JPS6152534B2

JPS6152534B2 -

Info

Publication number: JPS6152534B2
Application number: JP9132980A
Authority: JP
Inventors: Osamu Tajima
Original assignee: Victor Company of Japan Ltd
Current assignee: Victor Company of Japan Ltd
Priority date: 1980-07-04
Filing date: 1980-07-04
Publication date: 1986-11-13
Also published as: JPS5718033A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は光学的情報記録媒体再生装置に係り、
特に、一対の制御信号検出用ビームスポツトを用
いてフオーカスサーボ等の制御を行ないつゝ情報
信号を光学的に再生する装置において、上記制御
信号検出用ビームスポツトを形成する一対の制御
信号検出ビームの集光レンズへの各投射領域がレ
ンズ開口の一部分であり且つ集光レンズの中心に
関して対称となるようにすることにより、正確な
フオーカス制御信号を取り出して、フオーカスサ
ーボ動作を正確に行ないうるよう構成した光学的
情報記録媒体再生装置を提供することを目的とす
る。

本出願人は、先に、特願昭54−25096号「光学
的情報記録媒体再生装置」により、記録媒体面上
の一対の制御信号検出用ビームスポツトよりの反
射光を一対の分割型検出器で受光し、検出器より
の出力を演算してフオーカス誤差信号としてなる
装置を提案した。第１図はこの装置の概略構成を
示し、半導体レーザ光源１より発した光は台形プ
リズム２内に入り、こゝで、平行面２ａを透過し
た主ビーム３ａと、両側の傾斜面２ｂ，２ｃで偏
向された二つの副ビーム３ｂ，３ｃに分割され
る。１Ｌ，１Ｒは夫々上記の二つの副ビーム３
ｂ，３ｃに対する虚の光源である。主ビーム３
ａ、副ビーム３ｂ，３ｃは、ハーフミラー４を通
過し、集光レンズ５で収束され、デイスク６上に
スポツト３_a-1，３_b-1，３_c-1として結像される。
デイスク上のスポツト３_a-1，３_b-1，３_c-1よりの
反射光はレンズ５を通過し、ハーフミラー４で側
方に反射されて、半導体レーザ光源１と虚の光源
１Ｌ，１Ｒに対応した関係で配してある検出器
７，８，９上にスポツト３_a-2，３_b-2，３_c-2とし
て結像される。特に、検出器８，９は夫々一対の
成分検出素子８ｉ，８ｏ，９ｉ，９ｏよりなり、
ジヤストフオーカス時スポツト３_b-2，３_c-2は
夫々分割線８ａ，９ａ上に位置している。こゝ
で、副ビーム３ｂ，３ｃは集光レンズ５の開口を
十分に占めるように投射されている。また、３_a-
_３，３_b-3，３_c-3は夫々ビーム３ａ，３ｂ，３ｃの
プリズム２の平行面２ａ、傾斜面２ｂ，２ｃでの
断面形状を示し、共に円形である。

こゝで、デイスク６が面振れを起こし、デイス
ク６が矢印Ｍ方向に変位すると、スポツト３_b-
_２，３_c-2は互いに近ずく矢印M₁、M₂方向に移動
し、逆にデイスク６が矢印Ｎ方向に変位すると、
スポツト３_b-2，３_c-2は互いに離れる矢印N₁，N₂
方向に移動する。

デイスク面振れに応じてスポツト３_b-2，３_c-2
が移動するとき、スポツト（例えば３_b-2）の径
は、第２図に示すように、分割線８ａよりの移動
距離に応じて大となり、双曲線１０により定まる
径となる。即ち、移動量がX₄であるときのスポ
ツト３_b-2′の径Ｄは、Ｄ≒β・Ｄ_０／Ａ・X₄ （こゝで、β：光学系の横倍率 D₀：集光レンズ開口直径（第７図及び第８図中
）Ａ：光源１と虚像光源１Ｒ，１Ｌとの間の距離である）により定まる。こゝで、β・Ｄ_０／Ａは例えば20程度であり、≫１であるため、スポツト３_b-2′の径は
上記移動量に比べ相当大となる。このため、デイ
スク面振れ時、スポツト３_b-2′は、スポツトが移
動した側の成分検出素子８ｏの他に他側の成分検
出素子８ｉに亘つて形成されることになり、成分
検出素子８ｏ，８ｉ間の出力差が少なくなり、フ
オーカス誤差信号が取り出し難くなる。

また、副ビーム３ｂ，３ｃの光の強度分布を考
慮すると、スポツト３_b-2，３_c-2は内側の成分検
出素子８ｉ，９ｉ側のエネルギが大きくなり、こ
のエネルギー分布のアンバランスによつても左右
の成分検出素子間の出力差が一層小さくなる。

これらの原因により、感度が低下し、デイスク
面振れ時に検出されるフオーカス誤差信号が小さ
くなり、フオーカス制御が正確に行なわれなくな
るという問題点があつた。

本発明は上記問題点を解決したものであり、以
下図面と共にその各実施例について説明する。

まず、第３図及び第４図を参照して、本発明装
置の概略を上記の従来例と比較しつつ説明する。

第３図及び第４図中、第１図及び第２図に示す
構成部分と同一構成部分には同一符号を付し、そ
の説明は省略する。第３図中、台形プリズム２０
を徐いて、他の構成部分は第１図の構成部分と全
く同じである。台形プリズム２０は、平行部２０
ａとこの両側の傾斜面２０ｂ，２０ｃとよりな
り、平行面２０ａの幅寸法Ｗは上記の平行面２ａ
の幅寸法より大きく定めてあり、これにより、副
ビームの集光レンズ主面に対する投射領域を制限
している。

レーザ光源１よりの拡散ビームは、台形プリズ
ム２０により三つに分割されて集光レンズ５に投
射される。主ビーム（読取用ビーム）２１ａは集
光レンズ５の全開口領域を通過するビームとさ
れ、平行面２０ａでの断面は２１_a-3で示すよう
に円形である。副ビーム（制御信号検出ビーム）
２１ｂ，２１ｃの光源１Ｌ，１Ｒは第１図に示す
位置と同じ位置に配されている。この光源１Ｌ，
１Ｒより出て集光レンズ５の全開口領域を占める
ように向かうビームのうち、平行面２０ａに対向
する部分のビームは、平行面２０ａを透過して、
集光レンズ５の開口外へ向い傾斜面２０ｂ，２０
ｃに対向する部分のビームがこの部分を透過して
集光レンズ５に向かう。即ち、ハツチングを付し
た部分には副ビームは存在せず、集光レンズ５に
向う副ビーム２１ｂ，２１ｃの傾斜面２０ｂ，２
０ｃでの断面は２１_b-3，２１_c-3で示すように略
半円形状となり、集光レンズ５の主面中、副ビー
ム２１ｂ，２１ｃにより照射される部分の形状も
同様に半円形状となる。なお、一対の副ビーム２
１ｂ，２１ｃの内側の縁を示す線の交点が集光レ
ンズ５の焦点ａと一致している。

断面円形状の主ビーム２１ａ、断面半円形状の
副ビーム２１ｂ，２１ｃは、夫々ハーフミラー４
を通り、集光レンズ５により収束されて、デイス
ク６上にスポツト２１_a-1，２１_b-1，２１_c-1とし
て結像される。デイスク上の各スポツト２１_a-
_１，２１_b-1，２１_c-1よりの反射光は、レンズ５
を通り、ハーフミラー４により側方に反射され
て、検出器７，８，９上にスポツト２１_a-2，２
１_b-2，２１_c-2として結像される。

デイスク６が面振れを起こすと、スポツト２１
_b-2，２１_c-2は前記の場合と同様に移動し、移動
に応じてスポツトの径が近似的な双曲線１０に沿
つて増加しようとする。ところが、副ビーム２１
ｂ，２１ｃのレンズ主面上での断面形状が半円形
状であるため、しかもデイスク面での反射光の一
部がレンズ開口外に向うため、例えばスポツト２
１_b-2は第４図に示すように分割楕円形状のスポ
ツト２１_b-2′となり、スポツトの移動方向とは反
対側の成分検出素子８ｉ上にはかゝらず、スポツ
トの移動方向側の成分検出素子８ｏ上にのみ偏つ
て形成されることになる。この理由については後
述する。この結果フオーカス誤差が高感度で検出
され、フオーカス制御が正確に行なわれることに
なる。

次に、本発明になる再生装置の一実施例の具体
的構成及び動作について、第５図乃至第８図を参
照して説明する。

第５図は本発明装置の光学系と電気系とを併せ
て示す図であり、同図中、第３図に示す構成部分
と同一構成部分には同一符号を付す。第７図及び
第８図は夫々デイスクが下方又は上方へ変位した
場合での一の副ビームの光路の変化状態を示す図
である。

第５図中、虚の光源１Ｌよりのビームは、プリ
ズム２０の平行面２０ａにより一部カツトされ
て、傾斜面２０ｂだけを透過する断面半円形状の
副ビーム２１ｂとなつて、レンズ５の主面中ハツ
チングを付した略半円形部５ａ（第６図Ａ参照）
を通つて矢印Ａ方向に回転するデイスク６上にス
ポツト２１_b-1として収束される。また別の副ビ
ーム２１ｃも第６図Ｂに示すようにレンズ５の主
面中ハツチングを付した略半円形部５ｂを通つて
デイスク６上にスポツト２１_c-1として収束され
る。こゝで、副ビーム２１ｂ，２１ｃがレンズ５
の主面を通過する領域はスポツト２１_b-1，２１_c
_−１とを結ぶ線の延在方向上レンズ光軸５Ａに関し
て左右対称となり、且つレンズ光軸５Ａと交叉し
ている。こゝで、プリズム２０中、２０ｄ，２０
ｅは平行面２０ａと傾斜面２０ｂ，２０ｃとの間
の稜線であり、半円形断面２１_b-3は稜線２０ｄ
でカツトされた形状であり、上記半円形部５ａの
弦に対する直線状の辺５a′は上記稜線２０ｄに対
応する辺である。同様に、別の半円形部５ｂの直
線状の辺５ｂは上記稜線２０ｅに対応する辺であ
る。

これにより、デイスク上のスポツト２１_b-1よ
り反射して、レンズ５、ハーフミラー４を介して
検出器８の分割線８ａ上に収束される反射ビーム
の断面も２１_b-4で示すように、断面２１_b-3（５
ａ）に対応した形状となる。スポツト２１_c-1よ
りの検出器９への反射ビームについても、同様で
ある。

なお、検出器８，９は、夫々分割線８ａ，９ａ
をハーフミラー４より検出器の方向に向う三本の
反射ビームを含む面に対して垂直となる方向に延
在するように位置決めして配設してある。

第５図中、検出器７よりの信号は、復調回路２
５により復調され、端子２６より情報信号が得ら
れる。

また、二つの分割検出器８，９よりの信号は、
破線で囲んで示すトラツキング制御信号形成回路
２７及びフオーカス制御信号形成回路２８に加え
られ、端子２９よりトラツキング制御信号、端子
３０よりフオーカス制御信号が得られる。

こゝで、分割検出器８，９の各成分検出素子８
ｉ，８ｏ，９ｉ，９ｏよりの出力を夫々Ｖ_8i，Ｖ₈
_ｐ，Ｖ_9i，Ｖ_9pとすると、トラツキング制御信号
は、（Ｖ_9p＋Ｖ_9i）−（Ｖ_8p＋Ｖ_8i）として求められ、フオーカス制御信号は、（Ｖ_8p＋Ｖ_9p）−（Ｖ_8i＋Ｖ_9i）として求められる。

トラツキング制御信号形成回路２７において、
成分検出素子９ｏ，８ｉよりの出力信号は、夫々
帯域フイルタ３１、包絡線検波器３２、及び帯域
フイルタ３３、包絡線検波器３４を介して、減算
回路３５に加えられ、こゝで減算されて次段の減
算回路３６に加えられる。別の成分検出素子９
ｉ，８ｏよりの出力は、夫々帯域フイルタ３７、
包絡線検波器３８、及び帯域フイルタ３９、包絡
線検波器４０を介して、減算回路４１に加えら
れ、こゝで減算されて次段の減算回路３６に加え
られる。減算回路３６内で減算が行なわれ、これ
よりの出力信号が端子２９よりトラツキング制御
信号として取り出される。

フオーカス制御（誤差）信号形成回路２８にお
いては、分割型検出器８の各成分検出素子８ｏ，
８ｉよりの出力が減算回路４２で減算され、包絡
線検波器４３を介して次段の減算回路４４に加え
られる。別の分割型検出器９の各成分検出素子９
ｏ，９ｉよりの出力は、減算回路４５で減算さ
れ、包絡線検波器４６を介して、減算回路４４に
加えられる。この減算回路４４で減算が行なわ
れ、これよりの出力信号が端子３０よりフオーカ
ス制御（誤差）信号として取り出される。

ジヤストフオーカス状態においては、各スポツ
ト２１_b-2，２１_c-2は第５図に示すように分割検
出器８及び９の分割線８ａ，９ａ上に位置する。
この場合、上記端子３０よりのフオーカス制御信
号は零である。

デイスク６が面振れをおこし、矢印Ｎ方向（下
方向）に変位すると、スポツト２１_b-2，２１_c-2
は夫々矢印N₁、N₂方向、即ち互いに離れる方向
に移動する。このときでの検出器８上のスポツト
の状態を第７図に示す。

同図中、６Ａはジヤストフオーカス時でのデイ
スク６の信号面である。Ｌは、集光レンズ５の焦
点ａと検出器８（光源１Ｌ）の面との間の距離、
Ｆはレンズ５の焦点距離、ｌはレンズ５とスポツ
ト２１_b-1との間の距離である。ｄは光源１Ｌ、
及び分割検出器８の分割線８ａを示す。また、斜
線で示す部分が集光レンズ５に向う副ビーム２１
ｂを示し、このビームの縁はレンズの光軸５Ａと
焦点ａの位置で交差する。

デイスク信号面が位置Ｚにあるジヤストフオー
カス時、デイスク面上のスポツト２１_b-1よりの
反射光は点ｂを通つて点ｄに到り、分割検出器８
の分割線８ａ上にスポツトとして結像する。デイ
スク信号面６Ａが距離δだけ平行移動し信号面６
A₁となると、スポツト２１_b-1の真下に距離２δ
離れた位置に虚像２１_b-1′が出来、この虚像２１
_b-1′はデイスク面６A₁のスポツトでの反射光の発
散点となり、レンズ５により点ｆに結像される。
デイスク信号面が６A₁の位置にあるとき、光源
ｄより発してレンズ中心Ｏを通つた光は、デイス
ク信号面６A₁で反射され上記虚像２１_b-1′より発
した光となつて、レンズ面上点ｃで屈折され、点
ｆを通り、検出器８の面上の点ｅに到る。即ちデ
イスク信号面６Ａが距離δ下方に変位することに
より、検出器８上での反射光の到達点は距離X₄
外方に移動する。こゝで、移動距離X₄と変位量
δとの関係は、次式で表わされる。

X₄＝２Ａ／Ｌ＋Ｆ−Ｌ／Ｆ・δ＝２Ａ／ｌ・δ こゝで、Ａは光源ｄとレンズ光軸５Ａとの間の
距離である。

こゝで、スポツト２１_b-3が上記のように移動
したときでのこの形状について説明する。

まず、副ビーム２１ｂは、台形プリズム２０の
稜線２０ｄ、平行面２０ａでカツトされた状態に
あり、点ａ，ｂ，ｄを通る線より図中右側には存
在しない。一方、デイスク面で反射し検出器８の
内側の成分検出素子８ｉに向う反射光となるため
のデイスクへの入射光は、上記線より右側に存在
するビームである。このため、スポツトは内側の
成分検出素子８ｉ上には形成されない。

また、レンズ５の開口はであり、レンズ開口
の縁の点ｇに投射された光はデイスク面上で反射
してレンズ主面の位置では開口外の点ｈに反射さ
れ、検出器８には到らない。デイスク面で反射さ
れたビーム中レンズ開口外の部分に向うビーム
についても同様である。即ち、副ビーム２１ｂ中
レンズ開口縁部及びこの近傍に投射されたビーム
については、検出器８に向う反射光とはならな
い。デイスク面６A₁で反射されレンズ５を通つ
て検出器８に向うビームが占める領域は、線分
と、レンズ開口の他方の縁を表わす点ｊと点
ｆとを通り点ｋに至る線との間に制限される。然
して、デイスク６が距離δ下方に変位したときで
の検出器８上でのスポツト２１_b-2′は、同図の上
部に示すように、外側の成分検出素子８ｏ上に偏
つて形成され、楕円の一部と直線とにより囲まれ
た形状、即ち楕円が一部切断された形状となる。

こゝで、点ｄから点ｋまでの距離X₃は、次式
で表わされる。

X₃＝・Ｄ／Ｄ_０≒（Ｄ_０／２−Ｆ／ＬＡ）Ｄ／Ｄ_０＝（Ｌ・Ｄ_０／ｌ・Ｆ−２Ａ／ｌ）δ これにより、切断楕円形のスポツト２１_b-2′の
幅X₃もデイスク面の変位δに比例することが分
かる。

即ち、デイスク６がジヤストフオーカス位置よ
り下方に変位すると、検出器８の分割線８ａ上の
スポツト２１_b-2は、分割線８ａで切断された楕
円として外側の成分検出素子８ｏ側に漸次幅広と
なつて形成されることになる。これにより、デイ
スク６がジヤストフオーカス位置より僅かでも下
方に変位すると、検出器８上のスポツトは外側の
成分検出素子８ｏにのみ形成されることになり、
検出器８の内外と外側との成分検出素子８ｉ，８
ｏ間での出力差は急峻に大となる。

次にデイスク６が上記とは逆に矢印Ｍ方向（上
方向）に変位したときでの動作について、第８図
を併せ参照して説明する。第８図中、第７図に示
す点に対応する点については第７図と同一符号を
付して示す。

デイスク６の変位に応じて、スポツト２１_b-
_２，２１_c-2は夫々矢印M₁，M₂方向、即ち互いに
近ずく方向に移動する。

デイスク面６Ａの上方向へのδの変位により、
スポツト２１_b-1は変位したデイスク面６A₂に関
して対称な位置に結像する（２１_b-1″で示す）。
この点２１_b-1″は、レンズ５により点ｆに結像さ
れる。

デイスク信号面が６A₂の位置にあるとき、光
源ｄより発してレンズ中心Ｏを通つた光はデイス
ク信号面６A₂で反射され、レンズ面上点ｃで屈
折され、点ｆに向う光となり、検出器８上点ｅに
到り、距離X₄内方に移動する。こゝで、移動距
離X₄と変位置δとの関係は、前記の式と同じ式
で表わされる。

また、副ビーム２１ｂは、点ａ，ｂ，ｄを通る
線より図中右側には存在せず、しかも変位したデ
イスク面６A₂で反射し検出器８の外側の成分検
出素子８ｏに向う反射光となるためのデイスクへ
の入射光は、上記線より右側に存在するビームで
ある。このため、上記副ビーム２１ｂがデイスク
面６A₂で反射された場合に、外側の成分検出素
子８ｏに向う反射光は存在しない。従つて、スポ
ツトが外側の成分検出素子８ｏ上に形成されるこ
とはない。

また、レンズ５の開口との関係で、デイスク面
６A₂で反射された反射光中点ｊより外側の部分
に到る反射光はカツトされる。レンズ開口の縁の
点ｊを通つて検出器８に向う光は、検出器８上点
ｋに到る。

然して、デイスク６が距離δ上方に変位したと
きまでの検出器８上でのスポツト２１_b-2″は、同
図の上部に示すように、分割線８ａを縁線として
内側の成分検出素子８ｉ上に偏つて形成され、楕
円の一部と直線とにより囲まれた形状、即ち楕円
が一部切断された形状となり、前記スポツト２１
_b-2′と分割線８ａに関して左右対称な形状とな
る。なお、スポツト２１_b-2″の幅X₃もデイスク面
の変位δに比例して大となる。

従つて、デイスク６がジヤストフオーカス位置
より上方に変位すると、検出器８の分割線８ａ上
のスポツト２１_b-2は、分割線８ａで切断された
楕円として内側の成分検出素子８ｉ側に漸次幅広
となつて形成されることになり、デイスク６がジ
ヤストフオーカス位置より上昇した場合での検出
器８の内側と外側との成分検出素子８ｉ，８ｏ間
での出力差は急峻に大となる。

なお、別の副ビーム２１ｃ、これと協働する検
出器９についても、デイスク面振れに応じて上記
と同様に動作する。こゝで、検出器９上のスポツ
トは中央の検出器７に関して検出器８上のスポツ
トとは対称に形成されるため、フオーカス制御信
号形成回路２８内での減算動作により、両検出器
８，９よりの出力が加算される結果となり、感度
が倍増する。

従つて、デイスク面振れ時に出力端子３０より
取り出されるフオーカス制御信号は、第９図に示
すように、デイスクが僅かでも面振れを起こすと
直ちに両検出器８，９よりの出力が加算された値
となり、従つてフオーカス誤差検出ゲインが大と
なる。

このフオーカス制御信号は、レンズ駆動装置
（図示せず）に加えられ、レンズ５がレンズ光軸
方向に上下動され、フオーカスサーボ動作が行な
われる。

次に、デイスク面の傾斜による影響を受けず
に、上記特性のフオーカス制御信号を得るように
した実施例について、第１０図及び第１１図を併
せ参照して説明する。

まず、デイスクが主ビーム２１ａの光軸に対し
て相対的に傾斜したときでの検出器８，９上のス
ポツトの状態について説明する。デイスク６が傾
斜すると、スポツト２１_b-2，２１_c-2（２１_b-
_２′，２１_b-2″）は同一方向に移動する。このた
め、例えばスポツト２１_b-2′又は２１_b-2″が形成
されている状態でデイスク６が傾斜すると、一方
の検出器についてはスポツトが別の成分検出素子
を一部覆う状態となり内側と外側の成分検出素子
間での出力差が変化し、別の検出器については、
スポツトは今まで形成されていた成分検出素子上
を移動するだけであり、内側と外側の成分検出素
子間での出力差には変化はない。このため、取り
出されたフオーカス制御信号に偽りの成分が一部
含まれることになり、フオーカス制御が正確に行
なわれなくなる。

そこで、本実施例においては、デイスク６が下
方にδ変位したときでの検出器８上のスポツトが
分割線８ａを越えて内側の成分検出素子８ｉ上に
距離X₅進出して形成されるようにしている。

即ち、台形プリズム２０の傾斜面２０ｂを通る
副ビーム５０は稜線２０ｄの近傍を通る光がレン
ズ光軸５Ａ中焦点位置ａよりハーフミラー４側
（光源側）の点a₁を通るように定める。副ビーム
５０（ハツチングで示す）の端はレンズ主面上点
ｂより右側の点b′を通ることになり、点ｂ，ａ，
ｄを通る線より右側にある光束が、デイスク面６
A₁で反射して内側の成分検出素子８ｉ上に到る
ことになる。また、外側の成分検出素子８ｏ上の
照射される部分は、前記の場合と同様にレンズ５
の開口径に制限される。これにより、第１０図の
上部に示すスポツト５１が形成される。

上記スポツト５１中、分割線８ａより右側に出
る幅X₅は、 X₅＝′Ｄ／Ｄ_０＝２Ｌδ／ｌＦ′ となり、デイスクの変位量δと点b′の位置で定ま
る。

こゝで、スポツト５１中、外側の成分検出素子
８ｏ上の面積をＳ_8p、内側の成分検出素子８ｉ上
の面積をＳ_8iとし、デイスク傾斜によりスポツト
５１の中心が例えば左方向に△Ｘ移動したとし、
このときでの各成分検出素子上での照射面積の変
化量を△Ｓとする。また別の検出器９についても
同様に表わされる。これにより、フオーカス制御
信号は〔（Ｓ_8p＋△Ｓ）＋（Ｓ_9p−△Ｓ）〕 −〔（Ｓ_8i−△Ｓ）＋（Ｓ_9i＋△Ｓ）〕として表わされ、△Ｓは消去される。但し、△Ｘ
≦X₅の場合である。

これより、デイスクが主ビーム２１ａの光軸に
対して相対的に傾斜した場合にも、デイスク傾斜
による検出器上のスポツトの移動分は完全に消去
され、この影響はフオーカス制御信号には現われ
ないことが分かる。従つて、より正確なフオーカ
ス制御が可能となる。

第１１図は、検出器８の前に散乱層６０を設
け、検出器８を照射する反射光が散乱して検出器
８の各成分検出素子８ｉ，８ｏにまたがるスポツ
ト６１を形成するようにしたものである。

散乱層６０がない場合には、反射光束は実線で
示すように検出器８中外側の成分検出素子８ｏ上
にスポツト６１として照射されるが、散乱層６０
があると、反射光束はこゝで破線で示すように散
乱されて両方の成分検出素子８ｉ，８ｏにまたが
るスポツト６２として照射される。これにより、
上記の場合と同様に、デイスク傾斜の影響のない
フオーカス制御信号が取り出される。

なお、散乱層６０として、表面を粗面とした透
明板、表面に光透過性微粉末が付着された透明
板、乳白色のプラスチツク又はガラス板等を利用
できる。

また、一つの点光源よりのビームを三つに分割
し、且つこのうち二つのビームの断面を半円形状
とするための手段として、上記の台形プリズム２
０の代わりに、三つの平面鏡を所定の角度関係で
配した構成とすることもできる。

なお、本発明装置は、制御用ビームとして専用
の光源を設けた構成とすることもできる。

上述の如く、本発明になる光学的情報記録媒体
再生装置によれば、一のビームを出射する光源
と、この光源からのビームを情報信号読取用ビー
ム及びこの情報信号読取用ビームの両側に位置す
る一対の制御信号検出ビームに分割する光学素子
と、情報信号が幾何学的形状の変化として渦巻状
又は同心円状に記録されている情報信号記録媒体
と上記光学素子との間に位置するレンズとを備え
上記各ビームを上記レンズを介して上記情報信号
記録媒体に照射する光学系、及び上記情報信号読
取用ビームと一対の制御信号検出ビームとの上記
情報信号記録媒体からの各反射光を各々受光する
検出器及び各々一対の成分検出素子から成る分割
検出器と、これら検出器及び分割検出器の各出力
に基づいて上記情報信号及びサーボ信号を出力す
る信号生成回路とを備えた信号処理系とを有する
光学的情報記録媒体再生装置であつて、上記光学
素子を上記各制制御信号検出ビームが上記レンズ
の開口の一部分だけに投射されるようにするとと
もに、これら各制御信号検出ビームの上記レンズ
上の投射領域がこのレンズの中心に対して対称と
なるように構成し、上記情報信号記録媒体の上下
方向変位に応じて上記一対の制御信号検出ビーム
の反射光が上記各分割検出器を構成する各一方の
成分検出素子側に偏つて投射されるようにしたた
め、デイスク面振れ時での検出器上のスポツトを
いずれか一方の成分検出素子に偏つて形成させる
ことが出来、これにより、フオーカス制御信号を
大なる検出ゲインで得ることが出来、従つてフオ
ーカス制御動作を正確に行ないつゝ再生を行なう
ことが出来、また上記光学素子を一対の制御信号
検出ビームの縁部がレンズ光軸上レンズ焦点の位
置より光源側の位置を通るように定めたことによ
り、検出器上のスポツトを他側の成分検出素子側
に一部突き出た形で形成することが出来、従つて
デイスク傾斜によるフオーカス制御に対する影響
を実質上無くすることが出来、従つて、フオーカ
ス制御を更に高精度に行なうことが出来、更に
は、上記光学素子として台形プリズムを利用する
ことにより、構造の簡単化を図ることが出来る等
の優れた特長を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の光学的再生装置の一例の光学系
を概略的に示す図、第２図は第１図中デイスクの
変位に応じての分割検出器上でのスポツトの形成
状態を示す図、第３図は本発明になる光学的情報
記録媒体再生装置の一実施例の光学系を概略的に
示す図、第４図は第３図中デイスクの変位に応じ
ての分割検出器上でのスポツトの形成状態を示す
図、第５図は第３図に示す本発明装置の光学系を
電気制御系と併せて示す斜視図、第６図Ａ及びＢ
は夫々第３図（第５図）中一対の副ビームの集光
レンズに対する投射領域を示す図、第７図及び第
８図は夫々デイスクが下方及び上方に変位したと
きでの一の副ビームの光路の変化状態及び分割検
出器上でのスポツトの状態を示す図、第９図は第
３図（第５図）に示す装置でのデイスク面振れに
対するフオーカス制御信号の出力特性を示す図、
第１０図及び第１１図は夫々本発明装置の別の実
施例での光路を示す図である。１……半導体レーザ光源、１Ｌ，１Ｒ……虚の
光源、４……ハーフミラー、５……集光レンズ、
５ａ，５ｂ……副ビームの投射領域、５Ａ……光
軸、６……デイスク、６Ａ……デイスク面、６
A₁，６A₂……変位したときでのデイスク面、７
……検出器、８，９……分割検出器、８ｉ，８
ｏ，９ｉ，９ｏ……成分検出素子、８ａ，９ａ…
…分割線、２０……台形プリズム、２０ａ……平
行面、２０ｂ，２０ｃ……傾斜面、２１ａ……主
ビーム、２１ｂ，２１ｃ……副ビーム、２１_a-
_１，２１_a-2，２１_b-1，２１_b-2，２１_b-2′，２１_b
_−２″，２１_c-1，２１_c-2……スポツト、２１_a-3，
２１_b-3，２１_c-3……ビーム断面、２５……復調
回路、２７……トラツキング制御信号形成回路、
２８……フオーカス制御信号形成回路、３１，３
３，３７，３９……帯域フイルタ、３２，３４，
３８，４０，４３，４６……包絡線検波器、３
５，３６，４１，４２，４４，４５……減算回
路、５０……副ビーム、５１，６１，６２……ス
ポツト、６０……散乱層。

Claims

【特許請求の範囲】１一のビームを出射する光源と、この光源から
のビームを情報信号読取用ビーム及びこの情報信
号読取用ビームの両側に位置する一対の制御信号
検出ビームに分割する光学素子と、情報信号が幾
何学的形状の変化として渦巻状又は同心円状に記
録されている情報信号記録媒体と上記光学素子と
の間に位置するレンズとを備え上記各ビームを上
記レンズを介して上記情報信号記録媒体に照射す
る光学系、及び上記情報信号読取用ビームと一対の制御信
号検出ビームとの上記情報信号記録媒体からの各
反射光を各々受光する検出器及び各々一対の成分
検出素子から成る分割検出器と、これら検出器及
び分割検出器の各出力に基づいて上記情報信号及
びサーボ信号を出力する信号生成回路とを備えた
信号処理系とを有する光学的情報記録媒体再生装
置であつて、上記光学素子を上記各制御信号検出ビームが上
記レンズの開口の一部分だけに投射されるように
するとともに、これら各制御信号検出ビームの上
記レンズ上の投射領域がこのレンズの中心に対し
て対称となるように構成し、上記情報信号記録媒体の上下方向変位に応じて
上記一対の制御信号検出ビームの反射光が上記各
分割検出器を構成する各一方の成分検出素子側に
偏つて投射されるようにしたことを特徴とする光
学的情報記録媒体再生装置。２該光学素子を、一対の制御信号検出ビームの
一の光源側の（又はレンズ光軸側の）縁部がレン
ズの前側焦点の位置を共通して通るように定めて
なることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の装置。３該光学素子を、一対の制御信号検出ビームの
縁部がレンズの光軸上該レンズの前側焦点の位置
より光源側の所定の位置を共通して通るように定
めてなることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の装置。４該光学素子は台形プリズムであり、この台形
プリズムの平行面の両端側の作用によりこのプリ
ズムにより分割された一対の制御信号検出ビーム
の断面が略半円形状となることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の装置。