JPS6138516A - スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置 - Google Patents
スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置Info
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- JPS6138516A JPS6138516A JP15931784A JP15931784A JPS6138516A JP S6138516 A JPS6138516 A JP S6138516A JP 15931784 A JP15931784 A JP 15931784A JP 15931784 A JP15931784 A JP 15931784A JP S6138516 A JPS6138516 A JP S6138516A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 11
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 title claims description 7
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
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- 238000009415 formwork Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明はスリップフオーム工法における施工精度の測
定装胃に関し、特にスリップフオーム装置の角度変位を
測定する施工精度測定装置に関する。
定装胃に関し、特にスリップフオーム装置の角度変位を
測定する施工精度測定装置に関する。
(従来技術と問題点)
スリップフオーム工法は、環状に配設したスリップフオ
ーム型枠をコンクリート中に埋め込んだロンドを支柱と
して、ジヤツキで徐々に上昇させながら連続してコンク
リートを打設し、打ち継目のないコンクリートhが進物
を構築するものであって、特に、高さ方向に対して断面
形状が変化する、例えばサイロ、超高煙突などの構造物
に適用される。
ーム型枠をコンクリート中に埋め込んだロンドを支柱と
して、ジヤツキで徐々に上昇させながら連続してコンク
リートを打設し、打ち継目のないコンクリートhが進物
を構築するものであって、特に、高さ方向に対して断面
形状が変化する、例えばサイロ、超高煙突などの構造物
に適用される。
ところで、この秤の構造物を構築する際には、構造物の
水平断面が真円であればスリップフォー−ム型枠の中心
軸が一致し、水平面内での周方向の変位(角度変位)が
あっても問題はない。
水平断面が真円であればスリップフォー−ム型枠の中心
軸が一致し、水平面内での周方向の変位(角度変位)が
あっても問題はない。
そこで、例えば特開昭56−107111号公報に見ら
れるように 4Jイロの側壁が常に鉛直上方に延長して
コンクリートの打設がされでいるかどうかを測定する装
置が捉案されている。
れるように 4Jイロの側壁が常に鉛直上方に延長して
コンクリートの打設がされでいるかどうかを測定する装
置が捉案されている。
しかしながら、上記公報に開示された装置を含め、これ
までに提供されている装置では、次のような問題があっ
た。
までに提供されている装置では、次のような問題があっ
た。
すなわち、例えばサイロなどにおいては、その外周面に
点検用のステージを取付けたり、場合によっては窓など
が形成され、これらの取付位置は正確に位置決めされ、
アンカーあるいは窓枠などを壁体のコンクリート打設時
に埋設しなければならない。
点検用のステージを取付けたり、場合によっては窓など
が形成され、これらの取付位置は正確に位置決めされ、
アンカーあるいは窓枠などを壁体のコンクリート打設時
に埋設しなければならない。
また、v4逃物の水平断面が例えば楕円状等臭円でない
場合には、周方向に変位すると、歪みが生じこの部分が
構造上の欠点になる場合しある。
場合には、周方向に変位すると、歪みが生じこの部分が
構造上の欠点になる場合しある。
しかるに従来の測定装置では、スリップフオーム装置の
鉛直度、あるいは水平変位は測定でき°(゛も、角度変
位は測定することができず、上述した場合に不都合を感
じていた。
鉛直度、あるいは水平変位は測定でき°(゛も、角度変
位は測定することができず、上述した場合に不都合を感
じていた。
(発明の目的)
この発明は」述した従来の問題点にねみてなされたもの
であって、スリップフオーム型枠の周方向変位(角変位
)を測定できる施工精[f測定装置を提供することを目
的とする。
であって、スリップフオーム型枠の周方向変位(角変位
)を測定できる施工精[f測定装置を提供することを目
的とする。
(発明の構成)
上記の目的を達成するため、この発明はスリップフオー
ム工法における施工精度測定装置においで、環状に連結
したスリップフオーム型枠の中心点の対向位置に設置さ
れ鉛直上方に向けてレーザービームを放射する一対のレ
ーザー発Wl器と、このレーザー発振器の上方対向位置
にあって前記スリップフオーム型枠とともに移動し、且
つ前記レーザービームをそれぞれ受光する一対のレーザ
ー受光器と、このレーザー受光器で検出したそれぞれの
平面変位値に基づいてスリップフオーム装置の角度変位
を算出する演算v4岡とからなることを特徴とする。
ム工法における施工精度測定装置においで、環状に連結
したスリップフオーム型枠の中心点の対向位置に設置さ
れ鉛直上方に向けてレーザービームを放射する一対のレ
ーザー発Wl器と、このレーザー発振器の上方対向位置
にあって前記スリップフオーム型枠とともに移動し、且
つ前記レーザービームをそれぞれ受光する一対のレーザ
ー受光器と、このレーザー受光器で検出したそれぞれの
平面変位値に基づいてスリップフオーム装置の角度変位
を算出する演算v4岡とからなることを特徴とする。
(実 施 例)
以下、この発明の好適な実施例について添附図面を参照
にして詳細に説明する。
にして詳細に説明する。
第1図および第2図は、この発明に係るスリップフオー
ムI FAにおける施工fIlt反測定装置の一実施例
を示している。
ムI FAにおける施工fIlt反測定装置の一実施例
を示している。
第1図はスリップフオームr法における測定装置の設置
位置を示しており、測定装置は、環状に連結されたスリ
ップフオーム型枠10の中心軸(0)から等しい間隔(
L)を置いて、対向位置に設置された一対のレーザー発
振器12a、12bと、このレーザー発@器12a、1
2bの上方対向位置にあって、スリップフオーム型枠1
0とともに上が・移動する水平ビーム14に垂下された
支持部材16に取付【プられた一対のレーザー受光器1
8a、18bと、このレーザー受光器18a、18bと
電気的接続され前記水平ビーム14の上方に設けられた
演算装置1120とから概略構成されている。
位置を示しており、測定装置は、環状に連結されたスリ
ップフオーム型枠10の中心軸(0)から等しい間隔(
L)を置いて、対向位置に設置された一対のレーザー発
振器12a、12bと、このレーザー発@器12a、1
2bの上方対向位置にあって、スリップフオーム型枠1
0とともに上が・移動する水平ビーム14に垂下された
支持部材16に取付【プられた一対のレーザー受光器1
8a、18bと、このレーザー受光器18a、18bと
電気的接続され前記水平ビーム14の上方に設けられた
演算装置1120とから概略構成されている。
第2図は上記測定装置のより詳細な構成を示す説明図で
あって、上記レーザー発振器12a、12bは、それぞ
れ鉛直上方に位置するレーザー受光器18a、18bに
向けてレーザービーム22゜22を放射する。
あって、上記レーザー発振器12a、12bは、それぞ
れ鉛直上方に位置するレーザー受光器18a、18bに
向けてレーザービーム22゜22を放射する。
各レーザー受光器18a、18bは、多数のCOD素子
(固体影像素子)をマトリックス状に配置したターゲッ
トを有し、上記レーザー発振器12a、12bからのレ
ーザービーム22が照射したCOD素子の位置を、X、
Y演算装置20a。
(固体影像素子)をマトリックス状に配置したターゲッ
トを有し、上記レーザー発振器12a、12bからのレ
ーザービーム22が照射したCOD素子の位置を、X、
Y演算装置20a。
20aでもって平面座標に変換するようになっている。
X、Y演tR装置alf20aで変換された座標値は、
インターフェースユニット20bを介して、記憶素子(
RAM、ROM) 、中央演算処理ユニット(CPU)
等で構成したコンピュータユニット20Cに入力され、
且つCRTに表示される。
インターフェースユニット20bを介して、記憶素子(
RAM、ROM) 、中央演算処理ユニット(CPU)
等で構成したコンピュータユニット20Cに入力され、
且つCRTに表示される。
なお、この実施例では、スリップフオーム型枠10の高
さを検出するために、上記一方のレーザー発振器12b
に電磁波を反射するターゲット24が添設され、その上
方対向位置に光波距離計26が設けられ、測定値はA/
D変換器28およびインターフェースユニット20bを
介して、上記コンピュータユニット20cに入力され、
上記と同様にCRTに表示される。
さを検出するために、上記一方のレーザー発振器12b
に電磁波を反射するターゲット24が添設され、その上
方対向位置に光波距離計26が設けられ、測定値はA/
D変換器28およびインターフェースユニット20bを
介して、上記コンピュータユニット20cに入力され、
上記と同様にCRTに表示される。
次に、上記X、Y演算装置20aで検出された平面変位
にも基づいて、上記コンピュータユニット20cで演算
処理をし、スリップフオーム型枠10の角度変位を算出
する手順と、この値に基づいて誤差を算出する手順につ
いて、第3図を参照して説明する。
にも基づいて、上記コンピュータユニット20cで演算
処理をし、スリップフオーム型枠10の角度変位を算出
する手順と、この値に基づいて誤差を算出する手順につ
いて、第3図を参照して説明する。
初期条件として、第3図<a )に示すように、スリッ
プフオーム型枠10の中心軸を0、一方のレーザー受光
器18aの中心を01%他方のレーザー受光器18bの
中心を02 、OOL 、O−2の距離をそれぞれLと
し、スリップフオーム型枠10が時計方向に角αだけ変
位したものとする。
プフオーム型枠10の中心軸を0、一方のレーザー受光
器18aの中心を01%他方のレーザー受光器18bの
中心を02 、OOL 、O−2の距離をそれぞれLと
し、スリップフオーム型枠10が時計方向に角αだけ変
位したものとする。
なお、各図中X、Yで示す座標は地上に固定されてもの
であって、X’ 、Y’で示す座標は、レーザー受光器
18a、18bの中心(0+ 、02 )を結ぶ軸をY
′とし、これに直交する軸をX′として表示している。
であって、X’ 、Y’で示す座標は、レーザー受光器
18a、18bの中心(0+ 、02 )を結ぶ軸をY
′とし、これに直交する軸をX′として表示している。
まず、各レーザー受光器18a、18bの中心の平面変
位(a + 、a2+’bl 、bz )は上述しt:
x y演粋装W20aによって得られる。
位(a + 、a2+’bl 、bz )は上述しt:
x y演粋装W20aによって得られる。
ここで、理解を容易にするため、上記他方のレーザー受
光器18bの中心02からY′軸に平行な直線2を引く
と、LOOzZは変位角αに等しくなる。
光器18bの中心02からY′軸に平行な直線2を引く
と、LOOzZは変位角αに等しくなる。
また、OLから2へ向けて垂下した線が2と交わる点と
OLとの距離をDとし、第3図(a)の斜線部分の三角
形に着目すると、 D”’a 2 a + +ム0OzZ−L(Xから、
)L エム となり、変位角αが算出できる。
OLとの距離をDとし、第3図(a)の斜線部分の三角
形に着目すると、 D”’a 2 a + +ム0OzZ−L(Xから、
)L エム となり、変位角αが算出できる。
なお、上記計算式および以下の計算式では、×1゜Y′
の座標を基準にして8値の符号を定めている。
の座標を基準にして8値の符号を定めている。
ここで、l) (=82−a + )が正の場合、変位
角αは6回転(vI計力方向となり、Dが負の場合は左
回転(反時計方向)となる。
角αは6回転(vI計力方向となり、Dが負の場合は左
回転(反時計方向)となる。
一方、スリップフオーム型枠10の中心IIIIllO
のずれを、0からO′とすると、その平面座標の値はa
、bとなり、これらの値は以下の手順で算出される。
のずれを、0からO′とすると、その平面座標の値はa
、bとなり、これらの値は以下の手順で算出される。
まず、第3図(b)に示すように、斜線部の三角形の各
辺の長さをそれぞれ符Q [EからIで示すと、 E= −、a 、 cos a。
辺の長さをそれぞれ符Q [EからIで示すと、 E= −、a 、 cos a。
F=l−+b、となり
G−FSfn U= (L +b I ) ” Sfn
(Za −E−G −−a + cosα−(L+b
1)−sinαとなる。
(Za −E−G −−a + cosα−(L+b
1)−sinαとなる。
また、H= a + Sfn (Z 。
f=(L+b1 )・cosαとなり、b=1 − F
+ −1=1−+a + sin a
−(L+b + )・COSαとなる。
+ −1=1−+a + sin a
−(L+b + )・COSαとなる。
以上の計算式から中心点のずれa、bが求められる。
さらに、上記シー1アー受光器IQa、18bは、これ
がスリップフオーム型枠10とともに移動する際に、例
えば他の部材が衝突して、予期しない測定誤差が生ずる
ことがある。 1ここで、本発明の測定装置は
、平面変位値(a+ 、 at 、 b+ 、 112
)カラ?7J期状ff!(7)L/ f−受光器1
8a、1811間の距離りと、変位後のこの[L、とを
それぞれ算出して、正規のこれらの値と比較して計測誤
差の存否を確認する。
がスリップフオーム型枠10とともに移動する際に、例
えば他の部材が衝突して、予期しない測定誤差が生ずる
ことがある。 1ここで、本発明の測定装置は
、平面変位値(a+ 、 at 、 b+ 、 112
)カラ?7J期状ff!(7)L/ f−受光器1
8a、1811間の距離りと、変位後のこの[L、とを
それぞれ算出して、正規のこれらの値と比較して計測誤
差の存否を確認する。
なお、正規のこれらの値は上記コンピュータユニット2
0Cのメモリーに記憶されている。
0Cのメモリーに記憶されている。
第3図<O)において、D ”= 82−a + +J
−2・L++ll+ bz となり、(21−’)’
=D’+J2=(az−81)2+(2・L+ bz
+b+)’から、どして計剪したし−と、正規の(II
Lとを比較する。
−2・L++ll+ bz となり、(21−’)’
=D’+J2=(az−81)2+(2・L+ bz
+b+)’から、どして計剪したし−と、正規の(II
Lとを比較する。
一方、計算上のL+’は、
J’=(2・L)’ D’=41’−(az−81)
2から 2L+ ’−、J+b 2 b +からユ よって 上 となり、この尉算幀とiE規のLlとを比較して計測F
t差の確認をMる。
2から 2L+ ’−、J+b 2 b +からユ よって 上 となり、この尉算幀とiE規のLlとを比較して計測F
t差の確認をMる。
なお、訓測誤若の確認は、−1−述1ノた角変位(α)
等の算出に先だって行なうことが好ましい。
等の算出に先だって行なうことが好ましい。
(発明の効果)
以上、実施例で詳細に説明したように、この発明に係る
スリップフオーム工法における施工vi度測定a装にお
いては、一対のレーザー受光器の平面変位値に基づいて
角変位を算出することができるため、例えばサイロなど
の塔状構造物に点検用ステージ、窓などを取付ける場合
に正確にこれらを設定できるなどの優れた効果が得られ
る。
スリップフオーム工法における施工vi度測定a装にお
いては、一対のレーザー受光器の平面変位値に基づいて
角変位を算出することができるため、例えばサイロなど
の塔状構造物に点検用ステージ、窓などを取付ける場合
に正確にこれらを設定できるなどの優れた効果が得られ
る。
第1図は本発明の測定装置の設置状態の説明図、第2図
は測定装置の電気・光学系の説明図、第3図は計q式の
説明図である。 10・・・・・・スリップフオーム型枠12a、12b
・・・・・・レーザー発娠器14・・・・・・水平ビー
ム 16・・・・・・支持部材18a、18b・・・
・・・レーザー受光器20・・・・・・演算装置
24・・・・・・ターゲット26・・・・・・光波距離
計 特許出願人 株式会社 大 林 組成 理
人 弁理士 −色健輔第1図 第2図 釜 〆 第3図 (a) 第3図 (b)
は測定装置の電気・光学系の説明図、第3図は計q式の
説明図である。 10・・・・・・スリップフオーム型枠12a、12b
・・・・・・レーザー発娠器14・・・・・・水平ビー
ム 16・・・・・・支持部材18a、18b・・・
・・・レーザー受光器20・・・・・・演算装置
24・・・・・・ターゲット26・・・・・・光波距離
計 特許出願人 株式会社 大 林 組成 理
人 弁理士 −色健輔第1図 第2図 釜 〆 第3図 (a) 第3図 (b)
Claims (2)
- (1)環状に連結したスリップフォーム型枠の中心点の
対向位置に設置され鉛直上方に向けてレーザービームを
放射する一対のレーザ発振器と、該レーザ発振器の上方
対向位置にあつて該スリップフォーム型枠とともに移動
し、且つ該レーザービームをそれぞれ受光する一対のレ
ーザー受光器と、該レーザー受光器で検出したそれぞれ
の平面変位値に基づいてスリップフォーム装置の角度変
位を算出する演算装置とからなることを特徴とするスリ
ップフォーム工法における施工精度測定装置。 - (2)上記演算装置は上記レーザー受光器の初期設定値
を記憶していて、上記平面変位値から計算上の初期設定
値を算出し、この値と該初期設定値とを比較して測定誤
差を確認することを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のスリップフォーム工法における施工精度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15931784A JPS6138516A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15931784A JPS6138516A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6138516A true JPS6138516A (ja) | 1986-02-24 |
JPH0418772B2 JPH0418772B2 (ja) | 1992-03-27 |
Family
ID=15691148
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15931784A Granted JPS6138516A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | スリップフオ−ム工法における施工精度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6138516A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62269010A (ja) * | 1986-05-16 | 1987-11-21 | Takenaka Komuten Co Ltd | レ−ザ鉛直器を用いた鉄骨柱の建方精度測定方法とその装置 |
JPS6361113A (ja) * | 1986-09-02 | 1988-03-17 | Tokyu Constr Co Ltd | 推進工法における変位検出システム |
JPH0331715A (ja) * | 1989-06-29 | 1991-02-12 | Hazama Gumi Ltd | 測点の変位自動計測方法及びその装置 |
JPH0413919A (ja) * | 1990-05-08 | 1992-01-17 | Ohbayashi Corp | 建設現場における通り精度測定装置及び通り精度測定方法 |
JPH0469515A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Shimizu Corp | 鉛直度測定システム |
JP2012154912A (ja) * | 2011-06-27 | 2012-08-16 | Ohbayashi Corp | 計測システム、計算装置及び構造物 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56107111A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-25 | Fujita Corp | Measuring device for displacement in construction of structure |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP15931784A patent/JPS6138516A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56107111A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-25 | Fujita Corp | Measuring device for displacement in construction of structure |
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JP2012154912A (ja) * | 2011-06-27 | 2012-08-16 | Ohbayashi Corp | 計測システム、計算装置及び構造物 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0418772B2 (ja) | 1992-03-27 |
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