JPH0129527Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0129527Y2 JPH0129527Y2 JP1270883U JP1270883U JPH0129527Y2 JP H0129527 Y2 JPH0129527 Y2 JP H0129527Y2 JP 1270883 U JP1270883 U JP 1270883U JP 1270883 U JP1270883 U JP 1270883U JP H0129527 Y2 JPH0129527 Y2 JP H0129527Y2
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- JP
- Japan
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- measured
- comb
- inner diameter
- shaped
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- Expired
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(a) 考案の技術分野
この考案は、測長機で未知寸法を測定しようと
する場合、クシ型基準器で校正しながら測定する
測長機についてのものである。
する場合、クシ型基準器で校正しながら測定する
測長機についてのものである。
(b) 従来技術
タツチセンサを使用した従来の測長機の構成図
を第１図に示す。第１図の１は被測定物、６はガ
イド、７はスケールである。また、２はスタイラ
スが被測定物１の内径ｄの左側に接触した状態、
３はスタイラスが被測定物１の内径ｄの右側に接
触した状態、４は被測定物１の内径ｄ測定時にタ
ツチセンサが左側で停止した状態、５は被測定物
１の内径ｄ測定時にタツチセンサが右側で停止し
た状態である。
を第１図に示す。第１図の１は被測定物、６はガ
イド、７はスケールである。また、２はスタイラ
スが被測定物１の内径ｄの左側に接触した状態、
３はスタイラスが被測定物１の内径ｄの右側に接
触した状態、４は被測定物１の内径ｄ測定時にタ
ツチセンサが左側で停止した状態、５は被測定物
１の内径ｄ測定時にタツチセンサが右側で停止し
た状態である。
第１図はガイド６に沿つてタツチセンサを４，
５の位置まで移動し、被測定物１の内径ｄにスタ
イラスを２と３の状態で接触させ、内径ｄを測定
し、その結果をスケール７に表示している状態図
である。
５の位置まで移動し、被測定物１の内径ｄにスタ
イラスを２と３の状態で接触させ、内径ｄを測定
し、その結果をスケール７に表示している状態図
である。
第１図で測定した内径ｄの測定値d1は次の式(1)
のようになる。
のようになる。
d1＝L1＋Ｄ−2L＋Ｅ …(1)
ここに、
L1＝スケール７の読み
Ｄ＝スタイラスの球径
Ｌ＝スタイラスが２または３の状態で内径ｄに接
触してからタツチ信号がでるまでのオーバー
ランストローク Ｅ＝誤差 誤差Ｅが発生する原因としては、次のようなも
のがある。
触してからタツチ信号がでるまでのオーバー
ランストローク Ｅ＝誤差 誤差Ｅが発生する原因としては、次のようなも
のがある。
スケール７の精度
ガイド６の真直度
タツチセンサの移動方向でおきるオーバーラ
ンストロークのばらつき 測長機のたわみ変形、熱変形 このような誤差Ｅを補正するには、次のように
すればよい。
ンストロークのばらつき 測長機のたわみ変形、熱変形 このような誤差Ｅを補正するには、次のように
すればよい。
内径ｄとほぼ等しい寸法dMを第１図により測
定する。寸法dMの値は既知とする。この場合の
寸法dMの測定値d2は次の式(2)のようになる。
定する。寸法dMの値は既知とする。この場合の
寸法dMの測定値d2は次の式(2)のようになる。
d2＝LM＋Ｄ−2L＋Ｅ …(2)
ここに、
LM：スケール７の読み
式(2)を変形して、
Ｅ＝d2−（LM＋Ｄ−2L） …(3)
式(3)から誤差Ｅが求められるので、真の内径ｄ
は次の式(4)のようになる。
は次の式(4)のようになる。
ｄ＝d1−Ｅ …(4)
(c) 従来技術の問題点
第１図の構成と式(1)〜式(4)によれば、被測定物
１の真の内径ｄを測定することができる。
１の真の内径ｄを測定することができる。
しかし、被測定物１の内径ｄの寸法が変るたび
に内径ｄに対応する寸法dMのものを準備しなけ
れば、式(3)による誤差Ｅを求めることができな
い。また、寸法dMのものを測長機にセツトする
ようにしている場合は、寸法dMが変るたびにセ
ツトし直さなければならない。
に内径ｄに対応する寸法dMのものを準備しなけ
れば、式(3)による誤差Ｅを求めることができな
い。また、寸法dMのものを測長機にセツトする
ようにしている場合は、寸法dMが変るたびにセ
ツトし直さなければならない。
(d) 考案の目的
この考案は、第１図により被測定物１の寸法ｄ
を測定する場合に、クシ型基準器を用意し、寸法
ｄが変つてもクシ型基準器の対応する寸法を測定
することにより被測定物１の測定値を校正するよ
うにし、測定精度と作業能率をあげるようにする
ものである。
を測定する場合に、クシ型基準器を用意し、寸法
ｄが変つてもクシ型基準器の対応する寸法を測定
することにより被測定物１の測定値を校正するよ
うにし、測定精度と作業能率をあげるようにする
ものである。
(e) 考案の実施例
この考案による実施例の外観図を第２図に示
す。第２図はクシ型基準器８を使用して被測定物
９の外径L2とこれに直交する方向で内径L3を測
定する場合の説明図である。
す。第２図はクシ型基準器８を使用して被測定物
９の外径L2とこれに直交する方向で内径L3を測
定する場合の説明図である。
クシ型基準器８にはクシの歯状の突出部８１〜
８９を設け、突出部８１〜８９の各側面間の距離
が寸法測定の基準値になるように設定する。突出
部の数は必要に応じて増減する。
８９を設け、突出部８１〜８９の各側面間の距離
が寸法測定の基準値になるように設定する。突出
部の数は必要に応じて増減する。
第２図のクシ型基準器８は突出部８１〜８５の
部分と突出部８５〜８９の部分を直交する２軸上
に配置したものである。
部分と突出部８５〜８９の部分を直交する２軸上
に配置したものである。
第１図と第２図で被測定物９の外径L2と内径
L3を測定するには、次のようにする。
L3を測定するには、次のようにする。
まず、被測定物９の外径L2を第１図のタツチ
センサで測定し、そのときのスケール７の読みを
L11とする。このとき、外径L2の測定値L21は、 L21＝L11＋Ｄ−2L＋Ｅ …(5) 次に、外径L2の寸法に近いクシ型基準器８の
側面８６Ａと側面８８Ｂ間の寸法L4を第１図の
タツチセンサで測定し、そのときのスケール７の
読みをL12とする。このとき、寸法L4の測定値L41
は、 L41＝L12＋Ｄ−2L＋Ｅ …(6) 式(6)から、 Ｅ＝L41−（L12＋Ｄ−2L） …(7) これから、被測定物９の真の外径L2は、 L2＝L21−Ｅ ＝L21−｛L41−（L12＋Ｄ−2L）｝ ＝L21−（L41−L4） …(8) として演算により求められる。
センサで測定し、そのときのスケール７の読みを
L11とする。このとき、外径L2の測定値L21は、 L21＝L11＋Ｄ−2L＋Ｅ …(5) 次に、外径L2の寸法に近いクシ型基準器８の
側面８６Ａと側面８８Ｂ間の寸法L4を第１図の
タツチセンサで測定し、そのときのスケール７の
読みをL12とする。このとき、寸法L4の測定値L41
は、 L41＝L12＋Ｄ−2L＋Ｅ …(6) 式(6)から、 Ｅ＝L41−（L12＋Ｄ−2L） …(7) これから、被測定物９の真の外径L2は、 L2＝L21−Ｅ ＝L21−｛L41−（L12＋Ｄ−2L）｝ ＝L21−（L41−L4） …(8) として演算により求められる。
なお、クシ型基準器８側を先に測定し、被測定
物９側を後に測定してもよい。
物９側を後に測定してもよい。
内径L3も外径L2と同じようにして測定するこ
とができる。この場合、内径L3の寸法に近いク
シ型基準器８の側面８２Ｂと側面８４Ａ間の寸法
L5を基準値とすることができる。
とができる。この場合、内径L3の寸法に近いク
シ型基準器８の側面８２Ｂと側面８４Ａ間の寸法
L5を基準値とすることができる。
第２図のように、直交する２軸上にクシ型基準
器の突出部を配置しておけば、スペースが狭くて
も基準値の数を増やすことができる。
器の突出部を配置しておけば、スペースが狭くて
も基準値の数を増やすことができる。
第２図は平面の２軸上に突出部を配置した例で
あるが、第３図のように立体的な直交する３軸上
に突出部を配置すれば、さらに基準値の数を増や
すことができるとともに、被測定物の形状に対応
した突出部の部分で測定することができる。
あるが、第３図のように立体的な直交する３軸上
に突出部を配置すれば、さらに基準値の数を増や
すことができるとともに、被測定物の形状に対応
した突出部の部分で測定することができる。
また、クシ型基準器８に被測定物９と同じ材質
のものを使用すれば、温度変化による寸法の伸縮
を補正することができる。
のものを使用すれば、温度変化による寸法の伸縮
を補正することができる。
(f) 考案の効果
この考案によるクシ型基準器を測長機に組み込
んでおけば、被測定物の寸法に近い基準値が簡単
に得られるので、被測定物の寸法が変つても、被
測定物の寸法とその寸法に近いクシ型基準器の寸
法を測定することにより、被測定物の寸法を精度
よく測定することができる。
んでおけば、被測定物の寸法に近い基準値が簡単
に得られるので、被測定物の寸法が変つても、被
測定物の寸法とその寸法に近いクシ型基準器の寸
法を測定することにより、被測定物の寸法を精度
よく測定することができる。
この場合、クシ型基準器の寸法は全範囲で精度
がでていなくても、部分部分の精度がでていれば
よい。
がでていなくても、部分部分の精度がでていれば
よい。
第１図は従来の測長機の構成図、第２図はこの
考案による実施例の外観図、第３図はこの考案に
よる他の実施例の外観図。 １……被測定物、２……スタイラスが内径ｄの
左側に接触した状態、３……スタイラスが内径ｄ
の右側に接触した状態、４……タツチセンサが内
径ｄ測定時に左側で停止した状態、５……タツチ
センサが内径ｄ測定時に右側で停止した状態、６
……ガイド、７……スケール、８……クシ型基準
器、９……被測定物。
考案による実施例の外観図、第３図はこの考案に
よる他の実施例の外観図。 １……被測定物、２……スタイラスが内径ｄの
左側に接触した状態、３……スタイラスが内径ｄ
の右側に接触した状態、４……タツチセンサが内
径ｄ測定時に左側で停止した状態、５……タツチ
センサが内径ｄ測定時に右側で停止した状態、６
……ガイド、７……スケール、８……クシ型基準
器、９……被測定物。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 複数のクシの歯状の突出部をもち、前記各突出
部の側面間の距離を寸法測定の基準値とするクシ
型基準器と、 被測定物の寸法を測定し、その測定結果を表示
する測長機とを備え、 前記クシ型基準器を直交する２軸上または３軸
上に配置し、 前記被測定物の測定値と、前記測定値に近い前
記クシ型基準器の側面間の距離の測定値とから前
記測定値を補正することを特徴とするクシ型基準
器をもつ測長機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1270883U JPS59117908U (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | クシ型基準器をもつ測長機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1270883U JPS59117908U (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | クシ型基準器をもつ測長機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59117908U JPS59117908U (ja) | 1984-08-09 |
| JPH0129527Y2 true JPH0129527Y2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=30144102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1270883U Granted JPS59117908U (ja) | 1983-01-31 | 1983-01-31 | クシ型基準器をもつ測長機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59117908U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0449526Y2 (ja) * | 1986-12-01 | 1992-11-20 |
-
1983
- 1983-01-31 JP JP1270883U patent/JPS59117908U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59117908U (ja) | 1984-08-09 |
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