JPS6153563A - 異物検出装置 - Google Patents
異物検出装置Info
- Publication number
- JPS6153563A JPS6153563A JP59175031A JP17503184A JPS6153563A JP S6153563 A JPS6153563 A JP S6153563A JP 59175031 A JP59175031 A JP 59175031A JP 17503184 A JP17503184 A JP 17503184A JP S6153563 A JPS6153563 A JP S6153563A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pair
- circuits
- foreign object
- foreign matter
- waveforms
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/045—Analysing solids by imparting shocks to the workpiece and detecting the vibrations or the acoustic waves caused by the shocks
- G01N29/046—Analysing solids by imparting shocks to the workpiece and detecting the vibrations or the acoustic waves caused by the shocks using the echo of particles imparting on a surface; using acoustic emission of particles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4454—Signal recognition, e.g. specific values or portions, signal events, signatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、例えば発電プラント等における配管やボック
ス内の異物を検出するに好適な異物検出装置に関するも
のである。
ス内の異物を検出するに好適な異物検出装置に関するも
のである。
プラント等において配管に鉄粉などの異物が徐々に蓄積
されると配管のつ′−！シを起したシ、配管やボックス
内ヘスパナなどの工具を置き忘れて、システムの運転停
止や重大な事故を引き起すことがある。前記のような異
物を監視するのに米国にてｌ、ｏｏｓｅ−ｐａｒｔｓ
Ｍｏｎ１ｔｅｒ （以下ＬＰＭと略す）なる方法が試み
られている。また最近一対の振動検出器を用いて異物を
検出する異物検知装置（実公昭５５−５９６６、実公昭
５５−５９７７１がある。
されると配管のつ′−！シを起したシ、配管やボックス
内ヘスパナなどの工具を置き忘れて、システムの運転停
止や重大な事故を引き起すことがある。前記のような異
物を監視するのに米国にてｌ、ｏｏｓｅ−ｐａｒｔｓ
Ｍｏｎ１ｔｅｒ （以下ＬＰＭと略す）なる方法が試み
られている。また最近一対の振動検出器を用いて異物を
検出する異物検知装置（実公昭５５−５９６６、実公昭
５５−５９７７１がある。
前者のＬＰＭはオンライン監視のため運転中に卦ける異
物の位置を検出しても停止した時に異物がどこにあるか
すぐ判らないという欠点があった。
物の位置を検出しても停止した時に異物がどこにあるか
すぐ判らないという欠点があった。
また後者の一対の振動検出器を用いた異物検知装置け、
用いている振動検出器が２０１−１ ｚ 〜２０ ｋ
Ｉ−Ｉ ｚの周波数帯域を持つだめに工場やプラントか
ら発生する機械的ノイズの影響を受は易く異物の振動に
よって発生する信号の弁別が困難であり、さらに感度の
均一な一対の県勤倹出器及び増幅器が必要なため装置の
調整及び据付に手間がかがるという欠点があった。また
、上記の欠点を補うために、１個のＡＥ検出器を用いた
異物検出装置が考案されているが、ＡＥ検出器を１個し
か用いていないため異物の位置を判別することができな
いという欠点がめる。
用いている振動検出器が２０１−１ ｚ 〜２０ ｋ
Ｉ−Ｉ ｚの周波数帯域を持つだめに工場やプラントか
ら発生する機械的ノイズの影響を受は易く異物の振動に
よって発生する信号の弁別が困難であり、さらに感度の
均一な一対の県勤倹出器及び増幅器が必要なため装置の
調整及び据付に手間がかがるという欠点があった。また
、上記の欠点を補うために、１個のＡＥ検出器を用いた
異物検出装置が考案されているが、ＡＥ検出器を１個し
か用いていないため異物の位置を判別することができな
いという欠点がめる。
本発明の目的は、プラント停止時でも被検体内にある異
物を検出するとともに前記の異物の位置も検出すること
が可能となる異物検出装置を提供することにある。
物を検出するとともに前記の異物の位置も検出すること
が可能となる異物検出装置を提供することにある。
ｙ発ｔｙ４のルＵ〕
本発明は、ｊ’Ｊ＋定間隔をへだてて設けられた一対の
ＡＥ検出器と、前記一対のＡＥ検出器の出刃をそれぞれ
入力とする一対の増幅部と、前記一対の増幅部の出力が
それぞれ供給をれ包絡線検波波形を出力する一対の検波
回路と、前記一対の検波回路の出力が供給され、前記そ
れぞれの包絡線検波波形をＡ／Ｄ変換する一対のＡ／Ｄ
変換回路と、前記一対のＡ／Ｄ変換回路出力を記憶する
一対のディジタル記憶回路と、前記一対のディジクル記
憶回路の内容をＤ／Ａ変換回路を介し表示する表示装置
から構成されてない、前記表示装置に表示された２チヤ
ンネル波形の時間差を前記表示装置に表示された波形上
で指定する指定装置で指定し演算回路で異物までの距離
を求めるようにしたものである。
ＡＥ検出器と、前記一対のＡＥ検出器の出刃をそれぞれ
入力とする一対の増幅部と、前記一対の増幅部の出力が
それぞれ供給をれ包絡線検波波形を出力する一対の検波
回路と、前記一対の検波回路の出力が供給され、前記そ
れぞれの包絡線検波波形をＡ／Ｄ変換する一対のＡ／Ｄ
変換回路と、前記一対のＡ／Ｄ変換回路出力を記憶する
一対のディジタル記憶回路と、前記一対のディジクル記
憶回路の内容をＤ／Ａ変換回路を介し表示する表示装置
から構成されてない、前記表示装置に表示された２チヤ
ンネル波形の時間差を前記表示装置に表示された波形上
で指定する指定装置で指定し演算回路で異物までの距離
を求めるようにしたものである。
第１図のように所定間隔をへだてで被検体に一対のＡＥ
検出器を設置しておき、ハンマ等の励振器によシ被検体
を励振すると、異物がない場合にはそれぞれのＡＥ検出
器には第２図ａのような被検体が励振器によって励振さ
れて発生する音波が検出される。異物がある場合にはそ
れぞれのＡＥ検出器には第２図すのような初めに被検体
が励振器によって励振されて発生する音波が検出され、
ある時間遅れて異物が被検体の壁面と衝突して発生する
音波が検出できる。この波形の発生パターンの違いから
異物の有無を判別することができる。
検出器を設置しておき、ハンマ等の励振器によシ被検体
を励振すると、異物がない場合にはそれぞれのＡＥ検出
器には第２図ａのような被検体が励振器によって励振さ
れて発生する音波が検出される。異物がある場合にはそ
れぞれのＡＥ検出器には第２図すのような初めに被検体
が励振器によって励振されて発生する音波が検出され、
ある時間遅れて異物が被検体の壁面と衝突して発生する
音波が検出できる。この波形の発生パターンの違いから
異物の有無を判別することができる。
また、異物の位置の違いにより第３図ａ、ｂのようにそ
れぞれのＡＥ検出器に異物の音波が到達する時間に差が
ある。一対のＡＥ（ｆＱ出器の中間から異物までの距離
を６１被検体を伝播する音波の速度をｖ１時間差をΔｔ
とすると（１）式のような関係がある。
れぞれのＡＥ検出器に異物の音波が到達する時間に差が
ある。一対のＡＥ（ｆＱ出器の中間から異物までの距離
を６１被検体を伝播する音波の速度をｖ１時間差をΔｔ
とすると（１）式のような関係がある。
ｔ＝−ｖΔｔ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・ （１）（１）式にそれぞれ
のＡＥ検出器に異物の音波が到達する時間差を代入する
ことにょシ異物の位置を距離として求めることができる
。
・・・・・・・・・・・・ （１）（１）式にそれぞれ
のＡＥ検出器に異物の音波が到達する時間差を代入する
ことにょシ異物の位置を距離として求めることができる
。
本発明はそれぞれのＡＥ検出器に検出される波形をブラ
ウン管上に同時に表示し、その波形上の位置を検査員が
波形をみながら指定装置で波形の位置を指定すると、デ
ィジタル記憶回路の記憶位置とディジタル記憶回路のＡ
Ｅ検出器からの信号の取込時間間隔から２つの波形の時
間差Δｔがわかる。この時間差Δｔを演算回路に入れ（
１）式を計算することにより異物の位置がわかる。本発
明によれば異物から発生されるＡＥ倍信号波形は、検査
員が波形をみながら指定装置で波形の位置を指定できる
ため異物から発生する音波がどうかの判断を行うことが
できるだめノイズの影響を受けにくいという利点がある
。
ウン管上に同時に表示し、その波形上の位置を検査員が
波形をみながら指定装置で波形の位置を指定すると、デ
ィジタル記憶回路の記憶位置とディジタル記憶回路のＡ
Ｅ検出器からの信号の取込時間間隔から２つの波形の時
間差Δｔがわかる。この時間差Δｔを演算回路に入れ（
１）式を計算することにより異物の位置がわかる。本発
明によれば異物から発生されるＡＥ倍信号波形は、検査
員が波形をみながら指定装置で波形の位置を指定できる
ため異物から発生する音波がどうかの判断を行うことが
できるだめノイズの影響を受けにくいという利点がある
。
以下、本発明の一実施例を第４図と第５図にょシ説明す
る。ハンマ１２で被検体１の外面を叩いて被検体１を励
振させたとき、異物１１がＡＥ検出器２ａの近くにある
とすると被検体ｌの励振により被検体内の異物も励振さ
れ被検体１の内壁と衝突することにより音波を発生する
。発生した音波はまずＡＥ検出器２ａに到達したのちΔ
を時間だけ遅れてＡＥ検出器２ｂに到達する。ＡＥ検出
器２ａ、 ２ｂによシ検出された波形は増幅部３ａ。
る。ハンマ１２で被検体１の外面を叩いて被検体１を励
振させたとき、異物１１がＡＥ検出器２ａの近くにある
とすると被検体ｌの励振により被検体内の異物も励振さ
れ被検体１の内壁と衝突することにより音波を発生する
。発生した音波はまずＡＥ検出器２ａに到達したのちΔ
を時間だけ遅れてＡＥ検出器２ｂに到達する。ＡＥ検出
器２ａ、 ２ｂによシ検出された波形は増幅部３ａ。
ｌａｂにて増幅され検波回路４ａ、４ｂで検波される。
検波回路４ａ、４ｂで検波された波形は、Ａ／Ｄ変換回
路５ａ、５ｂでＡ／Ｄ変換され、記憶 ゛回路６ａ
、６ｂに記憶される。記憶回路５ａ、５ｂで記憶された
波形は、Ｄ／Ａ変換回路７ａ、７ｂでＤ／Ａ変換され表
示装置８に表示される。ここで第５図のように表示装置
に表示された波形上において検査員が画面上に設けたタ
ッチセンサなどの指定装置９で矢印のΔを時間差を指定
するとΔを時間差が演算回路１０に読み込まれる。演Ｄ
Ｔ−回路１０にはあらかじめ被検体の音波の伝播速度■
を入れておき、とのＶとΔｔとの演算によシ第４図に示
す一対のＡＥ検出器の中間から異物までの距離ｔが求め
られ、レリえば画面上にα値として表示することができ
る。
路５ａ、５ｂでＡ／Ｄ変換され、記憶 ゛回路６ａ
、６ｂに記憶される。記憶回路５ａ、５ｂで記憶された
波形は、Ｄ／Ａ変換回路７ａ、７ｂでＤ／Ａ変換され表
示装置８に表示される。ここで第５図のように表示装置
に表示された波形上において検査員が画面上に設けたタ
ッチセンサなどの指定装置９で矢印のΔを時間差を指定
するとΔを時間差が演算回路１０に読み込まれる。演Ｄ
Ｔ−回路１０にはあらかじめ被検体の音波の伝播速度■
を入れておき、とのＶとΔｔとの演算によシ第４図に示
す一対のＡＥ検出器の中間から異物までの距離ｔが求め
られ、レリえば画面上にα値として表示することができ
る。
本発明によれば、被検体の形状、長さまた周囲の機械的
ノイズ等の影響を受けずに高精度の異物検出が行えると
ともに、異物の位置の検出も容易に、しかも高精度で行
えるという効果がある。
ノイズ等の影響を受けずに高精度の異物検出が行えると
ともに、異物の位置の検出も容易に、しかも高精度で行
えるという効果がある。
第１図は本発明の異物検出装置の実施例の異物検出部の
説明図、第２図、第３図はそれぞれ第１図の装置にて生
じる波形説明図、第４図は第１図の装置の全体的構成を
示すブロック図、第５図は第４図の出力波形の説明図で
ある。 １・・・被検体、２ａ、２ｂ・ＡＥ検出器、３ａ、３ｂ
・・・増幅部、４ａ、４ｂ・・・検波回路、５ａ、５ｂ
・・・Ａ／Ｄ変換回路、５ａ、６ｂ・・・ディジタル記
憶回路、７ａ、７ｂ・・・Ｄ／Ａ変換回路、８・・・表
示装置、９・・・指定装置、１０・・・演算回路、１１
・・・異物、１２・・・ハンマ。
説明図、第２図、第３図はそれぞれ第１図の装置にて生
じる波形説明図、第４図は第１図の装置の全体的構成を
示すブロック図、第５図は第４図の出力波形の説明図で
ある。 １・・・被検体、２ａ、２ｂ・ＡＥ検出器、３ａ、３ｂ
・・・増幅部、４ａ、４ｂ・・・検波回路、５ａ、５ｂ
・・・Ａ／Ｄ変換回路、５ａ、６ｂ・・・ディジタル記
憶回路、７ａ、７ｂ・・・Ｄ／Ａ変換回路、８・・・表
示装置、９・・・指定装置、１０・・・演算回路、１１
・・・異物、１２・・・ハンマ。
Claims (1)
- １、所定間隔をへだてて被検体に設置した一対のアコー
ステックエミッション検出器と、前記一対のアコーステ
ックエミッション検出器の出力をそれぞれ入力とする一
対の増幅部と、前記一対の増幅部の出力がそれぞれ供給
され、包絡線検波波形を出力する一対の検波回路と、前
記一対の検波回路の出力が供給され、前記それぞれの包
絡線検波波形をアナログ−ディジタル変換する一対のア
ナログ−ディジタル変換回路と、前記一対のアナログ−
ディジタル変換回路出力を記憶する一対のディジタル記
憶回路と、前記一対のディジタル記憶回路の内容をディ
ジタル−アナログ変換回路を介し表示する表示装置から
構成される異物検出装置において、前記表示装置に表示
された２チャンネル波形の時間差を前記表示装置で表示
された波形上で指定する指定装置で指定し、演算回路で
異物までの距離を求めることを特徴とする異物検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59175031A JPS6153563A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 異物検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59175031A JPS6153563A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 異物検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6153563A true JPS6153563A (ja) | 1986-03-17 |
Family
ID=15989006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59175031A Pending JPS6153563A (ja) | 1984-08-24 | 1984-08-24 | 異物検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6153563A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62282259A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-08 | Koyo Seiko Co Ltd | アコ−ステイツクエミツシヨン破壊予知装置 |
-
1984
- 1984-08-24 JP JP59175031A patent/JPS6153563A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62282259A (ja) * | 1986-05-30 | 1987-12-08 | Koyo Seiko Co Ltd | アコ−ステイツクエミツシヨン破壊予知装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8820163B2 (en) | Nondestructive inspection apparatus and nondestructive inspection method using guided wave | |
| US5955669A (en) | Method and apparatus for acoustic wave measurement | |
| IT8948602A1 (it) | Procedimento ed apparecchio per la localizzazione di perdite in sistemi a pressione sulla base delle relative emissioni acustiche. | |
| JP5082108B2 (ja) | ガス成分検出装置 | |
| JPS5928656A (ja) | 異物検出装置 | |
| GB1587544A (en) | Automatic sensitivty adjustment apparatus for the calibration of a non-destructive inspection instrument | |
| JPS6153563A (ja) | 異物検出装置 | |
| JP2006300854A (ja) | 配管板厚測定装置 | |
| US6885945B2 (en) | Method for estimating origin time, hypocentral distance, and scale based on electric field observation, and apparatus for prediction | |
| JPH0678974B2 (ja) | ヤング率自動測定器 | |
| JPS62194475A (ja) | 静止誘導機器の内部放電監視装置 | |
| JPH0493653A (ja) | Ａｅセンサの動的応答特性測定法 | |
| JP2928463B2 (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JP2891767B2 (ja) | Ａｅ発生位置標定装置 | |
| JPH0750144B2 (ja) | 部分放電位置標定方法 | |
| JP2650935B2 (ja) | 部分放電位置標定方法 | |
| JPH01145585A (ja) | 部分放電発生位置標定方法 | |
| KR100482044B1 (ko) | 소음 진동 측정장치 | |
| JPH0263194B2 (ja) | ||
| JPS58223744A (ja) | 異物検出装置 | |
| JPS5920819A (ja) | 異物検出装置 | |
| JP2001264303A (ja) | トンネル異常監視装置 | |
| JPS5925182B2 (ja) | Ａｅモニタリング装置 | |
| JPH0476454A (ja) | 液配管の検査方法 | |
| JPH01301163A (ja) | 物品の劣化診断方法およびその装置 |