTh器のうち上位側のmビ、ト稽度の
D/A変換器の入力ディジタルデータを変化さゼずに、
下位側の1ビット精度のD/A変換器の入力ディジタル
データを変化させ、入力アナログ信号に応じてA/D変
換器内部で切り候見られる抵抗と定電流源の組合せの切
り換わり点において繰り返すことにより、全ての点にお
けるA/D変換器の非M線誤差を検出している。
データを2つのD/A K換器に入力し、その重み付は
加算出力をA/D変換器によりディジタルデータに買換
した際のディジタルデータの差を検出しており、これら
2つのL)/AfTh器のうち上位側のmビ、ト稽度の
D/A変換器の入力ディジタルデータを変化さゼずに、
下位側の1ビット精度のD/A変換器の入力ディジタル
データを変化させ、入力アナログ信号に応じてA/D変
換器内部で切り候見られる抵抗と定電流源の組合せの切
り換わり点において繰り返すことにより、全ての点にお
けるA/D変換器の非M線誤差を検出している。
(人繍例)
次にnビットのに/D変侯器の非直線性誤差の検出回路
を図面により詳細に説明する。
を図面により詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を含むブロック図である。図
において、4,5は21mビットのD/A変換器、6は
重み付は加算回路、7Vi切換スイツチ、8t:l記憶
回路、9はティジタル比較器である。
において、4,5は21mビットのD/A変換器、6は
重み付は加算回路、7Vi切換スイツチ、8t:l記憶
回路、9はティジタル比較器である。
最初に、スイッチ7を、D/A変換器4と接続されるa
側に投入しておく。誤差測寛すべきA/D変換器工のn
ビットの出カディジタルデータのうち下位側(R−1ピ
ツトtでのディジタルデータの非は練性誤差は次のよう
に求められる。すなわち、下位側のλビット精度のD/
A変換器4によりλビットの入力ディジタルデータがア
ナログ信号に変換され、そのアナログ信号がA/D変換
器1によりディジタルデータに変換されるため、このA
/D変換器1の出カディジタルデータとD/A変換器4
の入力ディジタルデータとの差をディジタル比教器9に
より求めて、その非直線性誤差を検出できる。
側に投入しておく。誤差測寛すべきA/D変換器工のn
ビットの出カディジタルデータのうち下位側(R−1ピ
ツトtでのディジタルデータの非は練性誤差は次のよう
に求められる。すなわち、下位側のλビット精度のD/
A変換器4によりλビットの入力ディジタルデータがア
ナログ信号に変換され、そのアナログ信号がA/D変換
器1によりディジタルデータに変換されるため、このA
/D変換器1の出カディジタルデータとD/A変換器4
の入力ディジタルデータとの差をディジタル比教器9に
より求めて、その非直線性誤差を検出できる。
次に、A/D変例器1のnビットの出方ディジタルデー
タのうち下位側LQ−1)ビットまででは表わせないよ
うな高精度のディジタルデータの非iMl性顯差は次の
ように検出する。まず、スイッチ7をカローー器6の出
力と接続されるb側に投入して訃く。A / D :M
祭器1の出力ディジタルデータがちょうどDn(N)と
なる除の下位、上位側の各D/A変換器4.5の入力デ
ィジタルデータがそれぞれDi(N)、Dm(N)、そ
の際のA/D変換器1のアナログ入力、即ちlみ付は加
算回路6の出力をAn(N)とおく。なお、この重み付
けは、下位側のqピ、ト釉度D/A変換器4のILSB
がA/D変換器1のnビットのILSBより小さくなる
ようにする。例えば、A/D変換器1のnビットのIL
sBと交ビット稍度り/A斐換器4のフルスケールが一
致するように設定すれば良い。
タのうち下位側LQ−1)ビットまででは表わせないよ
うな高精度のディジタルデータの非iMl性顯差は次の
ように検出する。まず、スイッチ7をカローー器6の出
力と接続されるb側に投入して訃く。A / D :M
祭器1の出力ディジタルデータがちょうどDn(N)と
なる除の下位、上位側の各D/A変換器4.5の入力デ
ィジタルデータがそれぞれDi(N)、Dm(N)、そ
の際のA/D変換器1のアナログ入力、即ちlみ付は加
算回路6の出力をAn(N)とおく。なお、この重み付
けは、下位側のqピ、ト釉度D/A変換器4のILSB
がA/D変換器1のnビットのILSBより小さくなる
ようにする。例えば、A/D変換器1のnビットのIL
sBと交ビット稍度り/A斐換器4のフルスケールが一
致するように設定すれば良い。
このA/D変換変換器用力ディジタルデータDn(N)
は記憶回路8により記憶される。
は記憶回路8により記憶される。
次罠、上位側mビットD/A変換器5への入力ディジタ
ルデータDm(N)は変化きせず、下位側2ビツトD/
A変侯4の入カディジタルデータDi(N)を、A/D
変換器1のアナログ人力An(N)がnビ、トのI L
8B分と許容線差分だけl化してAn(N+1 )にな
るように、Di(N+t)へと変化させる。その際のA
/D変換器1の出力ディジタルデータをDn(N+1)
とする0 この記憶回路8の出力ディジタルデータDn
(N)及びA/D変換器1の出力ディジタルデータD
n(N+1)の題がちょうどILsBになっていること
をディジタル比較器9により検出することにより、A/
D変換器1の出力データがDn(N)の際の非直線性誤
差が検出できる0この入出力データの関係は、第2図の
グラフに示される0 本実施例においては、λビット、mピ、ト梢度の各D/
A変換器4.5にディジタルデータを入力する方法とし
て、vH端子にノ・イレペル電圧。
ルデータDm(N)は変化きせず、下位側2ビツトD/
A変侯4の入カディジタルデータDi(N)を、A/D
変換器1のアナログ人力An(N)がnビ、トのI L
8B分と許容線差分だけl化してAn(N+1 )にな
るように、Di(N+t)へと変化させる。その際のA
/D変換器1の出力ディジタルデータをDn(N+1)
とする0 この記憶回路8の出力ディジタルデータDn
(N)及びA/D変換器1の出力ディジタルデータD
n(N+1)の題がちょうどILsBになっていること
をディジタル比較器9により検出することにより、A/
D変換器1の出力データがDn(N)の際の非直線性誤
差が検出できる0この入出力データの関係は、第2図の
グラフに示される0 本実施例においては、λビット、mピ、ト梢度の各D/
A変換器4.5にディジタルデータを入力する方法とし
て、vH端子にノ・イレペル電圧。
vL端子にロクレベル電圧を与えておき、谷ビットごと
にそれぞれ之個、m個のスイッチの切シ換えによる方法
を示したが、コンピュータからのディジタルデータをラ
ッチ回路によりラッチした後、各D/A変換器4,5に
入力する方法もある0まだ、A/D変換器1のnビット
出力データとり、A変換器4のQビ、ト入カディジタル
データとの比較及びA/Dim器1のnビット出力デー
タと記憶回路8のnビット出力データとの比較をディジ
タル比較器9により求める例を述べたが、この代りにラ
ッチ回路を介してコンピュータに入力し、計算させるこ
ともできる。
にそれぞれ之個、m個のスイッチの切シ換えによる方法
を示したが、コンピュータからのディジタルデータをラ
ッチ回路によりラッチした後、各D/A変換器4,5に
入力する方法もある0まだ、A/D変換器1のnビット
出力データとり、A変換器4のQビ、ト入カディジタル
データとの比較及びA/Dim器1のnビット出力デー
タと記憶回路8のnビット出力データとの比較をディジ
タル比較器9により求める例を述べたが、この代りにラ
ッチ回路を介してコンピュータに入力し、計算させるこ
ともできる。
以上、説明したように、A/D変換器1の出力データが
Dn(N)の際の非直線性誤差を検出したら、他の出力
データの場合江おいても同様な方法により誤差検出が可
能である。すなわち、nビットのA/D変換器の非直線
性誤差の検出において、最初にnビットのうち下位側(
ρ−1)ビットまでの非直線性誤差を検出し、次罠出力
が(R−t)ビットまででは表わせないような点での非
直線誤差は、(4−1)ビットより上位側の各ビットが
切り換わる各点において非直線性を検出していくことに
より、nビットA / D 変換器の全体の非直線誤差
を検出することが可能となる。
Dn(N)の際の非直線性誤差を検出したら、他の出力
データの場合江おいても同様な方法により誤差検出が可
能である。すなわち、nビットのA/D変換器の非直線
性誤差の検出において、最初にnビットのうち下位側(
ρ−1)ビットまでの非直線性誤差を検出し、次罠出力
が(R−t)ビットまででは表わせないような点での非
直線誤差は、(4−1)ビットより上位側の各ビットが
切り換わる各点において非直線性を検出していくことに
より、nビットA / D 変換器の全体の非直線誤差
を検出することが可能となる。
(発明の効果)
以上説明したように、従来はnビットのA/D変換器の
非直線性誤差を検出するため、少なくとも(n+1)ビ
ット精度のD/AgL換器を必要とするため、そのnが
大きくなるに従い非富に島価になり、かつf+J度上実
現不可能となるが、本発明によれば、安価なnビットよ
り精度の低いD/A変換器2個を用いてnピノ)A/D
変換器の非直線性誤差が検出可能となる。
非直線性誤差を検出するため、少なくとも(n+1)ビ
ット精度のD/AgL換器を必要とするため、そのnが
大きくなるに従い非富に島価になり、かつf+J度上実
現不可能となるが、本発明によれば、安価なnビットよ
り精度の低いD/A変換器2個を用いてnピノ)A/D
変換器の非直線性誤差が検出可能となる。
第1図(/:j本発明の一笑施例を含むブロック図、第
2図1”j Q 1図の入出力データの関係を示すグラ
フ、第3図は従来のA/D変換器の誤差検出回路のプロ
、り図である。図において 1・・・・・nビットA/D変侯器、2・・・・・nビ
ットよりh度が上のD/A変換器、3・・・・・減X器
、4・・・・・λビット梢度り/A変侯器、5・・・・
・mビットh度D/A変換器、6・・・・・車み付は及
びiM算回路、7 ・・・切り換えスイッチ、8・・・
・・記憶回路、9・・・・・・ディジタル比較器である
。 皿、−′・
2図1”j Q 1図の入出力データの関係を示すグラ
フ、第3図は従来のA/D変換器の誤差検出回路のプロ
、り図である。図において 1・・・・・nビットA/D変侯器、2・・・・・nビ
ットよりh度が上のD/A変換器、3・・・・・減X器
、4・・・・・λビット梢度り/A変侯器、5・・・・
・mビットh度D/A変換器、6・・・・・車み付は及
びiM算回路、7 ・・・切り換えスイッチ、8・・・
・・記憶回路、9・・・・・・ディジタル比較器である
。 皿、−′・
Claims (1)
- ディジタルデータをアナログ信号に変換するmビットの
第1のD/A変換器およびlビットの第2のD/A変換
器と、これら第1、第2のD/A変換器の各アナログ出
力にそれぞれ所定の重み付けをして加算を行いその出力
を測定すべきnビット(m、l<n、m+l>n)のA
/D変換器に供給する加算手段と、前記A/D変換器の
nビットのデータを記憶する記憶手段と、前記D/A変
換器のうちの下位側のD/A変換器の入力データを変化
させた際の前記A/D変換器のnビットの出力データと
前記記憶手段のnビットの出力データとの差を検出する
データ比較手段とを含むA/D変換器の誤差検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20320784A JPS6181028A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | A/d変換器の誤差検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20320784A JPS6181028A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | A/d変換器の誤差検出回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6181028A true JPS6181028A (ja) | 1986-04-24 |
Family
ID=16470237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20320784A Pending JPS6181028A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | A/d変換器の誤差検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6181028A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03276968A (ja) * | 1989-09-19 | 1991-12-09 | Ikegami Tsushinki Co Ltd | 非線形量子化回路の誤差補正方法および回路 |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP20320784A patent/JPS6181028A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03276968A (ja) * | 1989-09-19 | 1991-12-09 | Ikegami Tsushinki Co Ltd | 非線形量子化回路の誤差補正方法および回路 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4222107A (en) | Method and apparatus for automatically calibrating a digital to analog converter | |
US7611279B2 (en) | Temperature sensor providing a temperature signal in digital form | |
CN104079298A (zh) | 自校准桥接电容结构的逐次逼近型模数转换器 | |
EP0092202A2 (en) | Digital-to-analog converting apparatus equipped with calibrating function | |
JPS5873231A (ja) | Ad変換装置 | |
JPH0345581B2 (ja) | ||
US20230198535A1 (en) | Calibration method of capacitor array type successive approximation register analog-to-digital converter | |
US5373292A (en) | Integration type D-A/A-D Conversion apparatus capable of shortening conversion processing time | |
US4763108A (en) | Digital-to-analog conversion system | |
EP0257878B1 (en) | D/A converter | |
KR20040106448A (ko) | 집적 테스트 회로를 포함하는 디지털-아날로그 컨버터 | |
JPS6181028A (ja) | A/d変換器の誤差検出回路 | |
JPS5912619A (ja) | アナログ・デイジタル変換器の自動補正方法 | |
JPS59133728A (ja) | A/d変換器 | |
JPS5913418A (ja) | 信号処理装置 | |
JPS60185429A (ja) | Da変換器における直線性誤差補正回路 | |
JP3495179B2 (ja) | D/aコンバーターの特性の測定方法及びd/aコンバーターの特性の測定ユニット | |
JPH0338779B2 (ja) | ||
CN112781743B (zh) | 一种应用于SoC的CMOS温度传感器电路及其工作方法 | |
JPS5863227A (ja) | デイジタル・アナログ変換回路 | |
JP3502880B2 (ja) | D/a変換器のテスト方法及びテスト装置 | |
SU1462475A1 (ru) | Последовательно-параллельный аналого-цифровой преобразователь | |
劉儀 | Segmented DAC Linearity Improvement Algorithm Using Unit Cell Sorted Alternately with Digital Method | |
SU1204968A1 (ru) | Цифровой измеритель температуры | |
SU868609A1 (ru) | Измеритель мощности |