JPS6136967Y2 - - Google Patents

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JPS6136967Y2
JPS6136967Y2 JP11148281U JP11148281U JPS6136967Y2 JP S6136967 Y2 JPS6136967 Y2 JP S6136967Y2 JP 11148281 U JP11148281 U JP 11148281U JP 11148281 U JP11148281 U JP 11148281U JP S6136967 Y2 JPS6136967 Y2 JP S6136967Y2
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photometric
optical path
diaphragm
photometry
indicator
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JP11148281U
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は測光顕微鏡における測光絞り装置に関
するものである。
従来より測光顕微鏡においては、照野絞りと測
光絞りとをそれぞれ標本と共役な位置に配置し、
2つの絞りの組み合わせによつてフレアーを防止
しかつ被測光物のみを特異的に選択し、精度の高
い測光をしている。このような測光顕微鏡におい
ては、顕微鏡視野内の被測光物の局在部位観察の
ため各種の測光絞りが考案されている。
第1図は、特開昭48−94447号公報に開示され
ているもので第1図aの如き全反射ミラーの一端
を透明とした特殊ミラーを2枚対向させ、これを
移動可能に設けて第1図bの如き角形の測光絞り
を構成する。このような測光絞りによれば測光す
べき部位の像は透過した光電子増倍管等へ導か
れ、その他は反射され観察される。このような絞
りでは測光部位の保証(観察部位と測光部位の一
致)はあるものの、この種の絞りではミラーを対
向させているため視野の左右でピント差が生じる
こと、被測光物が観察できないこと及びミラー移
動機構が複雑となる欠点があつた。
第2図は例えば特公昭42−7505号公報に開示さ
れている如き他の例で、円板やスライダーにステ
ツプ式に配列された絞り(円形)2の一つを上方
よりランプ3で照明し、この絞り像を標本と重ね
て部位を決定し測光するもので、必ずしも測光部
位の保証がないこと、測光部位内の被測光物の観
察にはランプ3を消灯する必要があること、特殊
な鏡筒プリズム4が必要なこと、及び鏡筒プリズ
ム4の一面がハーフミラー5でありかつ光電子増
倍管6の前にミラー7が配置され螢光等の暗い標
本では光量的に不利であるという欠点があつつ
た。
本考案は、前述の欠点を解決し測光部位の観察
が可能で、光量的ロスの少い、かつ自動的に絞り
の大きさを選択できる測光絞り装置を得ることを
目的とする。
本考案によれば、前反射面の形成された基板上
に各種の大きさの測光用絞り(光透過部)と、こ
れと対応する測光部位観察用指標とを所定距離を
あけてそれぞれ交互に配置し、被測光物の観察に
は、この基板を駆動装置で一定量だけ移動し適当
な測光部位観察用指標を選定し、その後測光スイ
ツチと連動させて、さらに一定量だけ基板を移動
して測光部位観察用指標と対応する測光用絞りで
測光することによつて上記目的が達成される。
以下、図面に示した実施例に基づいて本考案を
説明する。
第3図、第4図、第5図は本考案の実施例であ
り、第3図は第4図のA矢視図である。10は測
光絞り用のガラス製全反射円板ミラー、20はパ
ルスモータ、30は円板ミラーとモータの連結
軸、40は円板ミラー押え環、50は初期位置信
号スイツチ、60は初期位置検出バー、70はピ
ン、80はバネ掛けピン、90は初期位置検出バ
ー60を常に一定位置に保つさめの引張りバネ、
100は測光部位観察用指標照明用ランプであ
る。
円板ミラー10には円形穴あき部である測光絞
り11′〜14′と測光部位観察用指標11〜14
が同一円周上に交互に配置されて、図において測
光絞り11′〜14′は円形部分のみ光は透過し、
他の部分は反射する。測光部位観察用指標11〜
14は測光絞り11′〜14′とそれぞれ同一径で
円周部分のみを腐蝕した絞りであり、ランプ10
0によりガラス円板の側面から照明されて散乱光
によりリング状に観察される。
次に第5図によつて測光絞り装置の制御回路を
説明する。測光絞り選択スイツチ21は、円板ミ
ラー10上の測光絞り11′〜14′のうち、任意
の径のものを選択できるようになつている。すな
わち、第4図に示した如く、初期位置検出バー6
0が、初期位置検出スイツチ50をONしている
状態では光路OA中に測光部位観察用指標13が
ある如く設定されているとすれば、初期位置から
円板ミラー10が45度右回転すれば測光絞り1
3′が光路O,A中に入る。また、初期位置から
円板ミラー10が180度右回転すれば測光部位観
察用指標11が光路O,A中に入り、さらに45度
右回転すれば測光絞り11′が光路O,A中に入
ることになる。従つて、例えば測光絞り11′を
用いた場合には、測光絞り11′に対応したスイ
ツチをONする。そうすると、パルスモータ20
のためのパルス数指定回路22には、初期位置か
ら測光絞り11′と組みになつている測光部位観
察用指標11までの角度、すなわち、180度に対
したパルス数が出力可能状態にある。一方、測光
絞り選択スイツチ21をONすると、パルスモー
タ20の正逆指令回路23は逆転信号をパルスモ
ータ20の駆動回路24へ入力する。従つて、パ
ルスモータ20は逆転(第4図で左回転)し第4
図の如く、スイツチ50から初期位置信号が出る
まで回転を続ける。スイツチ50から初期位置信
号が出力されると、パルスモータ駆動回路24は
パルスモータの回転を停止すると共に、正逆指令
回路23は正転信号をパルスモータ駆動回路24
へ入力する。さらに、スイツチ50からの初期位
置信号によつて、パルス数指定回路22は指定さ
れパルス数をパルスモータ駆動回路24へ入力す
る。パルスモータ駆動回路24は、正逆指令回路
23の正転信号と、パルス数指定回路22からの
パルス数によつて、パルスモータ20は、円板ミ
ラー10が180度回転する如く駆動する。パルス
モータの駆動回路24は所定のパルス数(円板ミ
ラー10の180度回転に対応)が終了するとパル
スモータ20の停止信号を出力する。スイツチ2
1のONにより、ランプ駆動回路25がランプ1
00を点灯するから、光路中に入つている測光部
位観察用指標11のリング状の像が標本像と重な
つて観察される。次に測光スイツチ26をONす
るとパルスモータの駆動回路24はパルスモータ
20をさらに正転させる如ぐ回転させる。その量
は、ガラス円10を45度回転させる量である。ま
た、測光スイツチ26のONによつて、ランプ駆
動回路25はランプ100を消灯する。従つて、
測光スイツチ26をONすることによつて光路中
O,Aには測光絞り11′が挿入されるとことに
なる。
このような測光絞り装置の全反射ミラー10
は、第6図に示した如き測光顕微鏡の光学系中に
挿入される。第6図において、本実施例の測光絞
り装置(第6図では簡単のために測光絞り用全反
射ミラー10とパルスモータ20のみを示した)
以外の構成は周知のものである。すなわち、光源
49は射出した光束は、レンズ51、光路中に挿
脱可能な照野絞り52、レンズ53、ハーフミラ
ー54、対物レンズ55を経て標本56を落射照
明する。この際、レンズ53、対物レンズ55に
よつて照野絞りは標本56に供役である。標本5
6からの光束は、対物レンズ55、ハーフミラー
54、プリズム57、接眼レンズ48にて観察者
の眼に入射すると共に、プリズム57を射出後、
レンズ58を経て、ミラー59が光路から脱して
いるときは図示なき写真撮影装置に達し、さらに
ミラー59が光路にある時は、ミラー59で反射
後、レンズ63を通つて、測光絞り装置の全反射
ミラー10へ入射する。全反射ミラー10の絞り
を透過した光束はフオトマル61に達し、全反射
ミラー10で反射した光はレンズ63,62を通
して観察される。全反射ミラー10の表面はレン
ズ55,58,63によつて標本56に共役であ
る。
以上の如き構成であるから、顕微鏡観察者は、
標本56を接眼レンズ48を通して覗きつゝ、測
光したい細胞等をほゞ視野の中心にもつてきた
後、測光絞りの大きさを決め、その絞りに合つた
大きさの照野絞り52を照明光路中に挿入する。
次にレンズ62にて眺く如く成し、決定した大き
さの絞りを測光絞り選択スイツチ21にて選択す
る。そうすると標本像と重ね合わせて測光範囲を
示すリング像が観察されることになる。標本56
を移動させて測光部位が完全にリング像内に入る
如く設定した後、測光スイツチ26をONすれ
ば、リング像内の標本からの光がフオトマル61
へ入射し、測光が行なわれる。
以上述べた如き本考案によれば自動的に絞りの
大きさを選択できるばかりでなく、測光部位を観
察することができると共に、光量ロスが少ない測
光顕微鏡用の測光絞りを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図と第2図は従来例を説明する図、第3図
と第4図は本考案の実施例を説明する図、第5図
はこの実施例の制御回路のブロツク図、第6図は
この実施例の設けられた測光顕微鏡を説明する図
である。 主要部分の符号の説明、測光用絞り……11′
〜14′、測光部位観察用指標……11〜14、
基板……10。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 標本からの光を測光用絞りを通して光電変換器
    に導き測光する測光顕微鏡用の測光絞り装置にお
    いて、 異なつた大きさの複数の測光用絞りと該絞りの
    各々に対応した複数の測光部位観察用指標とを、
    いずれか1つが標本に共役な光路中に挿入される
    ように基板上に十分離して配設すると共に、前記
    指標の内部領域及び観察視野を十分確保した前記
    指標の外部領域を前記基板の全反射面に形成し、
    前記測光用絞りと前記指標とを標本に共役な光路
    中に切換自在に挿脱するため前記基板を駆動させ
    る駆動装置を設け、指標のいずれかを選択する選
    択指令と測光指令とを発する指令部材を有し、該
    部材からの前記選択指令に応じて選択された指標
    を光路中に挿入し、前記指令部材からの測光指令
    に応じて前記光路中の指標に対応する測光用絞り
    を前記光路中の指標に代えて前記光路中に挿入す
    るように前記駆動装置を制御する制御装置を設
    け、前記測光部位観察用指標が光路中に挿入され
    たときの前記基板の反射光によつて測光部位決定
    のための観察を、前記測光用絞りが光路に挿入さ
    れたときの透過光によつて測光を行なう如くなし
    たことを特徴とする測光絞り装置。
JP11148281U 1981-07-29 1981-07-29 測光顕微鏡における測光絞り装置 Granted JPS5818217U (ja)

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JP11148281U JPS5818217U (ja) 1981-07-29 1981-07-29 測光顕微鏡における測光絞り装置

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JP11148281U JPS5818217U (ja) 1981-07-29 1981-07-29 測光顕微鏡における測光絞り装置

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JPS5818217U JPS5818217U (ja) 1983-02-04
JPS6136967Y2 true JPS6136967Y2 (ja) 1986-10-27

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JP11148281U Granted JPS5818217U (ja) 1981-07-29 1981-07-29 測光顕微鏡における測光絞り装置

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DE102010036790A1 (de) * 2010-08-02 2012-02-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Einrichtung zur lückenlosen Einstellung von Spektrometer-Spaltbreiten

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JPS5818217U (ja) 1983-02-04

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