JPS6158035A - パタ−ン検出器 - Google Patents

パタ−ン検出器

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Publication number
JPS6158035A
JPS6158035A JP17966284A JP17966284A JPS6158035A JP S6158035 A JPS6158035 A JP S6158035A JP 17966284 A JP17966284 A JP 17966284A JP 17966284 A JP17966284 A JP 17966284A JP S6158035 A JPS6158035 A JP S6158035A
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JP
Japan
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pattern
input
memory
address
signal lines
Prior art date
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Application number
JP17966284A
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English (en)
Inventor
Tatsuya Shindo
達也 進藤
Fumiyasu Hirose
広瀬 文保
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、パターン検出器、特に入カバターンのビット
信号構成を分割し、複数のメモリのアドレス信゛号端子
に入力して、各々のメモリからの出力を対応するビット
毎にANDをとることにより、あらかじめ装置に登録し
ておいた所定パターンのうちどのパターンが入ったかを
、高速に且つ少ないハード量で検出し出力するパターン
検出器に関するものである。
一般に、CPU等のロジック回路の動作状態を調べる場
合には、ロジックアナライザーと呼ばれる装置が用いら
れている。第2図にロジックアナライザーの構成及びそ
の測定例を表わすブロック図を示す。図において、7は
ICチップが搭載されているプリント基板、8はパター
ン検出器、9はコントローラ、10は表示用メモリ、1
1はディスプレイ装置、12はロジックアナライザー。
rc、−rcbはロジック回路により構成されているI
Cチップ;P2N2.はプローブを示す。この装置を用
いてプリント基板7上の【CチップIC1〜IC1,の
動作状態を開べるには、測定用bj:11子であるプロ
ーブP、〜P7−1−ICチップIC。
〜IC,の所望の端子にあてがう。この時プローブP 
 −Pl、には、それぞれのロジ・ツク回路の動作状態
に応じて“0”又は“1”の信号が入力される。プロー
ブP、〜Pbから入力された信号パターンは、パターン
検出器8及び表示用メモリー0に転送される。該表示用
メモリー0は、一定の記憶容量を有し、ロジック回路の
1クロック分の動作に伴って、最も古い記憶内容を抹消
し、最新の情報を取込んで記憶することにより常に一定
量の情報を記憶している。パターン検出器8には、所望
のICチップIC,〜Iceの所定の端子の出力状態が
パターンとルて予め登録されており、入力された信号パ
ターン(以下、入カバターンと称ス)と登録パターンが
一致したか否かを表わす信号出力をコントローラ9に対
して行なう。該コントローラ9は入カバターンと登録パ
ターンが一致したという信号が入力されると、予めプロ
グラ−ムされた内容に従って表示用メモリー0に対し、
出力命令を出す。該表示用メモリー0はコントローラ9
からの出力命令を受けて、記憶している内容をディスプ
レイ装置11に出力し、該ディスプレイ装置11は上記
表示用メモリ10より入力された内容を“0”又は“1
”に対応した波形として表示する。
従って、表示用メモリ10が例えば、ロジ、7り回路の
256クロツク分の動作状態を表わす内容を記憶できる
場合に、所望のパターンを検出した以後の256クロツ
ク分の動作状態を知りたいならば、測定者は、所望のパ
ターンの検出後255クロック分の動作状態を表わす内
容を表示用メモリ10が新たに取込んだ後に表示用メモ
リ10に出力指令を行なうよう予めコントローラ9にプ
ログラムしておけばよい。
以上説明したようなロジックアナライザーにおいては、
同時に多くの測定点で測定が行なえることや、多くのパ
ターンを登録できることが要求される。従って、パター
ン検出器は多種類の入カバターンの中から登録された複
数のパターンだけを検出する必要があり、しかも測定対
象となるロジック回路は高速で動作しているため検出速
度も速くなければならない、また、パターン1.パター
ン3.パターン2の順で3つのパターンを検出した時に
初めて、表示用メモリ10の内容をディスプレイ族Wl
lに表示させたい場合には、入カバターンと登録パター
ンが一致したか否かを検出するだけでなく、どの登録パ
ターンと一致したのかも検出する必要がある。
〔従来の技術〕
従来は、登録パターンが1種類の場合にはレジスタに登
録パターンをセットしておき、入カバターンとレジスタ
の内容をコンパレータにより比較して一致したか否かを
検出していた。この場合複数の登録パターンを検出する
ためには、レジスタとコンパレータの組を登録パターン
数だけ用意し、入カバターンとそれぞれの登録パターン
との比較を並列的に行なう方法(従来例1)がある。
第3図にこの方法を用いたパターン検出器の構成を表わ
すブロック図を示す。図において、第2図に示したプロ
ーブP、〜Pbより、入力された6ビツト幅の入カバタ
ーンが印加される入力信号線L1yは、コンパレータC
i = Cyに入力され、6ビツト幅の4種類の登録パ
ターンを印加する入力信号線り、o”’L’25はそれ
ぞれ6ビソトレジスタR1〜R4に接続されている。レ
ジスタR7〜Rpからの出力信号線はそ9れぞれコンパ
レータC7〜Cケに接続され、コンパレークC7〜C4
からの出力は出力信号線Lユ、〜L、L2に出力される
。この構成を用いてパターン検出を行なうには、パター
ン登録用入力信号線L7〜L2Jにそれぞれ所望のパタ
ーンを印加してレジスタR/〜R9に予め登録パターン
をセットする。レジスタR7〜Rvは入力信号線Ldに
入カバターンが印加される度に、セットされている内容
をそれぞれコンパレータC7〜Clに出力する。コンパ
レータC7〜Cダは入カバターンと登録パターンを比較
し、一致したか否かを表わす信号を出力信号線L2り〜
Lηに出力する。従って第3図に示したパターン検出器
は複数の登録パターンに対して、入カバターンと登録パ
ターンが一致したか否かの検出及びどの登録パターンと
一致したかの検出をすることができ、値の比較を行なう
時間で検出できるので高速である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら上記パターン検出器においては、レジスタ
を複数個必要とするためこれを一般の電気回路で組むと
、レジスタを構成するフリップ・フロップ回路、レジス
タ指定するためのデコーダ及びそれらの制御回路を個別
に設る構成としなければならないためハード量が多くな
ってしまうという欠点がある。この欠点を解決する手段
として、メモリに登録パターンを全て記憶させておき、
パターンが入力される度に先頭アドレスから順次検索し
て行き、入カバターンと登録パターンが一致したら検索
を止め検出結果を出力するという方法(従来例2)があ
るが、この場合ハード量は少なくて済むが、登録パター
ン数が多くなると検出に時間がかかってしまう。
一方、メモリを用いて検出時間の短いパターン検出器を
構成する方法として、入カバターンのビット幅に対応し
たアドレスを有するメモリを用いる方法(従来例3)が
ある。第4図にこの方法を用いたパターン検出器の構成
を表わすブロック図を示す。図において、第2図に示し
たプローブP7〜P、<より入力された6ビツト幅の入
カバターンがそれぞれ印加される入力信号線L22〜L
J’Jは、64ワード×3ビツト構成のメモリ13のア
ドレス信号端子A6〜A//に接続され、アドレス信号
端子A!〜A//の信号線はデコーダ14に接続されて
いる。デコーダ14は入力されたアドレス信号をデコー
ドし、メモリセルアレイ15のアドレスoooooo番
地〜アドレス111111番地を選択するアドレス選択
線ADDJ+ (000000)〜ADD、(1111
11)のいずれか1本を選択する。パターン登録用の入
力信号線LJI〜L77はそれぞれメモリ13のデータ
入力端子Diny〜Din77に接続され、データ入力
端子Din7〜Di n 、、の信号線は、それぞれメ
モリセルアレイ15の各アドレスの1〜3ビツト目のメ
モリセルに接続されている。また、メモリセルアレイ1
5の各アドレスの1〜3ビツト目のメモリセルからの出
力信号線は、それぞれデータ出力端子Doutり〜Do
utuに接続され、データ出力端子DoutF〜Dou
tllからの出力は、それぞれ出力信号線LJ’7〜L
4に出力される。
次に第4図に示した回路の動作について、登録パターン
が000001  (パターン1)、000100 (
パターン2)、011100  (パターン3)、11
0010 (パターン4)の4種類の場合を例にとって
説明する。第4図に示した回路構成によって上記4種類
の登録パターンの検出を行なうには、予め上記4種類の
パターンをメモリ13に登録しておく必要がある。
パターンの登録を行なうには、まずメモリ13のずべて
のメモリセルに“O”を書込んで上記メモリ13をクリ
アする。パターン1を登録するには、該パターンを入力
信号線L 、g〜Lj3に印加し、その結果指定される
メモリセルアレイ15内のアドレス000001番地に
、パターン登録用入力信号線Lj%〜L36にそれぞれ
0”、“0”、“′1”を印加して書込みを行なう。以
下同様にしてアドレス000100,011100,1
100io番地にそれぞれ010,011.100を書
込み、他のアドレスにはOOOを書込めば上記パターン
1〜4の登録が完了する。
続いてパターン検出方法について説明する。予め上記パ
ターン1〜4が登録されているので、入カバターンとし
て000001という6ビツト幅の信号がそれぞれ1ビ
ツトずつ入力信号線LユI〜L、3に印加されるとその
結果、メモリセルアレイ15内のアドレス000001
番地が指定される。
従ってパターン検出時にはメモリ13を常に読出しモー
ドにしておけば、上記アドレス指定の結果、データ出力
端子Dout2〜Dout/lよりそれぞれ“0”、“
0”、“1”が出力信号線り、j7〜LJPに出力され
る。同様にしてパターン2〜4が入力信号線Lag =
 L JJに印加されるとそれぞれ010゜011.1
00という出力が得られ、パターン1〜4以外のパター
ンが入力信号線L4〜Lj、に印加されると、000と
いう出力が得られる。従って入カバターンが登録パター
ンと一致したか否か及び一致した場合にはどの登録パタ
ーンと一致したのかが検出できる。
この方法ではメモリを1回読み出す時間で検出できるの
で高速であるが、入カバターンのビット幅が大きくなる
と必要なメモリの容量が大きくなり、今度はハード量が
非常に大きなものとなってしまう。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は入カバターンのビット幅が大きい時や登録パタ
ーン数が多い時でも、少ないハード量で且つ、高速に入
カバターンが登録パターンと一致したか否か及びどの登
録パターンと一致したのかを検出することを可能にした
もので、その手段は、複数のメモリを備え、複数ビット
より成る特定パターンの、一部ビットに対応した第1メ
モリ内のデータ格納場所の内容と、上記特定パターンの
、他の一部ビットに対応した第2メモリ内のデータ格納
場所の内容とが、所定の論理関係になるように上記第1
.第2メモリを構成すると共に、複数ビットより成る検
査対象となるパターンの、一部ビットを用いて上記第1
メモリをアクセスし、上記検査対象となるパターンの、
他の一部ビットを用いて上記第2メモリをアクセスし、
当該アクセスした結果の再出力が、上記所定の論理関係
にあるか否かを調べる手段を備えていることを特徴とす
るパターン検出器によってなされる。
〔作 用〕
上記パターン検出器においては、入力パターンリから出
力されるデータを対応するビット毎に一致するか否かを
比較してその結果を出力する構成となっているため、必
要なメモリの容量は入カバターンのビット幅だけアドレ
スを有するメモリを用いる場合に較べて少なくなり、ま
たレジスタを用いる必要もないので入カバターンのビッ
ト幅が大きい時や登録するパターンの数が大きい時には
ハード量を減少させることができる。また、検出には各
メモリを並列的に1回読出す時間及び各メモリから読出
されたデータが一致するか否かを比較する時間を要する
だけなので高速の検出を行なうことができる。
〔実施例〕
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図に本発明の一実施例の回路構成を示す。
この図では、入カバターンが6ビツト幅、登録パターン
が4種類の時に入カバターンを上位、下位それぞれ3ビ
ツトずつに分割し、8ワード×4ビツト構成の2個のメ
モリを用いて回路を構成した場合を示している。
図において、入カバターンの一部ビットである上位3ビ
ツトのビット信号がそれぞれ印加される入力信号線L7
〜L3は、メモリ1のアドレス信号端子A、〜A2に接
続され、アドレス信号端子A、〜Aえの信号線・はデコ
ーダ3に接続されている。デコーダ3は入力されたアド
レス信号をデコードし、メモリセルアレイ45のアドレ
ス000番地−アドレス111番地を選択するアドレス
選択線ADD、(000)〜ADD、(111)のいず
れか1本を選択する。
一方、入カバターンの他の一部ビットである下位3ビツ
トのビット信号がそれぞれ印加される入力信号線L7〜
L7はメモリ2のアドレス信号端子A、〜A、に接続さ
れ、アドレス信号端子A、、1〜AFの信号線はデコー
ダ4に接続されている。
デコーダ4は入力されたアドレス信号をデコードし、メ
モリセルアレイ6のアドレス000番地−アドレス11
1番地を選択するアドレス選択線ADDよ(OOO)〜
ADD2(111)のいずれか1本を選択する。
パターン登録用の入力信号線り、〜Ltoはそれぞれメ
モリ1のデータ入力端子Dinz〜Dinpに接続され
、他の、パターン登録用の入力信号線L //〜L/〆
はそれぞれメモリ2のデータ入力端子Din、7〜Di
niに接続されている。メモリ1のデータ入力端子D 
in t ” D inzの信号線は、それぞれメモリ
セルアレイ5の各アドレスの1〜4ビツト目のメモリセ
ルに接続され、メモリ2のデータ入力端子Dinr=D
ingの信号線は、それぞれメモリセルアレイ6の各ア
ドレスの1〜4ビツト目のメモリセルに接続されている
。メモリ1のメモリセルアレイ5の各アドレスの1〜4
ビ・ノド目のメモリセルアレイ6の各アドレスの1〜4
ビ・ノド目のメ出力端子D out を及びD out
J−+D out)−及びDoutl、  、 Dou
tJ及びD out7 、D outダ及びDout8
からの出力信号線は、それぞれAND回路AD/〜AD
Ilに接続され、AND回路AD/NADダは出力信号
線L75〜L711にそれぞれ出力を行なう。
次に第1図に示した回路の動作について説明する。まず
、入カバターンの中から検出したい特定パターンの登録
方法について説明するが、ここでは登録するパターンと
して000001  (パターン1)、000100 
(パターン2)、011100 (パターン3)、11
0010  (パターン4)という4種類のパターンを
例にとって考えることにする。パターンの登録を行なう
には、まずメモリ1及びメモリ2のすべてのメモリセル
の内容を0”にして2個のメモリをクリアしておく必要
がある。このためには入力信号線り、〜L乙に印加する
信号を順次変化させることによりメモリ1及びメモリ2
のアドレスを切換え、その度にパターン登録用入力信号
線L2〜Lz%に“0”を印加してメモリ1及びメモリ
2の全てのメモリセルにO”を書込めばよい。
この後パターン1〜4を登録するには、まず入力信号線
り、〜LJにそれぞれ“0”、“0”。
“θ″を印加し、入力信号線LダルL乙にそれぞれ“0
”、“O”、“0”を印加する。入力信号線り、〜Lj
に印加された信号はそれぞれアドレス信号端子A、〜A
2.を通じてデコーダ3に入力され、該デコーダ3は入
力された信号をテゴードした結果、アドレス選択線AD
D/  (oo&)に1″を出力するのでメモリセルア
レイ5内のアドレスOOO番地のメモリセルが選択され
る。
一方、入力信号線Lp〜t、4に印加された信号はそれ
ぞれアドレス信号端子AJ −A/−を通じてデコーダ
4に入力され、該デコーダ4は入力された信号をデコー
ドした結果、アドレス選択線ADDえ(000)に1″
を出力するのでメモリセルアレイ6内のアドレス000
番地のメモリセルが選択される。この時パターン登録用
入力信号線L2〜L7.、にそれぞれ1”、1″、′0
”。
“′0”を印加し、パターン登録用入力信号線L77〜
L7メにそれぞれ0″、′0”、“0″、“O”を印加
して書込みを行なえば、第1図に示したようにメモリセ
ルアレイ5内のアドレス000番地の1〜4ビツト目の
メモリセルにそれぞれ“1”、“1”、“0”、“′0
”が書込まれ、メモリセルアレイ6内のアドレス000
番地の1〜4ビツト目のメモリセルにそれぞれ“0”、
“0″。
“′0”、′0”が書込まれる。
以下同様にして入力信号線り、〜L5に印加する信号を
“0”、0″ mInから1″、′1”、“1”まで順
次切換え、同時に、入力信号線L9〜L6に印加する信
号を“0”、“0”。
“1”から“1”、“1”、“1”まで順次切換え、そ
の度にパターン登録用入力信号線L2〜L71にそれぞ
れ所定の信号を印加して書込みを行なえば、第1図に示
したようにメモリセルアレイ5゜6内の全てのアドレス
の1〜4ビツト目のメモリセルにそれぞれ所定のデータ
が書込まれる。以上の操作によりパターン1〜4の登録
が完了する。
ここでi番目のパターンの登録は、該パターンの上位3
ビツトにより指定されたメモリセルアレイ5内のアドレ
スのiビット目のメモリセルに“1”が書込まれ、上記
パターンの下位3ビツトにより指定されたメモリセルア
レイ6内のアドレスのiビット目のメモリセルに“1″
が書込まれていることに対応する。
第1図に示した実施例ではパターン登録用の入7・ 力信号線をメモリ1とメモリ24L(別々にしたが、該
2組のパターン登録用の入力信号線を共通にし、チップ
セレクト信号によりメモリ1及びメモリ2を切換えて、
それぞれ別々に登録を行なうようにしてもよい。
次にパターン検出方法について説明する。予め上記パタ
ーン1〜4が登録されているので、入カバターンとして
000001という6ビツト幅の信号がそれぞれ1ビツ
トずつ人力信号線L7〜Lbに印加された場合、パター
ン登録の場合と同様にメモリ1においてはアドレス00
0番地のメモリセルが選択され、メモリ2においてはア
ドレス001番地のメモリセルが選択される。従ってパ
ターン検出時にはメモリ1.2を常に読出しモードにし
ておけば、メモリ1においては“1″、“1カされる。
AND回路AD、〜ADIAは人力された2(固のイ直
のANDをとり“1”、0”、“0”、“0”をそれぞ
れ出力信号線LR−Lyeに出力するのでこのことから
入カバターンoooo。
1は登録しておいたパターン1  (000001)と
一致したことが検出できる。入カバターンとして000
100.011100,110010が入力された場合
もそれぞれ同様にして登録しておいたパターン2〜4と
一致したごとが検出できる。
登録パターン以外のパターンが入力された場合、例えば
000010が入力された場合は、メモリ1からの出力
は1”、“1”、0”、′0”となり、メモリ2からの
出力は“0”、“0″。
“°0”、1″となるのでAND回路AD、〜ADll
からは“o”、”o”、“0”、“0”がそれぞれ出力
信号線L /f ”’ L /’iに出力されどの登録
パターンとも一致しないことがわかる。すなわち入カバ
ターンが登録パターンと一致した時には対応した出力信
号線t、/l−〜Llttのいずれか1本に1”が出力
され、他の3本には“0”が出力され、一致しない時に
は出力信号線L 、F−L 、fには全て“0″が出力
されるので、入カバターンが登録パターンと一致したか
否か及びどの登録パターンと一致したのかを検出するこ
とができる。
以上、本発明の一実施例として、入カバターンが6ビツ
ト幅、登録パターンが4種類の時に入カバターンを上位
、下位それぞれ3ビツトずつに分割し、8ワード×4ビ
ツト構成の2個のメモリを用いてパターン検出器の回路
を構成した場合について述べたが、入カバターンを同じ
ビット数に分割する必要はなく、一部重複して分割して
もよく、また分割数も2つに限定する必要もない。
一般的に言えば、m種類のパターンを登録し検出する場
合、mビットの幅を持ったメモリを複数個用意する。こ
の際各メモリのアドレス数の積が2の「入カバターンの
ビット幅」乗以上となるようにし、入カバターンのビッ
ト信号構成を各メモに入力する。各メモリからの出力は
対応するビット毎にANDをとり、m本の出力を得る。
尚、複数メモリへの分割は、分割するメモリの個数、メ
モリ1個が担当するアドレス数などそのシステムの入力
のビット構成と登録するパターン数を考慮してハード量
が最少となるように決定すればよい。
本発明によるパターン検出器は単にロジックアナライザ
ーへの適用に限らず、データシステムなどにおいて信号
線を監視し、予め定められた信号パターン以外の信号を
検出したら、動作に異常ありとして、そのことをホスト
コンピュータに伝える異常検出器として、またコンピュ
ータにおいて入力コマンドを、予め登録されたコマンド
パターンと比較し、そのコマンドの種類を判定し、その
判定結果に基きコンピュータ各部へ該コマンドを伝える
判定器としての適用なども可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、レジスタを必要と
しないため、登録パターン数が多い場合でもメモリを用
いて従来例1より少ないハード量で回路を構成すること
ができる。具体的に入カバターンが24ビット幅、登録
パターンが16種類の場合に必要な、パターン検出器の
ハード量を従来例1と本発明とで比較してみる。この場
合従来例1では、24ビット幅のパターンを格納できる
レジスタが16(固必要である。一般に8ビット−11
宿のパターンを格納できるレジスタ1個が1チップに収
められているから、従来例1では(24÷8>X16=
48+固のICチップが必要となる。またコンパレータ
も16個必要である。これに対し本発明では、入カバタ
ーンを上位下位それぞれ1上記各メモリにつき必要なア
ドレス数は2 /2 、4にワード、各アドレスについ
て必要なデータ幅は16ビツトであるから、2にワード
×8ビット構成のメモリを用いれば計8個(上記各メモ
リに対し4個ずつ)のICチップが必要となるだけであ
る。本発明ではこの他に16(flitのA N D回
路が必要であるが、このことを考慮しても全体のハード
量としては従来例1の場合よりもはるかに少ないという
ことは明らかである。
本発明では、検出には複数個のメモリから並列的に1回
の読出しを行ないその出力のANDをとる時間を要する
だけなので登録パターン数が多い場合には入カバターン
が入力される度にメモリ内の登録パターンを順次検索す
る従来例2より高速子に分割して入カバターンを入力す
ることによりアドレス方向の容量の減少が図れるので、
入力)ぐターンのビット幅だけアドレスを有するメモリ
を用いる従来例3に較べ、必要なメモリの容量はずっと
減少するのでハード量を減少させることができる。
以上のように本発明によれば入カバターンのビット幅が
大きく、登録パターン数が多い場合でも従来に較べて少
ないハード量で、人カバターンと登録パターンが一致し
たか否か及びどの登録パターンと一致したのかを高速に
検出できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の回路構成図、第2図はロジ
ックアナライザーの構成及びその測定例を表わすブロッ
ク図、第3図は従来のパターン検出器の構成を表わすブ
ロック図、第4図はメモリを用いた従来のパターン検出
器の構成図である。 図中、1.2はメモリ、3,4はデコーダ、5゜6はメ
モリセルアレイ、AD、〜ADDはAND回路、L、〜
LJは入カバターンの上位3ビ・ノドのビット信号がそ
れぞれ印加される入力信号線。 Lダ〜Lbは入カバターンの下位3ビツトのビット信号
がそれぞれ印加される入力信号線、L7〜L はパター
ン登録用の入力信号線、 L、1(−Ltflチ はそれぞれAND回路ADz−ADwからの出力信号線
、AD〜A2.はメモリ1のアドレス信号端子、A3−
Arはメモリ2のアドレス信号端子。 Dinz”Din弘はメモリ1のデータ入力端子、Di
nξ〜Dinyはメモリ2のデータ入力端子、Dout
l−Dout#はメモリ1のデータ出力端子、Dout
 1− D out g はメモリ2のデータ出力端子
。 ADD/  (00Q)〜ADD/  (111)はそ
れぞれ、メモリセルアレイ5のアドレス000番地−ア
ドレス111番地を選択するアドレス選択線。 ADD2 (OOO)〜ADD、(111)はそれぞれ
、メモリセルアレイ6の7ドレス000番り也〜アドレ
ス111番地を選択するアドレス選択線を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 複数のメモリを備え、複数ビットより成る特定のパ
    ターンの、一部ビットに対応した第1メモリ内のデータ
    格納場所の内容と、上記特定パターンの、他の一部ビッ
    トに対応した第2メモリ内のデータ格納場所の内容とが
    、所定の論理関係になるように上記第1、第2メモリを
    構成すると共に、複数ビットより成る検査対象となるパ
    ターンの、一部ビットを用いて上記第1メモリをアクセ
    スし、上記検査対象となるパターンの、他の一部ビット
    を用いて上記第2メモリをアクセスし、当該アクセスし
    た結果の両出力が、上記所定の論理関係にあるか否かを
    調べる手段を備えていることを特徴とするパターン検出
    器。
JP17966284A 1984-08-29 1984-08-29 パタ−ン検出器 Pending JPS6158035A (ja)

Priority Applications (1)

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JP17966284A JPS6158035A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 パタ−ン検出器

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JP17966284A JPS6158035A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 パタ−ン検出器

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JP17966284A Pending JPS6158035A (ja) 1984-08-29 1984-08-29 パタ−ン検出器

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JP (1) JPS6158035A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5991569A (en) * 1997-06-06 1999-11-23 Ricoh Company, Ltd. PC drum integrated revolving type developing unit with pull-out supporter

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5930139A (ja) * 1982-08-10 1984-02-17 Mitsubishi Electric Corp ビツトパタ−ン比較装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5930139A (ja) * 1982-08-10 1984-02-17 Mitsubishi Electric Corp ビツトパタ−ン比較装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5991569A (en) * 1997-06-06 1999-11-23 Ricoh Company, Ltd. PC drum integrated revolving type developing unit with pull-out supporter

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