JPS6153188B2 - - Google Patents
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- JPS6153188B2 JPS6153188B2 JP54137340A JP13734079A JPS6153188B2 JP S6153188 B2 JPS6153188 B2 JP S6153188B2 JP 54137340 A JP54137340 A JP 54137340A JP 13734079 A JP13734079 A JP 13734079A JP S6153188 B2 JPS6153188 B2 JP S6153188B2
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- Japan
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- circuit
- measurement
- tool
- gate circuit
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 30
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、数値制御工作機械の数値制御送り軸
の動作と、その動作に伴つて基準スケールから発
生されるパルス信号を利用して、ワークまたは取
付基準位置を計測し、工具と被加工物の相対位置
を自動的に補正するようにした自動計測補正付工
作機械に関するものである。
の動作と、その動作に伴つて基準スケールから発
生されるパルス信号を利用して、ワークまたは取
付基準位置を計測し、工具と被加工物の相対位置
を自動的に補正するようにした自動計測補正付工
作機械に関するものである。
従来、クローズドループまたはセミクローズド
ループの数値制御工作機械において、数値制御送
り軸の動作を利用してワークまたは取付基準位置
を計測し、工具と被加工物の相対位置を自動的に
補正することにより所望の精度を得ようとする場
合、数値制御装置へのフイードバツクのための位
置検出器と、計測のための位置検出器を各々別個
のものとして利用していた。従つて、上記の夫々
の位置検出器は、同一機能を持つ点から1個は不
要であり、また更に、ミクロンを計測する立場か
ら、2個の位置検出器を同じ移動に対して同一数
値を示すように調整することは難しく、計測装置
としても安定性に欠けていた。
ループの数値制御工作機械において、数値制御送
り軸の動作を利用してワークまたは取付基準位置
を計測し、工具と被加工物の相対位置を自動的に
補正することにより所望の精度を得ようとする場
合、数値制御装置へのフイードバツクのための位
置検出器と、計測のための位置検出器を各々別個
のものとして利用していた。従つて、上記の夫々
の位置検出器は、同一機能を持つ点から1個は不
要であり、また更に、ミクロンを計測する立場か
ら、2個の位置検出器を同じ移動に対して同一数
値を示すように調整することは難しく、計測装置
としても安定性に欠けていた。
本発明の目的は上記の問題を解決すべく数値制
御工作機械の数値制御送り軸のフイードバツク制
御に使用される位置検出器と、計測に使用される
位置検出器とを1個のもので行えるようにした自
動計測補正付工作機械の提供にある。
御工作機械の数値制御送り軸のフイードバツク制
御に使用される位置検出器と、計測に使用される
位置検出器とを1個のもので行えるようにした自
動計測補正付工作機械の提供にある。
以下本発明を図面に従つて説明する。
第1図は、本発明を旋削工作機械に使用した例
を示している。即ち、ベース(図示せず)上に設
けられたヘツドストツク1には、主軸2が回転自
在に軸承されている。主軸2の先端には、チヤツ
ク3が取付けられ、該チヤツク3には、ワークW
が爪を介して取付けられている。前記ベース上を
主軸軸線と平行に摺動するサドル4には、主軸軸
線と直交する方向に案内面5が設けられ、該案内
面5上には、スライド6が摺動自在に設けられて
いる。該スライド6上には、工具7を有する刃物
台8と、タツチセンサーの如き計測装置9とが、
本実施例ではワークWを挾んで配置されている。
しかし刃物台8が旋回式の場合には、計測装置9
を刃物台8に取付けても良い。スライド6は、ス
ライドに取付けられたナツト6Nと、サドル4に
設けられたサーボモータ10の出力軸に連結さ
れ、サドル4に回転自在に設けられた送りねじ1
1とによつて駆動される。またスライド6には、
スライドの送り方向と平行に、デジタルスケール
12Aが取り付けられている。またサドル4に
は、スケール12Aに対向して読み取りヘツド1
2Bが取付けられている。前記スケール12Aと
読み取りヘツド12Bとで位置検出器12を構成
している。該位置検出器12や計測装置9の出力
信号は、変換器13に接続され、正確な移動量を
パルス数で示し、またサーボモータ10は、該サ
ーボモータに取付けられたタコジエネレータ14
のフイードバツク信号を数値制御装置14に戻す
ことによつて速度制御される。また前記変換器1
3は、数値制御装置14と計測補正制御装置15
との各々の間で、信号を受渡しすることにより自
動計測補正制御を実行する。
を示している。即ち、ベース(図示せず)上に設
けられたヘツドストツク1には、主軸2が回転自
在に軸承されている。主軸2の先端には、チヤツ
ク3が取付けられ、該チヤツク3には、ワークW
が爪を介して取付けられている。前記ベース上を
主軸軸線と平行に摺動するサドル4には、主軸軸
線と直交する方向に案内面5が設けられ、該案内
面5上には、スライド6が摺動自在に設けられて
いる。該スライド6上には、工具7を有する刃物
台8と、タツチセンサーの如き計測装置9とが、
本実施例ではワークWを挾んで配置されている。
しかし刃物台8が旋回式の場合には、計測装置9
を刃物台8に取付けても良い。スライド6は、ス
ライドに取付けられたナツト6Nと、サドル4に
設けられたサーボモータ10の出力軸に連結さ
れ、サドル4に回転自在に設けられた送りねじ1
1とによつて駆動される。またスライド6には、
スライドの送り方向と平行に、デジタルスケール
12Aが取り付けられている。またサドル4に
は、スケール12Aに対向して読み取りヘツド1
2Bが取付けられている。前記スケール12Aと
読み取りヘツド12Bとで位置検出器12を構成
している。該位置検出器12や計測装置9の出力
信号は、変換器13に接続され、正確な移動量を
パルス数で示し、またサーボモータ10は、該サ
ーボモータに取付けられたタコジエネレータ14
のフイードバツク信号を数値制御装置14に戻す
ことによつて速度制御される。また前記変換器1
3は、数値制御装置14と計測補正制御装置15
との各々の間で、信号を受渡しすることにより自
動計測補正制御を実行する。
前記数値制御装置14は、第1のCPU16、
テープリーダーの如き情報入力装置17、情報入
力制御装置18、補間器位置制御回路19、速度
制御回路20、第1のデータアウトプツト回路2
1、第1のデータインプツト22、第1の記憶手
段23、及び第1のアドレス・データバス24等
から構成されている。第1のCPU16は、マイ
クロプロセツサを用い、第1の記憶回路23から
コントロールプログラムを取り出し、その内容に
従つて第1のアドレス・データバス24に接続さ
れている各要素を動作させる。第1の記憶手段2
3は、半導体メモリー等を使用し、コントロール
プログラムや各種データを記憶する。情報入力制
御回路18は、加工用数値制御テープ25等の内
容を読み取るための情報入力装置17を制御し、
テープ情報等をとり入れる。補間器位置制御回路
19では、位置決め、直線補間、および円弧補間
を行うため、補間パルス数とフイードバツクパル
ス数を比較して移動量を制御する。速度制御回路
20は、指令速度とタコジエネレータ14からフ
イードバツクされた速度を比較し、速度制御しな
がらサーボモータ10を駆動する。第1のデータ
アウトプツト回路21は、数値制御装置14外部
への出力信号のインターフエースの役目をし、第
1のデータインプツト回路22は、入力信号のイ
ンターフエースの役目をする。第1のアドレス・
データバス24は、記憶番地およびデータの通路
である。
テープリーダーの如き情報入力装置17、情報入
力制御装置18、補間器位置制御回路19、速度
制御回路20、第1のデータアウトプツト回路2
1、第1のデータインプツト22、第1の記憶手
段23、及び第1のアドレス・データバス24等
から構成されている。第1のCPU16は、マイ
クロプロセツサを用い、第1の記憶回路23から
コントロールプログラムを取り出し、その内容に
従つて第1のアドレス・データバス24に接続さ
れている各要素を動作させる。第1の記憶手段2
3は、半導体メモリー等を使用し、コントロール
プログラムや各種データを記憶する。情報入力制
御回路18は、加工用数値制御テープ25等の内
容を読み取るための情報入力装置17を制御し、
テープ情報等をとり入れる。補間器位置制御回路
19では、位置決め、直線補間、および円弧補間
を行うため、補間パルス数とフイードバツクパル
ス数を比較して移動量を制御する。速度制御回路
20は、指令速度とタコジエネレータ14からフ
イードバツクされた速度を比較し、速度制御しな
がらサーボモータ10を駆動する。第1のデータ
アウトプツト回路21は、数値制御装置14外部
への出力信号のインターフエースの役目をし、第
1のデータインプツト回路22は、入力信号のイ
ンターフエースの役目をする。第1のアドレス・
データバス24は、記憶番地およびデータの通路
である。
計測補正制御装置15は、第2のCPU26、
第2の記憶手段27、キーボード等による入力装
置28、入力回路29、第2のデータインプツト
30、第2のデータアウトプツト31、第2のア
ドレス・データバス32等から構成されている。
第2のCPU26は、マイクロプロセツサーを用
い、第2の記憶手段28からコントロールプログ
ラムを取り出し、その内容に従つて、第2のアド
レス・データバス32に接続されている各要素を
作動させる。第2の記憶手段27は、コントロー
ルプログラムおよび各種データを記憶する。第2
のデータインプツト回路は、数値制御装置14、
変換器13等の外部からの入力信号のインターフ
エースの役目をし、第2のデータアウトプツト3
1は、外部からの入力信号のインターフエースの
役目をする。第2のアドレス・データバス32
は、記憶番地およびデータの通路である。
第2の記憶手段27、キーボード等による入力装
置28、入力回路29、第2のデータインプツト
30、第2のデータアウトプツト31、第2のア
ドレス・データバス32等から構成されている。
第2のCPU26は、マイクロプロセツサーを用
い、第2の記憶手段28からコントロールプログ
ラムを取り出し、その内容に従つて、第2のアド
レス・データバス32に接続されている各要素を
作動させる。第2の記憶手段27は、コントロー
ルプログラムおよび各種データを記憶する。第2
のデータインプツト回路は、数値制御装置14、
変換器13等の外部からの入力信号のインターフ
エースの役目をし、第2のデータアウトプツト3
1は、外部からの入力信号のインターフエースの
役目をする。第2のアドレス・データバス32
は、記憶番地およびデータの通路である。
変換器13は、シユミツト回路33、方向判別
回路34、ゲート回路35、ゲート制御回路3
6、可逆カウンタ37、等から構成されている。
従つてデジタルスケール12Aの読み取りヘツド
12Bはデジタルスケール12Aの移動量を、例
えば20μm周期の正弦波状の信号(アナログ信号
38)として取出す。また本発明ではガラスを使
用したスケールの場合なので1/4周期ずれた2つ
の信号を得ることができる。このアナログ信号3
8をシユミツト回路33にて短形波とし、数値制
御装置14の補間位置制御回路19へ、アウトプ
ツトすると同時に方向判別回路34へ送る。方向
判別回路34では、これを移動方向を弁別した単
位測定長さ(例えば5μm)ごとのパルス列とし
てゲート回路35へ送出する。ゲート回路35で
は、ゲート制御回路36からの指令によりゲート
を開閉し、前記パルス列を通過させたり止めたり
する。ゲート制御回路36は、計測補正制御回路
15からの信号状態が0の時に計測装置9のタツ
チ信号によりゲートを開き、また前記計測補正制
御装置15からの信号状態が1の時に計測装置9
のタツチ信号によりゲートを閉じるようゲート回
路35を制御する。可逆カウンタ37は、ゲート
回路35が開いている間に出されたパルス列を積
算し、BCDコードとして計測補正制御装置15
へ出力する。
回路34、ゲート回路35、ゲート制御回路3
6、可逆カウンタ37、等から構成されている。
従つてデジタルスケール12Aの読み取りヘツド
12Bはデジタルスケール12Aの移動量を、例
えば20μm周期の正弦波状の信号(アナログ信号
38)として取出す。また本発明ではガラスを使
用したスケールの場合なので1/4周期ずれた2つ
の信号を得ることができる。このアナログ信号3
8をシユミツト回路33にて短形波とし、数値制
御装置14の補間位置制御回路19へ、アウトプ
ツトすると同時に方向判別回路34へ送る。方向
判別回路34では、これを移動方向を弁別した単
位測定長さ(例えば5μm)ごとのパルス列とし
てゲート回路35へ送出する。ゲート回路35で
は、ゲート制御回路36からの指令によりゲート
を開閉し、前記パルス列を通過させたり止めたり
する。ゲート制御回路36は、計測補正制御回路
15からの信号状態が0の時に計測装置9のタツ
チ信号によりゲートを開き、また前記計測補正制
御装置15からの信号状態が1の時に計測装置9
のタツチ信号によりゲートを閉じるようゲート回
路35を制御する。可逆カウンタ37は、ゲート
回路35が開いている間に出されたパルス列を積
算し、BCDコードとして計測補正制御装置15
へ出力する。
本発明は、以上のように構成され、次の通り作
動する。
動する。
旋削加工を行う場合には、加工用テープ25が
テープリーダの如き情報入力装置17に読み込ま
れる。読み込まれたテープ状報は、CPU16の
指令により適宜に第1のデータアウトプツト21
および補間器位置制御回路19を通して外部に送
出され、スライド6の移動や計測補正が実行され
る。その際のスライド6の移動距離は、デジタル
スケール12Aの移動量に等しいので、スライド
6の移動単位距離を示すフイードバツクパルス
は、デジタルスケール12Aの移動に伴つて読み
取りヘツド12Bから発生する出力を変換器13
のシユミツト回路33にて短形波としたものを用
いる。即ち読み取りヘツド12Bからは、前述の
ように20μm周期の2つの正弦波状のアナログ信
号(一方は他方に対して1/4周期ずれている。)が
得られ、これをシユミツト回路33にて短形波に
変形したものを用いる。前記短形波は数値制御装
置14の補間器位置制御回路19、速度制御回路
20を介して、サーボモータ10を駆動する。従
つてこの構成は所謂、クローズドループの数値制
御工作機械として良く知られた構成であり、動作
的にも、一般のクローズドループ数値制御工作機
械としての動作を行う。
テープリーダの如き情報入力装置17に読み込ま
れる。読み込まれたテープ状報は、CPU16の
指令により適宜に第1のデータアウトプツト21
および補間器位置制御回路19を通して外部に送
出され、スライド6の移動や計測補正が実行され
る。その際のスライド6の移動距離は、デジタル
スケール12Aの移動量に等しいので、スライド
6の移動単位距離を示すフイードバツクパルス
は、デジタルスケール12Aの移動に伴つて読み
取りヘツド12Bから発生する出力を変換器13
のシユミツト回路33にて短形波としたものを用
いる。即ち読み取りヘツド12Bからは、前述の
ように20μm周期の2つの正弦波状のアナログ信
号(一方は他方に対して1/4周期ずれている。)が
得られ、これをシユミツト回路33にて短形波に
変形したものを用いる。前記短形波は数値制御装
置14の補間器位置制御回路19、速度制御回路
20を介して、サーボモータ10を駆動する。従
つてこの構成は所謂、クローズドループの数値制
御工作機械として良く知られた構成であり、動作
的にも、一般のクローズドループ数値制御工作機
械としての動作を行う。
一方加工済みワークWの直径を測定する場合に
は、加工の際と同様にテープ25による数値制御
動作でスライド6を移動させ、計測装置9をワー
クWの直径の対向した位置A,Bに各々接触させ
る。この接触の間にスライド6が移動した量が解
かれれば、その値からワークWの直径を知ること
ができる。この目的から計測装置9は、スライド
6から電気的に絶縁された状態で取付けられてい
て5〜12Vの電位差が与えられている。この詳細
は特願昭54−93206号に示されているが、スライ
ド6を移動させて計測装置9をワークWに接触さ
せると、計測装置9とワークWとの電気的導通に
より閉回路を形成し、電流が流れる。この電流を
検出してタツチ信号とする。第2図はワーク直径
計測時の動きを示す。計測装置9は、第2図の原
点位置から出発し、図中の矢印イ−ヌに示すよう
な順序に動いて、元の位置に戻る。その間、ワー
クWの対向した第1の位置Aおよび第2の位置B
にて接触する。この動作は全てテープ25の指令
により前述の通りなされる。ロおよびトの矢印で
示した動きは、計測装置9が必らずワークWに接
触するように0.5mm程度オーバーストロークにす
るように、テープ25のプログラムを作る。計測
装置9の先端は、一例として第3図に示すような
構造となつていて、第3図の矢印の方向に力を加
えると、先端のボール39は逃げることができ、
しかも力がとり除かれると完全に元の位置に戻る
ことができる。前に引用した特願昭54−93206号
では上記の点が異り固定形である。
は、加工の際と同様にテープ25による数値制御
動作でスライド6を移動させ、計測装置9をワー
クWの直径の対向した位置A,Bに各々接触させ
る。この接触の間にスライド6が移動した量が解
かれれば、その値からワークWの直径を知ること
ができる。この目的から計測装置9は、スライド
6から電気的に絶縁された状態で取付けられてい
て5〜12Vの電位差が与えられている。この詳細
は特願昭54−93206号に示されているが、スライ
ド6を移動させて計測装置9をワークWに接触さ
せると、計測装置9とワークWとの電気的導通に
より閉回路を形成し、電流が流れる。この電流を
検出してタツチ信号とする。第2図はワーク直径
計測時の動きを示す。計測装置9は、第2図の原
点位置から出発し、図中の矢印イ−ヌに示すよう
な順序に動いて、元の位置に戻る。その間、ワー
クWの対向した第1の位置Aおよび第2の位置B
にて接触する。この動作は全てテープ25の指令
により前述の通りなされる。ロおよびトの矢印で
示した動きは、計測装置9が必らずワークWに接
触するように0.5mm程度オーバーストロークにす
るように、テープ25のプログラムを作る。計測
装置9の先端は、一例として第3図に示すような
構造となつていて、第3図の矢印の方向に力を加
えると、先端のボール39は逃げることができ、
しかも力がとり除かれると完全に元の位置に戻る
ことができる。前に引用した特願昭54−93206号
では上記の点が異り固定形である。
以下本発明の自動計測補正の詳細な動作説明を
行う。自動計測補正を行う場合のパートプログラ
ムを作成するに当り、まずワークWの第1の位置
Aに計測装置9を接触させる動作(第2図の矢印
ロ)を指令するブロツクの直前のブロツクにM1
なる補助機能を設定し、またワークWの第2の位
置Bに計測装置9を接触させる動作(第2図の矢
印ト)を指令するブロツクの直前のブロツクにM
2なる補助機能を設定する。このようなパートプ
ログラムの組まれたテープ25を数値制御装置1
4の情報入力装置17に読み込ませる。情報入力
装置17がM1を読み込むと、情報入力制御回路
18、第1のアドレス・データバス24および第
1のデータアウトプツト回路21を径たM1信号
は、計測補正制御装置15の第2のデータインプ
ツト30、第2のアドレス・データバス32を通
して第2のCPU26に受信される。この受信に
もとづき第2のCPU26は、第2のアドレス・
データバス32、第2のデータアウトプツト回路
31を径てゲート制御回路36に0の信号状態を
与える。これと同時にテープ25の内容が次のブ
ロツクに移り、ワークWの第1の位置Aに計測装
置9を接触させる方向にスライド6が移動する。
この移動量は、計測装置9がワークWの第1の位
置Aに接触し、更に0.5mm程度オーバストローク
するようにきめられている。従つてこの移動の途
中で計測装置9がワークWの第1の位置Aに接触
し、タツチ信号を発する。このタツチ信号は、計
測装置9から変換器13のゲート制御回路36に
送られる。この時、既に述べている通り計測補正
制御装置15から0の信号状態がゲート制御回路
36に与えられているので、ゲート開の信号がゲ
ート回路35に送られる。従つてゲート回路35
は、開状態となる。
行う。自動計測補正を行う場合のパートプログラ
ムを作成するに当り、まずワークWの第1の位置
Aに計測装置9を接触させる動作(第2図の矢印
ロ)を指令するブロツクの直前のブロツクにM1
なる補助機能を設定し、またワークWの第2の位
置Bに計測装置9を接触させる動作(第2図の矢
印ト)を指令するブロツクの直前のブロツクにM
2なる補助機能を設定する。このようなパートプ
ログラムの組まれたテープ25を数値制御装置1
4の情報入力装置17に読み込ませる。情報入力
装置17がM1を読み込むと、情報入力制御回路
18、第1のアドレス・データバス24および第
1のデータアウトプツト回路21を径たM1信号
は、計測補正制御装置15の第2のデータインプ
ツト30、第2のアドレス・データバス32を通
して第2のCPU26に受信される。この受信に
もとづき第2のCPU26は、第2のアドレス・
データバス32、第2のデータアウトプツト回路
31を径てゲート制御回路36に0の信号状態を
与える。これと同時にテープ25の内容が次のブ
ロツクに移り、ワークWの第1の位置Aに計測装
置9を接触させる方向にスライド6が移動する。
この移動量は、計測装置9がワークWの第1の位
置Aに接触し、更に0.5mm程度オーバストローク
するようにきめられている。従つてこの移動の途
中で計測装置9がワークWの第1の位置Aに接触
し、タツチ信号を発する。このタツチ信号は、計
測装置9から変換器13のゲート制御回路36に
送られる。この時、既に述べている通り計測補正
制御装置15から0の信号状態がゲート制御回路
36に与えられているので、ゲート開の信号がゲ
ート回路35に送られる。従つてゲート回路35
は、開状態となる。
この時点からスライド6の移動量を示すパルス
列(読み取りヘツド12Bからシユミツト回路3
3を経て与えられる)は、ゲート回路35を通つ
て可逆カウンタ37に達する。
列(読み取りヘツド12Bからシユミツト回路3
3を経て与えられる)は、ゲート回路35を通つ
て可逆カウンタ37に達する。
数値制御装置14の情報入力装置17がM2を
読み込むと、情報入力制御回路18、第1のアド
レス・データバス24および第1のデータアウト
プツト回路21を径たM2信号は、計測補正制御
装置15の第2のデータインプツト30、第2の
アドレス・データバス32を通して第2のCPU
26に受信される。この受信にもとづき第2の
CPU26は、第2のアドレス・データバス3
2、第2のデータアウトプツト回路31を経てゲ
ート制御回路36に1の信号状態を与える。これ
と同時にテープ25の内容が次のブロツクに移
り、ワークの第2の位置Bに計測装置9を接触さ
せる方向にスライド6が移動する。この移動量
は、計測装置9がワークWの第2の位置Bに接触
し、更に0.5mm程度オーバストロークするように
きめられている。
読み込むと、情報入力制御回路18、第1のアド
レス・データバス24および第1のデータアウト
プツト回路21を径たM2信号は、計測補正制御
装置15の第2のデータインプツト30、第2の
アドレス・データバス32を通して第2のCPU
26に受信される。この受信にもとづき第2の
CPU26は、第2のアドレス・データバス3
2、第2のデータアウトプツト回路31を経てゲ
ート制御回路36に1の信号状態を与える。これ
と同時にテープ25の内容が次のブロツクに移
り、ワークの第2の位置Bに計測装置9を接触さ
せる方向にスライド6が移動する。この移動量
は、計測装置9がワークWの第2の位置Bに接触
し、更に0.5mm程度オーバストロークするように
きめられている。
従つて、この移動量の途中で計測装置9がワー
クWの第2の位置Bに接触し、タツチ信号を発す
る。
クWの第2の位置Bに接触し、タツチ信号を発す
る。
このタツチ信号は、計測装置9から変換器13
のゲート制御回路36に送られる。この時、既に
述べている通り計測補正制御装置15から1の信
号状態がゲート制御回路36に送られているの
で、ゲート閉の信号がゲート回路35に送られ
る。
のゲート制御回路36に送られる。この時、既に
述べている通り計測補正制御装置15から1の信
号状態がゲート制御回路36に送られているの
で、ゲート閉の信号がゲート回路35に送られ
る。
従つてゲート回路35は、閉状態となる。可逆
カウンタ37では、このパルスを積算し、BCD
コードに変換して第2のデータインプツト30、
第2のアドレス・データバス32を通して第
2CPUに与える。
カウンタ37では、このパルスを積算し、BCD
コードに変換して第2のデータインプツト30、
第2のアドレス・データバス32を通して第
2CPUに与える。
第2図の矢印ロの動作が完了した時点では、可
逆カウンタ37の内容は約+0.5mmとなつている
はずである。その後矢印ハの動作で方向判別回路
34から一方向のパルス列が出て、可逆カウンタ
37の内容はいつたん負になるが、矢印ホの動作
で正となる。その後の動作矢印トで減算され、既
に述べたようにワークWの第2の位置Bに接触す
る瞬間にゲート回路35が閉じられるので、カウ
ンタ37の内容は静止状態となる。
逆カウンタ37の内容は約+0.5mmとなつている
はずである。その後矢印ハの動作で方向判別回路
34から一方向のパルス列が出て、可逆カウンタ
37の内容はいつたん負になるが、矢印ホの動作
で正となる。その後の動作矢印トで減算され、既
に述べたようにワークWの第2の位置Bに接触す
る瞬間にゲート回路35が閉じられるので、カウ
ンタ37の内容は静止状態となる。
従つてこの時点で可逆カウンタ37からアウト
プツトされる数値は、ワークの第1の位置Aから
第2の位置Bに至るスライド6の移動量である。
プツトされる数値は、ワークの第1の位置Aから
第2の位置Bに至るスライド6の移動量である。
計測補正制御装置15の第2のデータインプツ
ト回路30に送られた上記スライド移動量は、第
2のアドレス・データバス32を通り第2の
CPU26に入る。既に入力装置28、入力回路
29および第2のアドレス・データバスを介して
第2の記憶手段27には、計測装置9のボール3
9の直径がインプツトされているので、第2の
CPU26内では、前記スライド移動量から上記
ボール直径を差し引いてワーク直径とする。この
ワーク直径は目標値と比較される。ワーク直径と
目標値との差は工具7の刃先位置を補正すべき値
であり、この刃先位置補正量は、第2のアドレ
ス・データバス、第2のデータアウトプツト回路
31を通して数値制御装置14の第1のデータイ
ンプツト22、第1のアドレス・データバス24
を通して第1の記憶手段23内の刃先位置補正用
レジスタのデータに加算する。その結果、次にワ
ークWを加工する時、新たに書き換えられた刃先
位置補正量によつて補正された刃先位置で加工が
実施される。
ト回路30に送られた上記スライド移動量は、第
2のアドレス・データバス32を通り第2の
CPU26に入る。既に入力装置28、入力回路
29および第2のアドレス・データバスを介して
第2の記憶手段27には、計測装置9のボール3
9の直径がインプツトされているので、第2の
CPU26内では、前記スライド移動量から上記
ボール直径を差し引いてワーク直径とする。この
ワーク直径は目標値と比較される。ワーク直径と
目標値との差は工具7の刃先位置を補正すべき値
であり、この刃先位置補正量は、第2のアドレ
ス・データバス、第2のデータアウトプツト回路
31を通して数値制御装置14の第1のデータイ
ンプツト22、第1のアドレス・データバス24
を通して第1の記憶手段23内の刃先位置補正用
レジスタのデータに加算する。その結果、次にワ
ークWを加工する時、新たに書き換えられた刃先
位置補正量によつて補正された刃先位置で加工が
実施される。
従つて正しい直径のワークが得られる。以上説
明したように1つの基準スケールからの検出値を
用いて、数値制御のフイードバツクと自動計測補
正とを行うことができる。
明したように1つの基準スケールからの検出値を
用いて、数値制御のフイードバツクと自動計測補
正とを行うことができる。
第4図は、本発明をマシニングセンタに使用し
た例で、且つ第1の場合の計測補正制御装置15
の機能を数値制御装置14に組込んだ例である。
即ちマシニングセンタとしては、既存のものであ
れば良く、その一例を以下に説明する。コラム
(図示せず)に沿つて上下動する主軸1には、主
軸2が回転自在に設けられ、該主軸2の先端には
工具または計測装置9が着脱自在に設けられてい
る。同図では計測装置9が取付けられている。主
軸軸線と平行にベース上を摺動するサドル4に
は、主軸軸線と直交する方向に案内面5が設けら
れている。該案内面5には、テーブル6が摺動自
在に設けられ、サドル4に回転自在に設けられた
送りねじ11とテーブル6に取り付けられたナツ
ト6N及びサドル4に設けられ、出力軸が前記送
りねじ11と連結されたサーボモータ10とによ
つて駆動される。位置検出器12を構成すべくテ
ーブル6には、デジタルスケール12Aとサドル
4には読み取りヘツド12Bとが設けられてい
る。また数値制御装置14は、第1の場合と同じ
で記憶手段23、データインプツト回路21及
び、データアウトプツト回路22のキヤパシテイ
ーが大きくなつた以外は同一である。また変換器
13も同等変わることがない。従つて、第4図の
ように構成されていても第1図の場合と同様に1
つのスケールからの検出値を用いて、数値制御の
フイードバツクと自動計測補正とを行うことがで
き、その作動も同じである。以上は光学スケール
を例にとつて説明しているが、磁気スケールでも
可能である。また、直線スケールの代りにロータ
リーエンコーダーを送りねじ端に取り付けても同
様の働きをさせることができる。また本発明では
テープをテープリーダで読み込んでいるが、外部
記憶装置からの情報を受ける方式のものでも良
い。
た例で、且つ第1の場合の計測補正制御装置15
の機能を数値制御装置14に組込んだ例である。
即ちマシニングセンタとしては、既存のものであ
れば良く、その一例を以下に説明する。コラム
(図示せず)に沿つて上下動する主軸1には、主
軸2が回転自在に設けられ、該主軸2の先端には
工具または計測装置9が着脱自在に設けられてい
る。同図では計測装置9が取付けられている。主
軸軸線と平行にベース上を摺動するサドル4に
は、主軸軸線と直交する方向に案内面5が設けら
れている。該案内面5には、テーブル6が摺動自
在に設けられ、サドル4に回転自在に設けられた
送りねじ11とテーブル6に取り付けられたナツ
ト6N及びサドル4に設けられ、出力軸が前記送
りねじ11と連結されたサーボモータ10とによ
つて駆動される。位置検出器12を構成すべくテ
ーブル6には、デジタルスケール12Aとサドル
4には読み取りヘツド12Bとが設けられてい
る。また数値制御装置14は、第1の場合と同じ
で記憶手段23、データインプツト回路21及
び、データアウトプツト回路22のキヤパシテイ
ーが大きくなつた以外は同一である。また変換器
13も同等変わることがない。従つて、第4図の
ように構成されていても第1図の場合と同様に1
つのスケールからの検出値を用いて、数値制御の
フイードバツクと自動計測補正とを行うことがで
き、その作動も同じである。以上は光学スケール
を例にとつて説明しているが、磁気スケールでも
可能である。また、直線スケールの代りにロータ
リーエンコーダーを送りねじ端に取り付けても同
様の働きをさせることができる。また本発明では
テープをテープリーダで読み込んでいるが、外部
記憶装置からの情報を受ける方式のものでも良
い。
以上述べた如く、本発明は実施例に示された構
成に限定されるものではなく、請求の範囲に記載
された本発明の技術思想を逸脱しない範囲内での
変更は予期されるところである。
成に限定されるものではなく、請求の範囲に記載
された本発明の技術思想を逸脱しない範囲内での
変更は予期されるところである。
第1図は、旋削工作機械に本発明を利用した場
合のブロツク線図、第2図は、旋削工作機械に本
発明を利用した場合の計測装置の動作説明図、第
3図は、計測装置先端の構造を示す一部断面図、
第4図は、マシニングセンタに本発明を利用し且
つ他の実施例のブロツク線図を示す。 図において、6……スライドまたはテーブル、
7……工具、9……計測装置、12……位置検出
器、12A……デジタルスケール、12B……読
み取りヘツド、13……変換器、14……数値制
御装置、15……計測補正制御装置。
合のブロツク線図、第2図は、旋削工作機械に本
発明を利用した場合の計測装置の動作説明図、第
3図は、計測装置先端の構造を示す一部断面図、
第4図は、マシニングセンタに本発明を利用し且
つ他の実施例のブロツク線図を示す。 図において、6……スライドまたはテーブル、
7……工具、9……計測装置、12……位置検出
器、12A……デジタルスケール、12B……読
み取りヘツド、13……変換器、14……数値制
御装置、15……計測補正制御装置。
Claims (1)
- 1 フイードバツク用位置検出器を有しワークと
刃物台または主軸ヘツドの工具との相対的移動で
加工する数値制御装置付工作機械において、ワー
クに向けて前記刃物台または主軸ヘツドに配設さ
れた計測装置と、前記位置検出器からのパルスを
開閉制御するゲート回路と、前記計測装置のタツ
チ信号と数値制御装置からの計測指令信号とを受
け第1の計測位置で前記ゲート回路を開き第2の
計測位置で前記ゲート回路を閉じるように制御す
るゲート制御回路と、前記ゲート回路から取込ま
れパルス数を計算処理しワーク寸法に対応する計
測値と目標値とを比較する比較手段と、該比較手
段で得られた刃先位置補正量を記憶し次の加工に
際して補正値を出力する刃先位置補正用記憶手段
とからなり、フイードバツク用位置検出器からの
パルスを数値制御の位置決めと同時に計測に使用
し工具刃先の補正を行うようにしたことを特徴と
する自動計測補正付工作機械。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13734079A JPS5662747A (en) | 1979-10-24 | 1979-10-24 | Machine tool with automatic measurement correction |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13734079A JPS5662747A (en) | 1979-10-24 | 1979-10-24 | Machine tool with automatic measurement correction |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5662747A JPS5662747A (en) | 1981-05-28 |
JPS6153188B2 true JPS6153188B2 (ja) | 1986-11-17 |
Family
ID=15196351
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13734079A Granted JPS5662747A (en) | 1979-10-24 | 1979-10-24 | Machine tool with automatic measurement correction |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5662747A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60131102A (ja) * | 1983-12-19 | 1985-07-12 | Ntn Toyo Bearing Co Ltd | Νc旋盤の刃物移動量調整方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5621002A (en) * | 1979-07-31 | 1981-02-27 | Okuma Mach Works Ltd | Automatic measurement and compensation device for numerically controlled machine tool |
-
1979
- 1979-10-24 JP JP13734079A patent/JPS5662747A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5621002A (en) * | 1979-07-31 | 1981-02-27 | Okuma Mach Works Ltd | Automatic measurement and compensation device for numerically controlled machine tool |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5662747A (en) | 1981-05-28 |
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