JPS6150042A - ガス状全水銀の連続分析法 - Google Patents

ガス状全水銀の連続分析法

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JPS6150042A
JPS6150042A JP59172791A JP17279184A JPS6150042A JP S6150042 A JPS6150042 A JP S6150042A JP 59172791 A JP59172791 A JP 59172791A JP 17279184 A JP17279184 A JP 17279184A JP S6150042 A JPS6150042 A JP S6150042A
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
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    • G01N21/3103—Atomic absorption analysis

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、汚泥や廃棄物の処理、′：ｆｉ屈の精錬　−
と加工、燃料の燃焼、工業品の製造及び薬品の製造等に
於けるガス状全水銀の連続分析法に関するものである。
（ロ）従来の技術 従来、ガス状水銀の分析は一般にＪＩＳＫ−０２２２−
１９８１に規定されている方法により行われている。
又、最近ガス状水銀の蓮続分析法の開発が試みられるよ
うになり例えば、現代化学第１５５号４６頁（２月号）
１９８４年には、清掃工場に於ける焼却炉排ガス中の水
銀分析法の概要が発表されている。
（ハ）発明が解決しようとする問題点 ＪＩＳＫ−０２２２−１９８１の方法は、排ガス中のガ
ス状水銀を吸収液（過マンガン酸カリウムと硫酸との混
合溶液）に一定時間補集し、実験室に持帰った後吸収液
から水銀を追出し、その水銀をフレームレス原子吸光分
析装置により分析するものである。
この方法による測定結果は、当然の事ながら試料ガス補
集時間（通常１０〜３０分）の平均？′農度であり、瞬
時値を与えるものではない。従って、例えば各種薬品の
製造工程解析等に於ける水銀台をガス中の水銀濃度の連
続分析、清掃工場等に於ける排ガス中の水銀濃度がばら
つく原因、更には水銀汚染の原因物質の検討を進める為
には、この測定方法では不充分である。
又、現代化学第１５５号４６＠（２月号）１９８４年の
方法は、清掃工場に於ける焼却炉排ガスを除湿した後、
加熱炉で７００〜８００°Ｃに加熱し、分析計に扉いて
いる。分析計としては、実験室で用いるフレームレス原
子吸光分析ＷＺを使用しており、第２図はその分析シス
テムである。
本発明者等はこの方法によるガス状全水銀の連続分析法
について次の如く検討した。即ち、清掃工場に於ける焼
却炉排ガスを空冷及び水冷により除湿後常温での乾燥ガ
スとなし、加熱炉で７００〜８００°Ｃに加熱し、フレ
ームレス原子吸光分析装置に導き分析したところ、排ガ
ス中に含まれる全水銀の約８５％がドレイン中に移行し
、常温での乾燥ガス中には全水銀の約１５％しか存在し
ない事を発見した。又、ドレイン中の水銀の形態は、例
えば塩化物、酸化物等の化合物水銀のみであり、常温で
の乾燥ガス中の水銀の形態は金属水銀のみである事も見
出した。
従って、不法は水銀含有ガス中の金属水銀の連続分析に
は適用出来るが、ガス状全水銀の連続分析法としては問
題がある事を見出した。
（ニ）問題点を解決するための手段 本発明者等は、上述の分析方法の欠点を改良すべく鋭意
努力した結果本発明を完成したものである。
即ち、本発明は水銀含有ガスをフィルター等を通して取
出し、必要に応じ加熱後還元触媒により水銀含有ガス中
の化合物水銀を金属水銀とし、この生成金属水銀と本来
ガス中に含まれている金属水銀とが一緒になった金属水
銀含有ガスを冷却器で冷却し常温での乾燥ガスとなし、
フレームレス原子吸光分析装置に導き水銀含有ガス中の
全水銀を連続的に分析する方法に関するものである。
還元触媒としては金属錫、金属亜鉛等が使用出来る。水
銀合作ガスの処理温度は還元触媒の種類により異なるが
２００〜７００°Ｃが好ましく、触媒が水銀とアマルガ
ムを生成しない温度を選定する必要がある。
又、水銀含有ガス中の塩化水素、硫黄酸化物、窒素酸化
物、炭酸ガス等は本発明の分析法には悪影響を与えない
。
第１図は、本発明に係る分析システムの１例を示す構成
図である。
本発明の連続分析方法を第１図に基づいて説明すると、
石英グラスウールフィルター１を通して水銀合作ガス中
の粉塵等を除去し、必要に応じ温度調整器１５を備えた
加熱炉２で加熱後、温度調整器１２で所定温度に制御さ
れた還元触媒充填反応器３に導き水銀含有ガス中の化合
物水銀を金属水銀に還元する。次に、この金属水銀含有
ガスは空冷器−４及び水冷器５で冷却され常７１１１１
での乾燥ガスとなり、祷縮物は気液分離器６で分離され
ポンプ１３により廃棄される。吸引ポンプ７で常温の金
属水銀含有乾燥ガスを吸引し、ニードル弁８でその流量
を調節する。ベースライン設定器１４及び三方弁９によ
りフレームレス原子吸光水銀分析装置ｌＯに常温の金属
水銀含有乾燥ガスとベースライン設定器よりの空気とを
交互に導入する。空気は吸引ポンプ１６により供給され
る。ガス流量計１１により金属水銀含有乾燥ガスとベー
スライン設定器よりの空気の流量を監視する。
（ホ）実施例 清掃工場に於ける温度２００〜２５０°Ｃの焼却炉排ガ
スを第１図に示す分析システムで分析した。
分析条件は次の通りである。還元触媒として粒直径約３
　＋ｕの金属錫３ｍｌを、８龍ΦＸ６０朋りの反応器に
充填して使用した。加熱炉温度は６００±１０°Ｃ１反
応器温度は２００　’Ｃ±５°Ｃに制？、［Ｉ　した。
金属水銀含有ガスは空冷器及び水冷器で冷却し約１０’
Ｃの水蒸気飽和ガスとした。流量計流量は１〜２ｊ２／
ｍｉｎに制御し、コールマン社製ＭＡＳ−５０型フレー
ムレス原子吸光水銀分析装置で連続分析を行った。
本発明の実施例及び加熱炉と金属錫充填反応器を使用し
ない場合の比較例の結果を併せて表１に示した。
（へ）発明の効果 本発明はガス状全水銀の分析が連続的に行え、而も迅速
性、信頼性のある結果が得られる。
又、水銀含有ガスを還元触媒充填反応器に導かないで分
析をを行うと、（ハ）発明が解決しようと表１ ＊　単位ｒｎ　ｇ　Ｘ　Ｉ　Ｑ　−’　／　ｍ３＊＊Ｊ
ＩＳＫ−０２２２−１９８１の分析法を適用した。
する問題点で述べた如く水銀含有ガス中に本来含まれて
いる金属水銀のみが分析出来る。従って本発明と組合せ
ると水銀含有ガス中の全水銀のみならず金属水銀、化合
物・水銀の分別定量が可能となる。
更に、本発明は実施例の清掃工場に於ける焼却炉排ガス
のみならず金属の精錬と加工、燃料の燃焼、工業品の製
造、薬品の製造等に於けるガス状全水銀の連続分析に適
用出来る事は言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
第１図は、本発明に係る分析システムの１例を示す構成
図である。図中１は石英グラスウールフィルター、２は
加熱炉、３は還元触媒充填反応器、４は空冷器、５は水
冷器、６は気液分離器、７は吸引ポンプ、８はニードル
弁、９は三方弁、１０ばフレームレス原子吸光水銀分析
装置、１１はガス流量計、１２は温度調整器、１３はポ
ンプ、１４はベースライン設定器、１５は温度調整器、
１６は吸引ポンプである。 第２図は現代化学第１５５号４６頁（２月号）１９８４
年の分析システムである。図中１７はは煙突、１８はフ
ィルター、１９は除湿器、２０は加熱炉、２１はフレー
ムレス原子吸光分析装置、２２はポンプ、２３はガス流
量計である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １、ガス状全水銀を連続分析するに際して、必要に応じ
    水銀含有ガスの加熱を行った後、水銀含有ガスを還元触
    媒で処理し水銀含有ガス中の化合物水銀を金属水銀に還
    元する事を特徴とするガス状全水銀の連続分析法
JP59172791A 1984-08-20 1984-08-20 ガス状全水銀の連続分析法 Granted JPS6150042A (ja)

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EP85110109A EP0172521B1 (en) 1984-08-20 1985-08-12 Method for continuously analysing total gaseous mercury
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