JPS6146454Y2 - - Google Patents

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JPS6146454Y2
JPS6146454Y2 JP1981151738U JP15173881U JPS6146454Y2 JP S6146454 Y2 JPS6146454 Y2 JP S6146454Y2 JP 1981151738 U JP1981151738 U JP 1981151738U JP 15173881 U JP15173881 U JP 15173881U JP S6146454 Y2 JPS6146454 Y2 JP S6146454Y2
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JP
Japan
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calibration
sensor
control circuit
output
value
Prior art date
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JP1981151738U
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JPS5856959U (ja
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、測定結果をデジタル表示するガス分
析計に関する。特に、センサの校正を演算により
実行する装置に関するものである。
[従来の技術] 分析計のセンサは、原則として使用の都度校正
を行う必要があり、使用に先立つてセンサに標準
ガスを接触させて校正を行い、その後にひきつづ
く測定はその校正に基づく補正が行われる。従来
装置では、装置の操作面に使用者が操作するため
の可変抵抗器が設けられ、使用者は標準ガスを与
えたときにこの可変抵抗器を操作して、出力表示
が所定の校正標準値になるように調整する。その
後その可変抵抗器の位置をその位置に保持して測
定を実行するように構成されたものが多い。この
可変抵抗器は、例えば増幅器の利得を変化させ
る、あるいは零基準を与える基準電圧出力を変化
させるように構成される。
[考案が解決しようとする問題点] このような装置では、校正のために装置の使用
者は複雑でしかも微妙な操作を行うことが必要で
ある。この校正の操作が正しく行われないと、そ
の後の測定結果は不正確なものとなる。特に、複
数の校正標準ガスについてそれぞれ個別の校正を
するもの等では、校正のための工数が大きく、こ
れにより発生する人為的な誤りの可能性も大きく
なる。
また、一定時間間隔で自動的に校正標準ガスを
与えて校正を行う自動校正装置のついた分析計に
おいて、前回の測定結果と今回の測定結果とを記
憶する記憶回路を設け、その記憶された測定結果
の比較演算を行つて測定値の偏差値を求め、その
偏差値が所定値を越えた場合に自動校正指令を出
力する構成のものが提案されている(特開昭54−
139573号公報)。
しかし、この技術は、自動校正装置に関するも
のであり、手動で校正を行う装置についての校正
手順を簡素化して正確な校正が行われるようにす
るものではなく、また、自動校正によつて得られ
た校正値によつて現在の測定値を補正演算するも
のではなかつた。
本考案はこれを改良するもので、手動で校正を
行う分析計において、校正のために使用者に要求
される微妙な操作を省くことができ、人為的に発
生する誤差を回避することのできる装置を提供す
ることを目的とする。
[問題点を解決するための手段] 本考案は、センサ出力に演算処理を施して表示
する装置であつて、装置の操作面に校正ボタンを
設け、また装置回路には記憶回路を設け、この校
正ボタンが押下されたときのセンサ出力が校正値
としてこの記憶回路に記憶され、校正ボタンが開
放された後はこの記憶された校正値により演算処
理が実行されるように構成されたことを特徴とす
る。
[作用] 校正ボタンが押下げられたとき、分析計のセン
サには校正ガスが送られて、その出力が校正値と
して記憶回路に記憶される。
この校正値から補正演算処理用の定数が求めら
れる。
この補正用定数によりセンサの測定値を補正演
算し、その演算結果が表示される。
[実施例] 本考案の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、本考案一実施例の要部ブロツク構成図
である。この実施例は酸素濃度計の例であり、セ
ンサ1の出力は増幅器2で所定のレベルに増幅さ
れアナログデジタル変換器(以下「AD変換器」
という。)3に導かれている。このAD変換器3の
出力はインタフエース5を介して制御回路6に導
かれている。この制御回路6はマイクロプロセツ
サを含み、その制御ソフトウエアはROM(読出
し専用メモリ)7に格納され、補正値およびデー
タ記憶回路としてRAM(ランダムアクセスメモ
リ)8が連結されている。また、この制御回路6
にはインタフエース9を介して零点校正用の零校
正ボタン11とスパン校正用のスパン校正ボタン
12がそれぞれ連結されている。
第2図は、第1図に示す実施例装置制御回路の
制御手順を示すフローチヤートである。
このように構成された装置の動作を説明する。
本装置の各部を初期設定し測定動作に入る。この
状態でセンサ1に第一の標準ガスであるスパンガ
ス(この例では大気、20.5%O2)を接触させてス
パン校正ボタン12を押す。これにより、制御回
路6は校正モードとなる。また、酸素濃度20.5%
のスパンガスに対応するセンサ1の出力E2はAD
変換器3でデジタル変換され、この値がRAM8
に一時記憶される。
次いで、センサ1に別の標準ガスである(この
例では1%O2)を接触させて零校正ボタン11を
押す。これにより、酸素濃度1%の零点ガスに対
応するセンサ1の出力E1はAD変換器3でデジタ
ル信号に変換され、この値がRAM8に記憶され
る。
このように構成された装置では、測定に先立つ
て上記のような校正操作を行うことにより、二つ
の標準ガスに対する校正値がRAM8に記憶さ
れ、以降は校正ボタン11,12を解放した状態
で被測定ガスをセンサ1に接触させることによ
り、その出力をこの校正値により補正して演算処
理が実行される。この例では、上記スパン校正に
よりセンサ出力に乗算される定数が設定され、上
記零校正によりセンサ出力から減算される定数が
設定される。
[考案の効果] 以上説明したように本考案によれば、手動で校
正を開始する分析計で、校正用の標準ガスに対応
するセンサ出力の校正値を記憶回路に一時記憶さ
せ、この校正値に基づいて必要な補正演算処理を
施すので、校正のための操作が著しく簡単化され
るとともに、人為的な誤りを回避し、校正値で補
正された測定値を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案一実施例の要部ブロツク構成
図、第2図は上記実施例のフローチヤート。 1……センサ、2……増幅器、3……AD変換
器、5,9……インタフエース、6……制御回
路、7……ROM、8……RAM、11……零校正
ボタン、12……スパン構成ボタン。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 接触するガスの成分濃度に応じて電気信号を
    送出するセンサと、 このセンサの出力に得られる電気信号を演算
    処理する制御回路と、 この制御回路で演算処理された結果をデジタ
    ル表示する表示器と を備えた分析計において、 使用者に操作される校正ボタンと、 校正値を記憶する記憶回路と を備え、 上記制御回路は、 この校正ボタンが押下されたときに上記セン
    サから送出される電気信号に対応する値を校正
    値として上記記憶回路に記憶し、上記校正ボタ
    ンが開放された後に上記センサから送出される
    電気信号について上記校正値を演算定数として
    用いて上記演算処理を実行する構成である ことを特徴とする分析計の校正装置。 (2) 校正ボタンが複数個であつて、制御回路がそ
    の複数個の校正ボタンが押下されることに対応
    して各別の校正値が記憶回路に記憶されるよう
    に校正された実用新案登録請求の範囲第(1)項に
    記載の分析計の校正装置。
JP15173881U 1981-10-12 1981-10-12 分析計の校正装置 Granted JPS5856959U (ja)

Priority Applications (1)

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JP15173881U JPS5856959U (ja) 1981-10-12 1981-10-12 分析計の校正装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15173881U JPS5856959U (ja) 1981-10-12 1981-10-12 分析計の校正装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5856959U JPS5856959U (ja) 1983-04-18
JPS6146454Y2 true JPS6146454Y2 (ja) 1986-12-27

Family

ID=29944421

Family Applications (1)

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JP15173881U Granted JPS5856959U (ja) 1981-10-12 1981-10-12 分析計の校正装置

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54139573A (en) * 1978-03-27 1979-10-30 Babcock Hitachi Kk Automatic proofreading device of analysis meter

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5442235Y2 (ja) * 1975-03-29 1979-12-08

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54139573A (en) * 1978-03-27 1979-10-30 Babcock Hitachi Kk Automatic proofreading device of analysis meter

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Publication number Publication date
JPS5856959U (ja) 1983-04-18

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