JPS6165103A

JPS6165103A - 測長器

Info

Publication number: JPS6165103A
Application number: JP18714684A
Authority: JP
Inventors: Kenzaburo Miura; 三浦　健三郎; Hidetoshi Takatsu; 高津　秀俊
Original assignee: Kawaguchiko Seimitsu KK
Current assignee: Kawaguchiko Seimitsu KK
Priority date: 1984-09-06
Filing date: 1984-09-06
Publication date: 1986-04-03

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（ａ）産業上の利用分野本発明は、磁気を利用した磁気式測長器に関するもので
あり、特に任意の測長パターン等の古き込み及び読み取
り可能に構成することにより、各種単位系の測長が可能
な測長器に関するものである０（ｂ）従来技術従来の測長器としては、第６図に示すように、測定の基
準となる磁気目盛りが設けられている磁気スケールエと
、この磁気スケール１のｍ気目ｉりの移動を読み取る読
４取りヘッド２とからなる検出器を備えたもの、または
第７図に示すように。

等間隔に設けられた多くのスリットを有する移動スリッ
ト３と、固定スリット４と、これらを挾むように対向配
置された発光ダイオード５とフォトトランジスタ６によ
り移動スリット３の移動量を検出する検出器を備えたも
のがあった。

これらの測長器において、予め設定された許容公差と測
定値とを比較して合否の判定が可能なものとしては、電
子式に判別するものと機械式に判別するものがある。電
子式のものは、第８図に示すように、許容公差と測定値
とを比較するブリセント式カウンタ８が第６図又は第７
図に示す構造の検出器７に接続されて設けられている。

また、機械式に判別するものは、第９Ａ図に示すように
スピンドル９に２本のピン１０．１１が取り付けられて
おり、ばね１２．１３によりそれぞれピン１０．１１に
接触するアーム１４．１５を設け、スピンドル９の上下
動によりアーム１４．１５がたわみ、その先端にある可
動接点Ａ、Ｂが固定接点（図示せず）に接触して第９Ｂ
図のように可動接点Ｂが接触したときの信号を下限の信
号として取り出し、第９Ｃ図のように可動接点Ａが接触
したときの信号を“上限の信号として取り出すものであ
る。

（Ｃ）発明が解決しようとする問題点上記従来例においては、磁気スケール１の磁極の間隔は
着磁されたときに決定されており、任意に選択すること
はできず、また移動スリット３及び固定スリット４のス
リットもエツチング等により形成されており、固定され
たものである。

この磁極やスリットの間隔を決定することにより測定単
位は決められるので、ｎ単位の検出器を使用して他の単
位系、例えば１ｎｃｈで測定する場合には、演算若しく
は１ｎｃｈを基準パターンとする他のスケールが必要で
あった。特に、演算をすると演算誤差が生じ、また基準
パターンを２種類以上用意すると検出器が大きくなり、
コスト高をまねくことにもなった。また、許容公差と測
定値との比較検出をする場合、プリセットカウンタを使
用した測長器においては停電が起きたときにプリセット
カウンタの記憶が消えてしまうため、公差の上下限をセ
ットしなおさなければならず、一方機械式接点を使用し
た測長器においては耐久性と精度に問題があった。

本発明は上記従来例の問題点を解決するものである。

（ｄ）問題点を解決するための手段本発明は、基準パターンと磁気により記録可能な記録媒
体と、この記録媒体に記録を書き込み及びその消去をし
、基準パターンと記録を読み取るヘッドとを備え、この
ヘッドにより基準パターンと記録を読み取ることにより
測長するものである。

（ｅ）実施例以下図面に基いて本発明の゛実施例を説明する。

第１図は、本発明の一実施例を示す図である。

２０は記録媒体であり、上側に記録部２０ａが設けられ
ており、下側に等間隔で着磁された磁気目盛りからなる
基準パターン部２０ｂが設けられている。

２１は、書き込み及び読み取りヘッド（以下書読ヘッド
と略す）であり、記録媒体２０の記録部２０ａに対面す
るように配置されている。

２２は消去用、ヘッドであり、書読ヘッド２１と同じく
記録媒体２０の記録部２０ａに対面するように配置され
ている。２３は読み取りヘッドであり、記録媒体２０の
基準パターン部２０ｂに対面するように配置されている
。

この測長器においては、書読ヘッド２１により記録媒体
２０の記録部−２０ａに磁気目盛り等を記録し、測長す
る際にこれを書読ヘッド２１で読み取って測長する。尚
、読み取りヘッド２３により直接基準パターン部２０ｂ
を読み取って測長することもできる。

本実施例における測長器には、第２図に示すように、読
み取りヘッド２３からの信号を入力するアンプ２４と、
このアンプ２４の出力信号を波形整形して書読ヘッド２
１に印加する波形整形回路２５が設けられている。この
ため、記録媒体２０の基準パターン部２０ｂを読み取り
ヘッド２３により必要な部分゛だけ読み取り、アンプ２
４、波形整形回路２５及び書読ヘッド２１を介して記録
媒体２０の記録部２０ａに着磁記録し、この記録を書読
ヘッド２１により読み取ることにより測長することが可
能である。

また、本実施例における測長器は、第３図に示すように
他の検出器２６に接続することもでき、他　　　　′の
検出器２６からの信号を書読ヘッド２１に入力すること
により、記録媒体２０を同期して動かし記録部２０ａに
他の検出器２６の基準パターン、例えば１ｎｃｈ単位系
のものを着磁記録することができ、この基準パターンを
書読ヘッド２１により読み取って測長することも可能で
ある。

尚、上記いずれの場合にも、記録媒体２０の記録部２０
　ａに記録さｈた基準パターンは、消去ヘッド２２によ
り消去可能である。

次に、本実施例の測長器を使用して公差の上下限を設定
して測長する場合の手順を第４Ａ図乃至第４Ｃ図を用い
て説明する。

図に示すように、記録媒体２０の基準パターン部２０ｂ
の磁極間をりμｍピッチに設定したとすると、スピンド
ル（図示せず）に取り付けられた記録媒体２０又はヘッ
ドを移動することによりすμｍ毎の検出信号を読み取り
へラド２３から得ることができる。

はじめに、第４Ａ図に示すように、スタート点を設定す
る。即ち、記録媒体２０の基準バター７部２０ｂの任意
の位置の目盛りを読み取りへ７ド２３で読み取り、書読
ヘッド２１により記録部２０ａにスタート点としてその
位置を記録する。尚、このスタート点を決定したときに
、読２Ａ取りヘッド２３に接続されたカウンターの表示
はＯにリセットされ、さらに記録媒体２０が矢印２７の
方向に移動すると測定値が大きくなるように設定されて
いる。

次に、このスタート点から＋５０μｍが基準寸法で、公
差が＋３９總であると仮定すると、公差の下限はスター
ト点から＋２ｏＰＴｒＬであり、上限は＋８０）Ａｎと
なり、この上下限を設定する。この公差の下限は。

第４Ｂ図に示すように記録媒体２０又はヘッドを移動し
て読み取りヘッド２３により基準パターン部２゜ｂの２
０μｍ（スタート点からの距離）の位置を読み取り、こ
の位置を占読ヘッド２１で記録部２０ａに記録して設定
する。また公差の上限は、第４ｃ図に示すように記録媒
体２０又はヘッドを移動して読み取りへ７ド２３により
基準パターン２０ｂの８０μｍ（スタート点からの距離
）の位置を読み取り、これを書読ヘッド２１により記録
部２０ａに記録して設定する。

このように、公差の上下限を設定し、こｈを書読ヘッド
２１で読み取ることにより、測定値が公差内にあるか否
かを判断することが可能となる。

又、公差の上下限を記録部２０ａに記録する方法として
上記方法の他に、基準ブロックゲージを使用して記録す
る方法がある。すなわち、図示しないが、公差の下限値
の基準ブロックゲージをセントして下限値を記録し、次
に公差の上限値の基準ブロックゲージをセットして上限
値を記録する。

このような方法によｈば、前記の基準パター／による上
下限の記録におけるデジタル測長器のもつ量子化誤差が
無くなり、より精度の良い測定が可能となる。

尚、この公差の上下限は、消去ヘッド２２により消去し
て新たに設定することができるものである。

第５図は、本発明の他の実施例を示す図であり、上述し
た実施例における記録媒体２ｏの代わりに、記録用記録
媒体２８七、基準パターン用記録媒体２９を別々に設け
たものである。

（ｆ）発明の効果本発明によｈば、測長器自体の基準パターン又は外部か
らの信号により自由に記録媒体に着磁することが可能で
あり、各種単位系の測長をすることができる。

また、測定値が公差内にあるか否かを判別するシグナル
インジケータとして使用した場合、公差の上下限が記録
媒体に着磁されて記憶されるので、停電により設定した
公差の値が消えてしまうことがない。

さらに、機械式接点を使用していないので、耐久性や精
度に優れている。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例を示す図、第２図及び第３
図は第１図に示す測長器の接続経路を示す図、第４Ａ図
乃至第４Ｃ図は、公差を設定する手順を示す図、第５図
は、本発明の他の実施例を示す図、第６図及び第７図は
、従来例を示す図、第８図乃至第９Ｃ図は、従来の公差
設定機構を示す図である。２０・・会記録媒体、　　２１・・・書き込み及び読み
取りヘッド、　　２２・−・消去ヘッド、　　　２３ａ
・・読み取りヘッド、　　　２４−−−アンプ、２５・
・・波形整形回路、２６・・・検出器、２８・・・記録
用記録媒体、　　２９・・・基準パターン用記録媒体。、７・′τ〕出願人　河口湖精密株式会社・“１．′−。オ６１！１手わヒ半市１’Ｅ　＋”！”：二（方式）３、補正をす
る者

Claims

【特許請求の範囲】

磁気変化を検出することにより測長する磁気式測長器に
おいて、予め基準となる磁気目盛りからなる基準パター
ンを有しかつ任意の位置に記録可能な記録媒体と、該記
録媒体に対向配置され、前記記録媒体に着磁記録し、か
つ該着磁記録を読み取る書き込み読み取りヘッドと、前
記着磁記録を消去する消去ヘッドと、前記記録媒体の基
準パターンを読み取る読み取りヘッドとを備え、前記記
録媒体の前記着磁記録と前記書き込み読み取りヘッド、
及び前記基準パターンと読み取りヘッドとの位置変化を
該ヘッドにより読み取ることにより測長することを特徴
とする測長器。