JPS6150156A - 発光素子アレイ光量検出装置 - Google Patents

発光素子アレイ光量検出装置

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JPS6150156A
JPS6150156A JP59171993A JP17199384A JPS6150156A JP S6150156 A JPS6150156 A JP S6150156A JP 59171993 A JP59171993 A JP 59171993A JP 17199384 A JP17199384 A JP 17199384A JP S6150156 A JPS6150156 A JP S6150156A
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JP
Japan
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light
photoelectric conversion
emitting element
conversion element
element array
Prior art date
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Pending
Application number
JP59171993A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Futaki
二木 清
Yasuo Inui
乾 泰夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic System Solutions Japan Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Graphic Communication Systems Inc
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Publication date
Application filed by Matsushita Graphic Communication Systems Inc filed Critical Matsushita Graphic Communication Systems Inc
Priority to JP59171993A priority Critical patent/JPS6150156A/ja
Publication of JPS6150156A publication Critical patent/JPS6150156A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G15/00Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
    • G03G15/50Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control
    • G03G15/5033Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor
    • G03G15/5037Machine control of apparatus for electrographic processes using a charge pattern, e.g. regulating differents parts of the machine, multimode copiers, microprocessor control by measuring the photoconductor characteristics, e.g. temperature, or the characteristics of an image on the photoconductor the characteristics being an electrical parameter, e.g. voltage

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Systems Of Projection Type Copiers (AREA)
  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野  。
本発明は、電子写真方式の記録装置に係り、特に発光素
子アレイ光皿検出装置に関する。
従来例の構成とその問題点 従来の電子写真方式の記録装置の一例を第1図に示す。
本図で、1は発光素子アレイの代表的なLEDアレイヘ
ッド、4は感光体ドラム、1aは感光体ドラムへ向けて
光を照射するLEDアレイ、1bはロッドレンズ、2は
光電変換素子、3はLEDアレイ電流印加制御回路(以
下、制御回路という)である。
LEDアレイ1a、ロッドレンズ1b、光電変換素子2
.感光体ドラム4は光学的に設置されている。
LEDアレイヘッド1はLEDアレイ1aを内蔵し、ロ
ッドレンズ1bを固設している。制御回路3は光電変換
素子2とLEDアレイヘッド1の近傍に設置されている
以上のように構成されたLEDアレイ光量検出装置では
、感光体ドラム4又はその近傍で発生する余剰トナーが
飛散し、光電変換素子2の受光部やロッドレンズ1bに
付着し、この付着トナーや、クリーニングブレード等に
よる感光体ドラム表面の傷等の影響により見かけ上の受
光量が減少する。そのため、LEDアレイに対し、過大
な電流を印加し、又、必要以上の時間通電する必要が生
じ、LEDアレイ1aの寿命を短縮させる。又、ロッド
レンズ1b。
光電変換素子2の汚れおよび感光体ドラム表面の傷など
の進行状況のチェックはしておらず、場合によってはl
lCDアレイ1aの温度上昇を生じ、経時劣化を早め、
又、特性の誤差等が生じる。
これに対し、光電変換素子2等にクリーニyグ装置を設
ける事、あるいは飛散トナーの影響がない部位に受光部
を設置すること等が考えられる。しかし、この場合には
、装置の複雑化あるいは大型化を招くと共にこれに伴う
コスト増大という新たな問題が生じ、又、クリー二/グ
ブレード等による感光体ドラム表面の傷等の影響により
見かけ上の受光量が減少する等の問題点は残されたまま
でちる。
発明の目的 本発明は、発光素子アレイと共に密閉した第1の光電変
換素子の出力と、密閉してない第2の光電変換素子の出
力とを比較し、光電変換素子及びロッドレンズ等の汚れ
および感光体ドラム表面の傷等の状況を検知するように
した発光素子アレイ光量検出装置を提供することを目的
とする。
発明の構成 本発明は、発光素子アレイと、この発光素子アレイの漏
洩光を受光する第1の光電変換素子と、上記発光素子ア
レイと第10光電変換素子との周囲を覆う防塵部材と、
上記発光素子アンイと光学的に配置されたロッドレンズ
と、とのロッドレンズを通過した光により潜像を形成す
る感光体ドラムとを有する発光素子アレイ光量検出装置
にあって、第1の光電変換素子の出力により発光素子ア
ンイの発光量を調整する制御手段と、上記ロッドレンズ
を通過した光が上記感光体ドラムにより反射する光を受
光する第2の光電変換素子と、第10光電変換素子の出
力と第2の光電変換素子の出力とを比較する手段と、こ
の比較手段の出力により画者の比較結果を検知する手段
とを備えることを要旨とする。防塵部材は、第1の光電
変換素子へのトナーの付着を防止し、この第1の光電変
換素子の出力は、発光素子アレイの光量を調整すると共
に、密閉されない第2の光電変換素子の出力との比較に
より、ロンドレンズ、感光体ドラム等の汚れおよび感光
体ドラム表面の傷等の状況を検出する。
実施例の説明 第2図、第3図を基に本発明の一実施例を説明する。
第2図は、本発明の一実施例による発光素子アレイの代
表的なLEDアレイの光量検知装置の概略構成を示す図
であり、6は発光素子アレイとして代表的な一例のLE
Dアレイヘッド、6aは感光体へ向けて光を照射するL
EDアレイ、5bは上記光を感光体上へ集束させるロッ
ドレンズ、5dはLEDアンイ5aの漏洩光を受光する
第1の光電変換素子、5Cは感光体の度射光を受光する
第2の光電変換素子、6は第1の光電変換素子5aの出
力により LEDの発光量を調整・制御する手段、即ち
LEDアレイ電流印加制御回路(以下、制御回路という
)、7は第1の光電変換素子5dの出力と第2の光電変
換素子5Cの出力との比較手段である比較回路、8は比
較回路7の出力により第1の光電変換素子5dの出力と
第2の光電変換素子5Cの出力との比較結果を検知する
手段でるる表示器、9は感光体ドラムである。LEDア
レイ5a、ロッドレンズ5b、第1の光電変換素子5d
、第2の光電変換素子5C,感光体ドラム9は光学的に
配置されている。LED7レイ51L、第1の光電変換
素子6cは、LEDアレイヘッド5の側断面図である第
3図に示すように、防塵部材、即ち遮断カバー14で覆
われている。LEDアレイ5Δおよび遮断カバー14は
LED基板16に固定される。制御回路6は、感光体ド
ラム9の近傍に設置し、端子6已から入力する画信号と
、第1の光電変換素子5dからのフィードバック信号と
により所定記録((必要なLEDアレイ5乙の発光量に
対応する信号を発生する。
次に動作を説明する。LEDアレイ5aで発する照射光
は、ロッドレンズ5bを経由し、感光体ドラム9に照射
される。又、LEDアレイ5aの照射光のうち、感光体
ドラム9に照射されない漏洩光りは、第1の光電変換素
子5dに受光され、電気信号として制御回路6にフィー
ドバックする。この時、第1の光電変換素子5dは遮断
カバー14により外部と遮蔽されているため、LEDア
レイ5?Lが常に安定した光量を発生するように調整・
制御が行われる。
このため、LEDアレイに過大な電流を印加したシ、又
、必要以上の時間通電することがなく、LEDアレイの
寿命を短縮することがない。一方、ロッドレンズ5bを
通過した光は、感光体ドラムって反射し、第2の光電変
換素子5Cに入力し、電気信号に変換・出力される。こ
の出力信号は第1の光電変換素子6dの出力と比較回路
7で比較され、その比較結果に応じて、表示器8を作動
させる。
なお、本実施例では説明しなかったが、LEDアレイの
制御は、LED素子毎に行なっても、又、一般にLED
アレイは複数個のチップによυ構成されているが、この
ことを利用し、チップ毎に行っても、又、さらに複数の
チップを集合し複数のブロックを形成し、ブロック毎に
行なっても良い。
発明の効果 本発明によれば、第1の光電変換素子にトナーが付着し
ないように周囲に防塵部材と、感光体ドラムの反射光を
受光する第2の光電変換素子と、第1の光電変換素子の
出力と第2の光電変換素子の出力とを比較する手段と、
比較結果を検出する手段とを設けたので、感光体ドラム
等の汚れおよび感光体ドラム表面の傷等の状況をチェッ
クでき、ひいてはクリーニング、取替等の改善処置を適
切に行なえ、LEDアレイ、すなわち発光素子アレイの
経時劣化を防止したシ、特性の誤差を最小に抑えられる
という優れた効果が得られるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のLEDアレイ光量検呂装置の構成図、第
2図は本発明の一実施例によるLEDアンイ光量検出装
置の構成図、第3図は第2図に示すLEDアレイヘッド
の側断面図である。 5a・・・・・・LEDアレイ、5b・・・・・・ロッ
ドレンズ、6C・・・・・・第20光電変換素子、5d
・・・・・・第1の光電変換素子、6・・・・・・LE
Dアレイ電流印加制御回路(LEDアレイ発光量調整制
御手段)、7・・・・・・比較回路(比較手段)、8・
・・・・・表示器(検知手段)、9・・・・・・感光体
ドラム、14・・・・・・遮断カバー(遮断部材)。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第2
図 Δ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発光素子アレイと、発光素子アレイを駆動する発
    光素子アレイ電流印加制御手段と、上記発光素子アレイ
    の漏洩光を受光する第1の光電変換素子と、上記発光素
    子アレイと第1の光電変換素子との周囲を覆う防塵部材
    と、上記発光素子アレイと光学的に配置されたレンズ系
    と、このレンズ系を通過した光により潜像を形成する感
    光体ドラムとを有する発光素子アレイ光量検出装置であ
    って、上記レンズ系を通過した光による上記感光体ドラ
    ムの反射光を受光する第2の光電変換素子と、第1の光
    電変換素子の出力と第2の光電変換素子の出力とを比較
    する手段と、この比較手段の出力により両者の比較結果
    を検知する手段とを備え、上記レンズ系、感光体ドラム
    等の汚れ等を検知することを特徴とする発光素子アレイ
    光量検出装置。
  2. (2)第1の光電変換素子の出力を発光素子アレイ電流
    印加制御手段にフィードバック入力し、発光素子アレイ
    の発光量を調整・制御することを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の発光素子アレイ光量検出装置。
JP59171993A 1984-08-18 1984-08-18 発光素子アレイ光量検出装置 Pending JPS6150156A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62269154A (ja) * 1986-05-16 1987-11-21 Sharp Corp 複写紙の搬送装置
JPS6320158U (ja) * 1986-07-23 1988-02-09
JPS6488574A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Ricoh Kk Static elimination lamp
JPH09133628A (ja) * 1995-11-12 1997-05-20 Terametsukusu Kk 複合素子を内蔵した光源を持つ分析装置
JP2001092316A (ja) * 1999-09-20 2001-04-06 Murata Mach Ltd 画像形成装置
JP2018138902A (ja) * 2017-02-24 2018-09-06 株式会社キーエンス 外観検査装置及び外観検査用照明装置

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