JPS6148663B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6148663B2 JPS6148663B2 JP53130980A JP13098078A JPS6148663B2 JP S6148663 B2 JPS6148663 B2 JP S6148663B2 JP 53130980 A JP53130980 A JP 53130980A JP 13098078 A JP13098078 A JP 13098078A JP S6148663 B2 JPS6148663 B2 JP S6148663B2
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- Japan
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- circuit
- output
- signal
- analog
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は超音波探傷器において、試験材の欠
陥エコーの最大振幅値を電気信号としてアナログ
出力する超音波探傷アナログ出力装置の改良に関
する。
陥エコーの最大振幅値を電気信号としてアナログ
出力する超音波探傷アナログ出力装置の改良に関
する。
従来この種の装置ではランダムノイズを除去す
る方法として、リジエクシヨンをかけてそのリジ
エクシヨンレベル以下のランダムノイズを除去す
る方法がとられていた。
る方法として、リジエクシヨンをかけてそのリジ
エクシヨンレベル以下のランダムノイズを除去す
る方法がとられていた。
ところが、この方法によればランダムノイズを
除去するためリジエクシヨンをかけると増幅直線
性が悪くなり、アナログ出力信号の大きさと試験
材の欠陥エコーの大きさとの相関関係が悪くな
り、欠陥の大きさ判定の評価が困難となる。ま
た、リジエクシヨンレベル以上のランダムノイズ
を除去することができない、という欠点を有す
る。
除去するためリジエクシヨンをかけると増幅直線
性が悪くなり、アナログ出力信号の大きさと試験
材の欠陥エコーの大きさとの相関関係が悪くな
り、欠陥の大きさ判定の評価が困難となる。ま
た、リジエクシヨンレベル以上のランダムノイズ
を除去することができない、という欠点を有す
る。
この発明はかかる欠点を除去するもので、ラン
ダムな小ノイズおよび大ノイズに対して増幅直線
性を損わずに、真の欠陥信号の最大振幅値のアナ
ログ出力信号を得る超音波探傷アナログ出力装置
を提供しようとするものである。
ダムな小ノイズおよび大ノイズに対して増幅直線
性を損わずに、真の欠陥信号の最大振幅値のアナ
ログ出力信号を得る超音波探傷アナログ出力装置
を提供しようとするものである。
この発明による最大アナログ値の抽出方法は、
入力信号（欠陥ビデオ信号）のうちランダムに入
力してくる信号をノイズとして排除し、周期的に
連続して入つてくる信号のみを真の欠陥ビデオ信
号として採用し、このビデオ信号の中から最大値
を取り出す、という方法による。
入力信号（欠陥ビデオ信号）のうちランダムに入
力してくる信号をノイズとして排除し、周期的に
連続して入つてくる信号のみを真の欠陥ビデオ信
号として採用し、このビデオ信号の中から最大値
を取り出す、という方法による。
以下この発明の一実施例を図面に基づきながら
説明する。第１図はこの実施例のブロツク図で、
第２図は第１図のブロツク図の各部のタイミング
チヤートを示す。
説明する。第１図はこの実施例のブロツク図で、
第２図は第１図のブロツク図の各部のタイミング
チヤートを示す。
第１図において、１はゲーテツドビデオ回路
で、ゲート信号Ｇの入力によりセツト状態にな
り、入力ビデオ信号を出する。２はカウント比較
判定回路で、ゲート信号Ｇの入力によりセツト状
態になり、ゲーテツドビデオ回路１の出力信号を
所定のカウントレベルOLとその大きさを比較し
て、出力する。３はカウンタ回路で、カウント比
較判定回路２の出力信号の入力によりセツト状態
になり、同期信号Ｓの立上りをとらえてカウント
する。カウンタの数を任意の数、例えば“４”に
設定することにより、そのカウンタ数以上のカウ
ンタ状態にあるとき出力が得られるものとする。
４はフリツプフロツプ回路で、カウント比較回路
２の出力によつてセツト状態となり、カウンタ回
路３の出力が入力することにより出力が得られ
る。５は第１ピークホールド回路で、ゲート信号
Ｇの入力によりセツト状態となり、ビデオ信号の
ピーク値をホールドし、同期信号Ｓの立上りでリ
セツトされる。６は第１のアナログスイツチで、
後述する単安定回路１１の出力によつてONす
る。７は第２ピークホールド回路で、第１のアナ
ログスイツチ６がONしたとき、第１ピークホー
ルド回路５のホールド電圧をホールドする。８は
比較判定回路で、第１ピークホールド回路５のホ
ールド電圧と第２ピークホールド回路７のホール
ド電圧とを比較して、前者が後者よりも高電位な
らば高レベル電圧を出力する。９はアンド回路
で、カウント比較判定回路２の出力と比較判定回
路８の出力との論理積を求める。１０はインバー
タ回路で、入力信号の位相と逆位相の信号を出力
させる回路であり、カウント比較判定回路２の出
力信号と逆位相の出力信号を出力する。１１はア
ンド回路９またはインバータ回路１０の出力によ
り動作する単安定回路である。１２は第２のアナ
ログスイツチで、フリツプフロツプ回路４の出力
によつてONし、第２ピークホールド回路７のホ
ールド電圧を出力する。
で、ゲート信号Ｇの入力によりセツト状態にな
り、入力ビデオ信号を出する。２はカウント比較
判定回路で、ゲート信号Ｇの入力によりセツト状
態になり、ゲーテツドビデオ回路１の出力信号を
所定のカウントレベルOLとその大きさを比較し
て、出力する。３はカウンタ回路で、カウント比
較判定回路２の出力信号の入力によりセツト状態
になり、同期信号Ｓの立上りをとらえてカウント
する。カウンタの数を任意の数、例えば“４”に
設定することにより、そのカウンタ数以上のカウ
ンタ状態にあるとき出力が得られるものとする。
４はフリツプフロツプ回路で、カウント比較回路
２の出力によつてセツト状態となり、カウンタ回
路３の出力が入力することにより出力が得られ
る。５は第１ピークホールド回路で、ゲート信号
Ｇの入力によりセツト状態となり、ビデオ信号の
ピーク値をホールドし、同期信号Ｓの立上りでリ
セツトされる。６は第１のアナログスイツチで、
後述する単安定回路１１の出力によつてONす
る。７は第２ピークホールド回路で、第１のアナ
ログスイツチ６がONしたとき、第１ピークホー
ルド回路５のホールド電圧をホールドする。８は
比較判定回路で、第１ピークホールド回路５のホ
ールド電圧と第２ピークホールド回路７のホール
ド電圧とを比較して、前者が後者よりも高電位な
らば高レベル電圧を出力する。９はアンド回路
で、カウント比較判定回路２の出力と比較判定回
路８の出力との論理積を求める。１０はインバー
タ回路で、入力信号の位相と逆位相の信号を出力
させる回路であり、カウント比較判定回路２の出
力信号と逆位相の出力信号を出力する。１１はア
ンド回路９またはインバータ回路１０の出力によ
り動作する単安定回路である。１２は第２のアナ
ログスイツチで、フリツプフロツプ回路４の出力
によつてONし、第２ピークホールド回路７のホ
ールド電圧を出力する。
また、第２図において、Ｔは同期信号S1〜S2の
立上りに同期した送信ビデオ信号、N1，N2はラ
ンダムノイズ、F1〜F5は試験材からの欠陥ビデ
オ信号であり、これらの信号はいずれも受信器で
増幅および検波される。G1〜G9は同期信号T1〜
T9に同期した探傷用ゲート信号である。ここ
で、N1はカウントレベルCLより小さく、N2は大
きいものとする。また、F1〜F5はいずれもCLよ
り大きいものとする。
立上りに同期した送信ビデオ信号、N1，N2はラ
ンダムノイズ、F1〜F5は試験材からの欠陥ビデ
オ信号であり、これらの信号はいずれも受信器で
増幅および検波される。G1〜G9は同期信号T1〜
T9に同期した探傷用ゲート信号である。ここ
で、N1はカウントレベルCLより小さく、N2は大
きいものとする。また、F1〜F5はいずれもCLよ
り大きいものとする。
先ず、同期信号S1に同期したゲート信号G1に
ランダムノイズN1が入ると、ゲーテツドビデオ
回路１の出力Ａ点にN1が出力され、カウント比
較判定回路２でカウントレベルCLと比較される
が、N1がカウントレベルCLより小さくカウント
比較判定回路２は動作せず、Ｂ点には出力が現わ
れないので、カウンタ回路３はカウンタしない。
第１ピークホールド回路５ではこのN1のピーク
値を保持する。このときＢ点には出力がないた
め、AND回路９、インバータ回路１０、および
単安定回路１１はいずれも出力せず、第１アナロ
グスイツチ回路６は動作しないので、第２ピーク
ホールド回路７は第１ピークホールド電圧N1を
ホールドしない。
ランダムノイズN1が入ると、ゲーテツドビデオ
回路１の出力Ａ点にN1が出力され、カウント比
較判定回路２でカウントレベルCLと比較される
が、N1がカウントレベルCLより小さくカウント
比較判定回路２は動作せず、Ｂ点には出力が現わ
れないので、カウンタ回路３はカウンタしない。
第１ピークホールド回路５ではこのN1のピーク
値を保持する。このときＢ点には出力がないた
め、AND回路９、インバータ回路１０、および
単安定回路１１はいずれも出力せず、第１アナロ
グスイツチ回路６は動作しないので、第２ピーク
ホールド回路７は第１ピークホールド電圧N1を
ホールドしない。
次に同期信号S2の立上りで、第１ピークホール
ド回路５にホールドされていたN1がリセツトさ
れる。同期信号S2に同期したゲート信号G2にラ
ンダムノイズN2が入ると、ゲーテツドビデオ回
路１の出力点ＡにN2が出力され、カウントレベ
ルCLより大きいので、カウント比較判定回路２
の出力点Ｂにカウント出力が出力され、第１ピー
クホールド回路５にはN2のピーク値がホールド
される。第１ピークホールド回路５の出力点Ｃに
は、N2のピーク値が出力される。比較判定回路
８で、第１ピークホールド電圧と第２ピークホー
ルド電圧とを比較し、この場合、第１ピークホー
ルド電圧の方が大きいので、比較判定出力をアン
ド回路９へ送出する。また、Ｂ点には出力が現わ
れているので、アンド回路９を経由し、単安定回
路１１を動作させ、Ｄ点に単安定出力が送出さ
れ、第１アナログスイツチ６がONする。これに
より第１ピークホールド電圧がＥ点に出力され、
さらに第２ピークホールド回路７にピークホール
ドされ、Ｆ点に出力される。しかし、まだ第２ア
ナログスイツチ回路１２はOFFであるため、ア
ナログ出力信号として点Ｈには送出されない。
ド回路５にホールドされていたN1がリセツトさ
れる。同期信号S2に同期したゲート信号G2にラ
ンダムノイズN2が入ると、ゲーテツドビデオ回
路１の出力点ＡにN2が出力され、カウントレベ
ルCLより大きいので、カウント比較判定回路２
の出力点Ｂにカウント出力が出力され、第１ピー
クホールド回路５にはN2のピーク値がホールド
される。第１ピークホールド回路５の出力点Ｃに
は、N2のピーク値が出力される。比較判定回路
８で、第１ピークホールド電圧と第２ピークホー
ルド電圧とを比較し、この場合、第１ピークホー
ルド電圧の方が大きいので、比較判定出力をアン
ド回路９へ送出する。また、Ｂ点には出力が現わ
れているので、アンド回路９を経由し、単安定回
路１１を動作させ、Ｄ点に単安定出力が送出さ
れ、第１アナログスイツチ６がONする。これに
より第１ピークホールド電圧がＥ点に出力され、
さらに第２ピークホールド回路７にピークホール
ドされ、Ｆ点に出力される。しかし、まだ第２ア
ナログスイツチ回路１２はOFFであるため、ア
ナログ出力信号として点Ｈには送出されない。
同期信号S3の立上りでカウンタ回路は“１”を
カウントし、同時に第１ピークホールド回路５の
ホールド電圧N2をリセツトする。同期信号S3に
同期したゲート信号G3には、信号およびランダ
ムノイズともにないため、点Ａ，Ｃには出力がな
い。ゲート信号G3の終端（立上り）によりカウ
ント比較判定回路２をリセツトし、カウンタ回路
３のカウントを“０”にする。また、インバータ
回路１０を経由して単安定回路１１を動作させ、
第１アナログスイツチ回路６をONにし、第２ピ
ークホールド回路７にホールドされていたN2を
Ｃ点電圧、この場合はOVに強制する。
カウントし、同時に第１ピークホールド回路５の
ホールド電圧N2をリセツトする。同期信号S3に
同期したゲート信号G3には、信号およびランダ
ムノイズともにないため、点Ａ，Ｃには出力がな
い。ゲート信号G3の終端（立上り）によりカウ
ント比較判定回路２をリセツトし、カウンタ回路
３のカウントを“０”にする。また、インバータ
回路１０を経由して単安定回路１１を動作させ、
第１アナログスイツチ回路６をONにし、第２ピ
ークホールド回路７にホールドされていたN2を
Ｃ点電圧、この場合はOVに強制する。
同様に同期信号S4では、F1（カウントレベル
以上）を第２ピークホールド回路７にホールド
し、同期信号S5の立上りでカウンタ回路３のカウ
ンタが“１”にセツトされ、第１ピークホールド
回路５のホールド電圧F1をリセツトする。F2も
カウントレベルCL以上のため、Ｂ点はカウント
出力を維持している。第１ピークホールド回路５
にはF2のピーク値をホールドし、比較判定回路
８でこのF2のピーク値と第２ピークホールド回
路７でホールドされているF1のピーク値とを比
較する。この場合F2がF1より大きいため比較判
定回路８は動作し、アンド回路９を経由して単安
定回路１１が動作し、第１アナログスイツチ回路
ONする。これにより第２ピークホールド回路に
F2のピーク値がホールドされる。
以上）を第２ピークホールド回路７にホールド
し、同期信号S5の立上りでカウンタ回路３のカウ
ンタが“１”にセツトされ、第１ピークホールド
回路５のホールド電圧F1をリセツトする。F2も
カウントレベルCL以上のため、Ｂ点はカウント
出力を維持している。第１ピークホールド回路５
にはF2のピーク値をホールドし、比較判定回路
８でこのF2のピーク値と第２ピークホールド回
路７でホールドされているF1のピーク値とを比
較する。この場合F2がF1より大きいため比較判
定回路８は動作し、アンド回路９を経由して単安
定回路１１が動作し、第１アナログスイツチ回路
ONする。これにより第２ピークホールド回路に
F2のピーク値がホールドされる。
同期信号S6の立上りでカウンタ回路３のカウン
トは“２”にセツトされ、この場合F3がF2より
大きいため第２ピークホールド回路７にはF3の
ピーク値がホールドされる。
トは“２”にセツトされ、この場合F3がF2より
大きいため第２ピークホールド回路７にはF3の
ピーク値がホールドされる。
次に同期信号S7の立上りでカウンタ回路３のカ
ウンタは“３”にセツトされ、この場合F3がF4
より大きいため単安定回路１１は動作せず、第１
アナログスイツチ回路６はOFFのままで第２ピ
ークホールド回路７にはF3のピーク値がホール
ドされている。
ウンタは“３”にセツトされ、この場合F3がF4
より大きいため単安定回路１１は動作せず、第１
アナログスイツチ回路６はOFFのままで第２ピ
ークホールド回路７にはF3のピーク値がホール
ドされている。
同様に同期信号S6の立上りでカウンタ回路３の
カウンタは“４”にセツトされ、ここで、カウン
タ出力を“４”に設定しておけば、この時点でカ
ウンタ出力が送出され、フリツプフロツプ回路４
を動作させ、第２アナログスイツチ１２がON
し、第２ピークホールド回路７のF3ピーク値を
アナログ出力信号として点Ｈに出力する。F5は
カウントレベルCL以上ではあるが、F3より小さ
いためアナログ出力信号はF3のピーク値を出力
し続ける。当然F5がF3より大きいときは、F5の
出現時にF5のピーク値を出力する。
カウンタは“４”にセツトされ、ここで、カウン
タ出力を“４”に設定しておけば、この時点でカ
ウンタ出力が送出され、フリツプフロツプ回路４
を動作させ、第２アナログスイツチ１２がON
し、第２ピークホールド回路７のF3ピーク値を
アナログ出力信号として点Ｈに出力する。F5は
カウントレベルCL以上ではあるが、F3より小さ
いためアナログ出力信号はF3のピーク値を出力
し続ける。当然F5がF3より大きいときは、F5の
出現時にF5のピーク値を出力する。
同期信号S1に同期したゲート信号内には、信号
およびランダムノイズのいずれもないため、カウ
ント比較判定回路２およびフリツプフロツプ回路
４等がリセツトされ、Ｈ点にはアナログ出力信号
は出力されない。
およびランダムノイズのいずれもないため、カウ
ント比較判定回路２およびフリツプフロツプ回路
４等がリセツトされ、Ｈ点にはアナログ出力信号
は出力されない。
なお、上述においてカウンタ回路３のカウンタ
設定数は“４”に限定されるものではなく、任意
に設定でき、その数が大きくなるに従い、精度の
高いランダムノイズ排除機能を有することにな
る。
設定数は“４”に限定されるものではなく、任意
に設定でき、その数が大きくなるに従い、精度の
高いランダムノイズ排除機能を有することにな
る。
以上のように、この発明によれば簡易な構成で
ノイズを確実に排除し、精度の高い真の欠陥信号
の最大振幅値のアナログ出力信号が得られ、実用
上きわめて有用なものである。
ノイズを確実に排除し、精度の高い真の欠陥信号
の最大振幅値のアナログ出力信号が得られ、実用
上きわめて有用なものである。
第１図はこの発明の一実施例のブロツク図、第
２図は第１図の各部の動作をタイミングチヤート
である。 １……ゲーテツドビデオ回路、２……カウント
比較判定回路、３……カウンタ回路、４……フリ
ツプフロツプ回路、５……第１ピークホールド回
路、６……アナログスイツチ回路、７……第２ピ
ークホールド回路、８……比較判定回路、９……
アンド回路、１０……インバータ回路、１１……
単安定回路、１２……第２アナログスイツチ回
路。
２図は第１図の各部の動作をタイミングチヤート
である。 １……ゲーテツドビデオ回路、２……カウント
比較判定回路、３……カウンタ回路、４……フリ
ツプフロツプ回路、５……第１ピークホールド回
路、６……アナログスイツチ回路、７……第２ピ
ークホールド回路、８……比較判定回路、９……
アンド回路、１０……インバータ回路、１１……
単安定回路、１２……第２アナログスイツチ回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 超音波送信に同期した探傷用ゲートを有する
超音波探傷装置において、 送信毎に該ゲート内に受信された設定レベル以
上の受信信号の連続回数を積算し、所定数以上の
積算があつたとき該連続受信信号を真の欠陥エコ
ー信号であると判断するカウンタと、少なくとも
該連続受信信号のアナログピーク値のうち順次高
レベルのものを記憶する手段とを備え、前記カウ
ンタで真の欠陥エコー信号の判断があつたとき、
前記記憶アナログピーク値をアナログスイツチを
介して出力することを特徴とする超音波探傷アナ
ログ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13098078A JPS5558455A (en) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | Analogue output device for ultrasonic flaw detection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13098078A JPS5558455A (en) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | Analogue output device for ultrasonic flaw detection |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5558455A JPS5558455A (en) | 1980-05-01 |
| JPS6148663B2 true JPS6148663B2 (ja) | 1986-10-25 |
Family
ID=15047090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13098078A Granted JPS5558455A (en) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | Analogue output device for ultrasonic flaw detection |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5558455A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH068806B2 (ja) * | 1986-05-09 | 1994-02-02 | 日立建機株式会社 | 超音波測定装置 |
| JPH02173564A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-05 | Nippon Steel Corp | 超音波探傷装置 |
| JP2008215828A (ja) * | 2007-02-28 | 2008-09-18 | Jfe Steel Kk | 超音波計測装置および方法 |
-
1978
- 1978-10-26 JP JP13098078A patent/JPS5558455A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5558455A (en) | 1980-05-01 |
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