JPS6140336B2 - - Google Patents
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- JPS6140336B2 JPS6140336B2 JP10593680A JP10593680A JPS6140336B2 JP S6140336 B2 JPS6140336 B2 JP S6140336B2 JP 10593680 A JP10593680 A JP 10593680A JP 10593680 A JP10593680 A JP 10593680A JP S6140336 B2 JPS6140336 B2 JP S6140336B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/39—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は赤外分光分析方法、とくに波長可変レ
ーザを光源として用いる分光分析方法の改良に関
するものである。
ーザを光源として用いる分光分析方法の改良に関
するものである。
大気汚染の原因となる有害ガスたとば一酸化炭
素(CO)、亜硫酸ガス(SO2)等の検出、定量に
赤外線吸収を利用した分光分析方法が便利である
ことはすでに周知である。この分光分析方法に用
いる光源として赤外線を発する波長可変レーザが
好適であることもすでに知られた事実である。こ
の波長可変レーザを用いた赤外分光分析方法の1
つの改善策として本発明者等は先に特開昭55―
37717にてレーザ素子に流すレーザ電流を断続電
流とし、これに微小振幅の変調電流を重畳して測
定をなす方法を提案した。すなわち、上記分析法
に用いる波長可変レーザは一般に鉛(Pb)を含
む合金半導体からなる素子を主体としており、し
かも少なくともある波長範囲内で電流とレーザ光
の振動数との間には比例関係が成立つことを利用
している。すなわち上記電流の値を、レーザ光
の振動数をγとすると、次式が成立する。
素(CO)、亜硫酸ガス(SO2)等の検出、定量に
赤外線吸収を利用した分光分析方法が便利である
ことはすでに周知である。この分光分析方法に用
いる光源として赤外線を発する波長可変レーザが
好適であることもすでに知られた事実である。こ
の波長可変レーザを用いた赤外分光分析方法の1
つの改善策として本発明者等は先に特開昭55―
37717にてレーザ素子に流すレーザ電流を断続電
流とし、これに微小振幅の変調電流を重畳して測
定をなす方法を提案した。すなわち、上記分析法
に用いる波長可変レーザは一般に鉛(Pb)を含
む合金半導体からなる素子を主体としており、し
かも少なくともある波長範囲内で電流とレーザ光
の振動数との間には比例関係が成立つことを利用
している。すなわち上記電流の値を、レーザ光
の振動数をγとすると、次式が成立する。
γ=K (ただし、Kは定数) ……(1)
この関係を利用すれば屋外にける大気汚染ガス
分析の際に大気の変動による不規則なゆらぎを除
去して安定に測定を行うことが可能となる。さら
に具体的に説明するとこの方法は、分光吸収曲線
の導関数を求め、該導関数をその原始始関数で正
規化することによつて上記大気の変動による不規
則なゆらぎに基づく測定値の変動を消去すること
をその原理としている。以下その原理について簡
単に説明する。検出しようとする大気中の有害ガ
スたとえば一酸化炭素の大気中濃度をC、測定の
際の光路長をL、使用する波長可変レーザの出力
光パワーをP0、大気通過後に受光素子の受光面上
に集められた受光パワーをPrとすると、 Pr=K・P0exp{−α(γ)CL}・f(t)
……(2) という関係が成立する。ただし、α(γ)は一酸
化炭素の吸収係数を光の振動数γの関数として表
したもので、f(t)は大気の変動による不規則
なゆらぎを時間tの関数の形で表した項である。
またKは比例定数である。上記(2)式の両辺をγで
微分すると、 P′r=dPr/dγ=−KP0・ CLexp{−α(γ)CL}dα/dγ・f(t) ……(3) が得られる。ただし簡単化するためP0を微小な電
流変動範囲ではγに無関係に一定と仮定した。上
記(2)式と(3)式とを辺々相除すると、 P′r/Pr=−CLα′(γ) ……(4) となつて大気変動による不規則なゆらぎを示す項
f(t)は消え、しかも右辺の絶対値は有害ガス
の濃度Cに比例する。それ故Prの微分値P′rをPr
で除算すなわち正規化すれば大気の変動による不
規則なゆらぎに影響されることなく、有害ガスの
大気中濃度度を知り得ることが上記(4)式からわか
る。ただし上記(4)式においてダツシユ記号は導関
数すなわち微分係数を表す。
分析の際に大気の変動による不規則なゆらぎを除
去して安定に測定を行うことが可能となる。さら
に具体的に説明するとこの方法は、分光吸収曲線
の導関数を求め、該導関数をその原始始関数で正
規化することによつて上記大気の変動による不規
則なゆらぎに基づく測定値の変動を消去すること
をその原理としている。以下その原理について簡
単に説明する。検出しようとする大気中の有害ガ
スたとえば一酸化炭素の大気中濃度をC、測定の
際の光路長をL、使用する波長可変レーザの出力
光パワーをP0、大気通過後に受光素子の受光面上
に集められた受光パワーをPrとすると、 Pr=K・P0exp{−α(γ)CL}・f(t)
……(2) という関係が成立する。ただし、α(γ)は一酸
化炭素の吸収係数を光の振動数γの関数として表
したもので、f(t)は大気の変動による不規則
なゆらぎを時間tの関数の形で表した項である。
またKは比例定数である。上記(2)式の両辺をγで
微分すると、 P′r=dPr/dγ=−KP0・ CLexp{−α(γ)CL}dα/dγ・f(t) ……(3) が得られる。ただし簡単化するためP0を微小な電
流変動範囲ではγに無関係に一定と仮定した。上
記(2)式と(3)式とを辺々相除すると、 P′r/Pr=−CLα′(γ) ……(4) となつて大気変動による不規則なゆらぎを示す項
f(t)は消え、しかも右辺の絶対値は有害ガス
の濃度Cに比例する。それ故Prの微分値P′rをPr
で除算すなわち正規化すれば大気の変動による不
規則なゆらぎに影響されることなく、有害ガスの
大気中濃度度を知り得ることが上記(4)式からわか
る。ただし上記(4)式においてダツシユ記号は導関
数すなわち微分係数を表す。
以上の理論に基づいて実際に大気中の汚染ガス
濃度を分析するためには被測定大気による吸収ス
ペクトルの導関数P′rを求める必要がある。この
P′rを実測により求めるために波長可変レーザ素
子に供給する電流を断続し、該断続電流に断続周
期よりも短い周期を有する微小振幅の電流を重畳
し、該断続電流に基づくレーザ光の出力信号中に
おける上記微小振幅の電流に対応する成分の量の
出力信号より、レーザから放射される光パワーの
レーザ光周波数に対する微分係数を求めるように
している。
濃度を分析するためには被測定大気による吸収ス
ペクトルの導関数P′rを求める必要がある。この
P′rを実測により求めるために波長可変レーザ素
子に供給する電流を断続し、該断続電流に断続周
期よりも短い周期を有する微小振幅の電流を重畳
し、該断続電流に基づくレーザ光の出力信号中に
おける上記微小振幅の電流に対応する成分の量の
出力信号より、レーザから放射される光パワーの
レーザ光周波数に対する微分係数を求めるように
している。
以上述べた原理により大気中の有害ガス濃度を
求めているため、レーザ素子の励起電流が一定の
場合レーザ光の発振波長が一一定であることが必
要である。しかしレーザ素子の長期にわたる経時
変化及びレーザ素子を冷却中の液体窒素の量の変
動等の要因によつてレーザ光波長がシフトし、汚
染ガスによるレーザ光の吸収値に設定されたレー
ザ光波長が変化する。この結果レーザ駆動電流を
一定に保つていても汚染ガス濃度を正確に定量す
ることができなくなる。
求めているため、レーザ素子の励起電流が一定の
場合レーザ光の発振波長が一一定であることが必
要である。しかしレーザ素子の長期にわたる経時
変化及びレーザ素子を冷却中の液体窒素の量の変
動等の要因によつてレーザ光波長がシフトし、汚
染ガスによるレーザ光の吸収値に設定されたレー
ザ光波長が変化する。この結果レーザ駆動電流を
一定に保つていても汚染ガス濃度を正確に定量す
ることができなくなる。
従つてレーザの発振光波長を一定に保ち、検出
精度を正しく安定に維持るためには、所定の間隔
で、レーザを励起する断続電流を汚染ガスの吸収
ピークでの波長の発光をするような値に修正制御
する必要がある。
精度を正しく安定に維持るためには、所定の間隔
で、レーザを励起する断続電流を汚染ガスの吸収
ピークでの波長の発光をするような値に修正制御
する必要がある。
前記特願昭22―37717の発明はレーザに流す電
流をコントロールすることによつてレーザ発振光
波長を補正するための電流制御方式に関するもの
で、その要旨とするところは、断続電流に微小振
幅の電流を重畳したレーザ駆動電流をプログラマ
ブル定電流電線より波長可変形赤外線レーザ素子
に供給することによつて赤外線レーザを励起し、
該赤外線レーザを光源として特定の被検出ガスを
有するガス空間を通過した後のレーザ光を光電変
換素子に入射させて、まず電気信号に変換する。
そして上記ガス空間におけるレーザ光の吸収量に
よりガス濃度を検出するガス濃度検出方法におい
て、前記被検出ガス空間とは別に前記特定ガス濃
度が既知である第1の較正経路と特定ガスを前記
第1の較正経路と異なる既知濃度で満たした第2
の較正経路を設け、所定時に前記2つの較正経路
に順次レーザ光を切替えて通過させるとともに前
記レーザ素子に供給する断続電流値を所定範囲に
走査し、該断続電流に対応した前記レーザ光の各
較正経路の吸収値の差を記憶する記憶装置を設
け、該記憶装置で記憶した前記吸収値の差の最大
値に対応した断続電流を前記レーザ素子に供給す
るよう前記プログラマブル定電流電源を制御する
ようにしたことを特徴とするものであつた。
流をコントロールすることによつてレーザ発振光
波長を補正するための電流制御方式に関するもの
で、その要旨とするところは、断続電流に微小振
幅の電流を重畳したレーザ駆動電流をプログラマ
ブル定電流電線より波長可変形赤外線レーザ素子
に供給することによつて赤外線レーザを励起し、
該赤外線レーザを光源として特定の被検出ガスを
有するガス空間を通過した後のレーザ光を光電変
換素子に入射させて、まず電気信号に変換する。
そして上記ガス空間におけるレーザ光の吸収量に
よりガス濃度を検出するガス濃度検出方法におい
て、前記被検出ガス空間とは別に前記特定ガス濃
度が既知である第1の較正経路と特定ガスを前記
第1の較正経路と異なる既知濃度で満たした第2
の較正経路を設け、所定時に前記2つの較正経路
に順次レーザ光を切替えて通過させるとともに前
記レーザ素子に供給する断続電流値を所定範囲に
走査し、該断続電流に対応した前記レーザ光の各
較正経路の吸収値の差を記憶する記憶装置を設
け、該記憶装置で記憶した前記吸収値の差の最大
値に対応した断続電流を前記レーザ素子に供給す
るよう前記プログラマブル定電流電源を制御する
ようにしたことを特徴とするものであつた。
しかるに上記従来の方法によれば、第1よび第
2の較正経路はもちんのこと、当該両較正経路に
順次レーザ光を切替える複数のシヤツタ機構、な
びに該シヤツタ機構の制御装置を必要とし、これ
らの各部の微妙な調整が必要であつた。そのうえ
上記来の方法は、たとえば寒剤たる液体窒素の量
の減少とかレーザ素子の経時変化といつた比較的
緩慢な現象によるレーザ放射光の波長変動の修正
を目的としたものであつたため、たとば液体窒素
の泡の発生とか冷凍器の冷媒の振動のごとき高速
の変化現象に起因した放射光の波長変動の修正は
不可能であるという欠点があつた。
2の較正経路はもちんのこと、当該両較正経路に
順次レーザ光を切替える複数のシヤツタ機構、な
びに該シヤツタ機構の制御装置を必要とし、これ
らの各部の微妙な調整が必要であつた。そのうえ
上記来の方法は、たとえば寒剤たる液体窒素の量
の減少とかレーザ素子の経時変化といつた比較的
緩慢な現象によるレーザ放射光の波長変動の修正
を目的としたものであつたため、たとば液体窒素
の泡の発生とか冷凍器の冷媒の振動のごとき高速
の変化現象に起因した放射光の波長変動の修正は
不可能であるという欠点があつた。
本発明はこうした欠点に鑑みてなされたもの
で、微小振幅の交番信号を重畳したたとえば微小
の階段波状に変化する電流でレーザを駆動するこ
とによつて微分吸収特性の片側のピーク幅だけを
電流スキヤンし、その微分吸収特性にピークを生
じる電流値を上記電流スキヤン範囲の特定位置、
殊に中心にくるようマイクロコンピユータ(以下
マイコンと略称する)によつて常に補正すること
により比較的短時間ならびに長時間のレーザの光
周波数偏移を修正し、外部空間に存在する有害ガ
スの赤外線分光を行わしめる新しい方式を提供す
るものであつて、以下図面を用いて詳記する。
で、微小振幅の交番信号を重畳したたとえば微小
の階段波状に変化する電流でレーザを駆動するこ
とによつて微分吸収特性の片側のピーク幅だけを
電流スキヤンし、その微分吸収特性にピークを生
じる電流値を上記電流スキヤン範囲の特定位置、
殊に中心にくるようマイクロコンピユータ(以下
マイコンと略称する)によつて常に補正すること
により比較的短時間ならびに長時間のレーザの光
周波数偏移を修正し、外部空間に存在する有害ガ
スの赤外線分光を行わしめる新しい方式を提供す
るものであつて、以下図面を用いて詳記する。
第1図は本発明に係る赤外分光分析法を行うた
めの構成を示した系統図であつて、大気中の有害
ガスGの分析を行うに際しては、まずレーザ5か
ら射出された光をチヨツパCHで断続させた後、
反射鏡26により平行ビームとなし、ビームスプ
リツタ23を通し分析装置31の外部に放射す
る。外部空間に放射された光は有害ガスG中を通
過し、レトロリフレクタ28によつて析り返され
て再びガスG中を通り分析装置中31に入射して
反射鏡27,32によつて集光され、赤外線検知
器6中に導入される。この検知器6で光電変換さ
れた電気信号は2つのロツクイン増幅器LA1,
LA2に入力されるが、第1のロツクイン増幅器
LA1には、経路ホを介してチヨツパCHからの参
照信号が加えられるため、該増幅器LA1の出力に
は第2図中の曲線ヌで示した吸収特性の値Pが出
力される。一方、第2のロツクイン増幅器LA2に
は経路ヘを介して交番電圧発生器17からの参照
信号が加えられ、該増幅器LA2は微分モードで働
くようになつている。こため該増幅器LA2の出力
には微分吸収特性の値P′が出力されるのである
が、このP′ならびに先述のPなる値は共にA/D
変換器15a,15bのそれぞれを介してマイコ
ン7に加えられて除算操作がなされ、その結果が
記憶手段9に記憶されて第2図a中の曲線ルに示
したP′/P特性が得られる。なお、ロツクイン増
幅器LA2の出力に微分吸収特性が得られるのは、
アナログ入力で制御可能な電源8からレーザに加
えられる第2図bに示した階段(ステツプ)状の
波形オを有するレーザ駆動電流に、第1図中の発
振器17から供給される微小振幅の交番信号ワが
加算器19によつて重量され、その結果レーザ5
から射出される光出力に上記と同じ微小交番成分
が含まれているためである。
めの構成を示した系統図であつて、大気中の有害
ガスGの分析を行うに際しては、まずレーザ5か
ら射出された光をチヨツパCHで断続させた後、
反射鏡26により平行ビームとなし、ビームスプ
リツタ23を通し分析装置31の外部に放射す
る。外部空間に放射された光は有害ガスG中を通
過し、レトロリフレクタ28によつて析り返され
て再びガスG中を通り分析装置中31に入射して
反射鏡27,32によつて集光され、赤外線検知
器6中に導入される。この検知器6で光電変換さ
れた電気信号は2つのロツクイン増幅器LA1,
LA2に入力されるが、第1のロツクイン増幅器
LA1には、経路ホを介してチヨツパCHからの参
照信号が加えられるため、該増幅器LA1の出力に
は第2図中の曲線ヌで示した吸収特性の値Pが出
力される。一方、第2のロツクイン増幅器LA2に
は経路ヘを介して交番電圧発生器17からの参照
信号が加えられ、該増幅器LA2は微分モードで働
くようになつている。こため該増幅器LA2の出力
には微分吸収特性の値P′が出力されるのである
が、このP′ならびに先述のPなる値は共にA/D
変換器15a,15bのそれぞれを介してマイコ
ン7に加えられて除算操作がなされ、その結果が
記憶手段9に記憶されて第2図a中の曲線ルに示
したP′/P特性が得られる。なお、ロツクイン増
幅器LA2の出力に微分吸収特性が得られるのは、
アナログ入力で制御可能な電源8からレーザに加
えられる第2図bに示した階段(ステツプ)状の
波形オを有するレーザ駆動電流に、第1図中の発
振器17から供給される微小振幅の交番信号ワが
加算器19によつて重量され、その結果レーザ5
から射出される光出力に上記と同じ微小交番成分
が含まれているためである。
ここでτは第2図bに示した階段波形の波形の
1周期を示すものであるが、該階段波状波形のt1
〜t6,t6〜t11,t11〜t16の各期間のうち、t1〜t2,
t6〜t7,およびt11〜t12の各期間だけは他の期間よ
り長く設定されている。これは、この期間t1〜
t2,t6〜t7およびt11〜t12がロツクイン増幅器の応
答回復のために必要であることに基づいている。
1周期を示すものであるが、該階段波状波形のt1
〜t6,t6〜t11,t11〜t16の各期間のうち、t1〜t2,
t6〜t7,およびt11〜t12の各期間だけは他の期間よ
り長く設定されている。これは、この期間t1〜
t2,t6〜t7およびt11〜t12がロツクイン増幅器の応
答回復のために必要であることに基づいている。
上記階段状の駆動電流は最小値minに始ま最
大値maxの終わることは第2図bから容易に理
解される。したがつて第3図aではこの階段状の
変化ならびに微小交番信号成分を略し、第2図b
の波形を理解の便宜のために第3図a中のカで示
したごとく単なる掃引三角波で表すことにする。
大値maxの終わることは第2図bから容易に理
解される。したがつて第3図aではこの階段状の
変化ならびに微小交番信号成分を略し、第2図b
の波形を理解の便宜のために第3図a中のカで示
したごとく単なる掃引三角波で表すことにする。
レーザ5はこのように掃引三角波で略記された
駆動伝流によつてP′/Pがピークを示す電流値幅
s=max−minでスキヤンされるのである
が、該電流が実際には微小ステツプで変化するよ
うになされているのは、各電流値に対応した各ガ
ス濃度データをマイコンに取り込むのに便利なた
めである。
駆動伝流によつてP′/Pがピークを示す電流値幅
s=max−minでスキヤンされるのである
が、該電流が実際には微小ステツプで変化するよ
うになされているのは、各電流値に対応した各ガ
ス濃度データをマイコンに取り込むのに便利なた
めである。
ここでP′/Pすなわち吸収値と該吸収値の波長
変化に伴う微分値との除算値のピーク位置に相当
する電流Inを制御信号として取り出し、DA変換
器18を通して加算器19から電源8に加え、こ
のInの電流がスキヤンする電流範囲Is=Ipax―
Iminの中心段の電流値となるように上記スキヤ
ン電流の最大値Imaxおよび最小値Iminを補正す
る。かくすれば光周波数が偏移を生じ、その結
果、第2図に示したP′/Pのピーク値が第2図a
の左右のどちらかへドリフトしてもこのピーク値
を常に中心に保つべく第3図aに示したごとく
ImaxならびにIminは修正されて行き、そのため
にInの値は第3図a中の曲線ヨで示したごとく変
化してレーザの発光波長シフトを常に修正してゆ
くから、たとえ第3図中の△Inで示しただけの波
長偏移にもとずくInのシフトが生じたとしても、
正確なガス濃度分析が常に行いうる。
変化に伴う微分値との除算値のピーク位置に相当
する電流Inを制御信号として取り出し、DA変換
器18を通して加算器19から電源8に加え、こ
のInの電流がスキヤンする電流範囲Is=Ipax―
Iminの中心段の電流値となるように上記スキヤ
ン電流の最大値Imaxおよび最小値Iminを補正す
る。かくすれば光周波数が偏移を生じ、その結
果、第2図に示したP′/Pのピーク値が第2図a
の左右のどちらかへドリフトしてもこのピーク値
を常に中心に保つべく第3図aに示したごとく
ImaxならびにIminは修正されて行き、そのため
にInの値は第3図a中の曲線ヨで示したごとく変
化してレーザの発光波長シフトを常に修正してゆ
くから、たとえ第3図中の△Inで示しただけの波
長偏移にもとずくInのシフトが生じたとしても、
正確なガス濃度分析が常に行いうる。
以下、ガス濃度分析の手順を示す。まず第1図
中に示した全反射鏡21を矢印ロ方向に動かし、
該反射鏡21をビームスプリツタ23に開かれて
いる図示しない間隙中に挿入し、同時に封入され
たガス濃度が最も大なる第1の較正用ガスセル2
を光路ニ中にやはり矢印ロ方向に動かして挿入す
る。かくすればレーザ5から射出された反射鏡2
1で反射された光は外部空間へは出ずに分析装置
31内で反射鏡27,32によつて集光され上記
較正用ガスセル2中のガスによる吸収を生じるか
ら該吸収に基づく微分吸収特性(P′/P)の上半
分、つまり第2図a中の曲線ルで示した部分が前
記三角波の一周期τに相当する第3図bにおける
t100〜t101の時間に現れる。
中に示した全反射鏡21を矢印ロ方向に動かし、
該反射鏡21をビームスプリツタ23に開かれて
いる図示しない間隙中に挿入し、同時に封入され
たガス濃度が最も大なる第1の較正用ガスセル2
を光路ニ中にやはり矢印ロ方向に動かして挿入す
る。かくすればレーザ5から射出された反射鏡2
1で反射された光は外部空間へは出ずに分析装置
31内で反射鏡27,32によつて集光され上記
較正用ガスセル2中のガスによる吸収を生じるか
ら該吸収に基づく微分吸収特性(P′/P)の上半
分、つまり第2図a中の曲線ルで示した部分が前
記三角波の一周期τに相当する第3図bにおける
t100〜t101の時間に現れる。
このt100〜t101の間に現れた曲線ルのピーク値は
前記較正用ガス中のガス濃度に対応するものであ
るからこの波形をマイコン7中のメモリ9に格納
する。そしてI=Imaxとなつた時刻t101すなわち
第3図a中でP1として示した瞬間において上記ガ
ス濃度曲線ルのピーク値をたとえばレコーダ16
に、第3図b中のq1なる値として出力し、記録せ
しめる。
前記較正用ガス中のガス濃度に対応するものであ
るからこの波形をマイコン7中のメモリ9に格納
する。そしてI=Imaxとなつた時刻t101すなわち
第3図a中でP1として示した瞬間において上記ガ
ス濃度曲線ルのピーク値をたとえばレコーダ16
に、第3図b中のq1なる値として出力し、記録せ
しめる。
つぎに封入されたガス濃度がやや小なる第2の
較正用ガスセル2′を、先の較正用ガスセル2と
交換してやはり光路ニに挿入する。かくすれば上
記のごとくやや小なるガス濃度に応じた(P′/
P)の上半分の部分が第3図bにおけるt101〜t102
の時間にル′として示したごとく現れるからこの
波形をやはりマイコン7中のメモリ9に格納し、
I=Imaxとなつた時刻t102すなわち第3図中のp2
で示した瞬間において該ガスの濃度曲線ル′のピ
ーク値をレコーダ16に、第3図中のq2なる値と
して出力し、記録せしめる。
較正用ガスセル2′を、先の較正用ガスセル2と
交換してやはり光路ニに挿入する。かくすれば上
記のごとくやや小なるガス濃度に応じた(P′/
P)の上半分の部分が第3図bにおけるt101〜t102
の時間にル′として示したごとく現れるからこの
波形をやはりマイコン7中のメモリ9に格納し、
I=Imaxとなつた時刻t102すなわち第3図中のp2
で示した瞬間において該ガスの濃度曲線ル′のピ
ーク値をレコーダ16に、第3図中のq2なる値と
して出力し、記録せしめる。
しかる後、第1図中の全反射鏡21を矢印ハ方
向に動かし、ビームスプリツタ23の間隔中から
引き抜く。これと同時に今まで光路ニ中に挿入さ
れていた較正用ガスセル2′を除去すれば、レー
ザ5から放射された光は外部空間に放射され、レ
トロリフレクタ28で折り返されて再び分析装置
31中に入射し、検知器6で検出されるのである
が、かくすれば外部空間に存在するガスG濃度に
応じた(P′/P)の上半分の曲線が、第3図bに
おけるt102〜t103の時間にル″としせ示したごとく
現れる。したがつてこの波形を再びマイコン7中
のメモリ9に格納し、I=Imaxとなつた時刻t103
すなわち第3図a中のP3で示した瞬間において、
該ガスの濃度曲線ル″のピーク値をレコーダ16
に、第3図中のq3なる値として出力し、記録させ
る。以上のような前操作をたとえば3秒間(τ=
1秒)に完了してけば、あとは大気中のガスGの
濃度に対応するq3なる値を長時間にわたつて観測
できる。第3図cの曲線タはT〓1日程度の時間
について大気中のガスGの濃度を求めたものであ
つて、該曲線はガスGの濃度変動によつていくら
か変動しているが、Tなる時間間隔で較正されて
いるために該ガスGの測定は正確に行えることが
わかる。
向に動かし、ビームスプリツタ23の間隔中から
引き抜く。これと同時に今まで光路ニ中に挿入さ
れていた較正用ガスセル2′を除去すれば、レー
ザ5から放射された光は外部空間に放射され、レ
トロリフレクタ28で折り返されて再び分析装置
31中に入射し、検知器6で検出されるのである
が、かくすれば外部空間に存在するガスG濃度に
応じた(P′/P)の上半分の曲線が、第3図bに
おけるt102〜t103の時間にル″としせ示したごとく
現れる。したがつてこの波形を再びマイコン7中
のメモリ9に格納し、I=Imaxとなつた時刻t103
すなわち第3図a中のP3で示した瞬間において、
該ガスの濃度曲線ル″のピーク値をレコーダ16
に、第3図中のq3なる値として出力し、記録させ
る。以上のような前操作をたとえば3秒間(τ=
1秒)に完了してけば、あとは大気中のガスGの
濃度に対応するq3なる値を長時間にわたつて観測
できる。第3図cの曲線タはT〓1日程度の時間
について大気中のガスGの濃度を求めたものであ
つて、該曲線はガスGの濃度変動によつていくら
か変動しているが、Tなる時間間隔で較正されて
いるために該ガスGの測定は正確に行えることが
わかる。
第4図は前記2個の較正セル中の既知なるガス
濃度D1,D2と、これらの値から得られた微分吸
収量q1,q2によつて引かれる較正曲線ヨを用い
て、大気中のガスの吸収量q3から該ガスGの濃度
D3が求められる様子を示したものであるが、こ
うした較正曲線ヨは第3図cに示したごとくT〓
1日程度の時間間隔で上記の2個の較正セルを用
いた較正操作を行うことによつて得られるもので
ある。
濃度D1,D2と、これらの値から得られた微分吸
収量q1,q2によつて引かれる較正曲線ヨを用い
て、大気中のガスの吸収量q3から該ガスGの濃度
D3が求められる様子を示したものであるが、こ
うした較正曲線ヨは第3図cに示したごとくT〓
1日程度の時間間隔で上記の2個の較正セルを用
いた較正操作を行うことによつて得られるもので
ある。
なお、本実施例では第2図bに示したごとく微
小ステツプを有するいわば鋸歯状波形状の駆動電
流でスキヤンを行う例について述べたが、これは
第5図に示すごときやはり微小ステツプを有する
ランプ波形状の電流であつてもよい。そして上記
の鋸歯状波の駆動電流を用いる場合には1回のス
キヤンが終わりI=Imaxとなつた時点から次の
スキン開始のI=Iminにまで急峻に電流値が変
化するために、ロツクイン増幅器の応答回復に、
第2図b中のt1〜t2,t6〜t7,t11〜t12……なるや
や長い待機時間を必要とした。しかし、駆動電流
のスキヤン波形を第5図に示したようなランプ波
形となせば、上記のごとき急峻は電流変化が生な
いために待機時間を設ける必要がなくなつて都合
がよい。
小ステツプを有するいわば鋸歯状波形状の駆動電
流でスキヤンを行う例について述べたが、これは
第5図に示すごときやはり微小ステツプを有する
ランプ波形状の電流であつてもよい。そして上記
の鋸歯状波の駆動電流を用いる場合には1回のス
キヤンが終わりI=Imaxとなつた時点から次の
スキン開始のI=Iminにまで急峻に電流値が変
化するために、ロツクイン増幅器の応答回復に、
第2図b中のt1〜t2,t6〜t7,t11〜t12……なるや
や長い待機時間を必要とした。しかし、駆動電流
のスキヤン波形を第5図に示したようなランプ波
形となせば、上記のごとき急峻は電流変化が生な
いために待機時間を設ける必要がなくなつて都合
がよい。
以上に述べた本発明に係る分光析方法によれ
ば、前記した従来の分光分析装置におけるごと
く、第1および第2の較正用経路はもちろんのこ
と、両較正経路に順次レーザ光を切替える複数の
シヤツタ機構、ならびに該シヤツタ機構の制御装
置が不要となり、そのために分光分析装置全体を
安価なものにできるので実用上多大の効果が期待
できる。
ば、前記した従来の分光分析装置におけるごと
く、第1および第2の較正用経路はもちろんのこ
と、両較正経路に順次レーザ光を切替える複数の
シヤツタ機構、ならびに該シヤツタ機構の制御装
置が不要となり、そのために分光分析装置全体を
安価なものにできるので実用上多大の効果が期待
できる。
第1図は本発明に係る分光分析法を行うための
構成を示した系統図、第2図aはガスの吸収特性
および微分吸収特性を示す図、第2図bは分光分
析装置中のレーザを駆動する電流波形を示す図、
第3図aは該レーザが波長変動を起こちた場合に
Imaxと1minとの電流範囲の中心に微分吸収曲線
のピークを保つてレーザの発光波長偏移を自動的
に修正する様子を示す図、第3図bは、大気中の
ガス濃度を求めるに際して第1および第2の較正
セルを用いて較正用の前操作を行う様子を示した
図、第3図cは1日程度の長時間にわたる一定期
間ごとに上記較正を行う様子を示した図、第4図
は2個の較正セル中の既知なるガス濃度とそれに
対応する微分吸収量から較正曲線が得られること
を示す図、第5図は第2図bに示したごとき鋸歯
状波形状の駆動電流のかわりに用いられるランプ
波形状の駆動電流を示す図である。 2:ガスセル、5:レーザ、6:検知器、7:
マイコン、8:アナログ入力で制御可能な電源、
9:メモリ、15a,15b:A/D変換器、1
6:記録器、17:微小振幅の交番電圧発生器、
18:D/A変換器、19:加算器、21:全反
射鏡、23:ビームスプリツタ、26,27,3
2:反射鏡、28:レトロリフレクタ、ロ,ハ:
全反射鏡21およびガスセル2の挿脱方向、ホ,
ヘ:参照信号伝達経路。
構成を示した系統図、第2図aはガスの吸収特性
および微分吸収特性を示す図、第2図bは分光分
析装置中のレーザを駆動する電流波形を示す図、
第3図aは該レーザが波長変動を起こちた場合に
Imaxと1minとの電流範囲の中心に微分吸収曲線
のピークを保つてレーザの発光波長偏移を自動的
に修正する様子を示す図、第3図bは、大気中の
ガス濃度を求めるに際して第1および第2の較正
セルを用いて較正用の前操作を行う様子を示した
図、第3図cは1日程度の長時間にわたる一定期
間ごとに上記較正を行う様子を示した図、第4図
は2個の較正セル中の既知なるガス濃度とそれに
対応する微分吸収量から較正曲線が得られること
を示す図、第5図は第2図bに示したごとき鋸歯
状波形状の駆動電流のかわりに用いられるランプ
波形状の駆動電流を示す図である。 2:ガスセル、5:レーザ、6:検知器、7:
マイコン、8:アナログ入力で制御可能な電源、
9:メモリ、15a,15b:A/D変換器、1
6:記録器、17:微小振幅の交番電圧発生器、
18:D/A変換器、19:加算器、21:全反
射鏡、23:ビームスプリツタ、26,27,3
2:反射鏡、28:レトロリフレクタ、ロ,ハ:
全反射鏡21およびガスセル2の挿脱方向、ホ,
ヘ:参照信号伝達経路。
Claims (1)
- 1 所定範囲で階段波状に順次大きさの変化する
電波に微小振幅の電流を重畳した駆動電流を繰り
返し供給して波長可変型レーザを駆動し、該レー
ザを光源として特定のガス空間を通過した後のレ
ーザ光を赤外線検知器で電気信号に変換して上記
ガス空間におけるレーザ光の周波数変化に伴う吸
収量変化の微分吸収特性によりガス濃度を検出す
る赤外線分光分析方法において、前記駆動電流の
各段の電流値に応じたレーザ光のガス空間におけ
る吸収値と該吸収値の波長変化に伴う微分値との
除算値を求めて逐次記憶手段に記憶せしめるとと
もに該除算値のピークを与える段の駆動電流値に
対応した制御信号を得、当該ピーク値を与える電
流値が前記階段波状電流の変化範囲において予め
定めた特定段の電流値となるよう次の周期の駆動
電流の変化範囲の上下限値を補正するようにした
ことを特徴とする赤外線分光分析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10593680A JPS5729934A (en) | 1980-07-31 | 1980-07-31 | Infrared ray spectroscopic analysing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10593680A JPS5729934A (en) | 1980-07-31 | 1980-07-31 | Infrared ray spectroscopic analysing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5729934A JPS5729934A (en) | 1982-02-18 |
JPS6140336B2 true JPS6140336B2 (ja) | 1986-09-09 |
Family
ID=14420727
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10593680A Granted JPS5729934A (en) | 1980-07-31 | 1980-07-31 | Infrared ray spectroscopic analysing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5729934A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7222537B2 (en) * | 2004-07-20 | 2007-05-29 | Martin Lehmann | Method of monitoring pressure of a gas species and apparatus to do so |
-
1980
- 1980-07-31 JP JP10593680A patent/JPS5729934A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5729934A (en) | 1982-02-18 |
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