JPS6159257A - 超音波探触子 - Google Patents
超音波探触子Info
- Publication number
- JPS6159257A JPS6159257A JP59181723A JP18172384A JPS6159257A JP S6159257 A JPS6159257 A JP S6159257A JP 59181723 A JP59181723 A JP 59181723A JP 18172384 A JP18172384 A JP 18172384A JP S6159257 A JPS6159257 A JP S6159257A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- piezoelectric material
- circuit
- electrode
- pass filter
- resistance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/32—Arrangements for suppressing undesired influences, e.g. temperature or pressure variations, compensating for signal noise
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/34—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、超音波診断装置に用いられ、音場媒体に音波
を送波し、且つ音場媒体からの反射波を受波する超音波
探触子に関するものである。
を送波し、且つ音場媒体からの反射波を受波する超音波
探触子に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来の超音波探触子は第１図に示すように圧電材１の電
極２にリード線３が接続され、このリード線３は圧電材
１の駆動回路４と受信回路５に接続されている。この場
合媒体からの反射波Ａ以外に外来電波Ｂが発生したとき
、外来電波Ａは、圧電材１の電極２に直接入射し、特に
圧電材１の態動周波数に合致した周波数の電波はノイズ
として受信回路５に入り、これを除去することができな
かった。
極２にリード線３が接続され、このリード線３は圧電材
１の駆動回路４と受信回路５に接続されている。この場
合媒体からの反射波Ａ以外に外来電波Ｂが発生したとき
、外来電波Ａは、圧電材１の電極２に直接入射し、特に
圧電材１の態動周波数に合致した周波数の電波はノイズ
として受信回路５に入り、これを除去することができな
かった。
発明の目的
本発明は、外来電波がノイズとして回路に入るのを防止
することができるようにした超音波探触子を提供するこ
とを目的とするものである。
することができるようにした超音波探触子を提供するこ
とを目的とするものである。
発明の構成
本発明は、上記目的を達成するため、圧電材の電極に抵
抗歪素子を具備させ、上記圧電材の電極に駆動回路を接
続し、上記抵抗歪素子に抵抗変化検知回路とローパスフ
ィルタを接続し、送信と受信を別方式に構成したことを
特徴とするものである。
抗歪素子を具備させ、上記圧電材の電極に駆動回路を接
続し、上記抵抗歪素子に抵抗変化検知回路とローパスフ
ィルタを接続し、送信と受信を別方式に構成したことを
特徴とするものである。
実施例の説明
以下、本発明の一実施例を図面に基いて詳細に説明する
。第２図において、１１は圧電材、１２は電極、１３は
一万の電極１２に接触し、圧電材１１の超音波振動に応
答する抵抗歪素子、１８ｆ′ｉその上に設けられた背面
負荷である。抵抗歪素子１３は例えばマンガン線よりな
り、機械的変形が生じた際に電気的抵抗が変化するよう
になっている。電極１２には駆動用のリード線１４が接
続され、このリード線１４は駆動回路１５に接続されて
いる。抵抗歪素子１３には抵抗歪素子１３の抵抗変化量
を検知する検知回路１６とローパスフィルタ１７が接続
されている。
。第２図において、１１は圧電材、１２は電極、１３は
一万の電極１２に接触し、圧電材１１の超音波振動に応
答する抵抗歪素子、１８ｆ′ｉその上に設けられた背面
負荷である。抵抗歪素子１３は例えばマンガン線よりな
り、機械的変形が生じた際に電気的抵抗が変化するよう
になっている。電極１２には駆動用のリード線１４が接
続され、このリード線１４は駆動回路１５に接続されて
いる。抵抗歪素子１３には抵抗歪素子１３の抵抗変化量
を検知する検知回路１６とローパスフィルタ１７が接続
されている。
次に上記実施例の作用について説明する。駆動回路１６
により送信された信号により圧電材１１は音波を音波媒
体に送波する。一方、音波媒体からの反射波Ａは圧電材
１１の振動による抵抗歪素子１３の抵抗変化を抵抗変化
検知回路１６により検知し、ローパスフィルタ１７を通
過して超音波診断装置の回路へ伝わる。このとき外来電
波Ｂは直接圧電材１１の電極１２に電気信号として、受
信され、圧電材１１を振動させることがないので、ロー
パスフィルタ１７により除去され、超音波診断装置の回
路へは伝わらない。
により送信された信号により圧電材１１は音波を音波媒
体に送波する。一方、音波媒体からの反射波Ａは圧電材
１１の振動による抵抗歪素子１３の抵抗変化を抵抗変化
検知回路１６により検知し、ローパスフィルタ１７を通
過して超音波診断装置の回路へ伝わる。このとき外来電
波Ｂは直接圧電材１１の電極１２に電気信号として、受
信され、圧電材１１を振動させることがないので、ロー
パスフィルタ１７により除去され、超音波診断装置の回
路へは伝わらない。
発明の効果
以上の説明より明らかなように本発明によれば、圧電材
の電極に抵抗歪素子を具備させ、上記圧電材の電極に駆
動回路を接続し、上記抵抗歪素子に抵抗変化検知回路と
ローパスフィルタを接続し、送信と受信を別方式に構成
し、外来電波をローパスフィルタにより除去することが
できないので受信回路にノイズとして入るのを防止する
ことができる。
の電極に抵抗歪素子を具備させ、上記圧電材の電極に駆
動回路を接続し、上記抵抗歪素子に抵抗変化検知回路と
ローパスフィルタを接続し、送信と受信を別方式に構成
し、外来電波をローパスフィルタにより除去することが
できないので受信回路にノイズとして入るのを防止する
ことができる。
第１図は従来の超音波探触子の説明図、第２図は本発明
の超音波探触子の一実施例を示す説明図である。 １１・・・・・・圧電材、１２・・・・・・電極、１３
・・・・・・抵抗歪素子、１４・・・・・・リード線、
１５・・・・・・駆動回路、１６・・・・・・抵抗変化
量検知回路、１７・・・・・・ローパスフィルタ。
の超音波探触子の一実施例を示す説明図である。 １１・・・・・・圧電材、１２・・・・・・電極、１３
・・・・・・抵抗歪素子、１４・・・・・・リード線、
１５・・・・・・駆動回路、１６・・・・・・抵抗変化
量検知回路、１７・・・・・・ローパスフィルタ。
Claims (1)
- 圧電材の電極に抵抗歪素子を具備させ、前記圧電材の電
極に駆動回路を接続し、前記抵抗歪素子に抵抗変化検知
回路とローパスフィルタとを接続したことを特徴とする
超音波探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181723A JPS6159257A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 超音波探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59181723A JPS6159257A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 超音波探触子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6159257A true JPS6159257A (ja) | 1986-03-26 |
Family
ID=16105748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59181723A Pending JPS6159257A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 超音波探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6159257A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01223940A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 内視鏡診断装置 |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP59181723A patent/JPS6159257A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01223940A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-07 | Olympus Optical Co Ltd | 内視鏡診断装置 |
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