JPS6146763B2 - - Google Patents

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JPS6146763B2
JPS6146763B2 JP9354481A JP9354481A JPS6146763B2 JP S6146763 B2 JPS6146763 B2 JP S6146763B2 JP 9354481 A JP9354481 A JP 9354481A JP 9354481 A JP9354481 A JP 9354481A JP S6146763 B2 JPS6146763 B2 JP S6146763B2
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JP
Japan
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rotating body
spindle
dial
micrometer
rotating
Prior art date
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Application number
JP9354481A
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English (en)
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JPS57207801A (en
Inventor
Seigo Takahashi
Koji Sasaki
Jun Ariake
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Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority to JP9354481A priority Critical patent/JPS57207801A/ja
Publication of JPS57207801A publication Critical patent/JPS57207801A/ja
Publication of JPS6146763B2 publication Critical patent/JPS6146763B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/002Details
    • G01B3/008Arrangements for controlling the measuring force
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、直進型マイクロメータに係り、特
に、アンビルが配設されたフレームと、該フレー
ムに摺動自在に支承され、測定時に先端が被測定
物に当接される直進型のスピンドルとを有し、ア
ンビルとスピンドル間に被測定物を挾持したとき
のスピンドルの直進変位から被測定物の長さを測
定する直進型マイクロメータの改良に関する。
被測定物の長さを測定する測定器の一種にマイ
クロメータがある。これは、アンビルが配設され
たフレームと、該フレームに支承され、測定時に
先端が被測定物に当接されるスピンドルと、を備
え、アンビルとスピンドル間に被測定物を挾持し
たときのスピンドルの変位から被測定物の長さを
測定するものであり、従来は、フレームに対する
スピンドルの変位量を、スピンドルの後方に配設
された、精密に加工されたねじの送り量を基準
に、ねじの斜面による拡大を利用して読み取る、
いわゆる機械式の回転型マイクロメータが主に用
いられている。
一方近年、エレクトロニクス化の進展に伴な
い、機械式マイクロメータの寸法読み取り部分を
光電検出装置に置き換えた、いわゆる電子式マイ
クロメータが提案されている。これは、例えば、
アンビルが配設されたフレームと、該フレームに
摺動自在に支承され、測定時に先端が被測定物に
当接される直進型のスピンドルと、前記フレーム
に固着された固定スケールと、前記スピンドルと
連動された可動スケールとを備え、スピンドルの
直進変位に伴なう可動スケールと固定スケール間
の物理量の変化、例えば、通過光量或いは反射光
量の変化から、アンビルとスピンドル間に挾持さ
れた被測定物の長さを測定するものである。この
ような電子式の直進型マイクロメータによれば、
従来の機械式マイクロメータに比べて精度の高い
測定が可能となるものであるが、従来は、測定圧
を一定とするためには、測定者が、所定の測定圧
がかかるよう、スピンドルを一定圧で押えていな
ければならず、操作感に若干の問題があつた。
このような電子式の直進型マイクロメータにお
ける前記のような欠点を解消するべく、スピンド
ルの自由戻りを阻止するとともに、測定力を一定
とするために、スピンドルを全ストロークに渡り
往復動させるための往復機構と、該往復機構を任
意の位置でロツクするためのラチエツト機構と、
該ラチエツト機構が作動しているときに前記スピ
ンドルを被測定物に対して一定の測定力で押圧す
るための定圧機構とを設けることも考えられる。
しかしながら、このような直進型マイクロメー
タにおいては、前記往復機構を構成するスライダ
を操作するためのスライドノブをマイクロメータ
本体の側面に、スピンドルの移動範囲全域に渡つ
て移動可能な状態で配置する必要が有り、本体加
工上、および操作上不便であつた。特に、前記ス
ライドノブに加えて、前記ラチエツト機構により
前記往復機構がロツクされた状態で、前記定圧機
構による押圧力に打勝つて、前記スピンドルを所
定ストロークだけ引戻して被測定物を解放するた
めの解放機構を設けたものにおいては、更に、該
解放機構を構成する解放アームを操作するための
スナツプノブを、マイクロメータ本体の、前記ス
ライドノブが設けられていない側の側面に、スピ
ンドルの移動範囲全域に渡つて移動可能な状態で
配置する必要があり、本体加工上、および操作上
極めて不便であつた。
直進型マイクロメータにおける前記のような欠
点を解消するべく、前記のような直進型マイクロ
メータにおいて、スピンドルの側面に形成された
ラツクと、周面に該ラツクと噛合するピニオンが
形成され、前記フレームに回動自在に支承された
第1の回動部材と、操作ダイヤルが固着され、前
記第1の回動部材と同一軸線上で前記フレームに
回動自在に支承された第2の回動部材と、所定の
相対移動許容範囲を有し、該許容範囲内で所定の
付勢力により前記第1の回動部材をスピンドル前
進方向に付勢するための、前記第1の回動部材と
第2の回動部材を連動する連動機構と、前記第2
の回動部材のスピンドル後退方向への自由戻りを
阻止するためのラチエツト機構とを備えることも
考えられる。
このような電子式の直進型マイクロメータによ
れば、操作ダイヤルの操作によりスピンドルが直
進し、測定力が印加され、片手操作も可能であ
る。また、ノブ等をマイクロメータ本体の側面全
域に渡つて移動可能とする必要がなく、本体加工
上有利である等の特徴を有するが、スピンドルを
後退させる際にはラチエツト機構を開放する必要
があり、このためのレバー操作を行う必要があつ
た。またスピンドル移動時にラチエツト機構から
ラチエツト音が発生するという問題点を有した。
また、前記従来の機械式の回転型マイクロメー
タおよび、電子式の直進型マイクロメータのいず
れにおいても、測定の度毎にねじを逆回転した
り、或いは、スライドノブ或いは操作ダイヤルを
操作してスピンドルを後退させることにより、被
測定物を連結的に繰返し測定する場合に、該被測
定物を交換する作業が極めて煩わしいものであつ
た。
このような欠点を解消するべく、同種の被測定
物の繰返し測定を、簡単な操作で容易に行うこと
ができる次のような直進型マイクロメータが考え
られる。
すなわち、アンビルが配設されたフレームと、
該フレームに摺動自在に支承された、測定時に先
端が被測定物に当接される直進型のスピンドルと
を有し、アンビルとスピンドル間に被測定物を挟
持したときのスピンドルの直進変位から被測定物
の長さを測定する直進型マイクロメータにおい
て、操作ダイヤルが固着され、前記フレームに回
動自在に支承された回動軸と;該回動軸に回動自
在に支承され、周面に前記スピンドルの側面に形
成されたラツクと噛合するピニオンが形成された
第1の回動部材と;前記回動軸に、その軸線方向
に摺動自在に支承されるとともに、前記第1の回
動部材と螺合された第2の回動部材と;所定の相
対移動許容範囲を有し、該許容範囲内で所定の付
勢力により、前記第1の回動部材をスピンドル前
進方向に付勢するための、前記第1の回動部材と
第2の回動部材を連動する連動機構と;測定時に
前記第2の回動部材を回動軸の軸線方向に移動し
てフレームに密着させ、前記回動軸の回動を阻止
するブレーキ機構と;繰返し測定時に前記スピン
ドルを所定量後退させるためスピンドルに設けら
れた微動手段と;を備える直進型マイクロメータ
である。
しかしながら、この直進型マイクロメータは、
スピンドルが被測定物に当接した後、スピンドル
に定圧を加えるための定圧機構における定圧ロツ
クは、操作ダイヤルの、回転から第2の回動部材
を軸線方向に移動してフレームに密着させ、これ
による摩擦係合にもとづくものであるので、定圧
ロツクを確定的にすることができないとともに耐
久性の点で問題があり、また繰返し測定を行うた
めのスピンドル微動手段は、操作ダイヤルから離
れた位置にあり、繰返し測定の作業性およびマイ
クロメータ全体の小型化の点で問題があつた。
この発明は上記問題点を解消すべくなされたも
のであつて、定圧機構の定圧ロツク作用を確実か
つ耐久性あるものにするとともに、繰返し測定時
の作業能率を向上させるとともに小型化を図つた
直進型マイクロメータを提供することを目的とす
る。
この発明は、アンビルが配設されたフレーム
と、該フレームに摺動自在に支承され、測定時に
先端が被測定物に当接される直進型のスピンドル
とを有し、アンビルとスピンドル間に被測定物を
挾持したときのスピンドルの直進変位から被測定
物の長さを測定する直進型マイクロメータにおい
て、前記スピンドルの側面に軸方向に形成された
ラツクと;このラツクに噛み合うピニオンと;こ
のピニオンを同軸一体的に支持するとともに前記
フレームに回転自在に支持される回動軸と;この
回動軸に一体的に支持された微動ダイヤルと;前
記回動軸に同軸的に、かつ軸回りに相対的回転自
在に支持された操作ダイヤルと;前記回動軸に相
対的軸方向移動可能および軸回り相対的回転可能
に支持された回転体と;この回転体と前記回動軸
間に介装され、両者間の伝達トルクが限界値を越
えるとき一定角度範囲内で両者の相対的回転を許
容するとともに、限界内では両者を一体的に回転
するよう連結するばね部材と;前記回転体と前記
操作ダイヤルを回転方向に摩擦係合させ、両者間
の伝達トルクが限界値以下のとき両者を一体的に
回転させる摩擦係合手段と;前記回転体と前記操
作ダイヤル間の伝達トルクが限界値を越えたと
き、前記操作ダイヤルの前記回転体に対する相対
回転を、前記回転体の軸方向への移動に変換する
軸方向移動手段と;前記操作ダイヤルの前記回転
体に対する前記スピンドル前進駆動方向への相対
回転にもとずく前記回転体の軸方向移動時に、該
回転体の一定以上の軸方向移動によりこの回転体
を前記フレーム側に係止させて前記回動軸回りの
回動を阻止するブレーキ手段と;を設けることに
よつて上記目的を達成するものである。
またこの発明は上記の直進型マイクロメータに
おいて、前記ばね部材を、一端が前記回転体に、
他端が前記回動軸にそれぞれ係止させ、かつ該回
動軸回りに配置されたねじりコイルばねとするこ
とによつて上記目的を達成されるものである。
また本発明は、上記直進型マイクロメータにお
いて、前記軸方向移動手段を、前記操作ダイヤル
と前記回転体の回動軸方向に対向する端面の一方
に設けられた回動軸方向の傾斜面および他の端面
に設けられ前記傾斜面に軸方向に接触するピンと
から構成することによつて上記目的を達成するも
のである。
また本発明は、前記直進型マイクロメータにお
いて、前記ブレーキ手段を、前記回転体と前記フ
レーム側との回動軸方向に対向する端面の一方
に、円周方向に配置されかつ軸方向に凹凸して設
けられた係止面と、他方の端面に、前記係止面に
対応する位置で該係止面に向けて突出する爪部
と、から構成することによつて上記目的を達成す
るものである。
以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
第1図は本発明にかかる直進型マイクロメータ
の実施例を前面カバーを取りはずした状態で示す
平面図、第2図は同実施例の平断面図、第3図は
第1図の−線に沿う拡大断面図、第4図は第
1図の−線に沿う拡大断面図である。
図に示されるように、この実施例は、先端内側
にアンビル2が配設された略U字形状のフレーム
1と、該フレーム1に、前記アンビル2に対して
進退するように摺動自在に支承され、測定時に先
端3Aが被測定物に当接される直進型のスピンド
ル3とを有し、アンビル2とスピンドル3間に被
測定物を挾持したときのスピンドル3の直進変位
を、スピンドル3と一体的に移動するメインスケ
ール4と、フレーム1側のインデツクススケール
5間の通過光量の変化を受光素子(図示省略)に
より検出し、これによつて被測定物の長さを測定
する電子式の直進型マイクロメータにおいて、前
記スピンドル3の図において下側の側面に、軸方
向にラツク6を形成し、このラツク6に噛み合う
ピニオン7を、その回動軸8を、操作ダイヤル9
の操作により回転体10およびねじりコイルばね
11を介して操作することにより前記スピンドル
3を進退自在とし、かつ定圧ロツク状態において
回動軸8に直結された微動ダイヤルの操作によ
り、ねじりコイルばね11に抗してピニオン7を
回転させ、これによつてスピンドル3を進退させ
繰返し測定をすることができるようにしたもので
ある。
前記メインスケール4は、ガラス製の平板上に
光の透過部と不透過部が等間隔の縞模様に形成さ
れてなり、その前端が前記スピンドル3に固着さ
れたスケールホルダー13に支持された可動スケ
ールとされ、また前記インデツクススケール5
は、同様にガラス製の平板状に光の透過部と不透
過部が等間隔の縞模様に形成されてなり、前記フ
レーム1の後端面に植設されたガイド支柱14の
後端に固着されているホルダ15に支持された固
定スケールとされている。第3図の符号16は受
光基板を示し、前記ホルダ15に支持された光源
(図示省略)から照射され、前記メインスケール
4およびインデツクススケール5を透過した光を
受光するための受光素子を備えるものである。
前記回動軸8は、前記ホルダ15に、厚さ方向
に離間して平行に設けられた固定板17および1
8を挿通して回動自在に支持されている。
前記ピニオン7は、これら固定板17および1
8の間の位置で、回動軸8により、ピン19を介
して一体的に回転するように支持されている。
また前記回動軸8の、固定板17から外方への
突出部分には、その先端から、前記微動ダイヤル
12、操作ダイヤル9、回転体10およびねじり
コイルばね11が、この順で回動軸8に取りつけ
られている。
前記微動ダイヤル12はセツトスクリユー20
により回動軸8と一体的に回転するように取りつ
けられ、かつその外周部には、微動操作が便利な
ように、1/4円弧状の切欠21が形成されてい
る。
前記微動ダイヤル12と操作ダイヤル9の間に
は、回動軸8にワツシヤ22が取りつけられ、こ
のワツシヤ22と前記固定板18の前後を挾むよ
うにして前記回動軸8に取りつけられたワツシヤ
23および24とにより、前記操作ダイヤル9の
軸方向の位置が一定範囲内となるように規制され
ている。
前記操作ダイヤル9は、第4図に示されるよう
に、固定板17側に、回動軸8を中心とする円柱
状の凹所25を備え、この凹所25内に、前記回
転体10およびねじりコイルばね11が配置され
るようになつている。
また前記操作ダイヤル9の内側端面9Aには、
回動軸8を中心として3つの円弧状の傾斜面26
が形成され、また前記回転体10の前記端面9A
に対向する面には、前記傾斜面26に対応してそ
の先端が傾斜面26に接触するピン27が取りつ
けられている。前記ピン27は、回転体10と固
定板17との間に取りつけられた圧縮コイルばね
28により前記傾斜面26に圧接する方向に付勢
され、また傾斜面26は、前記スピンドル3が前
進駆動される方向に操作ダイヤル9が回転すると
き、すなわち第1図および第2図において反時計
方向に回転するほど前記ピン27を固定板17の
方向に軸方向に移動させるようにその傾き方向が
形成されている。図の符号29はピン27と摩擦
接触を形成するための接触座面を示す。
前記固定板17の、前記回転体10に対向する
位置には、回動軸8を中心として円周状に凹凸し
て形成された係止面30が設けられ、またこの係
止面30に対向する前記回転体10の端面には、
その円周方向の4箇所に、前記係止面30方向に
突出する爪部31がねじ32によつて取りつけら
れている。
前記回転体10の爪部31は、前記ピン27が
傾斜面26によつて最も固定板17方向に移動さ
れたとき、係止面30に係止するようにされてい
る。
また前記ねじりコイルばね11は、前記爪部3
1および係止面30よりも半径方向内側の位置
で、前記回動軸8に同軸的に配置され、常態で
は、回動軸8を、前記回転体10に対して、ピニ
オン7を介してスピンドル3を前進方向に付勢す
るようにこれら回転軸8及び回転体10に両端が
取りつけられている。又、これによりねじりコイ
ルばね11は、回転体10を固定した状態のと
き、回動軸8が回転体10に対してスピンドル3
を後退する方向に一定の許容角度範囲内で回動さ
れ得るようになつている。すなわち、前記操作ダ
イヤル9の操作により、スピンドル3が被測定物
へ当接された後に、ねじりコイルばね11は、一
定角度巻締めされ、回転体10の爪部31が固定
板17の係止面30に係止され、回転体10が固
定されるが、この固定された回転体10に対し
て、ねじりコイルばね11は更に巻締め可能とさ
れ、この巻締め可能範囲が前記許容角度範囲とさ
れている。
第1図および第2図における符号33は、前記
ガイド支柱14の内側中空部に収納された、光電
検出装置等の電源となる電池を示す。また符号3
4はケースカバーを示す。
次に上記実施例の作用を説明する。
測定に際しては、まず操作ダイヤル9を第1図
の時計方向に回転させる。すると、傾斜面26、
ピン27、回転体10、ねじりコイルばね11、
回動軸8、ピン19およびピニオン7を介してス
ピンドル3がラツク6により後退されて測定に備
えられることになる。
ついでフレーム1のアンビル2とスピンドル3
の先端3A間に被測定物を置き、操作ダイヤル9
を前記と逆方向に回転させる。すると、前記と同
様にスピンドル3が前進され、その先端3Aが被
測定物に当接される。
スピンドル3の先端3Aが被測定物に当接する
と、スピンドル3はそれ以上前進しないため、回
動軸8も回動されないことになる。
この状態でさらに操作ダイヤル9をスピンドル
3の前進方向に回転させると、回転体10が傾斜
面26とピン27の摩擦係合により回動軸8に対
して相対的に、第1図の反時計方向に駆動される
ため、両者間を連結するねじりコイルばね11が
巻締められ回転体10の回動軸8に対する相対回
転を許容することになる。
ねじりコイルばね11が一定角度以上巻締めら
れると、その巻締めによる反撥力が、前記圧縮コ
イルばね28によつて形成される傾斜面26とピ
ン27の摩擦力に打勝ち、操作ダイヤル9のさら
に反時計方向の回動によつて、操作ダイヤル9が
回転体10に対して相対的に回転するようにな
る。
操作ダイヤル9が回転体10に対して第1図に
おいて反時計方向に相対的に回転すると、ピン2
7は傾斜面26に乗り上げ、これによつて回転体
10は第4図において、右方向に回動軸8に沿つ
て駆動され、その爪部31が固定板17の係止面
30に係合される。
爪部31が係止面30に係合すると、そのブレ
ーキ作用により回転体10の回転が阻止され、操
作ダイヤル9は空転することになる。
爪部31が係止面30に係合した状態において
は、すでにねじりコイルばね11が一定角度以上
巻締められた状態であるので、回転体10を固定
側として、その反撥力が回動軸8およびピニオン
7を介してスピンドル3に伝えられ、スピンドル
3はねじりコイルばね11の反撥力によつて被測
定物に圧接される状態が維持されることになる。
従つてねじりコイルばね11により所定の測定
力がスピンドル3にかけられた状態で測定が行わ
れる。具体的には、基準位置に対するスピンドル
3の変位に伴うインデツクススケール5とメイン
スケール4間の相対変位量を、通過光量の変化か
ら検出することにより、メインスケール4の基準
位置からの変化量を知ることができる。従つてメ
インスケール5が固着されているスピンドル3の
変位量を知ることができ、これから被測定物の長
さを測定することができる。この時において、ね
じりコイルばね11によりスピンドル3が常時被
測定物に当接する方向に押圧されているため、測
定者の操作力のばらつき等にかかわらず、常に一
定の測定力が付与され、正確な測定が可能とな
る。
次に、同種の被測定物が繰返し測定するに際し
て、従来は、その都度操作ダイヤル9等を第1図
の時計方向に回転して、ブレーキ機構等を解除さ
せ、スピンドル3を後退させた上で、被測定物を
取りはずし、再び被測定物をアンビル2とスピン
ドル3の先端3A間に介装して、操作ダイヤル等
を操作して測定状態としなければならず、その操
作が極めて煩雑かつ時間のかかるものであつた。
これに対して、本発明においては同種の被測定物
を繰返し測定する際には、操作ダイヤル9を操作
することなく微動ダイヤル12のみを操作すれば
よいものである。
すなわち同種の被測定物を繰返し測定する際に
は、最初の測定が終つた状態で、微動ダイヤル1
2を第1図の時計方向に駆動する。するとこの微
動ダイヤル12に直結する回動軸8は、ロツク状
態の回転体10に対して、ねじりコイルばね11
を一定角度範囲内ではさらに巻締めして、回転体
10に対して第1図の時計方向に回転できるの
で、スピンドル3は回動軸8およびピニオン7を
介して一定範囲で定圧ロツク状態から後退できる
ことになる。
この被測定物を取りはずすための可動範囲は、
例えば4mmとすることができるが、最小限1mm程
度あれば充分である。従つて定圧ロツク状態から
の回転体10に対する回動軸8の回動角度範囲
は、前記可動範囲に見合うものとすればよい。
微動ダイヤル12を操作した状態で、被測定物
を交換し、微動ダイヤル12から手を離すと、ス
ピンドル3はねじりコイルばね11の作用によ
り、再び測定位置まで復帰されただちに測定が行
われる。
従つて、同種の被測定物を繰返し測定する場合
には、一々操作ダイヤル9を操作する必要がなく
なり、微動ダイヤル12を操作するのみで、前回
測定の被測定物を取り去るための微小間隙が容易
に得られ、かつ次回被測定物が挿入された後は、
微動ダイヤル12を解放することにより、ねじり
コイルばね11の復帰力によつて自動的に、その
微小間隙がなくなり、所定の測定力が符与される
ものである。
測定終了時には、操作ダイヤル9を第1図の時
計方向に回転すれば、操作ダイヤル9の回転体1
0に対する相対的回転により、ピン27が傾斜面
26に沿つて、第4図における左方向に、圧縮コ
イルばね28によつて戻されるので、爪部31が
係止面30から脱れてロツク状態が解除される。
従つて操作ダイヤル9の時計方向に回転によ
り、回転体10、ねじりコイルばね11、回動軸
8およびピニオン7を介してスピンドル3が被測
定物から離れる方向に後退されるものである。
なお上記実施例において、操作ダイヤル9と回
転体10を摩擦係合するための摩擦係合手段は、
回転体10と操作ダイヤル9を回転方向に摩擦係
合し、両者間の伝達トルクが限界値以下の時両者
を一体的に回転させる摩擦係合手段であればよ
く、実施例の構成に限定されない。従つて例えば
傾斜面26とピン27の位置を反対側にしてもよ
く、さらに必らずしも傾斜面とピンとの摩擦によ
るものでなくてもよい。
また前記回転体10と前記操作ダイヤル9間の
伝達トルクが限界値を越えたとき、前記操作ダイ
ヤル9の前記回転体10に対する相対回転を、前
記回転体10の軸方向への移動に変換する軸方向
移動手段は、実施例におけるように傾斜面26と
ピン27の組み合わせに限定されない。従つて例
えば操作ダイヤル9と回転体10の間に構成され
るカムおよびカムフオロアの関係であつてもよ
い。
さらに前記係止面30および爪部31の構成は
前記操作ダイヤル9の前記回転体10に対する前
記スピンドル3前進駆動方向への相対回転にもと
づく前記回転体10の軸方向移動時に、該回転体
10の一定以上の軸方向移動により、この回転体
10を前記フレーム1側に係止させて、前記回動
軸8回りの回動を阻止するブレーキ手段であれば
よく、実施例の構成に限定されない。従つて係止
面30と爪部31の位置を軸方向に入れかえても
よく、またともに凹凸のある係止面、あるいはと
もに爪部としてもよい。
さらにまた前記実施例においては、本発明がイ
ンデツクススケールが固定され、メインスケール
が可動とされた電子式マイクロメータに適用され
ているが、本発明の適用範囲はこれに限定され
ず、インデツクススケールが可動とされた電子式
マイクロメータにも同様に適用されるものであ
る。
また前記実施例においては、本発明が、インデ
ツクススケールとメインスケール間の通過光量の
変化からスピンドルの変位を測定する電子式マイ
クロメータに適用されているが、本発明の適用範
囲はこれに限定されず、メインスケールとインデ
ツクススケール間の反射光量の変化から測定対象
の変位を測定する電子式マイクロメータ、あるい
はメインスケールとインデツクススケール間の他
の物理量の変化からスピンドルの変位を測定する
一般の電子式マイクロメータにも同様に適用され
るものである。
さらに前記実施例は本発明をマイクロメータに
適用したものであるが、本発明はマイクロメータ
以外の測長機であるノギスやハイトゲージにも同
様に適用されるものである。
なお上記実施例において、マイクロメータは電
子式のものとされているが、これは機械式のダイ
ヤルゲージによつて測定量を表示するようにした
ものであつてもよい。
以上説明したように、本発明によれば、測定時
における定圧ロツク状態を、摩擦係合によらずに
構成しているので、ロツクを確定的にできるとと
もに耐久性を向上させることができ、さらに繰返
し測定ダイヤルを操作ダイヤルと同軸的に集中し
て設けたので、マイクロメータを小型化できると
ともに、繰返し測定の作業性を向上させることが
できるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる直進型マイクロメータ
の実施例をカバー前面を除去した状態で示す平面
図、第2図は同実施例の平断面図、第3図は第1
図の−線に沿う断面図、第4図は第1図の
−線に沿う断面図、第5図は同実施例の要部を
分解して示す斜視図である。 1……フレーム、2……アンビル、3……スピ
ンドル、3A……先端、6……ラツク、7……ピ
ニオン、8……回動軸、9……操作ダイヤル、1
0……回転体、11……ねじりコイルばね、12
……微動ダイヤル、26……傾斜面、27……ピ
ン、28……圧縮コイルばね、30……係止面、
31……爪部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 アンビルが配設されたフレームと、該フレー
    ムに摺動自在に支承され、測定時に先端が被測定
    物に当接される直進型のスピンドルとを有し、ア
    ンビルとスピンドル間に被測定物を挟持した時の
    スピンドルの直進変位から被測定物の長さを測定
    する直進型マイクロメータにおいて、前記スピン
    ドルの側面に軸方向に形成されたラツクと;この
    ラツクに噛み合うピニオンと;このピニオンを同
    軸一体的に支持するとともに前記フレーム側に回
    転自在に支持される回動軸と;この回動軸に同軸
    一体的に支持された微動ダイヤルと;前記回動軸
    に同軸的に、かつ軸回りに相対的回転自在に支持
    された操作ダイヤルと;前記回動軸に相対的軸方
    向移動可能および軸回り相対的回転可能に支持さ
    れた回転体と;この回転体と前記回動軸間に介装
    され、両者間の伝達トルクが限界値を越えるとき
    一定角度範囲内で両者の相対的回転を許容すると
    ともに、限界内では両者を一体的に回転するよう
    連結するばね部材と;前記回転体と前記操作ダイ
    ヤルを回転方向に摩擦係合させ、両者間の伝達ト
    ルクが限界値以下のとき両者を一体的に回転させ
    る摩擦係合手段と;前記回転体と前記操作ダイヤ
    ル間の伝達トルクが限界値を越えたとき、前記操
    作ダイヤルの前記回転体に対する相対回転を、前
    記回転体の軸方向への移動に変換する軸方向移動
    手段と;前記操作ダイヤルの前記回転体に対する
    前記スピンドル前進駆動方向への相対回転にもと
    ずく前記回転体の軸方向移動時に、該回転体の一
    定以上の軸方向移動によりこの回転体を前記フレ
    ーム側に係止させて前記回動軸回りの回動を阻止
    するブレーキ手段と;を設けてなる直進型マイク
    ロメータ。 2 前記ばね部材は、一端が前記回転体に、他端
    が前記回動軸にそれぞれ係止され、かつ該回動軸
    回りに配置されたねじりコイルばねとされた特許
    請求の範囲第1項記載の直進型マイクロメータ。 3 前記軸方向移動手段は、前記操作ダイヤルと
    前記回転体の回動軸方向に対向する端面の一方に
    設けられた回動軸方向の傾斜面と、他の端面に設
    けられ、前記傾斜面に軸方向に接触するピンとか
    ら構成されることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項または第2項記載の直進型マイクロメータ。 4 前記ブレーキ手段は、前記回転体と前記フレ
    ーム側との回転軸方向に対向する端面の一方に、
    円周方向に配置されかつ軸方向に凹凸して設けら
    れた係止面と、他方の端面に、前記係止面に対応
    する位置で該係止面に向けて突出する爪部と、か
    ら構成されることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項、第2項または第3項記載の直進型マイクロ
    メータ。
JP9354481A 1981-06-17 1981-06-17 Rectilinear type micrometer Granted JPS57207801A (en)

Priority Applications (1)

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JP9354481A JPS57207801A (en) 1981-06-17 1981-06-17 Rectilinear type micrometer

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JPS57207801A JPS57207801A (en) 1982-12-20
JPS6146763B2 true JPS6146763B2 (ja) 1986-10-16

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