JPS6140044B2 - - Google Patents
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- JPS6140044B2 JPS6140044B2 JP1561279A JP1561279A JPS6140044B2 JP S6140044 B2 JPS6140044 B2 JP S6140044B2 JP 1561279 A JP1561279 A JP 1561279A JP 1561279 A JP1561279 A JP 1561279A JP S6140044 B2 JPS6140044 B2 JP S6140044B2
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- Japan
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- head
- output
- magnetic disk
- disk
- pulse motor
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- Expired
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明の目的は磁気デイスク塗膜面の自動検査
装置に関するものである。磁気デイスクの表面に
塗布する磁性塗料には、強度を高めるためアルミ
ナ等を混入してあるが、これらはデイスク表面に
微細突起を生ずるため、通常、表面研磨して、検
査を行い、検査基準に合格したものを出荷してい
る。
装置に関するものである。磁気デイスクの表面に
塗布する磁性塗料には、強度を高めるためアルミ
ナ等を混入してあるが、これらはデイスク表面に
微細突起を生ずるため、通常、表面研磨して、検
査を行い、検査基準に合格したものを出荷してい
る。
従来この磁気デイスク塗膜面検査方法としては
圧電素子を取付けた磁気ヘツドを用い、磁気デイ
スクの表面を一面づつ、回転速度を適当に選定し
て、全面に亘りオツシロスコープの波形を目視観
測して検査していた。従つて検査工数を要すると
共に、観測結果を人手を介して記録しているため
作業ミスがまぬがれず、改善課題となつている。
圧電素子を取付けた磁気ヘツドを用い、磁気デイ
スクの表面を一面づつ、回転速度を適当に選定し
て、全面に亘りオツシロスコープの波形を目視観
測して検査していた。従つて検査工数を要すると
共に、観測結果を人手を介して記録しているため
作業ミスがまぬがれず、改善課題となつている。
本発明は上記の如き従来方式の欠点を改良する
ことを目的とし、この目的は超音波検出素子（以
後AE素子と略称す）、選択同調回路、XYレコー
ダ等を用いて自動検査を行う磁気デイスク表面の
検査方法により達成される。
ことを目的とし、この目的は超音波検出素子（以
後AE素子と略称す）、選択同調回路、XYレコー
ダ等を用いて自動検査を行う磁気デイスク表面の
検査方法により達成される。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第１図はAE変換素子の周波数特性を示すもの
で共振周波数ｏを持つていることがわかる。
で共振周波数ｏを持つていることがわかる。
第２図は、AE素子をヘツドに塔載し、デイス
ク上の所定トラツクに浮上させた時のAE素子出
力の周波数スペクトルを示すもので、この図から
わかるように、共振周波数ｏにおいて大きな出
力（mV）を発生している。
ク上の所定トラツクに浮上させた時のAE素子出
力の周波数スペクトルを示すもので、この図から
わかるように、共振周波数ｏにおいて大きな出
力（mV）を発生している。
したがつて、デイスク塗膜面の突起がヘツドに
当たると、AE素子にこの大きな共振電圧が発生
するので、その共振周波数に選択同調させると大
きな直流出力が得られる。通常該選択同調装置に
は選択レベルメータを用いるが、同様な機能を有
する装置であれば差支えない。前記直流をXYレ
コーダ又は電磁オツシログラフ等に入力し、記録
すると共に、必要あれば目視により観測を行う。
当たると、AE素子にこの大きな共振電圧が発生
するので、その共振周波数に選択同調させると大
きな直流出力が得られる。通常該選択同調装置に
は選択レベルメータを用いるが、同様な機能を有
する装置であれば差支えない。前記直流をXYレ
コーダ又は電磁オツシログラフ等に入力し、記録
すると共に、必要あれば目視により観測を行う。
第３図は本発明の実施例の装置構成であり、図
中１はヘツド、２はAE素子でヘツド１に接着塔
載しており、３はデイスク、４はヘツド移動台及
びパルスモータ、５はプリアンプ、６はアナログ
スイツチ、７は選択レベルメータ、８はXYレコ
ーダ、９はパルスモータ制御部である。パルスモ
ータ制御部９よりの命令に従い、４のパルスモー
タが作動して、接続されたヘツド移動台を１トラ
ツクずつ移動させる。このときAE素子２が圧力
を検出して、プリアンプ５により増巾するが、そ
の際、アナログスイツチ６により、プリアンプ５
の出力をコントロールすることによりヘツド移動
時の振動を除去して、高感度検出を可能にし、選
択レベルメータ７により、突起がAE素子２に当
つた際発生する共振周波数を受信増巾し、XYレ
コーダに記録する。第４図のXYレコーダの記録
はデイスクの全面にわたる検査記録であつて、右
側がデイスク外側、左側がデイスク内側であり、
ａに示す突起は0.1μ程度の微小突起であつて、
この図の位置からデイスク上の突起存在位置が指
示される。第４図において、出力がデイスク内周
部から外周部に減少しているのは、外周部では周
速度が大でヘツド浮上量が大であるのに、内周部
では周速度が小でヘツド浮上量が小であることに
基づく。
中１はヘツド、２はAE素子でヘツド１に接着塔
載しており、３はデイスク、４はヘツド移動台及
びパルスモータ、５はプリアンプ、６はアナログ
スイツチ、７は選択レベルメータ、８はXYレコ
ーダ、９はパルスモータ制御部である。パルスモ
ータ制御部９よりの命令に従い、４のパルスモー
タが作動して、接続されたヘツド移動台を１トラ
ツクずつ移動させる。このときAE素子２が圧力
を検出して、プリアンプ５により増巾するが、そ
の際、アナログスイツチ６により、プリアンプ５
の出力をコントロールすることによりヘツド移動
時の振動を除去して、高感度検出を可能にし、選
択レベルメータ７により、突起がAE素子２に当
つた際発生する共振周波数を受信増巾し、XYレ
コーダに記録する。第４図のXYレコーダの記録
はデイスクの全面にわたる検査記録であつて、右
側がデイスク外側、左側がデイスク内側であり、
ａに示す突起は0.1μ程度の微小突起であつて、
この図の位置からデイスク上の突起存在位置が指
示される。第４図において、出力がデイスク内周
部から外周部に減少しているのは、外周部では周
速度が大でヘツド浮上量が大であるのに、内周部
では周速度が小でヘツド浮上量が小であることに
基づく。
本発明を使用することにより、検査精度向上を
達成出来るのみならず、作業自動化が可能となる
ため、作業員一人当りの検査数を増加し、全面検
査の完全実施並びに検査結果の自動記録に基ずく
作業信頼度の向上とともにコストダウン推進に多
大の寄与が可能である。
達成出来るのみならず、作業自動化が可能となる
ため、作業員一人当りの検査数を増加し、全面検
査の完全実施並びに検査結果の自動記録に基ずく
作業信頼度の向上とともにコストダウン推進に多
大の寄与が可能である。
第１図はAE変換素子の周波数特性図、第２図
はAE素子をヘツドに塔載し、デイスク上に浮上
させたときのAE素子の周波数スペクトル特性
図、第３図は本装置の構成を示す図、第４図はデ
イスク上に突起が存在した場合のXYレコーダの
実測図である。 図中１はヘツド、２はAE素子、３はデイス
ク、４はヘツド移動台及びパルスモータ、５はプ
リアンプ、６はアナログスイツチ、７は選択レベ
ルメータ、８はXYレコーダ、９はパルスモータ
制御部、ａはデイスク上の突起にAE素子が接触
した場合に発生する出力の増加部分である。
はAE素子をヘツドに塔載し、デイスク上に浮上
させたときのAE素子の周波数スペクトル特性
図、第３図は本装置の構成を示す図、第４図はデ
イスク上に突起が存在した場合のXYレコーダの
実測図である。 図中１はヘツド、２はAE素子、３はデイス
ク、４はヘツド移動台及びパルスモータ、５はプ
リアンプ、６はアナログスイツチ、７は選択レベ
ルメータ、８はXYレコーダ、９はパルスモータ
制御部、ａはデイスク上の突起にAE素子が接触
した場合に発生する出力の増加部分である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 所定の共振周波数を有する超音波検出素子を
搭載したヘツドと、 該超音波検出素子の出力を増巾するプリアンプ
と、 該ヘツド移動時の振動を除去し高感度検出を可
能とする該プリアンプの出力をコントロールする
アナログスイツチと、 該超音波検出素子の共振周波数に選択同調させ
る選択レベルメータと、 該選択レベルメータの出力を記録表示する手段
と、 該ヘツドの移動台を所定トラツクずつ移動させ
るパルスモータと、 該パルスモータ及び該アナログスイツチを制御
する制御部とを有し、該ヘツドを磁気デイスク上
に浮上させ、該ヘツドを移動せしめた際の、該素
子の共振周波数出力を測定することにより、磁気
デイスク表面の異物突起等を検出することを特徴
とする磁気デイスク表面の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1561279A JPS55108931A (en) | 1979-02-13 | 1979-02-13 | Inspection method of magnetic disc surface |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1561279A JPS55108931A (en) | 1979-02-13 | 1979-02-13 | Inspection method of magnetic disc surface |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55108931A JPS55108931A (en) | 1980-08-21 |
| JPS6140044B2 true JPS6140044B2 (ja) | 1986-09-06 |
Family
ID=11893520
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1561279A Granted JPS55108931A (en) | 1979-02-13 | 1979-02-13 | Inspection method of magnetic disc surface |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55108931A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5737207A (en) * | 1980-08-19 | 1982-03-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Detecting mechanism for projection part on recording medium |
| JPS617480A (ja) * | 1984-06-21 | 1986-01-14 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | ディスク型記録媒体テスタ |
| JPS62134555A (ja) * | 1985-12-06 | 1987-06-17 | Fujitsu Ltd | 磁気記録媒体の試験方法 |
| CN105403179B (zh) * | 2015-11-21 | 2018-01-02 | 中北大学 | 超声深孔直线度检测方法及装置 |
-
1979
- 1979-02-13 JP JP1561279A patent/JPS55108931A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55108931A (en) | 1980-08-21 |
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