JPS616774A - 濃淡むら検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、たとえばスタンプによって捺印したマーク、
あるいは印刷機によって印刷した印字パターン等の品質
の検査等において、マークあるいは印字パターンの濃淡
むらの有無の検査に使用する濃淡むら検出装置に関する
。

ＩＣ素子をはじめ各種の電子回路には、形式番号・製造
年月および製造ロット番号等がスタンプによって捺印さ
れているが、その良否は製品自身の品質の良否を表すも
のとして非常に重要視されており、したがって、出荷に
先立ち製品検査の一環として厳重な検査がなされる。

また、マークの良否を最も端的に表すものとして、前記
の検査には濃淡むらの有無が重要な検査項目に採り入れ
られている。

なお、前記マークの捺印には自動捺印機が用いられるこ
とが多く、シたがって前記検査は自動捺印機の状態を監
視する上でも重要である。

ところで、マークの濃淡むらの大小は、マーク部分単位
面積当たりのある濃度値以上の部分の面積によって表さ
れる。したがってその判定は、どの部分をマーク部分と
見なすかによって異なるほか、測定条件とくに照明状態
によっても大きく左右され易い。

このため、マーク部分を一義的に決定でき、かつ測定条
件によって左右されることない濃淡むら検出装置の実用
化が望まれる。

〔従来の技術〕

第２図はスタンプによって捺印したマークの検査に用い
る濃淡むら検出装置の従来例の構成を示すブロック図で
あり２図中、１はスタンプによって捺印されたマークを
背景と共に観測し、たとえば０．１１平方の画素毎に、
マーク部を形成する画素を“１”とし背景部を形成する
画素を“０”とする２値データとして入力する入力部、
２は前記入力部１によって得られた画像の横座標軸に対
する投影を生成する投影部、３°は、前記スタンプの捺
印によって得られた理想的なマークに対し、入力部１と
投影部２とによって得られた投影を、照合基準投影とし
て前辺って記憶して置く記憶部である。

また４は投影部２によって検査対象マークから得られた
投影と記憶部３に記憶する照合基準投影との差を検出す
る検出部、５は検出部４によって得られた差の積分値を
、内蔵する判定基準値と比較することによって、検査対
象マークの濃淡むらが許容できるか否かを判定する判定
部である。

〔発明が解決しようとする問題点〕

前記構成のものにおいては、あらかじめ与えられた正常
な（理想的な）画像と人力画像との比較によって濃淡む
らを検出している。

したがつて、観測条件とくに照明に応じてマーク部の濃
度値が変化しても、安定に濃度むらが検出できるように
するためには、観測条件に応して２値化におけるしきい
値を変化させなりればならないので、しきい値の決定が
困難であるという問題点がある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明になる濃淡むら検出装置は、パターンが記された
画像を観測し所定寸法の、画素毎に各々の濃度値を多値
化して入力する入力部と５前記多値化して入力された画
像の濃度変化を強調する濃淡強調部と、前記濃度変化を
強調された画像から所定の複数の部分領域毎の濃度ヒス
トグラムを生成するヒストグラム生成部と、前記濃度ヒ
ストグラムによってパターン構成画素が所定数または所
定比以上の部分領域を識別する識別部と、前記識別され
た部分領域毎の所定濃度値以上の画素の数とパターン構
成画素の数との比によって前記画像の濃淡むらを判定す
る判定部とをそなえ、前記問題点の解決を図ったもので
ある。

〔作用〕

すなわち１本発明は、観測によって得られた多値画像を
、ａ淡強調部によって濃度変化を強調することによって
、マーク部と背景部との境界付近の画素の数が減少する
ので、この部分における濃淡むらの影響を受けることな
く濃淡むらを判定でき、また入力画像のみで濃淡むらを
定量化するため観測条件の影響を受けることなく安定に
濃淡むらを検出することができる。

〔実施例〕

次に本発明の要旨を第１図（ａｌに示す実施例によって
具体的に説明する。

第１図［ａ）は本発明−実施例の構成を示すブロック図
であり、　１′はパターンが記された画像を観測し、た
とえば０．１ｍｍ平方の画素毎に各々の濃度値を２５６
段階に多値化して入力する入力部である。

６は入力部１゛によって多値化された画像の濃度変化を
強調する濃淡強調部であり、微分回路６１・２値化回路
６２・最大値フィルタ回路６３および選択回路６４から
構成される。

微分回路６１では、第１図（ｂｌに示す微分フィルタ（
１１および同（２）によって、入力部１゛の出力を走査
し、それぞれ上下方向（ｙｌおよび左右方向（Ｘ）の微
分値を求め、これらの自乗平均値として各画素毎の濃度
微分を求め、２値化回路６２では、微分回路６１の出力
を経験的に得られる所定のしきい値によって画素毎に２
値化する。

一方、最大値フィルタ回路６３では、入力部１゛の出力
を第１図（Ｃ）に示す（３Ｘ　３）画素の最大値フィル
タによって走査し１画素毎に９画素（ａｌ・ａ２・ａ３
・・・ａ９）の中の最大値に変換して出力すまた選択回
路６４は、２値化回路６２の出力に応して、“１″のと
きには入力部１′の出力を選択し。

“０″のときには最大値フィルタ回路６３の出力を選択
して出力する。

その結果、−次元的に表すと、第１図（ｄ）に例示する
ように、（１）のような濃度変化は（２）のように変換
され、ａ変度化が強調される。

７はヒストグラム生成部であり、ＩＭ淡強調部６によっ
て濃度変化を強調された画像を、第１図ｔｅｌに例示す
るように２等面積の複数の部分画成に分割するとともに
各部分領域毎に濃度ヒストグラムを生成する。

８はヒストグラム生成部７によって得られた部分領域毎
のヒストグラムを、第１図（ｆ）に例示するように、ま
ず谷部によってパターン部（ハツチング部）と背景部と
に分割し、つぎにパターン構成画素の総数Ａを計数し、
この画素数が所定数以上の部分領域（たとえば※印を付
した部分領域）を識別する識別部である。

また９はａ淡むらの有無を判定する判定部であり、識別
部８によって識別された部分領域毎に。

パターン部分の濃度値範囲をカバーするｎ種類の各所定
の濃度値Ｄ１・Ｄ２・・Ｄｉ・・Ｄｎ以上の画素の数Δ
１・舷・・Ａｉ・・Ａｎ　（第１図（ａ参照）と識別部
８によって得たパターン構成画素の総数へとの比へ１／
Ａ　　・　八２／Ａ　　・　・　八ｉ／Ａ　　・　・　
八ｎ／Ａを求め、　識別部８によって識別された部分領
域かに個であったとすると、に個の部分領域の中からＡ
ｉ／Ａの最大値ｍａｘ　（八ｉ／Ａ）と最小値ｍｉｎ　
（八ｉ　／　Ａ　）を求める。

次にｎ種類の所定濃度値Ｄ１・Ｄ２・・Ｄｉ・・Ｄｎ毎
に 、　　　ΔＲｉ＝　　ｍａｘ　　（八ｉ／Ａ）　　　　
　ｍｉｎ　　（Ａｉ／Ａ）　　−一■を求め、ｎ個のΔ
Ｒ４の中の最大値ｍａｘΔＲｉを内蔵する判定基準値Δ
Ｒと比較する。

その結果、　　ｍａｘΔＲ４がΔＲを越えるか否かによ
って濃淡むらの有無を判定する。

上記実施例によると、被検査画像を複数の部分領域に分
割し、各部分領域毎の濃度ヒストグラムに注目して識別
した部分領域に対して濃淡むらを調べるので、ノイズに
よる影響を避けることができる。

またパターン部分の濃度値範囲をカバーするｎ種類の濃
度値以上の画素に注目して濃淡むらを求めるので、照明
条件の変化の影響を受けることがない。

〔発明の効果〕

以上説明したように２本発明によれば観測条件とくに照
明に応してマーク部の濃度値が変化しても、安定に濃淡
むらが定量化でき、濃淡むらの有無を正しく判定するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ｆａｌば本発明一実施例の構成図。 第１図（ｂｌ　・（ｃ）　・（ｄ）　−ｆｅ）　・（ｆ
）および（ｇｌは同実施例の説明図。 第２図は従来例の構成図である。 図中。 １°は入力部、６１は微分回路。 ６２は２値化回路、６３は最大値フィルタ。 ６４は選択回路、　　　　７はヒストグラム生成部。 （ｄ） （υ　　　　　　　　　　　（２） （ｅ−）　　　　　　　　　　　　び）昂　１　圀 （デ）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. パターンが記された画像を観測し所定寸法の画素毎に各
   々の濃度値を多値化して入力する入力部と、前記多値化
   された画像の濃度変化を強調する濃淡強調部と、前記濃
   度変化を強調した画像から所定の複数の部分領域毎の濃
   度ヒストグラムを生成するヒストグラム生成部と、前記
   濃度ヒストグラムによってパターン構成画素が所定数ま
   たは所定比以上の部分領域を識別する識別部と、前記識
   別された部分領域毎の所定濃度値以上の画素の数とパタ
   ーン構成画素の数との比によって前記画像の濃淡むらを
   判定する判定部とを備えることを特徴とする濃淡むら検
   出装置。