JPS6149683B2 - - Google Patents

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JPS6149683B2
JPS6149683B2 JP17163179A JP17163179A JPS6149683B2 JP S6149683 B2 JPS6149683 B2 JP S6149683B2 JP 17163179 A JP17163179 A JP 17163179A JP 17163179 A JP17163179 A JP 17163179A JP S6149683 B2 JPS6149683 B2 JP S6149683B2
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JP
Japan
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signal
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operation signal
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JP17163179A
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English (en)
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JPS5694402A (en
Inventor
Kazuo Hiroi
Tetsuo Ai
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は1個の調節計出力をスプリツト(分
割)して2つの系統を制御するスプリツト制御装
置に係り、特に調節計の偏差の大きさに応じて操
作信号を強制修正するスプリツト制御装置に関す
る。
室内の温度を調節するプロセス制御系では、冷
却と加熱制御が必要であり、湿度を調節制御する
プロセス制御系では、除湿と加湿制御が必要であ
り、また成分中PHの調節制御を行なうプロセス制
御系では、酸とアルカリの注入制御が必要であ
る。
一般的に、かかるプロセス変数を調節する場
合、1個の調節計を用いてその出力を2つにスプ
リツトし、例えば温度調節制御では、そのスプリ
ツト出力値を冷却および加熱制御に用いている。
以下、室内温度を調節する従来のプロセス制御
系について第1図を参照して説明する。先ず、加
熱用温ブラインは、温ブライン配管1および調節
弁2を介して部屋3の中の熱交換器4に入れ、こ
こで部屋3を温めてリターンさせる。また、冷却
用冷ブラインは、冷ブライン配管5および調節弁
6を介して部屋3の中の熱交換器7に入れ、ここ
で部屋3を冷却してリターンさせている。
これらのブライン調節弁2,6の調節制御は次
のようにして行なう。即ち、部屋3内に設置せる
温度検出器8で部屋3の温度を検出して温度調節
計9に導き、ここで温度検出値と温度設定値とを
比較し、温度設定値に近づけるべく調節演算を行
なつて調節計出力信号I0を求める。そして、この
調節計出力信号I0をスプリツト配置してなる2つ
の信号分割演算部10,11に供給する。この場
合、一方の信号分割演算部10は、調節計出力信
号I0を受けると、下式の演算を行なつて操作信号
Aを得る。
A=0(但し、I0<H1の時) …………(1) IA=I−H/H−H×100%(但し、I0≧H1
時)…… ……(2) つまり、信号分割演算部10は、(1)式又は(2)式
の演算を行なつて操作信号IAを得た後、この信
号IAを温ブライン調節弁2に供給して空気変換
した後、この空気を用いて、弁開度を制御する。
また、他方の信号分割演算部11は、同じく調
節計出力信号I0を受けると、下式の演算を行なつ
て操作信号IBを得る。
B=0(但し、I0>L1の時) …………(3) IB=I−L/L−L×100%(但し、I0≦L1
時)……… …(4) つまり、信号分割演算部11は、(3)式又は(4)式
の演算を行なつて操作信号IBを求めた後、この
信号IBを冷ブライン調節弁6に供給して空気変
換した後、この空気を用いて弁開度を制御してい
る。
しかし、以上のようなプロセス制御系において
温度をプログラム制御するものでは、温度設定値
の勾配が変つた場合に必ずオーバーシユートする
問題がある。その理由は、温度設定値の上昇時は
積分とか微分特性が効いているので、先行予測を
行なつて調節計出力信号を出していてもプログラ
ムの温度設定値が一定となつた時、調節計出力信
号が不定位となり、このため温度調節計9の比較
偏差が零となつても加熱制御は直ちに零にならな
い。従つて、オーバーシユートすることになる。
また、外乱があつた場合でも、偏差零時、加熱
および冷却制御を零としなければならないが、プ
ロセス制御系自身積分特性等をもつているため、
その積分および微分動作によつて必らずしも零と
はならない。このため、無駄に制御し、プロセス
制御系の安定に比較的長時間を要する欠点があ
る。
本発明は上記実情にかんがみてなされたもので
あつて、調節計の偏差の大きさに応じてスプリツ
トした調節計出力信号を強制的に修正し、積分特
性等を持つプロセス制御系の不都合をなくして最
適制御を行なうようにするスプリツト制御装置を
提供するものである。
以下、本発明の一実施例について第2図を参照
して説明する。なお、第2図において第1図と同
一部分は同一符号を付して説明する。第2図にお
いて特に第1図と異なるところは、信号分割演算
部10,11と調節弁2,6との間に、温度調節
計9での偏差に応じて信号分割演算部10,11
の操作信号に偏差補正係数を乗ずる演算部を介在
させたものである。以下、第2図について具体的
に述べる。温プラインは、温ブライン配管1およ
び3方弁等の調節弁2を介して部屋3の熱交換器
4に入れ、ここで部屋3を温めてリターンさせ
る。冷ブラインに関しても同様であつて、冷ブラ
イン配管5および3方弁等の調節弁6を介して前
記部屋3の熱交換器7に入れ、ここで部屋3を冷
却してリターンさせている。8は温度検出器であ
つて部屋3の適宜な個所に設置する。9は温度調
節計を示し、これは温度検出器8の温度検出値と
温度設定値とを比較しその偏差が零に近づくよう
にPID調節演算を行なつて調節計出力信号I0を求
めた後、信号分割演算部10,11にスプリツト
して供給する。この信号分割演算部10は調節計
出力信号I0が0〜H1間で零出力値、H1〜H2間で
上昇出力値を示すような操作信号IAを得る。一
方、信号分割演算部11は調節計出力信号I0がL2
〜L1間で下降出力値、L1〜100%(=I0)間で零出
力値を示すような操作信号IBを得る。
なお、信号分割演算部10,11は、温度調節
計9の調節計出力信号I0を受けて設定値H1
H2、L1、L2の下に操作信号IA,IBを決定する
が、これらの設定値は部屋3や温・冷ブライン等
の環境条件、温度特性に応じ、バランス点を考慮
して設定されている。21,22は温度調節計9
における温度検出値と温度設定値との偏差値から
偏差補正係数を求める補正係数演算部である。補
正係数演算部21は正偏差における偏差設定値h1
〜h2間で0〜1.0の範囲で偏差補正係数ICを求め
た後乗算部23に入れて操作信号IAと乗算させ
る。つまり、補正係数演算部21は操作不要領域
である偏差設定値0〜h1で操作信号IAを強制的
に零とし、微分および積分特性の影響の現われで
ある偏差設定値領域h1〜h2で0〜1.0範囲の偏差
補正係数を与えて操作信号IAを低下させ、更に
偏差が大きく本来のプロセス制御を必要とする領
域では1.0の偏差補正係数を与えて操作信号IA
そのまま出力する。補正係数演算部22も同様に
演算を行なつて偏差補正係数IEを求め、乗算部
24にて操作信号IBと乗算する。前記偏差設定
値h1、h2、l1、l2は、ブラントの条件、周囲環
境、温・冷ブラインおよび部屋3の温度特性、積
分要素等を考慮して定められるものである。従つ
て、IA,IBは乗算部23,24で偏差補正係数
C,IEと乗算し、操作信号ID,IFとして調節
弁2,6に供給する。この調節弁2,6は操作信
号ID,IFを空気に変換し3方弁に加える。2
a,2b,6a,6bは空気配管、2c,6cは
フイルタ付き減圧弁である。
次に、第2図に示す装置の動作を説明する。部
屋3の温度を温度検出器8で検出し、その温度検
出値を温度調節計9に供給する。この温度調節計
9は温度検出値と温度設定値とを用いて演算し、
温度設定値に近づけるべく調節計出力信号I0を求
めて信号分割演算部10,11に供給する。この
信号分割演算部10,11では、前記(1)式〜(4)式
の演算を行なつて操作信号IA,IBを出力する。
そして、この操作信号IA,IBを乗算部23,2
4に供給する。
一方、温度調節計9において温度検出値と温度
設定値とから求めた偏差値eは補正係数演算部2
1,22に入力され、ここで偏差設定値h1、h2
l1、l2に基づいて偏差補正係数を求める。この補
正係数演算部21は、負偏差値および正偏差値の
0〜h1において偏差補正係数ICを零とし、また
h1〜h2では0から1.0に徐々に偏差補正係数IC
上昇させ、さらに偏差値eがh2以上の時に偏差補
正係数ICを1.0とする。一方、補正係数演算部2
2は、正偏差値および0〜l1において偏差補正係
数IEを0とし、またl1〜l2では0から1.0に徐々
に偏差補正係数IEを上昇させ、さらに偏差値e
がl2以上の時に偏差補正係数IEを1.0とする。つ
まり、補正係数演算部21は、 IC=0(e≦h1の時) …………(5) IC=e−h/h−h(h1≦e≦h2の時)
………(6) IC=1.0(e>h2の時) …………(7) なる演算を行なつて偏差補正係数ICを求め、こ
れを乗算部23に入れて操作信号IAと乗算し、
Dなる操作信号を得て温ブライン調節弁2を制
御している。
一方、補正係数演算部22は、 IE=0(e>l1の時) …………(8) IE=e−l/l−l(l2≦e≦l1の時)
………(9) IE=1.0(e<l2の時) …………(10) なる演算を行なつて偏差補正係数IEを求め、こ
れを乗算部24に入れて信号分割演算部11の操
作信号IBと乗算し、IFなる操作信号を得て冷ブ
ライン調節弁6を制御している。
ところで、第3図に示すように例えば急冷すべ
くプログラム設定値をステツプ状に変化させた場
合には、温度調節計9が設定値にプロセス検出値
を追従させるために両者の偏差eにPID演算を施
し、この演算I0に基づき信号分割演算部10,1
1が操作信号IA(=0)、IB(=I−L/L
×100 %)を求め、このIA,IBに補正係数演算部2
1,22が前記偏差eに基づき求めた偏差補正係
数IC(=0)、IE(=1)を乗算してID(=
0)、IF(=IB)なる操作信号を調節弁2,6
に出力し、冷ブラインを部屋3に供給する。
この冷ブラインによつて部屋3は急激に冷却さ
れ、温度検出器8からプロセス検出値は設定値に
近づく。そして両者の偏差eが偏差設定値l2以下
になると補正係数演算部22の偏差補正係数IE
はe−l/l−lとなり、I0は制限されIFとし
て出力され る。このIFによる冷ブラインによつて、さらに
プロセス検出値は徐々に設定値に近づき、偏差e
がl1以下になると偏差補正係数IEは0となる。
この時点で調節計9から出力にかかわらず操作出
力IFは強制的に0となり、冷ブラインは供給さ
れなくなる。
しかし、部屋3は熱容量(積分容量)が大きい
プロセスであるため、冷ブラインを停止した後で
も、プロセスのむだ時間の影響により検出遅れが
生じ、プロセス検出値は若干変化を持続してから
整定状態になる。この整定状態におけるプロセス
検出値はl1、l2(h1、h2)の偏差設定値によつて決
定されるもので、通常この偏差設定値は変化した
後のプログラム設定値をオーバーシユートしない
限界値に調節され、温ブラインを供給してオーバ
ーシユートを減少されるようなことを回避してい
る。
ところが、この限界の偏差(負の方向)eが整
定状態として維持されると、この偏差eは温度調
節計9で積算されつづけ積分飽和の原因と考えら
れる。しかしこのことは通常のプロセスではプロ
グラム設定値の変更や外乱による変動の影響によ
り積分の加減がなされるため生じ得ないが、万一
発生した場合でも、積分容量の大きいプロセスで
はむだ時間が長いため、調節計の積分飽和がリセ
ツトされるまでの時間は無視することができる。
すなわち、このことが問題となるのは、積分飽和
により調節計9の出力I0が0%になつてしまつて
いる状態(この状態でも偏差eはl1以下なのでI
Fは0である。)のときに、プログラム設定値が急
熱状態に変化した場合である。この設定値変化よ
り生じる偏差(正の方向)eが加算され飽和はリ
セツトされて行くが、偏差eが正方向であるため
E=0となり冷ブライン用操作信号IFは出力さ
れず、また調節計9からの出力I0がH1以上になる
まで温ブライン用操作信号IDも出力されないこ
とになる。しかし、この間にプロセス検出値とプ
ログラム設定値との偏差eは積分され、調節出力
I0がH1以上になるまでの時間はプロセスのむだ時
間に比べ小さいため、制御上問題となることは少
ない。
しかし、このような積分飽和による影響を避け
るためには、外乱、又は設定値が定常状態にあ
り、かつプロセス検出値が整定した段階で、積分
を強制的にリセツトする如く構成するか、l1l2
(h1h2)の偏差設定値を、若干オーバーシユート
(即ちh1以下に)させる如く調節しておけばよい
ことになる。
なお、上記実施例は、アナログ式の場合を例に
とつて説明したが、デイジタル式の場合のソフト
ウエア処理であつてもその要旨を逸脱しない範囲
で適用できるものである。また、温度制御に関し
説明したが、制御対象は特に限定されないことは
言うまでもない。
以上、詳記したように本発明によれば、信号分
割演算部の操作出力信号を、不要領域では強制的
に零とし、完全に制御必要領域ではそのまま生か
し、上記両者の中間領域では検出値および設定値
の偏差の大きさに応じて強制修正するようにした
ので、積分等の特性を有するプロセス制御系でも
最適調整をすることが可能であり、オーバーシユ
ートの防止および外乱に対する制御性の向上を図
ることができ、エネルギーの無駄を防止し得るス
プリツト制御装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の構成図、第2図は本発明に
係るスプリツト制御装置の一実施例を示す構成
図、第3図及び第4図は偏差と偏差設定値との関
係を示す図である。 2,6……調節弁、3……部屋、4,7……熱
交換器、9……調節計、10,11……信号分割
演算部、21,22……補正係数演算部、23,
24……乗算部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 プロセス変数を検出しこの検出値がプロセス
    設定値に近づくような信号を求めて出力するプロ
    セス調節計と、このプロセス調節計からの信号を
    その値に応じて前記プロセス変数を増加させる操
    作信号および前記プロセス変数を減少させる操作
    信号に強制修正する第1および第2の分割演算部
    とを備え、積分容量の大きなプラントに対して制
    御を施すスプリツト制御装置において、 前記第1および第2の分割演算部の出力端にそ
    れぞれ接続され、各々前記プラントの積分容量等
    に基づき第1および第2の偏差設定値が設定さ
    れ、前記プロセス調節計に入力される前記検出値
    と設定値との偏差の絶対値が第1の偏差設定値よ
    り小さい場合前記操作信号を強制的に零とする偏
    差補正係数を、前記偏差の絶対値が第1の偏差設
    定値以上第2の偏差設定値以下の場合前記操作信
    号を前記偏差に応じて制限する偏差補正係数を
    各々対応する前記操作信号に乗ずる第1および第
    2の補正係数演算部とを備え、これら乗算によつ
    て得られた各操作信号を用いて複数の操作端をそ
    れぞれ制御することを特徴とするスプリツト制御
    装置。
JP17163179A 1979-12-27 1979-12-27 Split control device Granted JPS5694402A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS58142401A (ja) * 1982-02-18 1983-08-24 Yokogawa Hokushin Electric Corp スプリット制御装置
JPS63199301U (ja) * 1988-03-02 1988-12-22

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JPS5694402A (en) 1981-07-30

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