JPS6159831A - ホツトプレ−ト - Google Patents

ホツトプレ−ト

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Publication number
JPS6159831A
JPS6159831A JP18197184A JP18197184A JPS6159831A JP S6159831 A JPS6159831 A JP S6159831A JP 18197184 A JP18197184 A JP 18197184A JP 18197184 A JP18197184 A JP 18197184A JP S6159831 A JPS6159831 A JP S6159831A
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JP
Japan
Prior art keywords
heated
heated object
hot plate
heating
moving means
Prior art date
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Granted
Application number
JP18197184A
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English (en)
Other versions
JPH0149010B2 (ja
Inventor
Yoshinobu Ono
小野 義暢
Yoshio Watanabe
義雄 渡辺
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP18197184A priority Critical patent/JPS6159831A/ja
Publication of JPS6159831A publication Critical patent/JPS6159831A/ja
Publication of JPH0149010B2 publication Critical patent/JPH0149010B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ホットプレートに関する。特に、半導体装置
の製造工程等においてフォトレジスト等液状体が塗布さ
れた半導体ウェーハ等の被加熱物体を加熱壽乾燥するた
めに使用されるホットプレートにおいて、その被加熱物
体を所望の時間を超えて継続加熱して破損することのな
いようにする改良に関する。
〔従来の技*) 半導体装置の製造工程において、半導体ウェーハを洗浄
した後これを加熱・乾燥する工程、半導体ウェーハにフ
ォトレジストを塗布した後これを加熱・乾燥する工程等
、物体を加熱する工程があり、その目的にホットプレー
トが使用されている。
ところで、半導体装置の製造工程は、一般に連続工程で
ある。そのため、先行するウェーハが次工程に移動しな
いかぎり、続行するウェーハの移動は、11されない、
一方、ホットプレート上で加熱・乾燥されているウェー
/\は、ある時間以上市kitして加熱されると破損す
るから、その時1(11を超過して加熱されないように
注意する必要がある。
この要請を満たすため、従来技術に係るホー/ )プレ
ートでは、所定の加熱時間をすぎたウェー/\(±他の
場所へ搬送して、次の工程の装置ヘウエーハをロードで
きるまでウェー/\を待機させてし)た。
(発明が解決しようとする開閉点) 従来技術におけるホットプレート1±、半導体ウェーハ
等被加熱物体がホットプレートーヒで過熱されないよう
うに、通常、操作者が注意してl、%る必要があり、い
わゆるオンライン制御力ζ困難になり、さらには、続行
するウエーノ\を他の場所に移動させる必要があり、余
分なスペースも必要である等の欠点があり、連続工程化
を阻害するので。
半導体装置の製造工程等にはなじみにくし)等の欠点が
ある。
〔問題点を解決するための手段〕 本発明は、この欠点を解消し、波力0熱物体力(ホット
プレート上で加熱を開始されてから所定の時間経過して
も1次’、1: J’I!に移送されず、そのま−継続
して加熱されているときは、その被加熱物体を自動的に
非加熱領域に移動し、さらに、これを冷却する動作をな
すホットプレートを提供するものであり、その手段は、
被加熱物体がその上面に乗せられるプレートと、前記被
加熱物体を前記プレート上面から離隔させる被加熱物体
移動手段と、前記プレートの上面から離隔された状態に
ある前記被加熱物体に冷却媒体を噴射する被加熱物体冷
却手段と、被加熱物体が前記被加熱物体移動手段に係合
していることを検知する被加熱物体検出手段と、被加熱
物体が前記被加熱物体移動手段に係合した後設定時間経
過後も該係合状態が存続する場合前記被加熱物体移動子
役を動作させる手段とよりなるホットプレートよりなる
E記の構成において、被加熱物体移動手段は。
真空チャックをもって前記加熱物体を保持することとし
、前記被加熱物体検知手段は、真空チャック用パイプ中
の気圧を検出してなすことが有利である。
〔作用〕
上記の欠点は、従来技術に係るホットプレートが、被加
熱物体の検知手段を有せず、さらに、システムとしての
配慮がなされていなし1.へにあるから、従来技術に係
るホットプレート番と、被加熱物体移動手段と被加熱物
体冷却手段と、被加熱物体検知手段とを付加し、さらに
、被加熱物体力ζホットプレートに乗せられ加熱が開始
された後、加熱のために必要にして十分な設定[11?
間が経過したにもか−わらず、被加熱物体がホットプレ
ート上に保持されているときは、被加熱物体移動手段を
動作して被加熱物体をホットプレートから離隔して加熱
を停止し、さらに、被加熱物体冷却手段を動作させて被
加熱物体を冷却するものであり、これらの手段がシステ
ムとして機能的に動作するようにしたものである。
(実施例) 以下1図面を参照しつ一1木発明の実施例に係るホット
プレートについてさらに説明する。
第1図参照 lはホットプレートであり、その上に半導体ウェー八等
の被加熱物体2が乗せられて加熱される。3は被加熱物
体移動手段であり矢印の方向(上下)に移幼し、この例
においては、電磁弁6に制御されてエアシリンダ31中
を上下するピストン32によって上下される。また、こ
の例においては、被加熱物体移動手段3は真空チャック
をかねており、その真空チャック用パイプに連結して気
圧センサよりなる被加熱物体検知手段4が設けられてい
る。この被加熱物体検知手段4は、被加熱体2がホット
プレートl上に乗せられて気圧が下ると閉路する接点を
右する。5は被加熱物体冷却手段であり、この例におい
ては、ホー/ )プレート1を貫通して冷却風を被加熱
物体に吹き付ける構造とされている。8はモータであり
、9はコントローラであり、 10.11は搬送装置で
あり、12はレジスト塗布装置であり、13は露光装置
である。
第2図、第3図(a)、(b)参照 コントローラ9のり1作を以ドに説明する。被加熱物体
2がホットプレートl上に乗せられて真空チャ、りによ
って保持されると被加熱物体検知手段4の接点は閉路し
て補助リレー41も閉路する。
この補助リレー41によってタイマ7はカウントを開始
する。設定時間が経過するとタイマ7は動作してその接
点は閉路し、信号Aを電磁弁6に与え4この電磁弁6の
動作を介して被加熱物体3効手段3を動作させて被加熱
物体2の加熱を停止し、同時に信号Bを被加熱物体冷却
手段5に与えて、これを動作させて被加熱物体2の加熱
・破損を防止する。第3図(a)は加熱中の状態を示し
、第3図(b)は待機中の状態を示す、た(、正常の2
I!転状態においては、このときまでに被加熱物体2が
ホットプレートl上から除去されて被加熱物体検知手段
4の接点は開路してタイマ7はカウント動作を停止して
いるが、設定時間B 8後までtx t−aして被加熱
物体2がホットプレート1上に乗せられているときのみ
、被加熱物体検知手段4はカウントを完了して電磁弁6
を動作させることになる。信号Cはヒータ制御用信号で
あり、信号りは被加熱物体2を例えばレジスト塗布装置
12からこのホットプレートを介して例えば露光装置1
3に搬送する搬送装置日を制御する信号である。
〔発明の効果〕
以−ヒ説明せるとおり1本発明ぽよれば、被加熱物体が
ホットプレート上で加熱を開始されてから所定の時間経
過しても1次工程に移送されず、そのま翫jll枕して
加熱されているときは、その被加熱物体を自動的に非加
熱領域に移動し、さらに。
これを冷却する動作をなすホットプレートを提供するこ
とができ、半導体ウェーハ等被加熱物体がホットプレー
ト上で過熱をされないように、常時操作者が注意してい
る必要がなく、いわゆるオンライン制御が可能となり、
続行するウェーハを他の場所に移動させる必要もなく、
余分なスペースも必要なく1機構部の簡略化、コンパク
ト化が可能となり、また、制御すべき機構も少ないため
M制御系が簡易であり1機構の信頼性も高い等多くの利
益を実現しうる。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明の一実施例に係るホットプレート方式
の概念的構成図、であり、第2図はその制御回路である
。第3図(&)、(b)は加熱中と待機中の状態を示す
模式図である。 1・・Φホットプレート、  2・ 争 合波加熱物体
、  3・・・被加熱物体移動手段、 31・・・エア
シリンダ、 32・・・ピストン、  4・・壽被加熱
物体検知手段、 41as補助1ル−、5・・・被加熱
物体冷却手段、 6・ ・ ・電磁弁、 7・・吻タイ
マ、 8・ ・ ・モータ。 9会・−コントローラ、  tO,ll−−・搬送装置
、12・・−レジスト塗布装置、13−・・露光装置、
 A・・・電磁弁制御信号、 B・・争被加熱物体冷却
ル制御信号、 C−・・ヒータTJI W第3 .カロ イむ、・r (b) 竹 根

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被加熱物体がその上面に乗せられるプレートと、
    前記被加熱物体を前記プレート上面から離隔させる被加
    熱物体移動手段と、前記プレートの上面から離隔された
    状態にある前記被加熱物体に冷却媒体を噴射する被加熱
    物体冷却手段と、被加熱物体が前記被加熱物体移動手段
    に係合していることを検知する被加熱物体検出手段と、
    被加熱物体が前記被加熱物体移動手段に係合した後設定
    時間経過後も該係合状態が存続する場合前記被加熱物体
    移動手段を動作させる手段とよりなるホットプレート。
  2. (2)前記被加熱物体移動手段は、前記被加熱物体を真
    空チャックをもって保持してなり、前記被加熱物体検知
    手段は、前記真空チャック用パイプ中の気圧を検知して
    なす特許請求の範囲第1項記載のホットプレート。
JP18197184A 1984-08-31 1984-08-31 ホツトプレ−ト Granted JPS6159831A (ja)

Priority Applications (1)

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JP18197184A JPS6159831A (ja) 1984-08-31 1984-08-31 ホツトプレ−ト

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18197184A JPS6159831A (ja) 1984-08-31 1984-08-31 ホツトプレ−ト

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6159831A true JPS6159831A (ja) 1986-03-27
JPH0149010B2 JPH0149010B2 (ja) 1989-10-23

Family

ID=16110064

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18197184A Granted JPS6159831A (ja) 1984-08-31 1984-08-31 ホツトプレ−ト

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JP (1) JPS6159831A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH023910A (ja) * 1988-06-21 1990-01-09 Tokyo Electron Ltd 加熱装置及び加熱処理装置及び加熱処理方法
JPH03155647A (ja) * 1989-08-08 1991-07-03 Fuji Electric Co Ltd 半導体ウエハ保持装置
JPH09148260A (ja) * 1995-11-28 1997-06-06 Nippon Pillar Packing Co Ltd 半導体ウエハーの加熱処理装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH023910A (ja) * 1988-06-21 1990-01-09 Tokyo Electron Ltd 加熱装置及び加熱処理装置及び加熱処理方法
JPH03155647A (ja) * 1989-08-08 1991-07-03 Fuji Electric Co Ltd 半導体ウエハ保持装置
JPH09148260A (ja) * 1995-11-28 1997-06-06 Nippon Pillar Packing Co Ltd 半導体ウエハーの加熱処理装置
JP2868073B2 (ja) * 1995-11-28 1999-03-10 イートン コーポレーション 半導体ウエハーの加熱処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0149010B2 (ja) 1989-10-23

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