JPS6156963A - Electromagnetic induction flaw detection tester - Google Patents

Electromagnetic induction flaw detection tester

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Publication number
JPS6156963A
JPS6156963A JP17900184A JP17900184A JPS6156963A JP S6156963 A JPS6156963 A JP S6156963A JP 17900184 A JP17900184 A JP 17900184A JP 17900184 A JP17900184 A JP 17900184A JP S6156963 A JPS6156963 A JP S6156963A
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JP
Japan
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flaw detection
head
support member
support
electromagnetic induction
Prior art date
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Pending
Application number
JP17900184A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shigetoshi Hyodo
繁俊 兵藤
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6156963A publication Critical patent/JPS6156963A/en
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/904Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors

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Abstract

PURPOSE:To achieve a reduction in the equipment cost, by detecting flaws on the inner and outer surfaces of material to be detected in one line by an electromagnetic induction method. CONSTITUTION:An outer surface flaw detector 6 is made up of an external head 8 for holding an outer surface flaw detection sensor and an external stand 7 with a retreat/ lift/follow mechanism for the head 8 with respect to material 3 to be detected. On the other hand, an inner surface flaw detector 9 is made up of an internal head 10 for holding an inner surface flaw detection sensor while provided with a retreat/lift/follow mechanism for material 3. Also arranged are a support member 11 for supporting the head 10, a support roller 14 adapted to adjust the member 11 to the height of the center of the material, an inner surface support guide 13 existing in the material 3 to support the member 11 at the center of the material and a member 11 stopper mechanism for supporting the member 11 and the head 10. Then, material 3 is supplied to a conveying table 4 from a carry-in table 1 and upon the end of a flaw detection on the outer surface of the material 3, the material 3 is moved with a skew roller 5. A flaw detection on the inner surface is done with the internal head 10 and upon the end of the detection, the material 3 is ejected out to a carry-out table 2.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、スパイラル搬送される鋼管の前進。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to the advancement of spirally conveyed steel pipes.

後退時にそれぞれ内面又は外面の探傷を行う電磁誘導法
を利用した欠陥の探傷試験装置に関するものである。
The present invention relates to a flaw detection test device that uses electromagnetic induction to detect flaws on the inner or outer surface during retreat.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、鋼管に対する品質保証の強化は、客先の要求がレ
ベルアップされるに相俟って著しいものがある。品質保
証の手段として一般的には超音波探傷法が用いられてい
る。ところが、単一の探傷法では前記客先の要求を満足
すべき品質保証が得られず、2種以上の非破壊検査を適
用するいわゆる検査複合化の傾向が次第に高まっている
。すなわち、超音波探傷法で・は疵の方向による影響を
太き(受は易く、例えば管軸方向に対して傾いた人工欠
陥をつくってその検出限界を調べてみると、−5d・b
での許容角度は±5°である。このため、製管の特質上
傾き率が・発生する製造プロセスにおいては、超音波探
傷法のみでは欠陥の方向性によってその検出ができない
場合があった。それで、検査の複合化が行われるように
なった□次第である。
In recent years, quality assurance for steel pipes has been significantly strengthened as customer requirements have become more sophisticated. Ultrasonic flaw detection is generally used as a means of quality assurance. However, a single flaw detection method does not provide quality assurance that satisfies the customer's requirements, and there is an increasing trend toward so-called complex testing, in which two or more types of non-destructive testing are applied. In other words, in the ultrasonic flaw detection method, the influence of the direction of the flaw is easily affected (for example, if you create an artificial flaw that is tilted with respect to the tube axis direction and examine its detection limit, -5d・b
The allowable angle is ±5°. For this reason, in manufacturing processes where a slope rate occurs due to the characteristics of pipe manufacturing, it may not be possible to detect defects depending on their directionality using ultrasonic flaw detection alone. Therefore, it is up to □ that multiple tests are being carried out.

検査の複合化にあたっては、外面疵のみならず、内面疵
についても同様レベルで被検材料の全面・全長検査を行
うことが必要である。そのための技術として、従来にあ
っては超音波探傷法の他に電磁誘導探傷法が用いられて
いる。この電磁誘導探傷法は、被検材料の近くに検査用
コイルを置き、そのコイルに交流を通じ、コイルの電磁
気的反応を確かめることで、欠陥の検出を行うものであ
る。
In making inspection more complex, it is necessary to inspect not only external defects but also internal defects at the same level over the entire surface and length of the material to be inspected. Conventionally, as a technique for this purpose, an electromagnetic induction flaw detection method is used in addition to an ultrasonic flaw detection method. This electromagnetic induction flaw detection method detects defects by placing an inspection coil near the material to be inspected, passing an alternating current through the coil, and checking the electromagnetic response of the coil.

欠陥が存在する場合には、被検材料に発生する渦電流が
変化し、該渦電流の変化がコイルの電磁気的反応を変化
させるため、該電磁気的反応を検出することで被検材料
の欠陥検出が可能となるものである。
If a defect exists, the eddy current generated in the material under test changes, and this change in eddy current changes the electromagnetic response of the coil, so detecting the electromagnetic reaction can identify defects in the material under test. This makes detection possible.

従来の電磁誘導探傷法は、外面検査の場合、外:;  
      面疵検出センサー及び検出スタンドを固定
式とし、材料をスパイラルに搬送することで被検材料の
外面を全面・全長にわたって検査している。これに対し
て内面検査の場合には、被検材料をターニングローラー
で回転させ、内面疵検出センサーを被゛ 検材料の全長
にわたって直進往復動させることで、内面の全面・全長
を検査している。すなわち、この内面検査の場合、被検
材料のスパイラル搬送は行っていない。
Conventional electromagnetic induction flaw detection method is used for external inspection.
The surface flaw detection sensor and detection stand are fixed, and the material is conveyed in a spiral to inspect the entire surface and length of the material being inspected. On the other hand, in the case of internal surface inspection, the entire surface and length of the internal surface is inspected by rotating the material to be inspected with a turning roller and moving the internal flaw detection sensor back and forth in a straight line over the entire length of the material to be inspected. . That is, in the case of this inner surface inspection, the material to be inspected was not conveyed in a spiral manner.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところが、前記従来の電磁誘導探傷法にあっては、被検
材料の搬送方法及び内外面疵検出センサーの走査方法が
全く異なるため、完全に分離された設備を必要としてい
た。それで、設備コストが非常に高くなり、また多大の
設置スペースを必要とする欠点があった。
However, in the conventional electromagnetic induction flaw detection method, the method of transporting the material to be inspected and the scanning method of the internal and external flaw detection sensors are completely different, so completely separate equipment is required. Therefore, the equipment cost is very high and a large amount of installation space is required.

それに、内面検査の場合の検出センサーは、竿状の支持
部材先端に支持されている。支持部材は片持支持である
。それで、被検材料が長尺の場合膚 には、支持部材も被検材料に応じて長尺になり、その支
持が困難であった。つまり、支持部材が長尺になる程そ
れ自体の強度を大きくしないと途中で屈曲することにな
り、支持部材の径を大きくする必要があった。従って、
従来の内面検査の場合は、設備上の制約を受け、大径で
短尺のものにしか適用できないでいた。
In addition, a detection sensor for internal inspection is supported at the tip of a rod-shaped support member. The support member is cantilevered. Therefore, when the material to be tested is long, the support member also becomes long depending on the material to be tested, making it difficult to support the skin. In other words, as the support member becomes longer, unless the strength of the support member itself is increased, the support member will bend in the middle, and it is necessary to increase the diameter of the support member. Therefore,
Conventional internal surface inspections were limited by equipment and could only be applied to large diameter and short lengths.

このため、従来の内面検査にあって、長尺の被検材料を
検査する場合には、2台の内面検査装置を併設し、一方
側の装置で被検材料の一端側から中央部までを検査し、
その後、他方側の装置で被検材料の他端側から中央部ま
でを検査していた。
For this reason, in conventional internal surface inspection, when inspecting a long material to be inspected, two internal surface inspection devices are installed together, and one device inspects the material from one end to the center. inspect,
Thereafter, the device on the other side inspected the material to be tested from the other end to the center.

それで、設備コストが更に高くなり、設置スペースも多
く必要とするなどの欠点があった。
Therefore, there are drawbacks such as higher equipment costs and a larger installation space.

要するに、従来の電磁誘導探傷法にあっては、内面と外
面の探傷設備を完全に分離して行わなければならないと
いう・ことと、長尺材料の検査にあっては更に内面の探
傷設備を2台併設しなければないないという欠点があっ
た。
In short, in the conventional electromagnetic induction flaw detection method, the inner and outer flaw detection equipment must be completely separated, and when inspecting long materials, the inner flaw detection equipment must be used twice. The drawback was that a stand had to be installed.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は従来の電磁誘導探傷法の上記欠点に鑑みてこれ
を改良除去したものである。その要旨とするところは、
スパイラル搬送される鋼管の内外′面を内面探傷装置と
外面探傷装置とで探傷する電磁誘導法による探傷試験装
置であって、前記外面探傷装置は、外面疵検出センサー
を保持する外面ヘラ・ドと、該外面ヘッドの材料に対す
る退避昇降及び追従機構を備えた外面スタンドとよりな
り、前記内面探傷装置は、内面疵検出セン号−を保持し
且つ材料に対する退避昇降及・び追従機構を備えた内面
ヘッドと、該内面ヘッドを支える支持部材と、該支持部
材を材料中心高さに調節する支えローラと、材料内にあ
って前記支持部材を材料中心に支持する内面支持ガイド
と、前記゛支持部材及び内面ヘッドを支える支持部材の
ストッパー機構とよりなることを特徴とする電磁誘導探
傷試験装置である。
In view of the above-mentioned drawbacks of the conventional electromagnetic induction flaw detection method, the present invention improves and eliminates them. The gist of it is:
This is a flaw detection test device using an electromagnetic induction method that detects flaws on the inner and outer surfaces of a spirally conveyed steel pipe using an inner surface flaw detection device and an outer surface flaw detection device. , an outer surface stand equipped with an evacuation elevating and following mechanism for the material of the outer surface head; a head, a support member that supports the inner head, a support roller that adjusts the support member to a height at the center of the material, an inner support guide that is within the material and supports the support member at the center of the material, and the support member and a stopper mechanism for a support member that supports an inner surface head.

本発明は上記電磁誘導探傷試験装置を提供することによ
り、1ラインにて内外面の欠陥検出を可能“とじ、設備
コストの著しい低下及び設備スペースを節約せんとする
ものである。 ・ 以下に本発明装置の構成を図面に示す実施例に基づいて
更に詳細に説明すると次の通りである。
The present invention aims to significantly reduce equipment costs and save equipment space by providing the above-mentioned electromagnetic induction flaw detection testing device, which enables the detection of defects on internal and external surfaces in one line. The configuration of the inventive device will be described in more detail below based on the embodiment shown in the drawings.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は実施例装置の全体的な配置を示す平面図、第2
図は同装置の主要部分を示す概略側面図である。同図に
おいて、1は搬入用テーブル、2は搬出用テーブルであ
る。この搬入用及び搬出用テーブル1と2の間には、被
検材料(この実施例装置では100〜280fi”の継
目無鋼管)3を搬送するための搬送テーブル4が設置さ
れている。該搬送テーブル4は、被検材料3の2倍以上
の長さを有し、所定間隔毎に被検材料3をスパイラル搬
送するためのローラ5が設置されている。6は搬送テー
ブル4の途中に配設された外面探傷装置であり、第2図
に示す如く、スタンド7から支持さH,tlJ:1i−
WJ″′y F 8 ’lr* b ”’CパZ・00
1〜″8は、テーブル4上を搬送される被検材料3の上
方に位置しており、被検材料3に対して退避昇降及び追
従自在である。このことについては後述する。
Fig. 1 is a plan view showing the overall arrangement of the embodiment device;
The figure is a schematic side view showing the main parts of the device. In the figure, 1 is a table for carrying in, and 2 is a table for carrying out. A conveyance table 4 for conveying the material to be inspected (in this embodiment, a seamless steel pipe of 100 to 280 fi'') 3 is installed between the loading and unloading tables 1 and 2. The table 4 has a length more than twice that of the material to be tested 3, and rollers 5 are installed at predetermined intervals to spirally transport the material to be tested 3. As shown in Fig. 2, it is an external surface flaw detection device that is supported from a stand 7.
WJ'''y F 8 'lr* b '''Cpa Z・00
1 to 8 are located above the material to be inspected 3 being conveyed on the table 4, and can move up and down and follow the material to be inspected 3. This will be described later.

また搬送テーブル3の前端(第1図の右端)側には、内
面探傷装置9の内面ヘッド10を支持する支持部材11
のスタンドエ2が設置されている。内面ヘッド10及び
支持部材11は、その中心が搬送テーブル4上を搬送さ
れる被検材料3の中心と一致するように取付られている
Further, on the front end (right end in FIG. 1) side of the conveyance table 3, there is a support member 11 that supports the inner surface head 10 of the inner surface flaw detection device 9.
Stand E 2 has been installed. The inner surface head 10 and the support member 11 are mounted so that their centers coincide with the center of the test material 3 being transported on the transport table 4.

前記支持部材11の途中には、内面支持ガイド13と、
支えローラ14が取り付けられている。内面支持ガイド
13は、被検材料3内にあって支持部材11を材料中心
に支持するためのものであり、また支えローラ14は、
被検材料3のない時に支持部材11を材料中心に支持す
るためのものである。
In the middle of the support member 11, there is an inner support guide 13,
A support roller 14 is attached. The inner surface support guide 13 is located within the material 3 to be tested and is for supporting the support member 11 at the center of the material, and the support roller 14 is
This is for supporting the support member 11 centered on the material when there is no material 3 to be tested.

次に、上記の各部材の構成を更に詳細に説明する。Next, the configuration of each of the above members will be explained in more detail.

先ず、外面探傷装置6の説明をする。この装置6は、第
3図に示すように、搬送テーブル4の近傍に立設された
外面スタンド7を有し、外面ヘラ        iド
8を退避昇降自在に取り付けてあり、材料外径に応じて
高さ調整が可能となっている。外面ヘッド8の退避昇降
は、スクリュー螺子杆15に外面へラド8を螺合させ、
昇降用モーター60回転を傘歯車17.18を介してス
クリュー蝮子杆15伝達することで行っている。
First, the external surface flaw detection device 6 will be explained. As shown in FIG. 3, this device 6 has an external stand 7 erected near the conveyance table 4, and an external spatula 8 is attached so that it can be moved up and down, depending on the outer diameter of the material. Height adjustment is possible. To move the external head 8 up and down, the rad 8 is screwed onto the external surface of the screw rod 15.
This is achieved by transmitting 60 rotations of the lifting motor to the screw rod 15 via bevel gears 17 and 18.

第4図は外面へラド8のセンサ一部及び退避追従部を示
す半断面図である。19は箱状に形成されたヘッド本体
である。このヘッド本体19内には、マグネット20が
固定されており、その上部にムービングコイル21が配
置されている。22はマグネット20及びムービングコ
イル21の中心空洞を貫通してヘッド本体19の下方へ
突出するガイドパイプである。このガイドパイプ22の
下端側には距離センサー23及び外面疵検出センサー2
4等を保持するセンサーホルダー25が取り付・けられ
ている。またガイドパイプ22の上端側には前記ムービ
ングコイル21が取り付けられている。26はセンサー
ホルダー25の案内ガイドであり、ヘッド本体19内に
おいてマグネットボックス27に外嵌するスライドユニ
ット28を有している。29は中立点保持バネ、30は
センサーホルダー25の水平保持バネである。水平保持
バネ30は、被検材料3が太き(変形している場合には
、この変形分だけ上下動するいわゆる衝突防止用のもの
である。
FIG. 4 is a half sectional view showing a part of the sensor and the retraction following part of the outer surface of the radar 8. 19 is a head body formed in a box shape. A magnet 20 is fixed within this head body 19, and a moving coil 21 is arranged above it. Reference numeral 22 denotes a guide pipe that passes through the center cavity of the magnet 20 and the moving coil 21 and projects downward from the head body 19. A distance sensor 23 and an external flaw detection sensor 2 are provided on the lower end side of this guide pipe 22.
A sensor holder 25 for holding 4 etc. is attached. Further, the moving coil 21 is attached to the upper end side of the guide pipe 22. Reference numeral 26 denotes a guide for the sensor holder 25, and has a slide unit 28 that fits onto the magnet box 27 inside the head body 19. 29 is a neutral point holding spring, and 30 is a horizontal holding spring for the sensor holder 25. The horizontal holding spring 30 is a so-called collision prevention spring that moves up and down by the amount of deformation when the material 3 to be tested is thick (deformed).

前記ムービングコイル21はいわゆる電磁石である。こ
れを励磁させるとマグネット2oとマグネットポック2
7によって生じる磁束との相互作用によって、センサー
ホルダー25を移動させる。移動方向は、励磁の電流方
向によって制御される。第4図はこの状態を示すもので
ある。ムービングコイル21を非励磁状態にすると、セ
ンサーホルダー25は中立点保持バネ29の引張力とホ
ルダー重量の釣り合い点に停止している。今、上方への
最大電流を加えると、案内ガイド26及びセンサーホル
ダー25が上方へ引き寄せられる。つまり、非検査状態
となる。スライドユニット28は、この昇降動作が安定
して行えるようにするためのものである。検査中には、
距離セシサー23の距離信号をフィードバックして一定
ギャップを保ちながら追従制御が行われる。
The moving coil 21 is a so-called electromagnet. When this is excited, magnet 2o and magnet pock 2
7 causes the sensor holder 25 to move. The direction of movement is controlled by the direction of the excitation current. FIG. 4 shows this state. When the moving coil 21 is de-energized, the sensor holder 25 is stopped at a point where the tensile force of the neutral point holding spring 29 and the weight of the holder are balanced. Now, when the maximum upward current is applied, the guide 26 and the sensor holder 25 are drawn upward. In other words, it is in a non-inspection state. The slide unit 28 is for stably performing this raising and lowering operation. During the inspection,
Follow-up control is performed while maintaining a constant gap by feeding back the distance signal from the distance processor 23.

次に第5図及び第6図を参照して内面探傷装置9の内面
ヘッド10について説明する。
Next, the inner surface head 10 of the inner surface flaw detection device 9 will be explained with reference to FIGS. 5 and 6.

この内面ヘッド10は、枠組み形成されたフレーム31
の両端上下にそれぞれ半円筒状のシュー32が取り付け
られ、被検材料3の内周面を摺動自在である。シュー3
2は、被検材料3の上端内周面との間に所定のクリアラ
ンスが形成されるようになっている。これは被検材料3
が屈曲等していると内面ヘッド10の直進動作が行えな
いので、これを逃げるためのものである。フレーム31
内には、ソレノイドボックス33が固定されている。3
4はソレノイド35の作動杆であり、ソレノイドボック
ス33の下方へ昇降自在に突出している。36は作動杆
34の下端側に取り付けられたセンサーホルダー、37
はソレノイドボックス33に摺動自在に外嵌するスライ
ドユニットである。センサーホルダー36内には内面疵
検出センサー(図示せず)が内蔵されていることは当然
である。センサーボックス33とセン:;      
   サーホルダー36との間には、センサーホルダー
36を被検材料3の内周面形状に追従させるためのバネ
38が取り付けられている。
This inner head 10 is formed by a frame 31
Semi-cylindrical shoes 32 are attached to the top and bottom of both ends, respectively, and are slidable on the inner circumferential surface of the test material 3. shoe 3
2 is such that a predetermined clearance is formed between it and the inner circumferential surface of the upper end of the material 3 to be tested. This is test material 3
If the inner head 10 is bent, the inner head 10 cannot move straight, so this is to avoid this. frame 31
A solenoid box 33 is fixed inside. 3
4 is an operating rod of the solenoid 35, which projects downward from the solenoid box 33 so as to be able to rise and fall freely. 36 is a sensor holder attached to the lower end side of the operating rod 34; 37
is a slide unit that is slidably fitted onto the solenoid box 33. It goes without saying that an internal flaw detection sensor (not shown) is built into the sensor holder 36. Sensor box 33 and sensor:;
A spring 38 is attached between the sensor holder 36 and the sensor holder 36 to cause the sensor holder 36 to follow the shape of the inner peripheral surface of the material 3 to be tested.

ソレノイド35が非励磁状態のときは、バネ38により
センサーホルダー36が下方へ付勢され、被検材料3の
内周面と接触している。すなわち、検査状態となる。第
5図及び第6図はこの状態を示すものである。またソレ
ノイド36が励磁状態のときは、作動杆34が上方へ引
き寄せられ、センサーホルダー36は被検材料3の内周
面から離れて退避状態となる。
When the solenoid 35 is in a non-energized state, the sensor holder 36 is urged downward by the spring 38 and is in contact with the inner circumferential surface of the material 3 to be tested. In other words, it becomes an inspection state. FIGS. 5 and 6 show this state. Further, when the solenoid 36 is in an excited state, the operating rod 34 is drawn upward, and the sensor holder 36 is moved away from the inner circumferential surface of the material to be tested 3 and placed in a retracted state.

第7図及び第8図は、内面探傷装置9のスタンド12及
び支持部材11のストッパー機構39を示すものである
。スタンド12は、2本のポスト40.41を有し、該
ポスl−40,41間に前記支持部材11が昇降自在に
貫通支持されている。ストッパー機構39は、ポスト4
0゜41に固定されたガイドロッド42.43ヲ有して
いる。44はガイドロッド42.43間に跨って取り付
けられた固定フレームである。この固定フレー、ム44
には、パン1ル45を備えた螺子杆46が蜆着貫通して
いる。47はこの甥子杆46の下端側に取り付けられた
可動台で、その両端側には前記ガイドロッド42.43
が貫通している。前記支持部材11は、この可動台47
に貫通して固定支持されている。
7 and 8 show the stand 12 and the stopper mechanism 39 of the support member 11 of the inner surface flaw detection device 9. FIG. The stand 12 has two posts 40 and 41, and the support member 11 is supported through the posts 1-40 and 41 so as to be able to move up and down. The stopper mechanism 39
It has guide rods 42,43 fixed at 0°41. Reference numeral 44 denotes a fixed frame mounted across the guide rods 42 and 43. This fixed frame, M44
A screw rod 46 with a pan 45 passes through the bolt. Reference numeral 47 denotes a movable base attached to the lower end of this rod 46, and the guide rods 42 and 43 are attached to both ends of the movable base.
is penetrated. The support member 11 is attached to this movable table 47.
It penetrates and is fixedly supported.

従って、ハンドル45を回転させることにより、甥子杆
46が固定フレーム44に対して上下動し、可動台47
を昇降させる。つまり、支持部材11を昇降させる。4
8は、この昇降動作時にあって支持部材11の高さ位置
を示す目盛板である。
Therefore, by rotating the handle 45, the rod 46 moves up and down with respect to the fixed frame 44, and the movable base 47
to raise and lower. That is, the support member 11 is moved up and down. 4
Reference numeral 8 denotes a scale plate that indicates the height position of the support member 11 during this lifting and lowering operation.

第9図は、支持部材11の途中に取付固定された内面支
持ガイド13を示すものである。この内面支持ガイド1
3は、被検材料3の内径と略々同一の外径を有しており
、内面の欠陥検出時にあって、被検材料3の内周面と接
触し、支持部材11を支持する。この実施例では、内面
支持ガイド13を半割状にして支持部材11の上下から
取り付けるようにしている。
FIG. 9 shows the inner surface support guide 13 mounted and fixed in the middle of the support member 11. As shown in FIG. This inner support guide 1
3 has an outer diameter that is approximately the same as the inner diameter of the material to be inspected 3, and comes into contact with the inner circumferential surface of the material to be inspected 3 to support the support member 11 when detecting defects on the inner surface. In this embodiment, the inner surface support guide 13 is split in half and attached to the support member 11 from above and below.

第10図及び第11図は、被検材料3のない時に支持部
材11の、途中下方を支えて、その中心を材料中心に一
致させる支えローラ14を示すものである。
FIGS. 10 and 11 show a support roller 14 that supports the midway downward part of the support member 11 when there is no material 3 to be tested, and aligns its center with the center of the material.

この支えローラ14は、ポスト50.51の上端に跨っ
て回動自在に取り付けられている。回動は、エアーシリ
ンダー52により行っている。53は支えローう14の
回動軸54に固定された係止部材であり、55は支えロ
ーラ14の回動ストロークを決定するためのストッパー
である。エアーシリンダー52を係止部材53がストッ
パー55に当接する位置まで突出動作させると、支えロ
ーラ14は第10図の鎖線で示す位置まで回動し、支持
部材11の下方を支持する。
This support roller 14 is rotatably mounted astride the upper end of the post 50.51. The rotation is performed by an air cylinder 52. 53 is a locking member fixed to the rotation shaft 54 of the support roller 14, and 55 is a stopper for determining the rotation stroke of the support roller 14. When the air cylinder 52 is moved to a position where the locking member 53 comes into contact with the stopper 55, the support roller 14 rotates to the position shown by the chain line in FIG. 10 and supports the support member 11 below.

つまり、該支えローラ14で支持部材11の途中を支持
することができ、支持部材llが途中で湾曲する等のこ
とがない。。
In other words, the support roller 14 can support the support member 11 midway, and the support member 11 will not be bent midway. .

次に上述の如く構成された電磁誘導探傷試験装置の動作
態様を説明する。
Next, the operation mode of the electromagnetic induction flaw detection testing apparatus configured as described above will be explained.

探傷開始前の状態では、外面ヘッド8は中立点保持バネ
29の引張力により上方位置で待機している。また支え
ローラ14は支持部材11の中間部を下方から支持して
いる。
Before the start of flaw detection, the external head 8 is in a standby position at an upper position due to the tensile force of the neutral point holding spring 29. Further, the support roller 14 supports the intermediate portion of the support member 11 from below.

このような状態から搬入テーブル1より図示しないキツ
カーで搬送テーブル4に被検材料3が供給されると、被
検材料3はスキューローラ5によりスパイラル状に回転
しながら第1図の左側から右側へ向けて前進を始める。
When the test material 3 is supplied from the carry-in table 1 to the transport table 4 by a picker (not shown) from this state, the test material 3 is rotated in a spiral by the skew roller 5 from the left side to the right side in FIG. Start moving towards.

そして、その被検材料3の先端が外面スタンド7に至る
と、外面ヘッド8のムービングコイル21が励磁され、
センサーホルダー25が被検材料3の外周面に一定ギャ
ップ(本実施例では0.3m)にて追従を開始し、電磁
誘導法による欠陥の探傷を開始する。この場合にあって
、センサーホルダー25は被検材料3の外周面に高さの
変動があると、これを距離センサー23にて検出して追
従する。本実施例における追従ストロークは、中立点よ
り±10wmの範囲である。被検材料外面の探傷が進み
、材料先端が支えローラ14の位置に来ると、第10図
に示すエアーシリンダー52が退入復帰し、支えローラ
14は同図の実線で示す位置へ回動する。すなわち、被
検材料3と干渉しない位置へ退避する。そして、被検材
料3の先端が内面支持ガイド13の位置へ達すると、該
ガイド13は被検材料3内へ内装され、材料内において
支持部材11の中間部を支持する。
When the tip of the test material 3 reaches the outer stand 7, the moving coil 21 of the outer head 8 is excited.
The sensor holder 25 starts tracking the outer circumferential surface of the material 3 to be inspected at a constant gap (0.3 m in this example), and starts detecting defects using the electromagnetic induction method. In this case, if there is a change in height on the outer peripheral surface of the test material 3, the sensor holder 25 uses the distance sensor 23 to detect and follow the change in height. The follow-up stroke in this example is within a range of ±10 wm from the neutral point. When the flaw detection on the outer surface of the material to be inspected progresses and the leading edge of the material reaches the position of the support roller 14, the air cylinder 52 shown in FIG. 10 moves back and forth, and the support roller 14 rotates to the position shown by the solid line in the figure. . That is, it retreats to a position where it does not interfere with the test material 3. When the tip of the material 3 to be tested reaches the position of the inner surface support guide 13, the guide 13 is inserted into the material 3 to be tested and supports the intermediate portion of the support member 11 within the material.

1!       このようにして被検材料外面の探傷
が完了すると、外面ヘッド8のムービングコイル21が
上方退避励磁状態となり、センサーホルダー25は上昇
して待機する。また同時にスキューローラ5が逆転を開
始し、被検材料3をスパイラル状に回転させながら今度
は第1図の右側から左側へ後退搬送する。
1! When flaw detection on the outer surface of the material to be inspected is completed in this manner, the moving coil 21 of the outer surface head 8 enters an upwardly retracted energized state, and the sensor holder 25 rises and stands by. At the same time, the skew roller 5 starts to rotate in reverse, and the material 3 to be tested is rotated in a spiral manner while being conveyed backward from the right side to the left side in FIG.

これと同時に内面ヘッド】0による内部疵の電磁誘導探
傷が行われる。この内面の探傷は、ソレノイド35を非
励磁状態にし、センサーホルダー36をバネ38の付勢
力により被検材料3の内周面へ当接させて行う。この内
面探傷用のセンサーホルダー36の場合も、材料内周面
に多少の凹凸があると、これを回避して追従するようバ
ネ38の弾性範囲内で上下動する。そして、被検材料3
の管端が支えローラ14の位置を通過すると、第10図
に示すエアーシリンダー52が突出動作をし、支えロー
ラ14を鎖線で示す位置へ回動させて支持部材11の中
間部下方を支持する。これにより、支持部材11は常に
その中心を材料中心に一致させることが可能である。被
検材料3の管端が内面ヘッド10を通過し、内面の探傷
が完了した後は、第5図に示すソレノイド35が励磁さ
れ、センサーホルダー36を上方へ引き上げて待機させ
る。
At the same time, electromagnetic induction flaw detection for internal flaws is performed using the inner surface head 0. This inner surface flaw detection is performed by de-energizing the solenoid 35 and bringing the sensor holder 36 into contact with the inner circumferential surface of the material 3 to be inspected by the biasing force of the spring 38. In the case of this inner surface flaw detection sensor holder 36 as well, if there is some unevenness on the inner peripheral surface of the material, it moves up and down within the elastic range of the spring 38 to avoid and follow the unevenness. And test material 3
When the pipe end passes the position of the support roller 14, the air cylinder 52 shown in FIG. . Thereby, the center of the support member 11 can always be aligned with the center of the material. After the tube end of the material 3 to be inspected passes through the inner surface head 10 and the inner surface flaw detection is completed, the solenoid 35 shown in FIG. 5 is energized, and the sensor holder 36 is pulled upward and placed on standby.

内面及び外面の探傷が終了した被検材料3は、図示しな
いキツカーにより搬出テーブル2へ蹴り出される。
The material 3 to be tested whose inner and outer surfaces have been inspected for flaws is kicked out to the carry-out table 2 by a kicker (not shown).

然る後、上述の動作を反復することで順次被検材料3の
外面及び内面の欠陥探傷を行う。参考までに、本実施例
装置にあっては、直径180m、長さ14mの熱間加工
継目無鋼管の内外面をおのおの4センサーを用いて探傷
した。探傷に要した時間は、5分である。
Thereafter, by repeating the above-described operations, defects on the outer surface and inner surface of the test material 3 are sequentially detected. For reference, in the apparatus of this example, the inner and outer surfaces of a hot-worked seamless steel pipe with a diameter of 180 m and a length of 14 m were each inspected for flaws using four sensors. The time required for flaw detection was 5 minutes.

第12図は本実施例装置の信号処理方法を示す、ブロッ
ク図である。外面ヘッド8より出力される 。
FIG. 12 is a block diagram showing the signal processing method of the apparatus of this embodiment. It is output from the external head 8.

外面探傷信号aは、外面疵弁別回路Aにより欠陥信号と
ノイズ等の判別がなされ、次の疵判定及びマーキングコ
ントロール回路りへ送られる。そして、許容できない疵
にあっては、外面疵マーカ−58にマーキング信号Cが
出力され、被検材料3の外周面にマーキングが行われる
。内面探傷の場合にあっては、切換スイッチ58.57
が自動的に第12図の反対側へ切換られる。内面ヘッド
10より出カフ される内面探傷信号すは、内部疵弁別回路Bにより欠陥
とノイズ等の判別がなされる。そして、許容できない疵
は回路りから内面疵マーカ−59にマーキング信号dが
送られ、被検材料3の外周面にマーキングが行われる。
The external surface flaw detection signal a is discriminated between a defect signal and noise by an external surface flaw discrimination circuit A, and is sent to the next flaw determination and marking control circuit. If there is an unacceptable flaw, a marking signal C is output to the outer surface flaw marker 58, and marking is performed on the outer circumferential surface of the material 3 to be inspected. In the case of internal flaw detection, selector switch 58.57
is automatically switched to the opposite side of FIG. The inner surface flaw detection signal output from the inner surface head 10 is discriminated between defects, noise, etc. by an internal flaw discrimination circuit B. Then, for unacceptable flaws, a marking signal d is sent from the circuit to the inner surface flaw marker 59, and marking is performed on the outer circumferential surface of the material 3 to be inspected.

次にロフト変えの場合を説明する。この場合は、先ず、
内面ヘッド10のシュー32を被検材料3の内径に応じ
たものに取り替える。そして、第7図及び第8図に示す
ハンドル45を操作して可動台47を昇降させ、該可動
台47に固定支持された支持部材11の中心を材料中心
に一致させる。また支持部材11の途中に固定した内面
支持ガイド13を被検材料の内径に応じたものに取り替
える。最後に第10図及び第11図に示すストッパー5
5の螺合状態を調節して支えローラ14の回動ストロー
クを調節し、支えローラ14がロット変えした被検材料
3の下方に当接するようにすればよい。外面ヘッド8は
、昇降用モーターI6によってセンサーホルダー25の
高さを被検材料上面一に合わせればよい。
Next, the case of changing the loft will be explained. In this case, first,
The shoe 32 of the inner surface head 10 is replaced with one corresponding to the inner diameter of the material 3 to be tested. Then, the handle 45 shown in FIGS. 7 and 8 is operated to raise and lower the movable base 47, and the center of the support member 11 fixedly supported by the movable base 47 is aligned with the center of the material. Also, the inner surface support guide 13 fixed in the middle of the support member 11 is replaced with one corresponding to the inner diameter of the material to be tested. Finally, the stopper 5 shown in FIGS. 10 and 11
The rotating stroke of the support roller 14 may be adjusted by adjusting the threaded state of the support roller 14 so that the support roller 14 comes into contact with the lower part of the test material 3 that has been changed in lot. The external head 8 only needs to adjust the height of the sensor holder 25 to be flush with the top surface of the test material using the lifting motor I6.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明にあっては、1ラインで被検
材料の内面及び外面の電磁誘導法による欠陥探傷を行う
ことができ、従来のように内面と外面それぞれについて
ラインを設ける必要がないので、設備コストの大幅なコ
ストダウンが図れる。
As explained above, in the present invention, defects can be detected by electromagnetic induction on the inner and outer surfaces of the test material in one line, and there is no need to provide separate lines for the inner and outer surfaces as in the past. Therefore, equipment costs can be significantly reduced.

また設備スペースも少なくて済み、有効なスペースの利
用が図れる。それに、内面及び外面の探傷を被検材料が
往復動作する間で行えるので、探傷時間の大幅な短縮が
可能である。
Furthermore, less equipment space is required, allowing for effective use of space. In addition, since flaw detection on the inner and outer surfaces can be performed while the test material is reciprocating, the flaw detection time can be significantly shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は実施例装置の全体配置を示す平面図、第2図は
同装置の主要部を示す概略側面図、第3図は外面探傷装
置の一部縦断面図、第4図は外面ヘッドの半断面図、第
5図は内面ヘッドを拡大して示した図面、第6図は管軸
方向と直交する方向;、         で断面した
内面ヘッドの半断面図、第7図は支持部材のストッパー
機構を示す側面図、第8図は同機構の背面図、第9図は
内面支持ガイドを示す樅断面図、第10図は支えローラ
を示す側面図、第11図は支えローラの背面図、第12
図は実施例装置の信号処理例を示すブロック図である。 3・・・被検材料    6・・・外面探傷装置9・・
・内面探傷装置  8・・・外面へラド7・・・外面ス
タンド  10・・・内面ヘッド11・・・支持部材 
   14・・・支えローラ13・・・内面支持ガイド
 39・・・ストッパー機構特許出願人   住友金属
工業株式会社代 理 人   弁理士 内田敏彦 第3図 第4図 第10図 第11図
Fig. 1 is a plan view showing the overall arrangement of the embodiment device, Fig. 2 is a schematic side view showing the main parts of the device, Fig. 3 is a partial longitudinal sectional view of the external flaw detection device, and Fig. 4 is the external head. 5 is an enlarged view of the inner head; FIG. 6 is a half sectional view of the inner head taken in a direction perpendicular to the tube axis; FIG. 7 is a half sectional view of the inner head; A side view showing the mechanism, FIG. 8 is a rear view of the same mechanism, FIG. 9 is a sectional view showing the inner support guide, FIG. 10 is a side view showing the support roller, FIG. 11 is a rear view of the support roller, 12th
The figure is a block diagram showing an example of signal processing of the embodiment device. 3... Material to be tested 6... External flaw detection device 9...
・Inner surface flaw detection device 8...Rad to outer surface 7...Outer surface stand 10...Inner surface head 11...Support member
14...Support roller 13...Inner support guide 39...Stopper mechanism patent applicant Sumitomo Metal Industries Co., Ltd. Agent Toshihiko Uchida, patent attorney Figure 3 Figure 4 Figure 10 Figure 11

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、スパイラル搬送される鋼管の内外面を内面探傷装置
と外面探傷装置とで探傷する電磁誘導法による探傷試験
装置であって、前記外面探傷装置は、外面疵検出センサ
ーを保持する外面ヘッドと、該外面ヘッドの材料に対す
る退避昇降及び追従機構を備えた外面スタンドとよりな
り、前記内面探傷装置は、内面疵検出センサーを保持し
且つ材料に対する退避昇降及び追従機構を備えた内面ヘ
ッドと、該内面ヘッドを支える支持部材と、該支持部材
を材料中心高さに調節する支えローラと、材料内にあっ
て前記支持部材を材料中心に支持する内面支持ガイドと
、前記支持部材及び内面ヘッドを支える支持部材のスト
ッパー機構とよりなることを特徴とする電磁誘導探傷試
験装置。
1. A flaw detection test device using an electromagnetic induction method that detects flaws on the inner and outer surfaces of a spirally conveyed steel pipe using an inner surface flaw detection device and an outer surface flaw detection device, the outer surface flaw detection device including an outer surface head holding an outer surface flaw detection sensor; The inner surface flaw detection device includes an outer stand having an evacuation elevating and following mechanism for the material of the outer surface head, and an inner surface stand that holds an inner surface flaw detection sensor and is equipped with an evacuation elevating and following mechanism for the material; A support member that supports the head, a support roller that adjusts the support member to a height at the center of the material, an inner support guide that is within the material and supports the support member at the center of the material, and a support that supports the support member and the inner head. An electromagnetic induction flaw detection testing device characterized by comprising a stopper mechanism for a member.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62267681A (en) * 1986-05-16 1987-11-20 Murata Mfg Co Ltd Measuring instrument for distribution of magnetic field
WO2008068972A1 (en) * 2006-12-04 2008-06-12 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Follow-up device for detecting flaw of pipe and automatic flaw detection apparatus of pipe employing it
JP2010230348A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Honda Motor Co Ltd Work hardness measuring instrument
JP2011196949A (en) * 2010-03-23 2011-10-06 Honda Motor Co Ltd Surface measuring device for gear

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4870586A (en) * 1971-12-24 1973-09-25
US4442403A (en) * 1981-04-01 1984-04-10 Pohler Carl Ludwig Testing installation for pipes having an internal testing unit driven by the rotation of the pipe

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4870586A (en) * 1971-12-24 1973-09-25
US4442403A (en) * 1981-04-01 1984-04-10 Pohler Carl Ludwig Testing installation for pipes having an internal testing unit driven by the rotation of the pipe

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62267681A (en) * 1986-05-16 1987-11-20 Murata Mfg Co Ltd Measuring instrument for distribution of magnetic field
WO2008068972A1 (en) * 2006-12-04 2008-06-12 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Follow-up device for detecting flaw of pipe and automatic flaw detection apparatus of pipe employing it
JP2008139191A (en) * 2006-12-04 2008-06-19 Sumitomo Metal Ind Ltd Follower device for flaw detection of pipe and automatic flaw detector of pipe using it
US8104349B2 (en) 2006-12-04 2012-01-31 Sumitomo Metal Industries, Ltd. Flaw detection tracking device for pipe or tube and automatic flaw detecting apparatus for pipe or tube using the same
JP2010230348A (en) * 2009-03-26 2010-10-14 Honda Motor Co Ltd Work hardness measuring instrument
JP2011196949A (en) * 2010-03-23 2011-10-06 Honda Motor Co Ltd Surface measuring device for gear

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