JP3502381B2 - 光ディスク装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 【０００１】 【発明の属する技術分野】本発明は、レーザ光により情
報の書き込み、読み出す際に誤差検出を行う光ディスク
装置に関する。 【０００２】光ディスク装置は、対物レンズによって集
光された直径約１μm のビームスポットに関して、フォ
ーカス方向とトラッキング方向の両方向に対して自動制
御を行っている。回転するディスクは、ディスク面に垂
直方向に面振れを起こす。面振れに追従して、ビームス
ポットが常に記録膜上に来るように、対物レンズを光軸
方向に移動させるのがフォーカス方向の制御である。ま
た、ディスクには、予め案内溝（プリグルーブ）が設け
られている。所定の案内溝に対してビームスポットが追
従するように、対物レンズ等を移動させるのがトラッキ
ング方向の制御である。両者の制御を行うための誤差信
号検出は、装置の信頼性を左右する重要な部分であり、
小型かつ低コストの方式が求められている。 【０００３】 【従来の技術】図５に、従来の光ディスク装置を説明す
るための図である。図５（Ａ）は構成図であり、図５
（Ｂ）は複合プリズムの説明図である。 【０００４】図５（Ａ）の光ディスク装置１１におい
て、半導体レーザ１２から出射した発散光は、コリメー
タレンズ１３によって平行光に変換される。ビームスプ
リッタ１４を透過した後、反射ミラー１５によって対物
レンズ方向に反射され、対物レンズ１６によりディスク
１７上に直径約１μｍのビームスポットに集光される。 【０００５】ディスク１７からの反射光は元来た経路を
戻り、ビームスプリッタ１４で図中下方に反射される。
さらに、ビームスプリッタ１８により、光は２分割さ
れ、一方は、図中右側に反射され、ウォラストンプリズ
ム１９，集光レンズ２０を介して光検出器２１で光磁気
信号及びアドレス信号を検出する。また、ビームスプリ
ッタ１８を透過した光は集光レンズ２２によって絞ら
れ、ビームスプリッタ２３で、また２分割される。 【０００６】図中右側への反射光を２分割（Ａ，Ｂ）さ
れた光検出器２４で受光し、プッシュプル法によりトラ
ッキング誤差信号を得る。また、ビームスプリッタ２３
を透過した光は複合プリズム２５を介して、４分割（Ａ
〜Ｄ）された光検出器２６上に集光し、フーコー法（又
はダブルナイフエッジ法）により、フォーカス誤差検出
信号を得る。すなわち、フォーカス誤差検出をフーコー
法で行い、トラッキング誤差検出をプッシュプル法で行
うものである。 【０００７】複合プリズム２５は、図５（Ｂ）に示すよ
うに、２つの出射面２５ａ，２５ｂが形成されたもの
で、ディスク１７からの反射光を２分割してそれぞれの
光を４分割（Ａ〜Ｄ）の光検出器２６で受光させる。 【０００８】ここで、図６〜図８に、図５のフーコー法
を説明するための図を示し、図９に、図６〜図８の出力
特性のグラフを示す。図６（Ａ），（Ｂ）は、対物レン
ズ１６がディスク１７に近い場合であり、４分割（Ａ〜
Ｄ）の光検出器２６上のビームパターンは図６（Ａ）に
示すようになる。光検出器２６の各Ａ〜Ｄの出力に対し
て、フォーカス誤差信号ＦＥＳ（Focus Error Signal）
は（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）という演算を行うとＦＥＳ＞
０となる。 【０００９】同様に、図７（Ａ），（Ｂ）は、ディスク
１７が対物レンズ１６の焦点位置にある場合であり、フ
ォーカス誤差信号ＦＥＳはＦＥＳ＝０となる。また、図
８（Ａ），（Ｂ）はディスク１７が対物レンズ１６に対
して遠ざかった場合であり、フォーカス誤差信号ＦＥＳ
はＦＥＳ＜０となる。 【００１０】そして、これらの出力信号は、図９に示す
ように、Ｓ字カーブとなり、この信号を用いてフォーカ
ス方向の自動制御を行うものである。 【００１１】このようにフーコー法を用いて、フォーカ
ス誤差を検出することにより、ビームスポットが案内溝
を横断する時に生じる外乱信号がフォーカス誤差信号に
混入する程度が小さくなり、また、ディスク１７からの
反射光が光軸シフトを起こしても、光検出器２６がほぼ
焦点近傍に置かれているため、フォーカス誤差信号に異
常なオフセットを発生させることがないものである。 【００１２】次に、図１０〜図１２に、図５のプッシュ
プル法を説明するための図を示す。図１０（Ａ）〜
（Ｃ）は、ビームスポットがディスク１７の案内溝１７
ａより図中右にずれた場合、ディスク１７からの反射光
は強度分布がアンバランスとなり、図中左側の方が強く
なる。従って、２分割（Ａ，Ｂ）された光検出器２４か
らのトラッキング誤差信号ＴＥＳ（Tracking Error Sig
nal ）は、ＴＥＳ＝（Ａ−Ｂ）という演算を行うと、Ｔ
ＥＳ＞０となる。 【００１３】同様に、図１１（Ａ）〜（Ｃ）は、ビーム
スポットがディスク１７の案内溝１７ａの中央にあると
きであり、ディスク１７からの反射光の強度分布は一様
である。従って、トラッキング誤差信号ＴＥＳは、（Ａ
−Ｂ）＝０となる。また、図１２（Ａ）〜（Ｃ）は、ビ
ームスポットが案内溝１７ａの図中左にずれた場合であ
り、反射光の強度分布は図中左側が強くなってトラッキ
ング誤差信号ＴＥＳはＴＥＳ＜０となる。 【００１４】このように、ビームスポットが案内溝１７
ａに対して左右にずれると、それぞれに応じて出力も正
負に変化することから、２分割（Ａ，Ｂ）された光検出
器２４の出力（Ａ−Ｂ）をトラッキング誤差信号として
用いるものである。 【００１５】 【発明が解決しようとする課題】しかし、上述のよう
に、フーコー法とプッシュプル法とを同時に成立させる
ために、ビームスプリッタ２３で光を直交する二方向に
分割しなければならず、ビームスプリッタ２３及び光検
出器２４のスペースを確保する必要があり、部品点数を
削減することが困難であるという問題がある。 【００１６】また、フォーカス誤差検出をフーコー法で
はなく通常行われる非点収差法によれば部品点数の削減
は可能であるが、非点収差法はビーム径が大きく、外乱
の影響を受け易いことから信頼性が低いという問題があ
る。 【００１７】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされた
もので、誤差検出の信頼性を向上させ、小型、低コスト
化を図る光ディスク装置を提供することを目的とする。 【００１８】 【課題を解決するための手段】上記課題は、光源からの
出射光をディスクに照射し、該ディスクからの反射光に
より情報信号、フォーカス誤差及びトラッキング誤差を
検出し、フォーカス及びトラッキングを制御する光ディ
スク装置において、前記ディスクからの反射光を、略同
一方向の第１乃至第６の光に６分割する光分割手段と、
該光分割手段により分割された第１及び第２の光を受光
してフォーカス誤差信号を検出し、第３乃至第６の光を
受光してトラッキング誤差信号、光磁気信号及びアドレ
ス信号を検出する光検出部とを有し、上記光分割手段
は、中央に位置して山形形状をなす第３及び第４の出射
面と、該第３及び第４の出射面が形成する山形部分の稜
線の延在する方向上、一方の側に位置して、上記第３の
出射面と同じ方向に且つ上記第３の出射面より小さい角
度で傾斜した第１の出射面と、上記山形部分の稜線の延
在方向上他方の側に位置して、上記第４の出射面と同じ
方向に且つ上記第４の出射面より小さい角度で傾斜した
第２の出射面とを有する一つの複合プリズムと、該複合
プリズムのうち中央の山形部分の裏側の部位に固定さ
れ、光を上記山形部分の稜線の延在する方向に分離する
一つのウォラストンプリズムとよりなる構成とすること
により解決される。 【００１９】光分割手段が反射光を６分割し、分割され
た光を光検出部によって検出して、フォーカス誤差信
号、トラッキング誤差信号、光磁気信号アドレス信号を
検出する構成は、光分割手段への一つの光路と一つの光
検出部とによって全部の信号を検出することを可能とす
る。 【００２０】 【発明の実施の形態】図１に、本発明の第１実施例の構
成図を示す。図１の光ディスク装置３１において、光源
である半導体レーザ３２（Ｈｅ−Ｎｅレーザでもよい）
からの出射光（発散光）は、コリメータレンズ３３によ
って平行光に変換される。この平行光がビームスプリッ
タ３４を透過した後、反射ミラー３５によって対物レン
ズ方向に反射され、対物レンズ３６により光磁気ディス
ク３７上に直径約１μｍのビームスポットに集光され
る。 【００２１】ディスク３７からの反射光は元来た経路を
戻り、ビームスプリッタ３４で図中下方に反射される。
さらに、ビームスプリッタ３８により、光は２分割さ
れ、一方は、図中右側に反射され、ウォラストンプリズ
ム３９，集光レンズ４０を介して光検出器４１で光磁気
信号（情報信号）を検出する。また、ビームスプリッタ
３８を透過した光は集光レンズ４２によって絞られる。
以上の構成は図５（Ａ）と同様である。 【００２２】集光レンズ４２で絞られた反射光は、光分
割手段である複合プリズム４３（後述する）により第１
〜第４の光４４ａ〜４４ｄに４分割され、光検出部４５
に受光される。光検出部４５は、第１及び第２の光４４
ａ，４４ｂを受光する４分割（Ａ〜Ｄ）された第１の受
光部（４５ａ）と、第３の光４４ｃを受光する第２の受
光部Ｅ（４５ｂ）と、第４の光４４ｄを受光する第３の
受光部Ｆ（４５ｃ）とが一平面上（それぞれ分離されて
いてもよい）に形成される（図２（Ｃ）参照）。 【００２３】次に、図２に、図１の複合プリズムを説明
するための図を示す。図２（Ａ）は複合プリズム４３の
斜視図であり、図２（Ｂ）は複合プリズム４３の出射面
を示した図であり、図２（Ｃ）は光検出部４５の受光を
説明するための図である。 【００２４】図２（Ａ），（Ｂ）において、複合プリズ
ム４３は、その出射面が反射光束のうち、第１の光４４
ａを出射する第１の出射面４３ａが図中右傾斜で形成さ
れ、第２の光４４ｂを出射する第２の出射面４３ｂが図
中左傾斜で形成される。また、第３及び第４の光４４
ｃ，４４ｄを出射する第３及び第４の出射面４３ｃ，４
３ｄが山形形状に形成されたものである。 【００２５】第１の出射面４３ａは、第３の出射面４３
ｃと同じ方向に傾斜しており、且つ傾斜角α１は第３の
出射面４３ｃの傾斜面α３より小さい。 【００２６】第２の出射面４３ｂは、第４の出射面４３
ｄと同じ方向に傾斜しており、且つ傾斜角α２は第４の
出射面４３ｄの傾斜面α４より小さい。 【００２７】そして、図２（Ｃ）において、反射光束の
うち、第１の出射面４３ａより出射された第１の光４４
ａは、光検出部４５の第１の受光部４５ａのＡ，Ｄ領域
で受光される。また、第２の出射面４３ｂより出射され
た第２の光４４ｂは第１の受光部４５ａのＢ，Ｃ領域で
受光される。これにより、図４〜図７で説明したよう
に、フーコー法により（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算を
行い、フォーカス誤差信号を検出する。 【００２８】また、反射光束のうち、第３の出射面４３
ｃより出射された第３の光４４ｃは、光検出部４５の第
２の受光部４５ｂ（Ｅ領域）で受光され、第４の出射面
４３ｄにより出射された第４の光４４ｄは第３の受光部
４５ｃ（Ｆ領域）で受光される。これにより、図１０〜
図１２で説明したように、プッシュプル法により（Ｅ−
Ｆ）の演算を行い、トラッキング誤差信号を検出するも
のである。 【００２９】このように、図５（Ａ）と比較すると、フ
ォーカス検出にフーコー法、トラッキング誤差信号検出
にプッシュプル法を用いても、ビームスプリッタ等を用
いて、光路を２分割する必要がないため、光学系の装置
全体に占める体積を小さくすることができる。また、ビ
ームスプリッタを１個、光検出器を２個から１個に減ら
すことができることから、部品点数の削減になり、ひい
てはコスト低減を行うことができる。さらに、フォーカ
ス誤差信号検出に非点収差法を用いた場合と比較する
と、光検出器上でのビーム径を小さくすることができ、
外乱の影響を防止して信頼性を向上できるものである。 【００３０】また、所定のフォーカス誤差信号が検出で
きるよう光検出部４５を調整した場合、自動的に第３の
光４４ｃと第４の光４４ｄを受光部４５ｄ（Ｅ領域）と
受光部４５ｃ（Ｆ領域）内に入射させるような構造が可
能となるため、トラック誤差信号検出用の調整が不要と
なる利点もある。 【００３１】図３に、本発明の第２実施例になる光ディ
スク装置３１Ａを示す。 【００３２】同図中、図１に示す構成部分と対応する部
分には同一符号を付し、その説明は省略する。 【００３３】光ディスク装置３１Ａは、図１中の複合プ
リズム４３に代えて、複合プリズム−ウォラストンプリ
ズム一体部品５０を設け、図１中のビームスプリッタ３
５、ウォラストンプリズム３９、集光レンズ４０、光検
出器４１が削除された構成である。 【００３４】半導体レーザ３２により射出したレーザ光
は、ディスク３７上に集光する。ディスク３７からの反
射光は、元来た経路を戻り、ビームスプリッタ３４によ
り下方に反射され、以後は分岐されずに進み、集光レン
ズ４２によって絞られる。 【００３５】集光レンズ４２で絞られた反射光束４９
は、光分割手段である部品５０（後述する）により、第
１〜第６の光５１ａ〜５１ｆに分割され、光検出部４５
Ａに受光される。 【００３６】光検出部４５Ａは、第１及び第２の光５１
ａ，５１ｂを受光する４分割（Ａ〜Ｄ）された第１の受
光部４５Ａａと、第３の光５１ｃを受光する第２の受光
部４５Ａｂ−１（Ｅ１領域）と、第４の光５１ｄを受光
する第３の受光部４５Ａｂ−２（Ｅ２領域）と、第５の
光５１ｅを受光する第４の受光部４５Ａｃ−１（Ｆ１領
域）と、第６の光５１ｆを受光する第５の受光部４５Ａ
ｃ−２（Ｆ２領域）とが一平面上に形成された構成であ
る（図４（Ｃ）参照）。 【００３７】次に、上記部品５０について説明する。 【００３８】部品５０は、図４（Ｂ），（Ｃ）に併せて
示すように、図２に示す複合プリズム４３の裏面に図４
（Ａ）に示すウォラストンプリズム５２を接着してなる
構造である。 【００３９】ウォラストンプリズム５２は、水晶から切
り出した三角プリズムを二つ貼り合わせた構造であり、
複合プリズム４３のうち、中央の山形部分に対応するサ
イズを有する。 【００４０】このウォラストンプリズム５２は、複合プ
リズム４３のうち、中央の山形部分４３ｅの真裏の部位
に、山形部分の全幅に亘って配してあり、レーザ光を、
山形部分４３ｅの稜線４３ｅの延在する方向に分離す
る。 【００４１】即ち、ウォラストンプリズム５２は、反射
光４９の光路のうち、複合プリズム４３の直前の位置に
位置している。 【００４２】次に、上記構造の部品５０による光の分割
状況及び信号の検出状況について説明する。 【００４３】集光レンズ４２より出て部品５０に入射す
る反射光束４９のうち、図４（Ｂ）中、ウォラストンプ
リズム５２より上側の部分を通って複合プリズム４３に
直接入射した光４９−１は、第１の出射面４３ａで屈折
されて、第１の出射面４３ａより第１の光５１ａとして
出射する。 【００４４】この第１の光５１ａは、図４（Ｃ）に示す
ように、光検出部４５Ａの第１の受光部４５Ａａのうち
のＡ，Ｄ領域で受光される。 【００４５】また、上記反射光束４９のうち、図４
（Ｂ）中、ウォラストンプリズム５２より下側の部分を
通って複合プリズム４３に直接入射した光４９−２は、
第２の出射面４３ｂで屈折されて、第２の出射面４３ｂ
より第２の光５１ｂとして出射する。 【００４６】この第２の光５１ｂは、図４（Ｃ）に示す
ように、光検出部４５Ａの第１の受光部４５Ａａのうち
のＢ，Ｃ領域で受光される。 【００４７】上記第１の受光部４５Ａａの領域Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄからの出力に基づいて、図６乃至図９で説明した
ように、フーコー法により（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演
算を行い、フォーカス誤差信号を検出する。 【００４８】また、上記の反射光束４９のうち、図４
（Ｂ）中、ウォラストンプリズム５２に向かう光４９−
３は、ウォラストンプリズム５２に入射し、ここで、図
４（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、ｐ波５５とｓ波５６
とに分離される。 【００４９】ｐ波５５は、光４９−３の延長線５７に対
して第１の出射面４３ａ側寄りに、角度β偏向してい
る。 【００５０】ｓ波５６は、上記ｐ波５５とは逆に、光４
９−３の延長線５７に対して第２の出射面４３ｂ側寄り
に角度β偏向している。 【００５１】ｐ波５５及びｓ波５６は、ウォラストンプ
リズム５２を出て、複合プリズム４３内に入る。 【００５２】上記角度βは小さく、ｐ波５５及びｓ波５
６は、複合プリズム４３のうち山形部分４３ｅ内を伝播
し、共に第３の出射面４３ｃ及び第４の出射面４３ｄに
到り、ここで屈折されて出射する。 【００５３】第３の出射面４３ｃについてみると、ｐ波
５５は、図４（Ｃ）中、第３の光５１ｃとして出射さ
れ、これは、第２の受光部４５Ａｂ−１（Ｅ１領域）を
照射する。 【００５４】ｓ波５６は、図４（Ｃ）中、第４の光５１
ｄとして出射され、これは、第３の受光部４５Ａｂ−２
（Ｅ２領域）を照射する。図４（Ｃ）中、第５の光５１
ｅとして出射され、これに第４の受光部４５Ａｃ−１
（Ｆ１領域）を照射する。 【００５５】ｓ波５６は、図４（Ｃ）中、第６の光５１
ｆとして出射され、これは第５の受光部４５Ａｃ−２
（Ｆ２領域）を照射する。 【００５６】上記第２乃至第６の受光部４５Ａｂ−１〜
４５Ａｃ−２（領域Ｅ１〜Ｆ２）からの出力に基づい
て、（Ｅ１＋Ｅ２）−（Ｆ１＋Ｆ２）の演算を行うこと
により、トラッキング誤差信号が検出される。 【００５７】また、（Ｅ１＋Ｆ１）−（Ｅ２＋Ｆ２）の
演算を行うことにより、光磁気信号が得られる。 【００５８】更には、（Ｅ１＋Ｅ２＋Ｆ１＋Ｆ２）の演
算を行うことにより、アドレス信号が得られる。 【００５９】以上より分かるように、本実施例によれ
ば、一の光路（上記光束４９よりなる光路）と、一つの
光検出器４５Ａとによって、全ての信号（フォーカス誤
差信号、トラッキング誤差信号、光磁気信号、アドレス
信号）を検出することが出来る。 【００６０】図３の構成を、図１の構成と比較すると、
図１中、ビームスプリッタ３８より横に向かう光路が無
いため、光学系の占有空間が縮小化されており、且つ部
品点数が少なくなっている。 【００６１】従って、第２実施例の光ディスク装置３１
Ａは、第１実施例の光ディスク装置３１と比べても、小
型であり、且つ低コストとなっている。 【００６２】また、所定のフォーカス誤差信号が検出で
きるよう光検出部４５Ａを調整した場合、自動的に第３
の光５１ｃから第６の光５１ｆまでを受光部４５Ａｂ−
１（Ｅ１領域）と受光部４５Ａｃ−２（Ｆ２領域）内に
自動的に入射させるような構造が可能となるため、トラ
ック誤差信号及び光磁気信号検出用の調整が不要となる
利点もある。 【００６３】なお、上記一体部品５０に代えて、複合プ
リズム５０とウォラストンプリズム５２とを独立の部品
とし、ウォラストンプリズム５２を複合プリズム５０の
裏面に離間対向させて複合プリズム５０とは別個独立に
配した構成としてもよい。 【００６４】 【発明の効果】以上のように、本発明によれば、光分割
手段により反射光を６分割し、これらを光検出部により
検出して、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信
号、光磁気信号アドレス信号を検出する構成であるた
め、光分割手段への一つの光路と一つの光検出部とによ
って全部の信号を検出することが出来、光学系の占有空
間を従来に比べて縮小することが出来、ひいては光ディ
スク装置の小型化を図ることが出来る。 【００６５】また、光分割手段は、一つの複合プリズム
と一つのウォラストンプリズムとを一体化してなる構成
であるため、両者を別々に設けた構成に比べて部品点数
を削減し得ると共に、光学系を更に小型にすることが出
来る。 【００６６】

【図面の簡単な説明】 【図１】本発明の一実施例の構成図である。 【図２】図１の複合プリズムを説明するための図であ
る。 【図３】本発明の第２実施例の構成図である。 【図４】図３の複合プリズム−ウォラストンプリズム一
体部品を説明するための図である。 【図５】従来の光ディスク装置を説明するための図であ
る。 【図６】図５のフーコー法を説明するための図である。 【図７】図５のフーコー法を説明するための図である。 【図８】図５のフーコー法を説明するための図である。 【図９】図６乃至図８の出力特性のグラフである。 【図１０】図５のプッシュプル法を説明するための図で
ある。 【図１１】図５のプッシュプル法を説明するための図で
ある。 【図１２】図５のプッシュプル法を説明するための図で
ある。 【符号の説明】 ３１，３１Ａ 光ディスク装置 ３２ 半導体レーザ ３３ コリメータレンズ ３４，３８ ビームスプリッタ ３５ 反射ミラー ３６ 対物レンズ ３７ ディスク ３９ ウォラストンプリズム ４０，４２ 集光レンズ ４１ 光検出器 ４３ 複合プリズム ４３ａ〜４３ｄ 第１〜第４の出射面 ４３ｅ 山形部分 ４３ｆ 稜線 ４４ａ〜４４ｄ 第１〜第４の光 ４５，４５Ａ 光検出部 ４５ａ〜４５ｃ 第１〜第３の受光部 ４５Ａａ 第１の受光部 ４５Ａｂ−１ 第２の受光部 ４５Ａｂ−２ 第３の受光部 ４５Ａｃ−１ 第４の受光部 ４５Ａｃ−２ 第５の受光部 ４９ 反射光束 ４９−１，４９−２，４９−３ 光 ５０ 複合プリズム−ウォラストンプリズム一体部品 ５１ａ〜５１ｆ 第１乃至第６の光 ５２ ウォラストンプリズム ５３，５４ 水晶の三角プリズム ５５ ｐ波 ５６ ｓ波 ５７ 光４９−３の延長線

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−137841（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−144233（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−241028（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−121139（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−298029（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−295226（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−1939（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−21949（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/22

Claims (1)

1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 光源からの出射光をディスクに照射し、
   該ディスクからの反射光により情報信号、フォーカス誤
   差及びトラッキング誤差を検出し、フォーカス及びトラ
   ッキングを制御する光ディスク装置において、 前記ディスクからの反射光を、略同一方向の第１乃至第
   ６の光に６分割する光分割手段と、 該光分割手段により分割された第１及び第２の光を受光
   してフォーカス誤差信号を検出し、第３乃至第６の光を
   受光してトラッキング誤差信号、光磁気信号及びアドレ
   ス信号を検出する光検出部とを有し、 上記光分割手段は、 中央に位置して山形形状をなす第３及び第４の出射面
   と、該第３及び第４の出射面が形成する山形部分の稜線
   の延在する方向上、一方の側に位置して、上記第３の出
   射面と同じ方向に且つ上記第３の出射面より小さい角度
   で傾斜した第１の出射面と、上記山形部分の稜線の延在
   方向上他方の側に位置して、上記第４の出射面と同じ方
   向に且つ上記第４の出射面より小さい角度で傾斜した第
   ２の出射面とを有する一つの複合プリズムと、 該複合プリズムのうち中央の山形部分の裏側の部位に固
   定され、光を上記山形部分の稜線の延在する方向に分離
   する一つのウォラストンプリズムとよりなる構成である
   ことを特徴とする光ディスク装置。